一种LED显示模组检测方法及其检测系统与流程

一种led显示模组检测方法及其检测系统
技术领域
1.本发明属于led显示模组检测技术领域，特别涉及一种led显示模组的检测方法及其检测系统。


背景技术：

2.目前led显示屏用途越来广泛，产品用途已经从传统的户外显示逐步向户内商显渗透。商显产品所使用的led显示屏点间距也逐步减小，已经迈进mini
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led时代，户内led显示屏点间距基本在2mm以下。随着led显示屏的用途商业化，人们对led显示屏的质量要求越来越高，而点间距的减小增加了led显示屏故障率。如何将出现故障的led显示模组在组装成大屏前筛选出来是保障产品质量的重要途经之一，同时也减少了屏厂的后期售后维护成本，提高屏厂品牌知名度。
3.由于发光芯片品质和led显示模组制造过程中的工艺会导致led显示模组出现“毛毛虫”不良现象。在户内使用过程中，客户近距离观看，该问题点会被放大。传统的led显示模组检测方法只是单一检测255等级红绿蓝状态下模组的好坏，导致不良led显示模组的漏检漏判，进而导致不良品流出市场。


技术实现要素：

4.本发明要解决的技术问题是提供一种led显示模组检测方法及其检测系统，该方法能够在led显示模组制造过程中暴露led显示模组不良的问题，避免不良led显示模组的漏检漏判。
5.为了解决上述技术问题，本发明的led显示模组检测方法如下：控制led显示模组显示测试画面，在环境亮度10勒克斯以下条件下，调节列驱动ic中的各列led消隐电压vh使其在2.0v～3.75v范围内变化，调节列驱动ic中的各列led消隐时间使其在1000ns～1600ns范围内变化，观察是否出现“毛毛虫”故障现象，若出现“毛毛虫”故障现象则认为该led显示模组出现故障。
6.所述的测试画面为黑场画面。
7.所述的测试画面为斜线画面。
8.所述的测试画面为灰度值20
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50的红、绿、蓝低灰图案。
9.所述的led消隐电压vh范围优选2.0v～3.0v。
10.所述的led消隐时间范围优选1000ns～1600ns。
11.实现上述led显示模组检测方法的检测系统包括上位机，接收卡和驱动电路；所述的上位机与接收卡通讯；接收卡与驱动电路连接。
12.所述的上位机通过网线与接收卡连接，接收卡通过接插件方式与驱动电路连接。
13.所述的测试画面存储在上位机中。
14.所述的测试画面存储在接收卡内。
15.当前led显示屏在制作过程中都会采用pwm的驱动方式。本发明通过上位机软件对
驱动ic寄存器参数进行设置，利用pwm驱动芯片的消隐功能对led显示模组“毛毛虫”以及“低灰暗亮”现象进行放大，可以将“毛毛虫”故障现象充分暴露出来，进而筛选出不良品，能够避免不良led显示模组的漏检漏判。上位机通过千兆网线直接与接收卡进行连接，上位机通过网卡模式对接收卡进行程序升级以及参数设置，省去了发送部分，节省了资源。驱动电路采用排线与led显示模组连接，这样的连接方式提高了驱动电路模块使用的灵活性，一套驱动电路模块就可以适用于目前市场内的常规点间距led显示模组，提高了生产效率并节约成本。
附图说明
16.为了更好地说明本发明的实施例的技术方案，下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
17.图1为本发明的led显示模组检测系统架构图。
18.图2a、图2b为“毛毛虫”产生机理图。
具体实施方式
19.下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细说明，可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
20.在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义的理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况具体理解上述术语在本发明中的具体含义。
21.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或者仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”、“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
22.在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
23.本发明的led显示模组检测方法如下：
24.控制led显示模组显示测试画面，在环境亮度10勒克斯以下条件下，调节列驱动ic中的各列led消隐电压vh使其在2.0v～3.75v范围内变化，调节列驱动ic中的各列led消隐时间使其在1000ns～1600ns范围内变化，观察是否出现“毛毛虫”故障现象，若出现“毛毛虫”故障现象则认为该led显示模组出现故障；所述的测试画面为黑场画面、斜线画面或者红、绿、蓝低灰图案等；红、绿、蓝低灰图案灰度值为20
‑
50。
25.led显示模组包含呈矩阵排布的led灯珠，如图2a所示，当中间led灯珠l1短路时，同列的led灯珠在扫描到该行时会形成如图2b所示的通路，如果a点到b点之间的压差大于led灯珠的导通电压vf，即vled
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vh＞vf,则会形成一列常亮毛毛虫，使led显示模组暴露毛毛虫现象；其中vled为列驱动电压，vh为消隐电压。
26.行业内通常通过设置消隐电压和消隐时间解决首行暗亮、伴亮以及耦合等显示问题。本发明的发明人在长期的设计调试中偶然发现，在合适的测试画面和测试环境下，通过调节消隐电压和消隐时间能够暴露毛毛虫现象。但是消隐电压和消隐时间设置不合理会导致发光芯片反向电压过大，影响发光芯片寿命；发明人通过大量的实验验证，确定了在led显示模组显示测试画面，环境亮度10勒克斯以下，各列led消隐电压vh在2.0v～3.75v范围内，消隐时间在1000ns～1600ns范围内的条件下，既能保证毛毛虫问题暴露出来又不影响发光芯片寿命。
27.不同消隐参数、测试画面、测试环境对应的实验效果见表1。
28.表1
29.[0030][0031]
上述检测方法可以通过下述led显示模组检测系统实现。
[0032]
如图1所示，本发明的led显示模组检测系统包括上位机，接收卡和驱动电路；所述的上位机通过网线与接收卡连接，通过千兆网与接收卡通讯；接收卡通过接插件方式与驱动电路连接，可以方便接收卡的拔插，方便替换；led显示模组通过排线与驱动电路连接。
[0033]
通过上位机可以升级接收卡程序并将要显示的测试画面配置文件加载到接收卡，再通过驱动电路中的驱动ic将led显示模组点亮，显示黑场、斜线、红绿蓝低灰图案等测试画面；也可以将要显示的测试画面直接存储在接收卡中，通过驱动ic将led显示模组点亮，在环境亮度10勒克斯以下条件下，显示黑场、斜线、红绿蓝低灰图案等测试画面；通过上位机调节驱动ic寄存器中的各列led消隐电压使其在2.0v～3.75v范围内变化，调节消隐时间使其在1000ns～1600ns范围内变化；若出现“毛毛虫”故障现象则认为该led显示模组出现故障。