面板裂纹检测组件、显示面板和显示装置的制作方法

1.本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及面板裂纹检测组件、显示面板和显示装置。


背景技术：

2.显示面板在制作过程中或者使用过程中可能会形成裂纹，面板裂纹检测(panel crack detect,pcd)单元/组件即是用于检测显示面板中是否存在裂纹的结构。但目前的面板裂纹检测组件仍存在一些缺点和不足，有待改进。


技术实现要素：

3.本发明是基于发明人对以下事实和问题的发现和认识做出的：
4.显示面板在制作过程中或使用过程中可能会存在裂纹，设置面板裂纹检测单元可以针对面板边缘区域的裂纹进行检测，而面板裂纹检测单元的工作原理如下：通过向显示区域的一部分子像素输入暗信号，使其不发光，而向另一部分子像素输入亮信号，使其发光，并且，为子像素提供亮信号的数据线设置在显示区域的周边且环绕显示区域一周，当向子像素输入相应的信号后，如果输入亮信号的子像素发光，则可以判断显示面板的边缘区域没有裂纹，如果输入亮信号的子像素不发光，则说明亮信号没有成功输入相应的给子像素，进而可以判断面板的边缘区域存在裂纹。
5.在面板裂纹检测单元中，向子像素输入暗信号的数据线是通过控制开关来控制的，控制开关控制该数据线的通断，即控制开关可以控制该数据线是否向子像素输入信号，而控制开关是通过薄膜晶体管结构来控制该数据线的通断的。发明人发现，现有技术中，参考图1，向子像素输入暗信号的数据线(记为数据线1，简写为d1)仅设置一条，而该数据线需要控制显示区域中的大部分甚至绝大部分子像素，每一个薄膜晶体管的栅极与控制开关(记为控制开关1，简写为s1)连接，薄膜晶体管的源极或漏极中的其中一个与d1电连接，而源极或漏极中的另一个与另一数据线(记为l，每一条这样的数据线l连接显示区域中的一个子像素)连接，构成一个连接结构10，如图1所示，也就是说，每一个这样的连接结构10与显示区域中的一个子像素(图中未示出)相连，向该子像素输入信号，这样的连接结构10设置在显示面板的非显示区域，并且多个连接结构沿非显示区域的宽度方向排列设置(如图1所示)；近年来，用户对显示装置的显示效果要求越来越高，显示面板的像素密度(pixel per inch,ppi)也在不断增加，也就是说，目前的显示面板中子像素数量越来越多，而面板裂纹检测单元中连接结构10的数量也就相应地增多，即需要设置较多的上述连接结构10才能够实现与子像素的一一对应，从而精准得实现对显示面板裂纹的检测，如前所述，多个连接结构10是沿非显示区的宽度方向排列设置的(如图1所示)，而非显示区域的宽度是有限的，连接结构数量过多，非显示区域无法满足上述连接结构的空间排布需求，也即是说，按照现有的d1数据线的设置，非显示区域的排布空间有限，无法实现高像素密度的显示面板或显示装置的面板裂纹检测单元的排布。发明人通过研究发现，可以设置多条d1数据线，每
一列至少形成两个连接结构，这样在显示面板原有的宽度方向上，就可以设置原来两倍以上的连接结构，即便是像素密度提高了，也可以使用较少的排布空间实现对子像素的信号输入。
6.有鉴于此，在本发明的一方面，本发明提出了一种面板裂纹检测组件，该面板裂纹检测组件包括：控制信号线，所述控制信号线沿第一方向延伸；第一检测信号线，所述第一检测信号线沿所述第一方向延伸；至少两条第二检测信号线；多个沿所述第一方向排列设置的第一连接单元，其中，至少一个所述第一连接单元中包括：至少两条传输信号线，至少两条所述传输信号线沿第二方向延伸且沿所述第一方向排列设置；至少两个薄膜晶体管，且至少一个所述薄膜晶体管的源极和漏极中的一极与一条所述传输信号线电连接，另一极与一条所述第二检测信号线电连接，且至少一个所述薄膜晶体管的栅极与所述控制信号线电连接。由此，有利于节省排布空间，当像素密度较高时，本发明提出的面板裂纹检测组件也可以实现良好的排布。
7.根据本发明的实施例，至少两条所述第二检测信号线与至少一个所述第一连接单元中的至少两条所述传输信号线及至少两个所述薄膜晶体管一一对应电连接。
8.根据本发明的实施例，至少一个所述第一连接单元还包括：第一连接线，所述第一连接线与至少两个所述薄膜晶体管的栅极电连接，且与所述控制信号线电连接。
9.根据本发明的实施例，至少一个所述第一连接单元中，在所述第一方向上，至少两个所述薄膜晶体管的栅极位于至少两条所述传输信号线中靠近所述第一连接线的一条所述传输信号线与所述第一连接线之间。
10.根据本发明的实施例，在至少一个所述第一连接单元中，至少两条所述第二检测信号线沿所述第一方向延伸并沿所述第二方向间隔排列设置，其中，所述第一检测信号线设置在所述控制信号线靠近所述第二检测信号线的一侧。
11.根据本发明的实施例，在至少一个所述第一连接单元中，至少两个所述薄膜晶体管沿所述第二方向排列设置，且分别位于在相邻两条所述第二检测信号线之间以及所述第二检测信号线与所述第一检测信号线之间。
12.根据本发明的实施例，所述面板裂纹检测组件还包括：连接部，所述连接部位于所述第二检测信号线在所述第一方向上的边缘，且与至少两条所述第二检测信号线电连接。
13.根据本发明的实施例，所述连接部与所述第二检测信号线为一体结构。由此，可以利用简单的方法同时形成连接部和多条第二检测信号线，有利于节省制作成本，进而便于产业化应用。
14.根据本发明的实施例，至少一条所述第二检测信号线包括第一子检测信号线、第二子检测信号线、第三子检测信号线，所述第一子检测信号线、所述第二子检测信号线和所述第三子检测信号线沿所述第一方向延伸并沿所述第二方向间隔排列设置，
15.其中，至少一个所述第一连接单元包括第一子传输信号线、第二子传输信号线、第三子传输信号线和第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管，所述第一子传输信号线、所述第二子传输信号线、所述第三子传输信号线沿第二方向延伸且沿所述第一方向间隔排列设置，且所述第一薄膜晶体管的源极和漏极中的一极与第一子传输信号线电连接，另一极与所述第一子检测信号线电连接，且所述第一薄膜晶体管的栅极通过所述第一连接线与所述控制信号线电连接；所述第二薄膜晶体管的源极和漏极中的一极与第二子传
输信号线电连接，另一极与所述第二子检测信号线电连接，且所述第二薄膜晶体管的栅极通过所述第一连接线与所述控制信号线电连接；所述第三薄膜晶体管的源极和漏极中的一极与第三子传输信号线电连接，另一极与所述第三子检测信号线电连接，且所述第三薄膜晶体管的栅极通过所述第一连接线与所述控制信号线电连接；所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管、所述第三薄膜晶体管沿所述第二方向排列设置，其中，所述第一薄膜晶体管位于所述第一子检测信号线和所述第二子检测信号线之间，所述第二薄膜晶体管位于所述第二子检测信号线和所述第三子检测信号线之间，所述第三薄膜晶体管位于所述第三子检测信号线和所述第一检测信号线之间。
16.根据本发明的实施例，面板裂纹检测组件还包括：至少一个第二连接单元，其中，至少一个所述第二连接单元中包括：至少两条检测传输信号线，至少两条所述检测传输信号线沿第二方向延伸且沿所述第一方向排列设置；至少两个检测薄膜晶体管，且至少两个所述检测薄膜晶体管中一部分所述检测薄膜晶体管中的源极和漏极中的一极与一条所述检测传输信号线电连接，另一极与一条所述第二检测信号线电连接；至少两个所述检测薄膜晶体管中另一部分所述检测薄膜晶体管中的源极和漏极中的一极与一条所述检测传输信号线电连接，另一极与所述第一检测信号线电连接，且至少一个所述检测薄膜晶体管的栅极与所述控制信号线电连接。
17.根据本发明的实施例，至少一个所述第二连接单元还包括：第二连接线，所述第二连接线与至少两个所述检测薄膜晶体管的栅极电连接，且与所述控制信号线电连接。
18.根据本发明的实施例，至少一条所述第二检测信号线包括第一子检测信号线、第二子检测信号线、第三子检测信号线，至少一个所述第二连接单元包括第一子检测传输信号线、第二子检测传输信号线、第三子检测传输信号线和第一检测薄膜晶体管、第二检测薄膜晶体管、第三检测薄膜晶体管，所述第一子检测传输信号线、所述第二子检测传输信号线、所述第三子检测传输信号线沿第二方向延伸且沿所述第一方向排列设置，其中，所述第一检测薄膜晶体管的源极和漏极中的一极与所述第一子检测传输信号线电连接，另一极与所述第一子检测信号线电连接，且所述第一检测薄膜晶体管的栅极通过所述第二连接线与所述控制信号线电连接；所述第二检测薄膜晶体管的源极和漏极中的一极与所述第三子检测传输信号线电连接，另一极与所述第三子检测信号线电连接，且所述第二检测薄膜晶体管的栅极通过所述第二连接线与所述控制信号线电连接；所述第三检测薄膜晶体管的源极和漏极中的一极与所述第二子检测传输信号线电连接，另一极与所述第一检测信号线电连接，且所述第三检测薄膜晶体管的栅极通过所述第二连接线与所述控制信号线电连接。
19.在本发明的另一方面，本发明提出了一种显示面板，所述显示面板包括前面所述的面板裂纹检测组件，且所述面板裂纹检测组件位于所述显示面板的周边区域。由此，该显示面板具有前面所述的面板裂纹检测组件的全部特征以及优点，在此不再赘述。总的来说，该显示面板的裂纹检测组件具有足够的排布空间，能够与显示面板的高像素密度相匹配。
20.根据本发明的实施例，所述周边区域包括依次连接的第一边区、第二边区、第三边区和第四边区，所述第一检测信号线包括第一线和第二线，其中，所述第一线依次由所述第一边区向所述第二边区和所述第三边区延伸，并在所述第三边区弯折依次向所述第二边区和所述第一边区延伸；所述第二线依次由所述第一边区向所述第四边区和所述第三边区延伸，并在所述第三边区弯折依次向所述第四边区和所述第一边区延伸。
21.根据本发明的实施例，所述显示面板的显示区域包括多个像素单元，至少一个所述像素单元包括红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素，所述面板裂纹检测组件中的至少一条第二检测信号线包括第一子检测信号线、第二子检测信号线、第三子检测信号线，至少一个第二连接单元包括第一子检测传输信号线、第二子检测传输信号线、第三子检测传输信号线和第一检测薄膜晶体管、第二检测薄膜晶体管、第三检测薄膜晶体管，其中，所述第一子检测传输信号线、所述第二子检测传输信号线、所述第三子检测传输信号线分别与一个所述像素单元中的所述红色子像素、所述绿色子像素和所述蓝色子像素电连接，或者，所述第一子检测传输信号线、所述第二子检测传输信号线、所述第三子检测传输信号线中的一条与同一列子像素电连接，或者，所述第一子检测传输信号线、所述第二子检测传输信号线、所述第三子检测传输信号线中的两条分别与不同的两列所述子像素电连接，或者，所述第一子检测传输信号线、所述第二子检测传输信号线和所述第三子检测传输信号线分别与不同的三列所述子像素电连接。
22.根据本发明的实施例，至少一个第一连接单元包括第一子传输信号线、第二子传输信号线、第三子传输信号线和第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管，其中，所述第一子传输信号线、所述第二子传输信号线、所述第三子传输信号线分别与一个所述像素单元中的所述红色子像素、所述绿色子像素和所述蓝色子像素电连接；或者，所述第一子传输信号线、所述第二子传输信号线、所述第三子传输信号线中的一条与同一列所述子像素电连接，或者，所述第一子传输信号线、所述第二子传输信号线、所述第三子传输信号线中的两条分别与不同的两列所述子像素电连接，或者，所述第一子传输信号线、所述第二子传输信号线和所述第三子传输信号线分别与不同的三列所述子像素电连接。
23.在本发明的又一方面，本发明提出了一种显示装置，所述显示装置包括前面所述的显示面板。该显示装置具有前面所述的显示面板的全部特征以及优点，在此不再赘述。总的来说，该显示装置可以具有较高的像素密度，整体性能优异。
附图说明
24.图1显示了现有技术中的面板裂纹检测组件的结构示意图；
25.图2显示了根据本发明一个实施例的面板裂纹检测组件的结构示意图；
26.图3显示了根据本发明另一个实施例的面板裂纹检测组件的结构示意图；
27.图4显示了根据本发明实施例的面板裂纹检测组件的一层结构示意图；
28.图5显示了根据本发明实施例的面板裂纹检测组件的另一层结构示意图；
29.图6显示了根据本发明实施例的面板裂纹检测组件的又一层结构示意图；
30.图7显示了根据本发明实施例的面板裂纹检测组件的又一层结构示意图；
31.图8显示了根据本发明又一个实施例的面板裂纹检测组件的结构示意图；
32.图9显示了根据本发明又一个实施例的面板裂纹检测组件的结构示意图；
33.图10显示了根据本发明一个显示面板的结构示意图。
具体实施方式
34.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附
图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
35.如前所述，现有技术中面板裂纹检测组件，参考图1，仅设置一条d1数据线向子像素提供暗信号，连接结构10沿显示面板的宽度方向(如图1中所示的x方向)依次排列设置，一个连接结构10与一个子像素相对应设置，每一个连接结构10具有一定的宽度，当像素密度较高时，连接结构10的数量也相应增加，而显示面板的宽度是有限的，该种设置难以满足空间排布需求，有待改进。
36.为了至少在一定程度上解决上述问题，在本发明的一方面，本发明提出了一种面板裂纹检测组件。参考图2，该面板裂纹检测组件包括：控制信号线100，控制信号线100沿第一方向(图2中所示的x方向)延伸；第一检测信号线200，第一检测信号线200沿第一方向延伸；至少两条第二检测信号线300；多个沿第一方向排列设置的第一连接单元20，其中，至少一个第一连接单元20中包括：至少两条传输信号线410(图2中仅示出了第一连接单元20中设置三条传输线号线410的情况)，至少两条传输信号410线沿第二方向(图2中所示的y方向)延伸且沿第一方向(x方向)排列设置；至少两个薄膜晶体管420(图2中仅示出了第一连接单元20中设置三个薄膜晶体管420的情况)，且至少一个薄膜晶体管420的源极和漏极中的一极与一条传输信号线410电连接，另一极与一条第二检测信号线300电连接，且至少一个薄膜晶体管420的栅极与控制信号线100电连接。由此，有利于节省排布空间。
37.根据本发明的一些实施例，至少两条第二检测信号线300与至少一个第一连接单元20中的至少两条传输信号线410以及至少两个薄膜晶体管420一一对应电连接。下面通过本发明的一个具体实施例进行说明：
38.根据本发明的一个具体实施例，参考图2和3，至少一个第一连接单元20中的薄膜晶体管的数量和传输信号线的数量相同，并且，至少一个第一连接单元20中的薄膜晶体管的数量和第二检测信号线的数量相同，其中图3中仅示出了第二检测信号线的数量为3条的情况。具体的，参考图3，第二检测信号线包括第一子检测信号线310、第二子检测信号线320、第三子检测信号线330，至少一个第一连接单元20中包括第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413和第一薄膜晶体管421、第二薄膜晶体管422、第三薄膜晶体管423，其中，第一薄膜晶体管421的源极和漏极中的一极与第一子传输信号线411电连接，另一极与第一子检测信号线310电连接；第二薄膜晶体管422的源极和漏极中的一极与第二子传输信号线412电连接，另一极与第二子检测信号线320电连接；第三薄膜晶体管423的源极和漏极中的一极与第三子传输信号线413电连接，另一极与第三子检测信号线330电连接。这种设置方式可以使得至少一个第一连接单元20中可以形成至少两个与图1中连接结构10等效的结构，也就是说，相比图1的连接方式，本发明中一个第一连接单元20可以至少与两个子像素或者两列子像素相对应，由此，有利于节省排布空间，当像素密度较高时，本发明提出的面板裂纹检测组件也可以实现良好的排布，并且可以实现显示面板裂纹检测功能。
39.需要说明的是，第一连接单元20中，传输信号线410的数量n1与薄膜晶体管420的数量n2是一致的，即n1＝n2。同时，第一连接单元20中传输线号线410的数量n1又与面板裂纹检测组件中第二检测信号线300的数量n3是一致，即n1＝n3。由此，有利于实现对子像素的信号输入。根据本发明的一些实施例，第一连接单元20中传输信号线410与薄膜晶体管420的数量均为2，面板裂纹检测组件中第二检测信号线300的数量也为2。根据本发明的另
一些实施例，第一连接单元20中传输信号线410与薄膜晶体管420的数量均为4，面板裂纹检测组件中第二检测信号线300的数量也为4。根据本发明的另一些实施例，第一连接单元20中传输信号线410与薄膜晶体管420的数量均为6，面板裂纹检测组件中第二检测信号线300的数量也为6。另外，本发明中对第二检测信号线的具体数量、第一连接单元20中的传输信号线410的数量、薄膜晶体管420的数量不做特别限定，前面所给出的具体数量仅是一些具体实施例中的设置情况，仅用于解释和说明，不应视作对本发明的限制。
40.还需要说明的是，第一方向和第二方向为不同的方向，可以如图2中所示的，第一方向(x方向)和第二方向(y方向)相交。另外，本发明的所有附图中的上述设计的结构并非位于同一层设置，不同层结构之间设置有绝缘层，只是图中并没有将绝缘层示出。
41.下面通过图1与图3的对比来进一步说明本发明能够利用较少的排布空间实现高像素密度的显示面板的裂纹检测的原理：图1是现有技术中一个面板裂纹检测组件的结构示意图，可以看到，沿x方向，连接结构10依次排列设置，每一个连接结构10在x方向上占据一定的宽度；而图3是本发明一个实施例的面板裂纹检测组件的结构示意图，由图3中可以看到，至少一个第一连接单元20中可以形成三个与图1中所示的连接结构10具有相同功能和作用的结构，现有技术中一个连接结构10与本发明一个第一连接单元中三个等效的连接结构占据相同或相近的宽度，由此，在显示面板非显示区的宽度方向(如x方向)上，可以利用图1中相同的宽度形成3倍数量的连接结构，也可以理解为，在图3中这种设置情况下，在宽度方向上的空间可以节省三分之二，节省的这部分空间则可以用于设置更多的连接结构。本领域技术人员应该理解，当第二检测信号线的条数设置为其他数量时，也可以相应的节省一定的排布空间，进而可以应用于高像素密度的显示面板或显示装置。需要说明的是，图3中虚线框中的结构不用于面板裂纹检测，考虑到直接将用于面板裂纹检测的组件中的薄膜晶体管等设置在排布的边缘区域，可能会存在边缘区域不够稳定的问题，该部分薄膜晶体管直接用于面板裂纹检测可能会影响检测的准确度，因此设置了虚线框中对应的结构，该部分不用于面板裂纹检测。
42.本发明中，薄膜晶体管420与第二检测信号线300和传输信号线410的连接方式不受特别限定，只要可以实现向子像素输入相应信号的功能即可。根据本发明的一些实施例，参考图2和图3，薄膜晶体管420的源极与一条第二检测信号线300一体设置以实现电连接，漏极通过过孔600与一条传输信号线410电连接。其中，薄膜晶体管420的源极与一条第二检测信号线300一体设置是指薄膜晶体管420的源极与一条第二检测信号线300可以采用相同材料同一工艺步骤一步形成。根据本发明的另一些实施例，薄膜晶体管420的漏极与一条第二检测信号线300一体设置以实现电连接，源极通过过孔600与一条传输信号线410电连接。其中，薄膜晶体管420的漏极与一条第二检测信号线300一体设置是指薄膜晶体管420的漏极与一条第二检测信号线300可以采用相同材料同一工艺步骤一步形成。
43.根据本发明的一些具体实施例，参考图2和图3，至少一个第一连接单元20还可以包括第一连接线430，其中，第一连接线430与至少两个薄膜晶体管420的栅极电连接，且与控制信号线100电连接。需要说明的是，至少一个第一连接单元20中的第一连接线430与该第一连接单元20中的每个薄膜晶体管420的栅极均形成电连接，由此，更有利于控制信号线100控制至少一个第一连接单元中所有薄膜晶体管的通断，即更有利于控制信号线100控制第二检测信号线300是否向子像素输入相应的暗信号。
44.对于上述各结构的单层结构的设置，下面以设置三条第二检测信号线的情况为例进行说明：如图4所示，在基板的一侧首先为薄膜晶体管的有源层4201；之后在基板远离有源层的一侧为如图5所示的结构，即传输信号线410中的一部分、第一连接线430以及薄膜晶体管420的栅极4202，传输信号线中600的区域是对应传输信号线与源漏或漏极电连接的过孔600；之后再在第一连接线430远离基板的设置传输信号线410中的另一部分(即所有的传输信号线410并非是全部设置在同一层，而是为了可以将所有的传输信号线排布开，将所有的传输信号线410分两层设置)以及一部分过孔600，如图6所示(至少一个第一连接单元中，三条传输信号线分两层设置，其中，相邻的两个第一连接单元中，一个第一连接单元中的一条传输信号线与另一个第一连接单元中的两条传输信号线可以同层形成，如此，可以更合理的在有限空间内布局更多的传输信号线)；然后再设置控制信号线100、第一检测信号线200、第二检测信号线300、连接部500以及薄膜晶体管420的漏极4203和源极4204，其中，源极4204与第二检测信号线300可以一体设置，如图7所示出的。其中需要说明的是，图7中虚线框中的薄膜晶体管的有源层和源极、漏极是同层形成的，也就是说虚线框中的薄膜晶体管结构的有源层和源极、漏极同层形成，该部分结构并不参与面板裂纹的检测。由上述各层结构形成本发明中的面板裂纹检测组件，如图3所示。
45.根据本发明的实施例，参考图2，至少一个第一连接单元20中，在第一方向上，即图2中所示的x方向上，至少两个薄膜晶体管420的栅极位于至少两条传输信号线410中靠近第一连接线430的一条传输信号线410与第一连接线430之间。需要说明的是，上述描述是指，至少两个薄膜晶体管420的栅极在基板上的正投影位于至少两条传输线号线410中靠近第一连接线430的一条传输信号线410在基板上的正投影与第一连接线430在基板上的正投影之间。下文中类似的描述也是采用上述相同思路来理解。根据本发明的一个实施例，在图3中所示出的一个第一连接单元20中，在x方向的箭头所指向的方向上，三条传输信号线410依次分别记为第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413，其中第三子传输信号线413和第一连接线430之间设置有三个薄膜晶体管420的栅极和有源层，三个薄膜晶体管420分别记为第一薄膜晶体管421、第二薄膜晶体管422和第三薄膜晶体管423。由此，至少一个第一连接单元20中的传输信号线410与薄膜晶体管420可以实现一一对应，进而有利于各种线路的合理布局，进而节省线路的布局空间。
46.其中，薄膜晶体管与传输信号线之间的电连接可以为通过过孔实现的。
47.根据本发明的一些具体实施例，参考图2，在至少一个第一连接单元20中，至少两条第二检测信号线300沿第一方向延伸并沿第二方向间隔排列设置，即第二检测信号线沿x方向延伸并沿y方向间隔排列设置(其中，间隔排列是指两条第二检测信号线300之间可以设置有薄膜晶体管420)。其中，第一检测信号线200设置在控制信号线100靠近第二检测信号线300的一侧，也即是说，第一检测信号线200设置在控制信号线100和最靠近控制信号线100的一条第二检测信号线300之间。由此，可以更有利于节省排布空间。需要说明的是，本发明中沿y方向，控制信号线100、第一检测信号线200、第二检测线信号300的具体排布顺序也可以为其他排布顺序，例如，第一检测信号线200也可以设置在远离控制信号线100的一条第二检测信号线300远离控制信号线100的一侧，第一检测信号线200还可以设置在控制信号线100远离第二检测信号线300的一侧，也可以为其他的排布顺序，只要能够实现对子像素的信号输入并进行面板裂纹检测即可。
48.根据本发明的实施例，参考图2，在至少一个第一连接单元20中，至少两个薄膜晶体管420沿第二方向(即图2中所示的y方向)排列设置，且分别位于在相邻两条第二检测信号线300之间以及第二检测信号线300与第一检测信号线200之间。由此，更有利于节省排布空间。根据本发明的一些具体实施例，当至少一个第一连接单元20中设置两个薄膜晶体管420时，一个薄膜晶体管420设置在相邻的两条第二检测信号线300之间，另一个设置在一条第二检测信号线300与第一检测信号线200之间。根据本发明的另一些具体实施例，参考图2，至少一个第一连接单元中设置三个薄膜晶体管420，其中，两个薄膜晶体管420分别设置在相邻的两条第二检测线300之间，另外一个薄膜晶体管420则设置在第二检测信号线300与第一检测信号线200之间。
49.根据本发明的实施例，参考图2和图3，面板裂纹检测组件可以包括三条第二检测信号线300，三条第二检测信号线300沿第一方向(x方向)延伸并沿第二方向(y方向)间隔排列设置(间隔排列是指两条第二检测信号线300之间可以设置有薄膜晶体管420)，其中，至少一个第一连接单元20中包括三条传输信号线410和三个薄膜晶体管420，三条传输信号线410沿第二方向延伸且沿第一方向(x方向)排列设置，且至少一个薄膜晶体管420的源极和漏极中的一个与一条传输信号线410电连接，另一个与一条第二检测信号线300电连接，且至少一个薄膜晶体管420的栅极通过第一连接线430与控制信号线100电连接，三个薄膜晶体管420沿第二方向(y方向)排列设置，其中，至少一个第一连接单元20中的两个薄膜晶体管420分别位于在相邻两条第二检测信号线300之间，一个薄膜晶体管420位于第二检测信号线300与第一检测信号线200之间。
50.根据本发明的实施例，如前所述，如图3、图7和8所示(图中以漏极与传输信号线电连接为例)，以第一连接单元20包括三条传输信号线410和三个薄膜晶体管420为例，三条传输信号线410为第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413，三个薄膜晶体管420分别记为第一薄膜晶体管421、第二薄膜晶体管422和第三薄膜晶体管423，其中，三个薄膜晶体管420的栅极和有源层设置在第三子传输信号线413和连接线第一连接线430之间，所以，很显然，第一薄膜晶体管421的漏极的长度大于第二薄膜晶体管422的漏极的长度，第二薄膜晶体管422的漏极的长度大于第三薄膜晶体管423的漏极的长度。在另一些实施例中，薄膜晶体管的源极与传输信号线电连接，则是第一薄膜晶体管421的源极的长度大于第二薄膜晶体管422的源极的长度，第二薄膜晶体管422的源极的长度大于第三薄膜晶体管423的源极的长度。当然，在另一些实施例中，三个薄膜晶体管420的漏极之间的长度大小并没有特殊的大小关系，只要可以保证薄膜晶体管420的漏极与传输信号线410有效连接即可。
51.根据本发明的实施例，参考图3和图8，面板裂纹检测组件还可以包括连接部500，其中，连接部500位于第二检测信号线300在第一方向(图3中所示的x方向)上的边缘，且与至少两条第二检测信号线300电连接。由此，连接部500可以将第二检测信号线300连接起来，可以由同一个信号源(信号源可以为电源等)为多条第二检测信号线300提供同样的信号，有利于面板裂纹检测信号的统一输入，并且可以节省信号源。图3中仅示出了连接部500的一种设置位置，本领域技术人员也可以根据实际设计需求选择在其他位置设置连接部，只要可以实现对第二检测信号线300的统一管理即可。
52.根据本发明的一些具体实施例，连接部500可以与第二检测信号线300为一体结
构，也即使说，连接部500可以与多条第二检测信号线300同层同步骤形成，由此，可以利用简单的方法同时形成连接部和多条第二检测信号线，有利于节省制作成本，进而便于产业化应用。
53.在本发明的一些具体实施例，参考图3，至少一条所述第二检测信号线包括第一子检测信号线310、第二子检测信号线320、第三子检测信号线330，第一子检测信号线310、第二子检测信号线320和第三子检测信号线330沿第一方向(x方向)延伸并沿第二方向(y方向)间隔排列设置。其中，至少一个所述第一连接单元20包括第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413和第一薄膜晶体管421、第二薄膜晶体管422、第三薄膜晶体管423，第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413沿第二方向(y方向)延伸且沿第一方向(x方向)排列设置，且第一薄膜晶体管421的源极和漏极中的一极与第一子传输信号线411电连接，另一极与第一子检测信号线310电连接，且第一薄膜晶体管421的栅极通过第一连接线430与控制信号线100电连接；第二薄膜晶体管422的源极和漏极中的一极与第二子传输信号线412电连接，另一极与第二子检测信号线320电连接，且第二薄膜晶体管423的栅极通过第一连接线430与控制信号线100电连接；第三薄膜晶体管423的源极和漏极中的一极与第三子传输信号线413电连接，另一极与第三子检测信号线330电连接，且第三薄膜晶体管423的栅极通过第一连接线430与控制信号线100电连接；第一薄膜晶体管421、第二薄膜晶体管422、第三薄膜晶体管423沿第二方向排列设置，其中，第一薄膜晶体管421位于第一子检测信号线310和第二子检测信号线320之间，第二薄膜晶体管422位于第二子检测信号线320和第三子检测信号线330之间，第三薄膜晶体管423位于第三子检测信号线330和第一检测信号线200之间。
54.根据本发明的一些实施例，参考图9，面板裂纹检测组件还可以包括：至少一个第二连接单元30，其中，至少一个第二连接单元30中包括：至少两条检测传输信号线(图中以一个第二连接单元中设置三条检测传输信号线710、720、730为例)，至少两条检测传输信号线沿第二方向(y方向)延伸且沿第一方向(x方向)排列设置；至少两个检测薄膜晶体管(图中以一个第二连接单元中设置三个检测薄膜晶体管810、820、830为例)，且至少两个检测薄膜晶体管中一部分检测薄膜晶体管中的源极和漏极中的一极与一条检测传输信号线电连接，另一极与一条第二检测信号线电连接；至少两个检测薄膜晶体管中另一部分检测薄膜晶体管中的源极和漏极中的一极与一条检测传输信号线电连接，另一极与第一检测信号线200电连接，且至少一个检测薄膜晶体管的栅极与控制信号线100电连接。由此，控制信号线可以控制第一检测信号线的通断，并且第一检测信号线可以向相应的子像素输入亮信号，进而可以通过该部分子像素是否发光来判断显示面板的边缘区域是否存在裂纹。需要说明的是，当设置两个或两个以上的第二连接单元时，至少两个第二连接单元可以沿第一方向(x方向)排列设置。
55.在一些实施例中，第二连接单元中的检测薄膜晶体管的数量也可以设置为与检测传输信号线数量相同，并且可以与第二检测信号线的数量相同，由此，更有利于实现面板裂纹检测。其中，第二连接单元中的检测薄膜晶体管的数量与第二检测信号线的数量相同(以包括三个检测薄膜晶体管为例)，如前所述，两个检测薄膜晶体管810、820分别与不同的两条第二检测信号线即第一子检测信号线310和第三子检测信号线330连接，一个检测薄膜晶体管830与第一检测信号线200连接，而并非是与第二子检测信号线320连接，但是第二子检
测信号线320是依然存在的，所以说第二连接单元中的检测薄膜晶体管的数量与第二检测信号线的数量相同。
56.根据本发明的实施例，参考图9，至少一个第二连接单元30还包括：第二连接线40，第二连接线40与至少两个检测薄膜晶体管的栅极电连接，且与控制信号线100电连接。由此，更有利于控制信号线控制薄膜晶体管的通断，进而控制相应的信号是否输入子像素。
57.需要说明的是，检测薄膜晶体管与检测传输信号线之间的电连接、检测薄膜晶体管与第二检测信号线或第一检测信号线的电连接、第二连接线与控制信号线的电连接的也可以为通过过孔实现的。
58.根据本发明的一个具体实施例，如图9所示，面板裂纹检测组件还包括多个沿第一方向排列设置的第二连接单元30(图9中以设置4个第二连接单元30为例进行说明)，其中，至少一个第二连接单元30中包括第一子检测传输信号线710、第二子检测传输信号线720、第三子检测传输信号线730和第一检测薄膜晶体管810、第二检测薄膜晶体管820、第三检测薄膜晶体管830，第一子检测传输信号线710、第二子检测传输信号线720、第三子检测传输信号线730沿第二方向(y方向)延伸且沿第一方向(x方向)排列设置。其中，第一检测薄膜晶体管810的源极和漏极中的一极与第一子检测传输信号线710电连接，另一极与第一子检测信号线310电连接，且第一检测薄膜晶体管810的栅极通过第二连接线40与控制信号线100电连接；第二检测薄膜晶体管820的源极和漏极中的一极与第三子检测传输信号线730电连接，另一极与第三子检测信号线330电连接，且第二检测薄膜晶体管820的栅极通过第二连接线40与控制信号线100电连接；第三检测薄膜晶体管830的源极和漏极中的一极与第二子检测传输信号线720电连接，另一极与第一检测信号线200电连接，且第三检测薄膜晶体管830的栅极通过第二连接线40与控制信号线100电连接。
59.在本发明的另一方面，本发明提出了一种显示面板，该显示面板包括前面所述的面板裂纹检测组件，且面板裂纹检测组件位于显示面板的周边区域。如图10所示，显示面板包括显示区域aa区和围绕显示区域的周边区域，面板裂纹检测组件设置在显示面板的周边区域。由此，该显示面板具有前面的面板裂纹检测组件的全部特征以及优点，在此不再赘述。总的来说，该显示面板的裂纹检测组件具有足够的排布空间，能够与显示面板的高像素密度相匹配。
60.根据本发明的实施例，参考图10，周边区域包括依次连接的第一边区1100、第二边区1200、第三边区1300和第四边区1400，第一检测信号线200包括第一线210和第二线220，其中，第一线210依次由第一边区1100向第二边区1200和第三边区1300延伸，并在第三边区1300弯折依次向第二边区1200和第一边区1100延伸；第二线220则依次由第一边区1100向第四边区1400和第三边区1300延伸，并在第三边区1300弯折依次向第四边区1400和第一边区1100延伸。由此，第一检测信号线200环绕显示区域的周边区域设置，可以检测周边区域是否存在裂纹，且上述缠绕方式可以更合理的布局各个线路的排布。另外，还可以采用其他的缠绕方式，只要可以实现对周边区域的裂纹检测即可。
61.根据本发明的实施例，参考图10，显示面板的显示区域aa区可以包括多个像素单元(图中未示出)，至少一个像素单元包括红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素(图中未示出)。面板裂纹检测组件中的至少一条第二检测信号线包括第一子检测信号线310、第二子检测信号线320、第三子检测信号线330，至少一个第二连接单元30包括第一子检测传输信
号线710、第二子检测传输信号线720、第三子检测传输信号线730和第一检测薄膜晶体管810、第二检测薄膜晶体管820、第三检测薄膜晶体管830。
62.其中，显示面板裂纹的检测可以通过一些子像素的亮暗来检测，或者可以通过至少一列子像素的亮暗来检测。具体的：
63.在一些具体实施例中，第一子检测传输信号线710、第二子检测传输信号线720、第三子检测传输信号线730分别与一个像素单元中的红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素电连接，以便检测该像素单元中的亮暗。该设置方式可以通过某些子像素的亮暗来检测显示面板是否存在裂纹。
64.在另一些具体实施例中，第一子检测传输信号线710、第二子检测传输信号线720、第三子检测传输信号线730中的一条与同一列子像素电连接；在本发明的另一些具体实施例中，第一子检测传输信号线710、第二子检测传输信号线720、第三子检测传输信号线730中的两条可以分别与不同的两列子像素电连接；在本发明的另一些具体实施例中，第一子检测传输信号线710、第二子检测传输信号线720和第三子检测传输信号线730可以分别与不同的三列子像素电连接。上述三种设置方式可以通过至少一列的子像素的亮暗来检测显示面板是否存在裂纹。
65.根据本发明的实施例，上述几种检测方式均可以用于检测real rgb中至少一列的子像素的亮暗，具体的：在real rgb排布中，real rgb像素列依次呈多行多列排布，则一个第二连接单元中三条检测传输信号线可分别为像素单元中的红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素提供信号，以便通过检测该像素单元中子像素的亮暗来检测显示面板是否存在裂纹；一个第二连接单元中一条检测传输信号线可分别为real rgb中一列子像素提供信号，以便检测该列子像素的亮暗；或者，一个第二连接单元中的两条检测传输信号线可分别为real rgb中的两列子像素提供信号，以便检测该两列子像素的亮暗；或者，一个第二连接单元中的三条检测传输信号线可分别为real rgb中的三列子像素提供信号，以便检测该三列子像素的亮暗。
66.根据本发明的实施例，在显示面板的面板裂纹检测组件中，至少一个第一连接单元20包括第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413和第一薄膜晶体管421、第二薄膜晶体管422、第三薄膜晶体管423，其中，第一连接单元20中的第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413与显示区中子像素的连接方式可以包括以下几种情况：
67.在本发明的一些具体实施例中，第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413可以分别与显示面板的一个像素单元中的红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素电连接；
68.在本发明的另一些具体实施例中，第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413中的一条也可以与同一列子像素电连接；
69.在本发明的另一些具体实施例中，第一子传输信号线411、第二子传输信号线412、第三子传输信号线413中的两条也可以分别与不同的两列子像素电连接；
70.在本发明的又一些具体实施例中，第一子传输信号线411、第二子传输信号线412和第三子传输信号线413也可以分别与不同的三列子像素电连接。
71.根据本发明的实施例，上述几种连接方式不仅有助于各个线路在有限的空间内的
合理排布，还有助于检测显示面板是否存在裂纹。
72.需要说明的是，如图10中所示出的，第二检测信号线300、控制信号线100可以设置在第一边区1100，第一检测信号线的一部分设置在第一边区，第一控制端k1用于调节控制信号线100，第二控制端k2用于向第一检测信号线200输入信号，而第三控制端k3则用于向第二检测信号线300输入信号。图10中仅表示出了一条第二检测信号线300，其余的第二检测信号线300并未标出。还需要说明的是，面板裂纹检测组件还可以包括其他的检测结构，例如，图10中还示出了用于检测电阻的结构m。需要说明的是，本发明中对各控制端的设置没有特殊要求，本领域技术人员可以根据实际情况进行设置，只要能够实现对相应部分的控制即可。
73.对该显示面板进行面板裂纹检测时，第二检测信号线300将其接收到的暗信号通过至少一个第一连接单元中的三条传输信号线410将该暗信号输入到相对应的像素单元中的红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素，使输入暗信号的子像素不发光，或者三条传输信号线将该暗信号输入到相对应的子像素列中，使输入暗信号的子像素列不发光，而第一检测信号线200将其接收到的亮信号通过与第一检测信号线200电连接的检测传输信号线(第一子检测传输信号线710、第二子检测传输信号线720、第三子检测传输信号线730)将该亮信号输入到其他的像素单元中的子像素或子像素列，使其发光，此时，如果输入亮信号的子像素或子像素列发光，则可以检测显示面板的边缘区域没有裂纹；如果输入亮信号的子像素或子像素列不发光，由于第一检测信号线200环绕周边区域设置，第一检测信号线200在某处断开，导致亮信号没有成功输入给相应的子像素或子像素列，由此可以检测显示面板的边缘区域存在裂纹。当然本领域技术人员可以理解，上述第一检测信号线200输入的亮信号和第二检测信号线300输入暗信号只是本发明的一种情况，本发明中对于第一检测信号线、第二检测信号线输入亮信号和暗信号没有特殊要求，比如在另一些实施例中，第一检测信号线可以输入暗信号，第二检测信号线可以输入亮信号，只要第一检测信号线断开前后显示面板显示的画面有差异，有助于检测出显示面板是否有裂纹即可。
74.在本发明的又一方面，本发明提出了一种显示装置，所述显示装置包括前面所述的显示面板。该显示装置具有前面所述的显示面板的全部特征以及优点，在此不再赘述。总的来说，该显示装置可以具有较高的像素密度，整体性能优异。
75.根据本发明的实施例，显示装置的具体类型不做特别限定，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择，例如，显示装置可以为手机、ipad、笔记本等。
76.本领域技术人员理解，上述显示装置除了具备前面所述的显示面板之外，还具备常规显示装置所必备的结构和部件。以显示装置为手机为例，除了包括前面所述的显示面板之外，还包括主板、触控面板、中框、后盖、摄像模组、音频模组等必备的结构和部件。
77.在本说明书的描述中，参考术语“实施例”、“一个实施例”、“另一个实施例”、“一些实施例”、“一些具体实施例”、“另一些具体实施例”等的描述意指结合该实施例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。另外，需要说明的是，本说明书中，术语“第一”、“第二”仅用于描
述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。
78.尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。