阵列基板的检查方法及显示装置与流程

技术特征：
1.一种阵列基板的检查方法，该阵列基板安装多个发光元件，其特征在于，所述阵列基板具有：与多个像素相对应地设置的多个晶体管；与所述晶体管电连接、且供多个所述发光元件安装的多个安装电极；和与多个所述安装电极电连接的多个检查端子，所述阵列基板的检查方法包括：准备未安装多个所述发光元件的所述阵列基板的步骤；将具有在多个所述像素的范围内延伸的支承部和沿所述支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个所述像素构成的像素行配置、并使多个所述检查探头与沿所述第1方向排列的多个所述检查端子分别接触的步骤；以及通过多个所述检查治具对每个所述像素行检查电气特性的步骤。2.如权利要求1所述的阵列基板的检查方法，其特征在于，具有检测来自多个所述检查治具的输出信号的检测电路，所述阵列基板具有与多个所述晶体管连接的多根栅极线及多根信号线，按每个像素行驱动所述栅极线，且按每列向所述信号线供给检查信号，所述检测电路对属于所述像素行的多个像素的每个像素，检测与所述检查信号相应地从所述检查治具输出的输出信号。3.如权利要求1所述的阵列基板的检查方法，其特征在于，具有检测来自多个所述检查治具的输出信号的检测电路，所述阵列基板具有按每个所述像素行设置、且向多个所述发光元件供给基准电位的阴极电源线，所述检测电路按每个所述像素行，检测关于所述检查治具与所述阴极电源线之间的电阻值的信息。4.如权利要求3所述的阵列基板的检查方法，其特征在于，在规定的像素行中所述电阻值比基准值小的情况下，包括：将多个所述检查治具按每个由沿与所述第1方向交叉的第2方向排列的多个所述像素构成的像素列配置、并使多个所述检查探头与沿所述第2方向排列的多个所述检查端子分别接触的步骤；和所述检测电路按每个所述像素列检测关于所述检查治具与设于所述规定的像素行的所述阴极电源线之间的电阻值的信息的步骤。5.如权利要求1所述的阵列基板的检查方法，其特征在于，具有检测来自多个所述检查治具的输出信号的检测电路，所述阵列基板具有与多个所述晶体管连接的多根栅极线及多根信号线，按每个像素行驱动所述栅极线，且按每列向所述信号线供给检查信号，所述检测电路检测从与被驱动了所述栅极线的所述像素行不同的像素行的所述检查治具输出的输出信号。6.一种阵列基板的检查方法，该阵列基板安装多个发光元件，其特征在于，所述阵列基板具有：与多个像素相对应地设置的多个晶体管；
与所述晶体管电连接、且供所述发光元件安装的多个安装电极；按每个由沿第1方向排列的多个所述像素构成的像素行设置、且向多个所述发光元件供给基准电位的多根阴极电源线；和与多根所述阴极电源线电连接的多个阴极检查端子，所述阵列基板的检查方法包括：准备未安装多个所述发光元件的所述阵列基板的步骤；准备具有在多个所述像素的范围内延伸的支承部和设于所述支承部的多个检查探头的检查治具，并将多个所述检查探头按每个所述像素行配置，且使多个所述检查探头与沿与所述第1方向交叉的第2方向排列的多个所述阴极检查端子分别接触的步骤；以及通过多个所述检查探头对每个所述像素行至少进行所述阴极检查端子与所述阴极电源线之间的导通检查的步骤。7.一种显示装置，其特征在于，具有阵列基板和安装于所述阵列基板的多个发光元件，所述阵列基板具有：与多个像素相对应地设置的多个晶体管；与所述晶体管电连接、且供所述发光元件安装的多个安装电极；和与所述安装电极电连接的多个检查端子，在多个所述检查端子上，由于检查探头与之接触而形成有凹部。8.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述阵列基板具有：按每个由沿第1方向排列的多个所述像素构成的像素行设置、且向多个所述发光元件供给基准电位的阴极电源线；和与所述阴极电源线电连接、且按每个所述像素行设置的多个阴极检查端子，在多个所述阴极检查端子上，由于检查探头与之接触而形成有凹部。

技术总结
本发明提供一种能够高效地检查未安装发光元件的阵列基板的电气特性的阵列基板的检查方法及显示装置。阵列基板的检查方法是安装多个发光元件的阵列基板的检查方法，阵列基板具有与多个像素相对应地设置的多个晶体管、多个安装电极和多个检查端子，包括：准备未安装多个发光元件的阵列基板的步骤；将具有在多个像素的范围内延伸的支承部和沿支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个像素构成的像素行配置并使多个检查探头与沿第1方向排列的多个检查端子分别接触的步骤；以及通过多个检查治具对每个像素行检查电气特性的步骤。对每个像素行检查电气特性的步骤。对每个像素行检查电气特性的步骤。


技术研发人员：武政健一 山田一幸 浅田圭介 矶野大树
受保护的技术使用者：株式会社日本显示器
技术研发日：2021.03.23
技术公布日：2021/9/28