检测卡输送结构的制作方法

1.本技术涉及样本检测领域，特别是涉及检测卡输送结构。


背景技术：

2.尿液分析是目前医院临床检验科常规的检测项目之一，无论是尿液沉渣测试还是尿液染色检验，均已获得广泛应用，传统尿液分析仪主要采用一次性检测卡技术等，对于采用一次性检测卡技术的尿液分析仪，在样本份数少，或者样本份数不是检测卡支持份数的整数倍时，浪费严重，尤其是对于自动化仪器的自行检测，浪费了大量资源，亦降低了整体检测效率。


技术实现要素：

3.基于此，有必要提供一种检测卡输送结构。
4.一种检测卡输送结构，其包括：
5.机架；
6.进卡导轨，设置在所述机架上；
7.进卡组件，滑动设置在所述进卡导轨上，用于推送当前检测卡；
8.进卡电机，设置在所述机架上，用于带动所述进卡组件在所述进卡导轨上往复滑动；
9.回卡导轨，设置在所述机架上；
10.回卡组件，滑动设置在所述回卡导轨上，用于回送当前检测卡且在所述进卡组件推送所述当前检测卡经过预设位置的状态下留有避位空间；
11.回卡电机，设置在所述机架上，用于带动所述回卡组件在所述回卡导轨上往复滑动。
12.上述检测卡输送结构，通过采用进卡设计及回卡设计，一方面有利于实现当前检测卡的回送，确保检测卡的充分利用，不浪费检测资源；另一方面进卡设计及回卡设计均无需人工干预，有利于配合实现自动化检测；再一方面在进卡过程中回卡组件自动避让，不会造成干扰；又一方面在结构上具有简单的优点，易于生产制造，且易于与其它检测结构相互配合使用。
13.在其中一个实施例中，所述回卡组件具有施力端，所述回卡组件在滑动到所述预设位置的状态下，所述施力端具有与所述当前检测卡分离的状态以形成所述避位空间，所述回卡组件在离开预设位置的状态下，所述施力端处于接触施力位置，且所述施力端在所述接触施力位置处具有与所述当前检测卡抵持的状态。
14.在其中一个实施例中，所述检测卡输送结构还包括：
15.回卡转轴及回卡座，所述回卡座滑动设置在所述回卡导轨上，所述回卡组件通过所述回卡转轴转动设置在所述回卡座上，用于在所述进卡组件推送所述当前检测卡经过所述预设位置的状态下留有避位空间；以及，
16.限位件，设置在所述机架上，所述回卡电机带动所述回卡组件在所述回卡导轨上滑动到所述预设位置的状态下，所述限位件抵持所述回卡组件且使所述回卡组件转动至极限转动位置，使所述施力端处于与所述当前检测卡分离的状态，以形成所述避位空间。
17.在其中一个实施例中，所述检测卡输送结构还包括：限位块，设置在所述回卡座上，所述回卡组件位于所述限位件与所述限位块之间，所述限位块用于在所述回卡组件与所述限位件相分离的状态下，限制所述回卡组件的转动位置，使所述施力端具有与所述当前检测卡抵持的状态；
18.或者，所述回卡组件还具有配重底部，用于在所述回卡组件与所述限位件相分离的状态下，在重力作用下升高所述施力端以使所述施力端处于接触施力位置，且所述施力端在所述接触施力位置处具有与所述当前检测卡抵持的状态；
19.或者，所述限位件具有限位抵接端及限位固定端，所述限位固定端设置在所述机架上，所述限位抵接端用于在所述回卡组件转动至极限转动位置的状态下抵持所述回卡组件。
20.在其中一个实施例中，所述进卡组件具有推送端，在所述进卡电机带动所述进卡组件的状态下，所述推送端具有与所述当前检测卡抵持的状态及与所述当前检测卡分离的状态；其中，所述推送端与所述施力端相对设置，所述推送端或所述施力端用于抵持于所述当前检测卡的卡口处；
21.所述检测卡输送结构还包括：
22.进卡转轴及进卡座，所述进卡座滑动设置在所述进卡导轨上，所述进卡组件通过所述进卡转轴转动设置在所述进卡座上，用于在所述进卡组件远离所述回卡组件运动且发生转动的状态下，具有降低高度的调整空间；以及，
23.抵接块，设置在所述机架上，用于限制所述进卡组件的最大转动位置；且所述进卡组件还具有加重底部，用于在重力作用下转动所述进卡组件。
24.在其中一个实施例中，所述抵接块的顶部抵接端设置在所述机架上，底部抵接端根据所述进卡组件及所述当前检测卡的相对位置设置，用于限制所述进卡组件的最大转动位置以使所述推送端具有与所述当前检测卡抵持的状态。
25.在其中一个实施例中，所述进卡导轨与所述回卡导轨平行设置。
26.在其中一个实施例中，所述检测卡输送结构还包括：
27.导向板，设置在所述机架上；
28.滑轨，设置在所述导向板上，所述当前检测卡滑动设置在所述滑轨上，且所述进卡导轨及所述回卡导轨均位于所述滑轨的下方；以及，
29.检测卡盒，设置在所述导向板上且容置有检测卡，所述检测卡盒于其底部设有连通所述滑轨的开口，以使位于所述底部的所述检测卡作为所述当前检测卡，通过所述开口滑动设置在所述滑轨上；并且，
30.所述进卡组件用于在远离所述检测卡盒移动的状态下，抵持所述当前检测卡以沿所述滑轨推送所述当前检测卡；
31.所述回卡组件用于在朝向所述检测卡盒移动的状态下，抵持所述当前检测卡以沿所述滑轨回送所述当前检测卡。
32.在其中一个实施例中，所述检测卡输送结构还包括：数量检测机构，设置于所述进
卡导轨及所述回卡导轨的上方，用于检测所述当前检测卡的检测位的使用状态。
33.在其中一个实施例中，所述机架开设有安装槽，所述安装槽用于定位安装所述机架。
附图说明
34.为了更清楚地说明本技术实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
35.图1为本技术检测卡输送结构一实施例的结构示意图。
36.图2为本技术检测卡输送结构另一实施例的结构示意图。
37.图3为图2所示实施例的a处放大示意图。
38.图4为图2所示实施例的b处放大示意图。
39.图5为图2所示实施例另一方向的结构示意图。
40.图6为图5所示实施例的c处放大示意图。
41.图7为图5所示实施例的d处放大示意图。
42.图8为本技术检测卡输送结构另一实施例去除部分结构后的示意图。
43.图9为图8所示实施例的e处放大示意图。
44.图10为本技术检测卡输送结构另一实施例的进卡部分结构示意图。
45.图11为本技术检测卡输送结构另一实施例的第一进卡状态示意图。
46.图12为本技术检测卡输送结构另一实施例的第二进卡状态示意图。
47.图13为本技术检测卡输送结构另一实施例的第三进卡状态示意图。
48.图14为本技术检测卡输送结构另一实施例的第四进卡状态示意图。
49.图15为本技术检测卡输送结构另一实施例的回卡状态示意图。
50.图16为图15所示实施例的对应位置关系示意图。
51.图17为本技术检测卡输送结构另一实施例的回卡状态示意图。
52.图18为图17所示实施例对应的进卡状态示意图。
53.图19为本技术检测卡输送结构另一实施例的回卡状态示意图。
54.图20为图19所示实施例的对应位置关系示意图。
55.附图标记：
56.机架100、回卡组件101、限位件102、回卡同步带103、导向板104、当前检测卡105、进卡组件106、检测卡盒107、回卡电机108、进卡同步带109、进卡导轨110、回卡导轨111、滑轨112、进卡电机113；
57.引导条114、安装槽115、进卡轴套116、回卡轴套117；
58.避位空间200、预设位置300、检测台201、检测位202、推出槽203、进卡转轴204、抵接块205、进卡座206、固定杆207、顶部抵接端208、底部抵接端209、卡盒底部210、回卡转轴211、回卡座212；
59.进推块顶部301、进推块中部302、加重底部303、顶部避让段304、推送端305、底部避让段306、进推块孔位307；
60.配重底部401、回推块顶部402、顶部避让位403、施力端404、限位块405；
61.限位抵接端501、限位固定端502、卡口503。
具体实施方式
62.为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
63.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本技术的说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
64.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
65.在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”、“下”可以是第一特征直接和第二特征接触，或第一特征和第二特征间接地通过中间媒介接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
66.除非另有定义，本技术的说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本技术的说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
67.在本技术一个实施例中，一种检测卡输送结构，其包括：机架；进卡导轨，设置在所述机架上；进卡组件，滑动设置在所述进卡导轨上，用于推送当前检测卡；进卡电机，设置在所述机架上，用于带动所述进卡组件在所述进卡导轨上往复滑动；回卡导轨，设置在所述机架上；回卡组件，滑动设置在所述回卡导轨上，用于回送当前检测卡且在所述进卡组件推送所述当前检测卡经过预设位置的状态下留有避位空间；回卡电机，设置在所述机架上，用于带动所述回卡组件在所述回卡导轨上往复滑动。上述检测卡输送结构，通过采用进卡设计及回卡设计，一方面有利于实现当前检测卡的回送，确保检测卡的充分利用，不浪费检测资源；另一方面进卡设计及回卡设计均无需人工干预，有利于配合实现自动化检测；再一方面在进卡过程中回卡组件自动避让，不会造成干扰；又一方面在结构上具有简单的优点，易于生产制造，且易于与其它检测结构相互配合使用。
68.在其中一个实施例中，一种检测卡输送结构，其包括以下实施例的部分结构或全部结构；即，所述检测卡输送结构包括以下的部分技术特征或全部技术特征。在其中一个实
施例中，所述检测卡输送结构还包括：数量检测机构，设置于所述检测卡盒与所述回卡组件之间，用于检测所述当前检测卡的检测位的使用状态，这样的设计，可以配合实现检测位都装上了样品，然后才输送去检测仪器处。在其中一个实施例中，所述回卡组件具有施力端，所述回卡组件在滑动到所述预设位置的状态下，所述施力端具有与所述当前检测卡分离的状态以形成所述避位空间，所述回卡组件在离开预设位置的状态下，所述施力端处于接触施力位置，且所述施力端在所述接触施力位置处具有与所述当前检测卡抵持的状态；其中，所述推送端与所述施力端相对设置；在其中一个实施例中，所述进卡组件具有推送端，在所述进卡电机带动所述进卡组件的状态下，所述推送端具有与所述当前检测卡抵持的状态及与所述当前检测卡分离的状态。
69.在其中一个实施例中，一种检测卡输送结构如图1所示，请一并结合图2及图5，其包括：机架100；进卡导轨110，设置在所述机架100上；进卡组件106，滑动设置在所述进卡导轨110上，用于推送当前检测卡105；进卡电机113，设置在所述机架100上，用于带动所述进卡组件106在所述进卡导轨110上往复滑动；在所述进卡电机113带动所述进卡组件106的状态下，如图14所示，所述进卡组件106具有与所述当前检测卡105抵持的状态，及如图16所示，所述进卡组件106具有与所述当前检测卡105分离的状态；回卡导轨111，设置在所述机架100上；回卡组件101，滑动设置在所述回卡导轨111上，用于回送当前检测卡105，请结合参阅图3及图14，回卡组件101在所述进卡组件106推送所述当前检测卡105经过预设位置300的状态下留有避位空间200以免阻碍所述当前检测卡经过所述回卡组件101处；回卡电机108，设置在所述机架100上，用于带动所述回卡组件101在所述回卡导轨111上往复滑动；即所述回卡组件101具有与所述当前检测卡105抵持的状态及在所述进卡组件106推送所述当前检测卡105经过预设位置300的状态下具有与所述当前检测卡105分离的状态以形成避位空间200，其中，所述回送当前检测卡105与所述推送当前检测卡105反向设置，即回卡组件101回送当前检测卡105的方向，与进卡组件106推送当前检测卡105的方向，两者是相反的。
70.在其中一个实施例中，如图1、图3及图14所示，所述检测卡输送结构还包括：回卡转轴211及回卡座212，所述回卡座212滑动设置在所述回卡导轨111上，所述回卡组件101通过所述回卡转轴211转动设置在所述回卡座212上，用于在所述进卡组件106推送所述当前检测卡105经过所述预设位置300的状态下留有避位空间200；所述检测卡输送结构还包括：限位件102，设置在所述机架100上，所述回卡电机108带动所述回卡组件101在所述回卡导轨111上滑动到所述预设位置300的状态下，所述限位件102抵持所述回卡组件101且使所述回卡组件101转动至极限转动位置，使所述施力端404处于与所述当前检测卡105分离的状态，以形成所述避位空间200。这样的设计，有利于形成简单、重复性好的限制性结构，一方面有利于通过极限转动位置避免回卡组件无法恢复位置，另一方面有利于通过避位空间实现推送当前检测卡越过回卡组件到达检测位置。
71.为了避免相互干涉且简化设计，在其中一个实施例中，如图1所示，所述进卡导轨110、所述回卡导轨111与所述滑轨112均为直线轨道；在其中一个实施例中，所述进卡导轨110与所述回卡导轨111平行设置。本实施例中，所述进卡导轨110、所述回卡导轨111与所述滑轨112平行设置。这样的设计，有利于确保轨道间距，避免可能发生的相互干涉。在其中一个实施例中，如图1所示，回卡组件101为回卡推块，进卡组件106为进卡推块。
72.为了便于实现往复滑动控制，在其中一个实施例中，如图1及图3所示，所述检测卡输送结构还包括一对回卡轴套117及绕设于一对回卡轴套117上的回卡同步带103；所述检测卡输送结构还包括一对进卡轴套116及绕设于一对进卡轴套116上的进卡同步带109；进卡电机113驱动一个进卡轴套116转动，带动进卡同步带109绕一对进卡轴套116运动，从而带动进卡组件106在进卡导轨110上滑动。进卡座206固定安装于进卡同步带109上，进卡电机113通过进卡同步带109带动进卡座206运动，从而带动进卡组件106在进卡导轨110上滑动。回卡电机108驱动一个回卡轴套117转动，带动回卡同步带103绕一对回卡轴套117运动，从而带动回卡组件101在回卡导轨111上滑动。回卡座212固定安装于回卡同步带103上，回卡电机108通过回卡同步带103带动回卡座212运动，从而带动回卡组件101在回卡导轨111上滑动。
73.为了易于实现与检测卡相配合，在其中一个实施例中，如图1所示，所述检测卡输送结构还包括导向板104，设置在所述机架100上；以及，滑轨112，设置在所述导向板104上，所述当前检测卡105滑动设置在所述滑轨112上，且所述进卡导轨110及所述回卡导轨111均位于所述滑轨112的下方，导向板104即检测卡导向板，滑轨112即检测卡轨道。在其中一个实施例中，如图1及图2所示，所述检测卡输送结构还包括检测卡盒107，设置在所述导向板上且容置有检测卡，所述检测卡盒于其底部设有连通所述滑轨的开口，以使位于所述底部的所述检测卡作为所述当前检测卡，通过所述开口滑动设置在所述滑轨112上；并且，所述进卡组件106用于在远离所述检测卡盒107移动的状态下，抵持所述当前检测卡105以沿所述滑轨112推送所述当前检测卡105；所述回卡组件101用于在朝向所述检测卡盒107移动的状态下，抵持所述当前检测卡105以沿所述滑轨112回送所述当前检测卡105。其余实施例以此类推，不做赘述。
74.为了避免检测卡脱轨，在其中一个实施例中，如图2所示，所述导向板104于所述滑轨112上设有至少一引导条114，所述引导条114用于避免所述当前检测卡105脱离所述滑轨112；这样的设计，有利于确保当前检测卡在滑轨滑动，仅在离开引导条后才能脱离滑轨。请结合参阅图1，引导条114成对设置，且导向板104设有多对引导条114。
75.为了便于检测，在其中一个实施例中，如图2及图5所示，所述检测卡输送结构还包括：检测台201，其具有检测位置，当前检测卡105在检测台201的检测位置进行检测，具体检测方式在此从略。请一并参阅图6，回卡组件101在预设位置300处具有与所述当前检测卡105分离的状态以形成避位空间200。本实施例中，导向板104通过多根固定杆207固定设置在所述机架100上。
76.在其中一个实施例中，如图10所示，所述进卡组件106具有推送端305，在所述进卡电机113带动所述进卡组件106的状态下，所述推送端305具有与所述当前检测卡105抵持的状态及与所述当前检测卡105分离的状态；在其中一个实施例中，如图14所示，所述回卡组件101具有施力端404，所述回卡组件101在滑动到所述预设位置的状态下，所述施力端404具有与所述当前检测卡105分离的状态以形成所述避位空间200，所述回卡组件101在离开预设位置的状态下，所述施力端404处于接触施力位置，且所述施力端404在所述接触施力位置处具有与所述当前检测卡105抵持的状态；其中，所述推送端305与所述施力端404相对设置，即所述推送端305的推送方向与所述施力端404的施力方向相反。可以理解的是，在进卡组件106抵持当前检测卡105时，推送端305与当前检测卡105相接触。
77.在其中一个实施例中，如图14及图15所示，所述回卡组件101还具有配重底部401，用于在所述回卡组件101与所述限位件102相分离的状态下，在重力作用下升高所述施力端404以使所述施力端404处于接触施力位置，且所述施力端404在所述接触施力位置处具有与所述当前检测卡105抵持的状态。在其中一个实施例中，如图14及图15所示，所述回卡组件101具有配重底部401及回推块顶部402，回卡转轴211穿过回推块顶部402，以使回卡组件101可转动设置在回卡座212上，回推块顶部402具有顶部避让位403及施力端404，顶部避让位403用于在形成避位空间200时避免卡住。在其中一个实施例中，所述限位件102呈l形。在其中一个实施例中，如图16及图17所示，所述限位件102具有限位抵接端501及限位固定端502，所述限位固定端502设置在所述机架100上，所述限位抵接端501用于在所述回卡组件101转动至极限转动位置的状态下抵持所述回卡组件101。
78.请继续参阅图15及图16，回卡电机108带动回卡组件101运动以使回卡组件101与限位抵接端501分离时，配重底部401在重力作用下转动回卡组件101，相对升高回推块顶部402的施力端404，抵持当前检测卡105，这样就实现了回送当前检测卡105的功能。如图16所示，在未受检测卡或检测卡盒压力状态下，亦未受抵接块205的作用下，加重底部303在重力作用下转动进卡组件106，使其整体呈竖直状态。
79.在其中一个实施例中，如图17及图18所示，所述检测卡输送结构还包括：限位块405，设置在所述回卡座212上，所述回卡组件101位于所述限位件102与所述限位块405之间，所述限位块405用于在所述回卡组件101与所述限位件102相分离的状态下，限制所述回卡组件101的转动位置，使所述施力端404具有与所述当前检测卡105抵持的状态。图17所示箭头方向为回卡组件101回送当前检测卡105的方向。图18所示箭头方向为进卡组件106推送当前检测卡105的方向。
80.为了实现组合安装、配套使用，在其中一个实施例中，如图2所示，所述机架100开设有安装槽115，所述安装槽115用于定位安装所述机架100。本实施例中，安装槽115的数量为多个。这样的设计，有利于配合其他结构，定位安装机架100。
81.为了便于准确对位，保证推送效果，在其中一个实施例中，如图4所示，检测卡开设有推出槽203，进卡组件106推送当前检测卡105时抵持于推出槽203，在其中一个实施例中，进卡组件106的推送端305抵持于推出槽203，此时其处于与所述当前检测卡105抵持的状态。在其中一个实施例中，如图19及图20所示，所述推送端305或所述施力端404用于抵持于所述当前检测卡105的卡口503处。在其中一个实施例中，如图1及图4所示，检测卡具有多个检测位202，本技术各实施例的重点之一即为尽量充分利用检测卡的全部检测位，以免浪费检测资源，同时亦有利于提升整体检测效率。
82.在其中一个实施例中，如图7、图8及图9所示，所述检测卡输送结构还包括：进卡转轴204及进卡座206，所述进卡座206滑动设置在所述进卡导轨110上，所述进卡组件106通过所述进卡转轴204转动设置在所述进卡座206上，用于在所述进卡组件106远离所述回卡组件101运动且发生转动的状态下，具有降低高度的调整空间以免阻碍所述进卡组件经过检测卡盒或其他检测卡的下方；以及，抵接块205，设置在所述机架100上，用于限制所述进卡组件106的最大转动位置；且所述进卡组件106还具有加重底部303，用于在重力作用下转动所述进卡组件106，即使得进卡组件106的推送端305能够相对提升位置以抵接当前检测卡105或其推出槽203。在其中一个实施例中，所述抵接块205呈l形。在其中一个实施例中，如
图9及图10所示，所述抵接块205的顶部抵接端208设置在所述机架100上，底部抵接端209根据所述进卡组件106及所述当前检测卡105的相对位置设置，即其位置及长度需满足效果要求，顶部抵接端208及底部抵接端209相配合，用于限制所述进卡组件106的最大转动位置以使所述推送端305具有与所述当前检测卡105抵持的状态。
83.在其中一个实施例中，进卡组件106与所述当前检测卡105抵持的状态如图10所示，进卡组件106包括进推块顶部301、进推块中部302及加重底部303，请一并参阅图11，进推块顶部301具有顶部避让段304以避过上方的检测卡到达其远离所述检测位置的一侧，进推块顶部301还具有推送端305；进推块中部302开设有用于穿过进卡转轴204的进推块孔位307；加重底部303设有底部避让段306以配合抵接块205的底部抵接端209，避免卡住底部抵接端209导致无法在重力作用下转动进卡组件106。在其中一个实施例中，进推块顶部301、进推块中部302及加重底部303一体设置。
84.在其中一个实施例中，在所述进卡组件106远离所述回卡组件101运动时，如图12所示，进卡组件106运动接触卡盒底部210位置时，进卡组件106通过进卡转轴204转动设置，相对降低进推块顶部301及其推送端305的高度，此时由于卡盒底部210的压力作用，加重底部303被迫翘起；进卡组件106运动到卡盒底部210下方位置时，如图13所示；直到避过上方的检测卡到达其远离所述检测位置的一侧后，进卡组件106不再受到卡盒底部210及其中的检测卡的压力作用，加重底部303向下转动，进卡组件106发生转动，相对升高进推块顶部301及其推送端305的高度，以使进卡组件106能够抵持检测卡。
85.在其中一个实施例中，回卡组件101安装在回卡导轨111上并和回卡同步带103连接，回卡同步带103由回卡电机108带动；进卡组件106安装在进卡导轨110上并和进卡同步带109连接，进卡同步带109由进卡电机113带动；导向板104上有滑轨112，检测卡例如当前检测卡105在滑轨112内允许滑行；检测卡盒107设置在导向板104上，检测卡盒107内存放有多个检测卡。
86.样本充足且无急诊样本时，进卡组件106在进卡电机113的驱动下，从检测卡盒107中推动一个检测卡作为当前检测卡105进入滑轨112，推送其向检测位置移动。此时，回卡组件101在限位件102的约束下，不会阻挡当前检测卡105的运动。进卡组件106移动到接触检测卡盒107的卡盒底部210的位置后，在进卡电机113驱动下继续移动，经过检测卡盒107的卡盒底部210时，进卡组件106转动从而使其顶部下沉，所以不会对检测卡盒107造成影响，越过卡盒底部210后，进卡组件106在重力作用下恢复原先状态；重复此动作，可以持续检测当前检测卡105中的样本。
87.急诊时样本份数不足或样本份数不是检测卡支持份数的整数倍时，进卡组件106在进卡电机113的驱动下，从检测卡盒107中推动一个检测卡作为当前检测卡105进入滑轨112，推送其向检测位置移动。完成滴加样本等后续的检验动作后，当前检测卡105有空余的检测202，即当前检测卡105没有被充分利用。在进卡组件106回到补样位置后，回卡组件101在回卡电机108的带动下，脱离限位件102的约束，并在重力作用下变为竖直状态，将当前检测卡105往回推动，回到滴加样本即补样位置处。而后回卡电机108带动回卡组件101移动，使回卡组件101重新被限位件102约束形成避位空间200。此时空余的检测位202可以继续滴加样本。滴加样本后，进卡组件106在进卡电机113带动下，将已经充分利用的当前检测卡105推送到检测位置。这样就可以完整地利用所有检测位，不造成浪费。即可以在检测卡检
测位没有被充分利用的情况下，将检测卡往回移动，继续滴加样本，充分利用其每一个检测位，不造成浪费，且结构简单，充分利用重力改变进卡组件及回卡组件的状态，做到了便于维护及安装。
88.需要说明的是，本技术的其它实施例还包括，上述各实施例中的技术特征相互组合所形成的、能够实施的检测卡输送结构。这样的设计，上一方面有利于实现当前检测卡的回送，确保检测卡的充分利用，不浪费检测资源；另一方面进卡设计及回卡设计均无需人工干预，有利于配合实现自动化检测；再一方面在进卡过程中回卡组件自动避让，不会造成干扰；又一方面在结构上具有简单的优点，易于生产制造，且易于与其它检测结构相互配合使用。
89.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
90.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术的专利保护范围应以所附权利要求为准。