一种新型可调节试样托盘的制作方法

1.本实用新型涉及金相显微镜领域，尤其是一种新型可调节试样托盘。


背景技术：

2.实验室金相试样截面尺寸界于φ10mm
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φ20mm、10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm较多，金相显微镜原附带的试样托盘仅有孔径为φ10mm、φ20mm、φ23mm三种规格，因此尺寸界于上述范围的试样只能放在孔径φ10的托盘上检测或者是镶样后放在孔径φ20、φ23的托盘上检测。如果放在φ10的托盘装置检测，检测视场仅限于φ10圆范围，如需检测满足委托要求的试样表面，就要用手移动试样更换视场，这样容易划伤试样检测面且视场定位重复、遗漏，不利于试样整体检测分析，影响检测精确率和效率；如果镶样后放在孔径φ20、φ23的托盘装置检测，镶样时间需20分钟，由于镶样材料为塑料，镶过的试样硬度不均匀，制出的试样容易倒角、倾斜、加大制样难度，影响检测效率。


技术实现要素：

3.本实用新型需要解决的技术问题是提供一种新型可调节试样托盘，实现对截面尺寸界于φ10mm
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φ20mm、10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm之间的试样检测，不需要用手移动试样更换视场，不但节约时间，而且不会划伤试样检测面且视场定位准确，提高检测效率和精确率。
4.为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种新型可调节试样托盘，包括中心开有方孔的试样托盘本体、第一试样支撑滑块和第二试样支撑滑块，所述试样托盘本体背面沿方孔的四边中心设置有梯形卡槽、正面沿方孔的四边中心设置有把手槽且把手槽的长度为梯形卡槽长度的一半，所述第一试样支撑滑块和第二试样支撑滑块均设置两个且第一试样支撑滑块和第二试样支撑滑块呈90
°
设置，所述第一试样支撑滑块包括与梯形卡槽配合使用的第一梯形滑块，所述第一梯形滑块的上方设置有与把手槽配合使用的第一把手、下方设置有矩形试样挡块，所述第二试样支撑滑块包括与梯形卡槽配合使用的第二梯形滑块，所述第二梯形滑块的上方设置有与把手槽配合使用的第二把手、下方设置有柱形试样挡块，与试样接触的柱形试样挡块侧边弧度与试样匹配。
5.本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述试样托盘本体的方孔尺寸为20mm
×
20mm。
6.本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述试样托盘本体适用于截面尺寸界于φ10mm
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φ20mm、10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm的试样。
7.本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述第一试样支撑滑块和第二试样支撑滑块均可拆卸。
8.本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述试样托盘本体、第一试样支撑滑块和第二试样支撑滑块的材质均采用光敏树脂或铝合金。
9.由于采用了上述技术方案，本实用新型取得的技术进步是：
10.1、本实用新型解决了截面尺寸界于φ10mm
‑
φ20mm、10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm金相试样的检测问题，通过移动第一试样支撑滑块，调节支撑面的大小，从而实现对截面尺寸界于10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm之间的试样的检测，通过移动第二试样支撑滑块，调节支撑面的大小，从而实现对截面尺寸界于φ10mm
‑
φ20mm之间的试样的检测，不需要用手移动试样更换视场，不但节约时间，而且不会划伤试样检测面且视场定位准确，提高检测效率和精确率；
11.2、本实用新型中第一梯形滑块和第二梯形滑块均在试样托盘本体背面滑动，缩短了物镜与试样的距离，实现对试样的检测，提高检测效率和精确率；
12.3、本实用新型中结构简单，第一试样支撑滑块和第二试样支撑滑块均可拆卸，便于更换，节约成本；
13.4、本实用新型中试样托盘本体、第一试样支撑滑块和第二试样支撑滑块的材质均采用光敏树脂或铝合金，具有高强度、耐高温、防水、重量轻等特性，不会划伤试样，提高检测效率和精确率。
附图说明
14.图1是本实用新型整体结构示意图；
15.图2是本实用新型试样托盘本体背面三维立体结构示意图；
16.图3是本实用新型试样托盘本体正面三维立体结构示意图；
17.图4是本实用新型第一试样支撑滑块三维立体结构示意图；
18.图5是本实用新型第二试样支撑滑块三维立体结构示意图；
19.其中，1、试样托盘本体，1
‑
1、梯形卡槽，1
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2、把手槽，2、第一试样支撑滑块，3、第二试样支撑滑块，4、第一梯形滑块，5、第一把手，6、矩形试样挡块，7、第二梯形滑块，8、第二把手，9、柱形试样挡块。
具体实施方式
20.下面结合实施例对本实用新型做进一步详细说明：
21.如图1至图5所示，一种新型可调节试样托盘，包括中心开有方孔的试样托盘本体1、第一试样支撑滑块2和第二试样支撑滑块3，所述试样托盘本体1、第一试样支撑滑块2和第二试样支撑滑块3的材质均采用光敏树脂或铝合金，具有高强度、耐高温、防水、重量轻等特性，不会划伤试样，所述试样托盘本体1的方孔尺寸为20mm
×
20mm，所述试样托盘本体1适用于截面尺寸界于φ10mm
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φ20mm、10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm的试样，所述试样托盘本体1背面沿方孔的四边中心设置有梯形卡槽1
‑
1、正面沿方孔的四边中心设置有把手槽1
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2且把手槽1
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2的长度为梯形卡槽1
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1长度的一半，所述第一试样支撑滑块2和第二试样支撑滑块3均设置两个且第一试样支撑滑块2和第二试样支撑滑块3呈90
°
设置，所述第一试样支撑滑块2包括与梯形卡槽1
‑
1配合使用的第一梯形滑块4，所述第一梯形滑块4的上方设置有与把手槽1
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2配合使用的第一把手5、下方设置有矩形试样挡块6，所述第二试样支撑滑块3包括与梯形卡槽1
‑
1配合使用的第二梯形滑块7，所述第二梯形滑块7的上方设置有与把手槽1
‑
2配合使用的第二把手8、下方设置有柱形试样挡块9，与试样接触的柱形试样挡块9侧边弧度与试样匹配。所述第一试样支撑滑块2和第二试样支撑滑块3均可拆卸，便于更换，节约成本。
22.当需要测量截面尺寸界于10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm之间的试样时，将两个第一试样支撑滑块2从试样托盘本体1中间的方孔内安装，通过移动第一试样支撑滑块2，调节支撑面的大小，从而实现对截面尺寸界于10mm
×
10mm
‑
20mm
×
20mm之间的试样检测；当需要测量截面尺寸界于φ10mm
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φ20mm之间的试样时，选取两个侧边弧度与试样相匹配的两个第二试样支撑滑块3，从试样托盘本体1中间的方孔内安装，通过移动第二试样支撑滑块3，调节支撑面的大小，从而实现对截面尺寸界于φ10mm
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φ20mm之间的试样检测，通过本实用新型的装置，不需要用手移动试样更换视场，不但节约时间，而且不会划伤试样检测面且视场定位准确，提高检测效率和精确率。