一种电子探针薄片样品台的制作方法

1.本实用新型属于地质薄片分析技术领域，尤其是涉及一种电子探针薄片样品台。


背景技术：

2.电子探针是一种可以用来分析薄片中矿物微区化学组成的分析仪器，因此在地质探测过程中需要将待研究分析的岩石和矿物制作成薄片，即电子探针薄片，电子探针薄片的长度一般为47mm～50mm，宽度不大于28mm，厚度1mm左右。目前电子探针薄片在安装到样品台的过程中，因为电子探针薄片的测试面朝上，测试面在安装过程中容易受到测试人员接触并被污染，从而造成测试的不准确。
3.因此，现如今缺少一种结构简单，设计合理的电子探针薄片样品台，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平。


技术实现要素：

4.本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种电子探针薄片样品台，其结构简单，设计合理，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平，可减少样品台在测试过程中频繁地聚焦，提高测试效率和测试精度。
5.为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种电子探针薄片样品台，其特征在于：包括滑轨座、设置在滑轨座上的竖向板、设置在竖向板上的底座和设置在底座上且与滑轨座顶部平行的样品台；
6.所述样品台的底部设置有与底座配合的连接部件，所述连接部件包括设置在样品台的底部且伸入底座内的套筒和穿设在套筒中的连接轴，所述连接轴伸出套筒的两端穿过所述底座，所述底座的顶部和套筒的顶部相齐平，所述样品台能绕连接轴旋转，所述套筒上设置有两个对称布设的限位块，所述底座中设置有与所述限位块配合的限位槽，所述连接轴能带动套筒靠近或者远离限位槽。
7.上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：所述底座包括矩形座体和两个对称设置在矩形座体上的座体耳，两个座体耳和矩形座体围成供套筒安装的容纳腔，所述矩形座体和两个座体耳围成u形结构，所述限位槽位于矩形座体内，所述限位槽的长度小于两个座体耳之间的间距，所述连接轴伸出套筒的两端均穿过座体耳；
8.所述样品台上设置有第一开口部和第二开口部。
9.上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：两个所述座体耳分别为左座体耳和右座体耳，所述左座体耳内设置有左腰形通孔，所述右座体耳内设置有右腰形通孔，所述连接轴穿过套筒的两端穿过左腰形通孔和右腰形通孔，且所述连接轴能沿左腰形通孔和右腰形通孔滑移，以使连接轴带动套筒靠近或者远离限位槽移动。
10.上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：所述样品台的底部设置有左连接耳与右连接耳，所述套筒设置在左连接耳与右连接耳之间，所述左连接耳和右连接耳均位于容纳腔内，所述左连接耳的外侧壁和一个座体耳的内侧壁相贴合，所述右连接耳的外侧壁和另一个座体耳的内侧壁相贴合；
11.所述连接轴伸出套筒的一端依次穿过所述左连接耳和底座中的左腰形通孔，所述连接轴伸出套筒的另一端依次穿过所述右连接耳和底座中的右腰形通孔。
12.上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：两个所述限位块分别为第一限位块和第二限位块，第一限位块和第二限位块之间的夹角为180
°
，第一限位块和第二限位块的长度小于套筒的长度，所述第一限位块或者第二限位块均能嵌入限位槽中，所述限位槽的槽深和第一限位块与第二限位块的宽度相适应。
13.上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：所述样品台为矩形台面，所述样品台上设置有安装区，所述安装区设置有中间板，所述样品台底面靠近安装区的边缘区域设置有边缘台阶状凹槽，所述中间板上设置有两个对称布设的中间台阶状凹槽，所述边缘台阶状凹槽和中间台阶状凹槽的槽顶相齐平；
14.所述样品台底面靠近所述边缘台阶状凹槽的边缘区域上设置有多个周向压片，多个所述周向压片的结构相同，且所述周向压片均包括对安装区放置的电子探针薄片进行固定的压片，所述压片上设置有调节孔，所述调节孔为腰形孔，所述压片通过螺钉安装在样品台上。
15.本实用新型与现有技术相比具有以下优点：
16.1、结构简单、设计合理且操作便捷。
17.2、本实用新型连接部件包括套筒和穿设在套筒中的连接轴，在套筒位于样品台的底部和连接轴穿过底座的作用下，实现样品台和底座的连接；另外套筒和连接轴间隙配合，从而便于套筒绕连接轴旋转，以实现样品台的逆时针180
°
翻转，便于在电子探针薄片安装到样品台时测试面朝下，避免其受到接触而被污染，而样品台顺时针翻转180
°
复位后，确保电子探针薄片的测试面向上且相齐平，后期测试过程中，样品台不用频繁地聚焦，则能有效地提高测试效率和测试精度。
18.3、本实用新型设置限位槽，是为了当样品台复位后，以使一个限位块插入限位槽中，从而确保样品台复位到位，且确保样品台的顶面和滑轨座的顶面相平行；另外当样品台逆时针翻转180
°
后，以使另一个限位块插入限位槽中，从而确保样品台逆时针翻转180
°
到位，且能对样品台进行支撑，方便电子探针薄片的安装。
19.综上所述，本实用新型结构简单，设计合理，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平，可减少样品台在测试过程中频繁地聚焦，提高测试效率和测试精度。
20.下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
21.图1为本实用新型的结构示意图。
22.图2为图1的后视图。
23.图3为本实用新型底座的结构示意图。
24.图4为本实用新型样品台和连接部件的仰视图。
25.图5为本实用新型连接部件的结构示意图。
26.图6为本实用新型连接部件和底座(限位块伸入限位槽时)的结构示意图。
27.图7为本实用新型连接部件和底座(限位块移出限位槽时)的结构示意图。
28.附图标记说明:
29.1—滑轨座；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
2—竖向板；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
3—底座；
[0030]3‑
1—矩形座体；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ3‑
2—座体耳；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ3‑
3—限位槽；
[0031]3‑
4—左腰形通孔；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ3‑
5—右腰形通孔；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ3‑
6—容纳腔；
[0032]
4—连接轴；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
5—样品台；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ5‑
1—第一开口部；
[0033]5‑
2—第二开口部；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ5‑
3—边缘台阶状凹槽；
ꢀꢀꢀ
6—连接部件；
[0034]6‑
1—左连接耳；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ6‑
2—右连接耳；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ6‑
3—套筒；
[0035]6‑
4—第一限位块；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ6‑
5—第二限位块；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
7—中间板；
[0036]7‑
1—中间台阶状凹槽；
ꢀꢀ
9—安装区；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
10—压片；
[0037]
10
‑
1—调节孔；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
11—螺钉；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
14—锁紧螺母。
具体实施方式
[0038]
如图1至图7所示，本实用新型包括滑轨座1、设置在滑轨座1上的竖向板2、设置在竖向板2上的底座3和设置在底座3上且与滑轨座1顶部平行的样品台5；
[0039]
所述样品台5的底部设置有与底座3配合的连接部件6，所述连接部件包括6设置在样品台5的底部且伸入底座3内的套筒6
‑
3和穿设在套筒6
‑
3中的连接轴4，所述连接轴4伸出套筒6
‑
3的两端穿过所述底座3，所述底座3的顶部和套筒6
‑
3的顶部相齐平，所述样品台5能绕连接轴4旋转，所述套筒6
‑
3上设置有两个对称布设的限位块，所述底座3中设置有与所述限位块配合的限位槽3
‑
3，所述连接轴4能带动套筒6
‑
3靠近或者远离限位槽3
‑
3。
[0040]
如图3所示，本实施例中，所述底座3包括矩形座体3
‑
1和两个对称设置在矩形座体3
‑
1上的座体耳3
‑
2，两个座体耳3
‑
2和矩形座体3
‑
1围成供套筒6
‑
3安装的容纳腔3
‑
6，所述矩形座体3
‑
1和两个座体耳3
‑
2围成u形结构，所述限位槽3
‑
3位于矩形座体3
‑
1内，所述限位槽3
‑
3的长度小于两个座体耳3
‑
2之间的间距，所述连接轴4伸出套筒6
‑
3的两端均穿过座体耳3
‑
2；
[0041]
所述样品台5上设置有第一开口部5
‑
1和第二开口部5
‑
2。
[0042]
如图3所示，本实施例中，两个所述座体耳3
‑
2分别为左座体耳和右座体耳，所述左座体耳内设置有左腰形通孔3
‑
4，所述右座体耳内设置有右腰形通孔3
‑
5，所述连接轴4穿过套筒6
‑
3的两端穿过左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5，且所述连接轴4能沿左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5滑移，以使连接轴4带动套筒6
‑
3靠近或者远离限位槽3
‑
3移动。
[0043]
如图4所示，本实施例中，所述样品台5的底部设置有左连接耳6
‑
1与右连接耳6
‑
2，所述套筒6
‑
3设置在左连接耳6
‑
1与右连接耳6
‑
2之间，所述左连接耳6
‑
1和右连接耳6
‑
2均位于容纳腔3
‑
6内，所述左连接耳6
‑
1的外侧壁和一个座体耳3
‑
2的内侧壁相贴合，所述右连接耳6
‑
2的外侧壁和另一个座体耳3
‑
2的内侧壁相贴合；
[0044]
所述连接轴4伸出套筒6
‑
3的一端依次穿过所述左连接耳6
‑
1和底座3中的左腰形
通孔3
‑
4，所述连接轴4伸出套筒6
‑
3的另一端依次穿过所述右连接耳6
‑
2和底座3中的右腰形通孔3
‑
5。
[0045]
如图5、6和7所示，本实施例中，两个所述限位块分别为第一限位块6
‑
4和第二限位块6
‑
5，第一限位块6
‑
4和第二限位块6
‑
5之间的夹角为180
°
，第一限位块6
‑
4和第二限位块6
‑
5的长度小于套筒6
‑
3的长度，所述第一限位块6
‑
4或者第二限位块6
‑
5均能嵌入限位槽3
‑
3中，所述限位槽3
‑
3的槽深和第一限位块6
‑
4与第二限位块6
‑
5的宽度相适应。
[0046]
如图4所示，本实施例中，所述样品台5为矩形台面，所述样品台5上设置有安装区9，所述安装区9设置有中间板7，所述样品台5底面靠近安装区9的边缘区域设置有边缘台阶状凹槽5
‑
3，所述中间板7上设置有两个对称布设的中间台阶状凹槽7
‑
1，所述边缘台阶状凹槽5
‑
3和中间台阶状凹槽7
‑
1的槽顶相齐平；
[0047]
所述样品台5底面靠近所述边缘台阶状凹槽5
‑
3的边缘区域上设置有多个周向压片，多个所述周向压片的结构相同，且所述周向压片均包括对安装区9放置的电子探针薄片进行固定的压片10，所述压片10上设置有调节孔10
‑
1，所述调节孔10
‑
1为腰形孔，所述压片10通过螺钉11安装在样品台5上。
[0048]
本实施例中，样品台5上设置第一开口部5
‑
1和第二开口部5
‑
2，是为了两个给座体耳3
‑
2让位，以使样品台5逆时针翻转180
°
过程中，有效地容纳座体耳3
‑
2。
[0049]
本实施例中，限位槽3
‑
3的长度和第一限位块6
‑
4与第二限位块6
‑
5的长度均相同，从而容纳第一限位块6
‑
4与第二限位块6
‑
5。
[0050]
本实施例中，设置第一限位块6
‑
4和第二限位块6
‑
5之间的夹角为180
°
，当样品台5顺时针翻转180
°
复位后，以使第一限位块6
‑
4插入限位槽3
‑
3中，从而确保样品台5复位到位，且确保样品台5的顶面和滑轨座1的顶面相平行；另外当样品台5逆时针翻转180
°
后，以使第二限位块6
‑
5插入限位槽3
‑
3中，从而确保样品台5逆时针翻转180
°
到位，且能对样品台5进行支撑，方便电子探针薄片的安装。
[0051]
本实施例中，设置左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5，是为了连接轴4沿左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5滑移，以使连接轴4带动套筒6
‑
3靠近或者远离限位槽3
‑
3移动，在套筒6
‑
3靠近限位槽3
‑
3移动的过程中，直至第一限位块6
‑
4或者第二限位块6
‑
5插入限位槽3
‑
3中且套筒6
‑
3外侧壁贴合矩形座体3
‑
1侧面，从而实现限位。
[0052]
本实施例中，连接轴4伸出底座3的端部设置有锁紧螺母14。
[0053]
本实施例中，当样品台5需要翻转180
°
进行电子探针薄片安装时，拆除锁紧螺母14，操作连接轴4沿左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5滑移，直至第一限位块6
‑
4移出限位槽3
‑
3，手动操作样品台5绕连接轴4逆时针翻转180
°
；
[0054]
然后操作连接轴4沿左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5反向滑移，直至第二限位块6
‑
5移动至限位槽3
‑
3中，完成样品台5180
°
翻转，之后，测试人员在安装区9安装电子探针薄片；
[0055]
当电子探针薄片安装完毕之后，操作连接轴4沿左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5滑移，直至第二限位块6
‑
5移出限位槽3
‑
3，手动操作样品台5绕连接轴4顺时针翻转180
°
；然后操作连接轴4沿左腰形通孔3
‑
4和右腰形通孔3
‑
5反向滑移，直至第一限位块6
‑
4移动至限位槽3
‑
3中，完成样品台5顺时针翻转180
°
复位，以使电子探针薄片的测试面朝上。
[0056]
本实施例中，当在安装区9安装电子探针薄片时，通过调节压片10，以使压片10对
电子探针薄片的底部进行固定限位，且确保翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平，从而提高测试精度。
[0057]
本实施例中，设置容纳腔3
‑
6不仅为了容纳套筒6
‑
3，还便于样品台5的翻转。
[0058]
本实施例中，需要说明的是，矩形座体3
‑
1的顶部设置有让位槽，以适应电子探针薄片的底部。
[0059]
综上所述，本实用新型结构简单，设计合理，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平，可减少样品台在测试过程中频繁地聚焦，提高测试效率和测试精度。
[0060]
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型作任何限制，凡是根据本实用新型技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本实用新型技术方案的保护范围内。