一种可控硅测试夹具的制作方法

1.本实用新型属于可控硅测试夹具技术领域，具体涉及一种可控硅测试夹具。


背景技术：

2.可控硅简称scr，是一种大功率电器元件，也称晶闸管。它具有体积小、效率高、寿命长等优点。在自动控制系统中，可作为大功率驱动器件，实现用小功率控件控制大功率设备。它在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用。可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种。双向可控硅也叫三端双向可控硅，简称triac。双向可控硅在结构上相当于两个单向可控硅反向连接，这种可控硅具有双向导通功能。其通断状态由控制极g决定。在控制极g上加正脉冲或负脉冲可使其正向或反向导通。这种装置的优点是控制电路简单，没有反向耐压问题，因此特别适合做交流无触点开关使用。
3.可控硅从外形上主要有螺栓形、平板形和平底形，平板形的可控硅在测试时通常采用测试触板接触时测试，但是现有的可控硅测试时，不同类型的测试时需要对可控硅的位置进行移动，移动位置不够精确时会影响测试结果，甚至会造成可控硅的损坏，影响可控硅的测试效率。


技术实现要素：

4.本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足，提供一种可控硅测试夹具，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种可控硅测试夹具，包括底槽，所述底槽内设置有测试电路组件，在所述底槽上方固定有倒u型架，所述倒u型架上通过多个活动杆活动连接有多个测试触板，所述测试触板上设置有测试触点，所述测试触点通过信号线分别与测试电路组件之间信号连接，所述底槽靠近顶端的外侧通过轴承座活动连接有第一丝杠，所述第一丝杠的外侧端固定有第一调节盘，所述第一丝杠外侧螺纹连接有螺纹块，所述底槽上与第一丝杠平行的两侧开设有连通孔，所述螺纹块的另一端滑动连接在连通孔内，所述螺纹块的内侧端固定有横杆，所述横杆的另一端固定有滑块，所述滑块滑动连接在底槽的连通孔内；
6.所述横杆的侧端通过轴承座转动连接有第二丝杠，所述第二丝杠外侧螺纹连接有测试夹板，所述测试夹板用于完成待测可控硅的夹持固定作用。
7.优选的，所述测试夹板的侧端螺纹连接在第二丝杠外侧，且在测试夹板上开设有矩形测试腔，在矩形测试腔的横向段螺纹连接有第一夹块，在矩形测试腔的纵向段螺纹连接有第二夹块，在第一夹块和第二夹块的作用下完成待测可控硅在测试夹板内部的夹持固定。
8.优选的，所述第一夹块由t型螺杆和辅助板组成，所述t型螺杆螺纹连接在测试夹板的侧端，所述辅助板固定在t型螺杆的内侧端，所述第二夹块与第一夹块的结构相同。
9.优选的，所述横杆上设置有滑轨，所述测试夹板的外侧还设置有两块滑板，所述滑
板滑动连接在滑轨内。
10.优选的，所述第二丝杠的外侧端固定有第二调节盘。
11.优选的，所述底槽的顶面粘贴有柔性绝缘防护垫。
12.本实用新型与现有技术相比具有以下优点：
13.本实用新型通过在底槽上设置有横向和纵向的两个丝杠，两个丝杠相互之间协同作用，将测试夹板活动连接在底槽上，测试夹板内设置有第一夹块和第二夹块，在可控硅测试使用时，先利用第一夹块和第二夹块完成待测可控硅在测试夹板的矩形测试腔内部的夹持固定，然后根据测试的类型，选择合适的测试触板，然后通过转动第一调节盘带动测试夹板纵向位置的调整，再通过转动第二调节盘带动测试夹板完成横向位置的调整，调整测试夹板至待使用的测试触板下方后，下压活动杆使得测试触板与待测可控硅接触，在底槽内测试电路组件的配合下完成可控硅的测试作业，需要其它类型测试时，再次选择合适的测试触板即可，再次通过横向和纵向的调整完成测试夹板的位置调整，即可再次进行测试，直至测试完成，便捷实用。
附图说明
14.图1是本实用新型整体结构侧视图；
15.图2是本实用新型测试夹板连接结构示意图。
16.附图标记说明：
[0017]1‑
底槽；11
‑
连通孔；12
‑
绝缘防护垫；2
‑
倒u型架；21
‑
活动杆；22
‑
测试触板；4
‑
第一丝杠；41
‑
第一调节盘；42
‑
螺纹块；5
‑
横杆；51
‑
滑块；52
‑
滑轨；6
‑
第二丝杠；61
‑
第二调节盘；7
‑
测试夹板；71
‑
滑板；72
‑
第一夹块；73
‑
第二夹块。
具体实施方式
[0018]
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0019]
如图1
‑
2所示，本实用新型提供一种技术方案：一种可控硅测试夹具，包括底槽1，所述底槽1内设置有测试电路组件，测试电路组件为现有的可控硅测试电路件与测试电路板，在所述底槽1上方固定有倒u型架2，所述倒u型架2上通过多个活动杆21活动连接有多个测试触板22，所述测试触板22上设置有测试触点，所述测试触点通过信号线分别与测试电路组件之间信号连接，利用测试触点与测试电路组件协同作用完成测试夹板7上的待测可控硅的测试作业。
[0020]
所述底槽1靠近顶端的外侧通过轴承座活动连接有第一丝杠4，所述第一丝杠4的外侧端固定有第一调节盘41，第一调节盘41转动用于带动第一丝杠4转动，所述第一丝杠4外侧螺纹连接有螺纹块42，所述底槽1上与第一丝杠4平行的两侧开设有连通孔11，所述螺纹块42的另一端滑动连接在连通孔11内，第一丝杠4转动时，能带动外侧螺纹连接的螺纹块42沿着底槽的连通孔11的方向滑动。
[0021]
所述螺纹块42的内侧端固定有横杆5，所述横杆5的另一端固定有滑块51，所述滑
块51滑动连接在底槽1的连通孔11内，通过第一丝杠4的转动能带动横杆5压着纵向移动，滑块51能使得横杆5滑动过程中更为平稳。
[0022]
所述横杆5的侧端通过轴承座转动连接有第二丝杠6，所述第二丝杠6的外侧端固定有第二调节盘61，通过手动转动第二调节盘61能带动第二丝杠6的转动。
[0023]
测试夹板7的侧端螺纹连接在第二丝杠6外侧，所述横杆5上设置有滑轨52，所述测试夹板7的外侧还设置有两块滑板71，所述滑板71滑动连接在滑轨52内，第二丝杠6转动能带动螺纹连接在其外侧的测试夹板7的移动，在滑板71和滑轨52的作用下能使得测试夹板7横向移动过程中更为平稳。
[0024]
在测试夹板7上开设有矩形测试腔，在矩形测试腔的横向段螺纹连接有第一夹块72，在矩形测试腔的纵向段螺纹连接有第二夹块73，第一夹块72和第二夹块73设置在矩形测试腔的对角线一侧，用于完成夹持固定范围的最大化。
[0025]
所述第一夹块72由t型螺杆和辅助板组成，所述t型螺杆螺纹连接在测试夹板7的侧端，所述辅助板固定在t型螺杆的内侧端，所述第二夹块73与第一夹块72的结构相同，在使用时，利用第一夹块72和第二夹块73完成待测可控硅在测试夹板7内部的夹持固定。
[0026]
为了便于完成测试，避免测试过程中待测可控硅底部发生短路现象，所述底槽1的顶面粘贴有柔性绝缘防护垫12。
[0027]
综上，使用时，先利用第一夹块72和第二夹块73完成待测可控硅在测试夹板7的矩形测试腔内部的夹持固定，然后根据测试的类型，选择合适的测试触板22，然后通过转动第一调节盘41带动测试夹板7纵向位置的调整，再通过转动第二调节盘61带动测试夹板7完成横向位置的调整，调整测试夹板7至待使用的测试触板22下方后，下压活动杆21使得测试触板22与待测可控硅接触，活动杆21为现有的下压弹簧式测试杆，为现有技术，其详细结构和下压原理这不不再赘述，在底槽1内测试电路组件的配合下完成可控硅的测试作业，需要其它类型测试时，再次选择合适的测试触板22即可，再次通过横向和纵向的调整完成测试夹板7的位置调整，即可再次进行测试，直至测试完成，便捷实用。
[0028]
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
[0029]
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。