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一种扫描电镜样品台的制作方法

2021-10-24 10:45:00 来源:中国专利 TAG:扫描 电镜 样品


1.本实用新型涉及扫描电镜,尤其涉及一种扫描电镜样品台。


背景技术:

2.扫描电镜即扫描电子显微镜,是当今新材料分析技术中的一种重要仪器,具有放大倍数可调范围宽、成像分辨率高、景深大等特点,被广泛应用于冶金学、材料学、生物学、医学等领域,极大地推动了各相关领域科学研究的发展。
3.样品台是扫描电镜的关键部件之一,用于承载样品,并通过电子系统成像表征样品的局部特征。由于扫描电镜自身结构特征,利用扫描电镜观察样品时,样品需要稳定在样品台上表面。
4.利用扫描电子显微镜观察粉体样品,尤其是粒径为微米级、亚微米级、纳米级粉体颗粒时,如果利用导电胶将粉体直接固定在样品台上进行观察,粉体团聚严重,无法清晰观察样品形貌。因此,一般是将粉体与无水乙醇混合形成混合液并置于小型封口试管中,超声震荡混合均匀后使用滴管将混合液滴到小块硅片上,晾干后硅片表面即带有粉体样品且不团聚;然后,在样品台上粘上导电胶带,用摄子将带粉末样品的硅片移到导电胶带上面,并用摄子将硅片边缘压紧;再将样品台放置于扫描电镜配置的托架内,用扫描电镜对样品进行观察。该方法存在如下问题:
5.(1)使用硅片存在的问题:所需硅片尺寸较小,需先将大块硅片(商用硅片一般为直径60mm的圆片)切割成小块,清洗后泡在无水乙醇中待用;用摄子将硅片夹紧后移动时极易掉落;硅片放置在样品台上时不能保证排列整齐,易出现位置及编号记录错误的问题;操作人员直接接触硅片易划伤手指;硅片使用后不易收集;硅片很难重复使用,造成硅片浪费。
6.(2)制样流程繁琐:每个样品采用的流程为:a.将混合液滴在硅片上;b.标记样品对应的硅片编号;c.在烘箱中烘干溶剂;d.将硅片按顺序逐个黏贴在样品台上;c.检测结束后拆除所有硅片和导电胶,清洗样品台。因此,制样流程繁琐,尤其是当样品数量较大时制样效率很低。
7.(3)样品台使用率低,影响效率:样品台面积固定,若使用硅片负载样品再黏贴,可放置样品数目少,例如,常规样品台面积约78.5cm2,最多可放置约15

20个样品,大批量检测时,效率会很低。
8.(4)耗材成本高:每个样品都需要使用导电硅片和导电胶,且耗材不可重复使用,导致成本高,尤其当样品检测量较大时造成很大浪费。
9.因此,利用该方法对粉体样品进行观察时存在流程繁琐,耗时耗力,工作效率低的问题。为此,科技工作者对样品台进行改造以提升制样效率与检测功能。例如,专利文献cn209298059u公开了一种观察粉体的扫描电镜用样品台,包括呈桶状的台体与设有凸起的硅板,硅板通过凸起与台体上部的内壁采用插入式过盈配合安装在一起,硅板设有凹槽,凹槽内设有渗液孔,台体的侧面底部设有液体流失孔。该样品台可同时观察多个样品,无需使
用导电胶带。但是,硅板设置凸起、凹槽以及渗液孔,造成硅板结构复杂,制作难度大,增加了制作成本;并且,凹槽内设置渗液孔,当混合液滴加到凹槽内时如果滴落在渗液孔位置,则液体经渗液孔流出而无法在凹槽底部形成粉体样品;同时,渗液部分容易产生污染。


技术实现要素:

10.针对上述技术现状,本实用新型提供一种扫描电镜样品台,具有结构简单、易制作,适用于粉体样品测量。
11.本实用新型提供的技术方案是:
12.一种扫描电镜样品台,如图1、2所示包括样品台本体1,其特征是:
13.还包括设置在样品台本体1上方的金属层2,金属层2的下表面与样品台本体1的上表面相接触;
14.金属层2设置若干孔洞3,所述孔洞3贯穿金属层2的厚度,与样品台本体1的上表面形成一端开口的槽结构,其开口端为金属层2的上表面,槽结构的底部为样品台本体1的上表面;
15.或者,自金属层2的上表面至下表面方向设置若干一端开口的槽4,其开口端为金属层2的上表面,所述槽4的深度小于金属层2的厚度。
16.所述金属层可以与样品台本体一体化,也可以是与样品台本体可分离的结构。
17.所述样品台本体的结构不限,优选为柱体结构,其横截面形状不限,可以是矩形、圆形、椭圆形,以及其他多边形等。
18.作为优选,各孔洞3形成规则排列。
19.作为优选,各孔洞3的形状相同,尺寸相同。
20.作为优选,各槽4形成规则排列。
21.作为优选,各槽4的形状相同,尺寸相同。
22.作为优选,所述孔洞直径为3

5mm直径。
23.作为优选,所述槽的深度为2

3mm。
24.所述金属层材料不限,包括铜、镍、铁、铝、合金等。
25.本实用新型的扫描电镜样品台的制备方法不限,作为一种实现方式,包括如下步骤:
26.(1)制作金属层;
27.(2)如图3所示,在金属层的上表面涂覆光刻胶,利用模板法,通过紫外光照射去除部分光刻胶,然后通过酸刻蚀去除部分金属,获得所述孔洞,然后剥离光刻胶;或者,利用机械方法在金属层表面制作所述孔洞;
28.如图4所示,在金属层的上表面涂覆光刻胶,利用模板法,通过紫外光照射去除部分光刻胶,然后通过酸刻蚀,去除部分金属,控制刻蚀厚度小于金属层厚度,获得所述槽,然后剥离光刻胶;或者,利用机械方法在金属层表面制作所述槽。
29.与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
30.(1)样品台本体上设置金属层,当金属层设置孔洞,与样品台本体的上表面形成槽结构,测量粉体样品时粉体与溶剂混合形成混合液少量滴入该槽结构中,溶剂挥发后得到粉体样品,具有结构简单,制作简单,成本低,可一次性得到多个粉体样品,并且当金属层与
样品台本体可分离时,可以更换金属层,而样品台本体经清洗后能够重复使用,降低了成本;
31.(2)样品台本体上设置金属层,当金属层的上表面至下表面方向设置槽,其开口端为金属层的上表面,并且槽的深度小于金属层的厚度,测量粉体样品时粉体与溶剂混合形成混合液少量滴入该槽结构中,溶剂挥发后得到粉体样品,具有结构简单,制作简单,成本低,可一次性得到多个粉体样品;并且,当金属层与样品台本体可分离时,可以更换金属层,而样品台本体由于未接触粉体因此可直接重复使用,进一步简化了操作,降低了成本。
附图说明
32.图1是本实用新型中扫描电镜样品台局部的一种结构示意图。
33.图2是本实用新型中扫描电镜样品台局部的另一种结构示意图。
34.图3是本实用新型实施例1中扫描电镜样品台的制备过程示意图。
35.图4是本实用新型实施例2中扫描电镜样品台的制备过程示意图。
36.图5是实施例1与实施例2中的扫描电镜样品台的俯视图。
37.图1

3中的附图标记为:样品台本体1,金属层2,孔洞3,槽4。
具体实施方式
38.下面结合实施例与附图对本实用新型进一步详细描述,需要指出的是,以下所述实施例旨在便于对本实用新型的理解,而对其不起任何限定作用。
39.实施例1:
40.本实施例中,扫描电镜样品台包括样品台本体1以及设置在样品台本体上方的金属层2,金属层2的下表面与样品台本体1的上表面相接触。金属层2设置若干孔洞3,如图1所示,每个孔洞3贯穿金属层2的厚度,与样品台本体1的上表面形成一端开口的槽结构,其开口端为金属层2的上表面,槽结构的底部为样品台本体1的上表面。
41.本实施例中,样品台本体为圆柱体结构,金属层与样品台本体可分离,各孔洞形成如图5所示的规则的阵列排布,每个孔洞结构相同,尺寸相同,是直径为5mm的圆柱结构,金属层厚度为2mm。
42.本实施例中,样品台制备方法如下:
43.(1)将金属层置于样品台本体上方,金属层的下表面与样品台本体1的上表面相接触;
44.(2)如图3所示,在金属层的上表面涂覆光刻胶,利用模板法,通过紫外光照射去除部分光刻胶,然后通过酸刻蚀去除部分金属,获得孔洞3,然后剥离光刻胶。
45.利用该扫描电镜样品台测量粉体样品时,粉体与溶剂混合形成混合液,将少量混合液滴入孔洞与样品台本体的上表面形成的槽结构中,溶剂挥发后得到粉体样品进行测量。测量后去掉金属层,进行清洗后可重复使用,样品台本体经清洗后可重复使用。
46.实施例2:
47.本实施例中,扫描电镜样品台包括样品台本体1以及设置在样品台本体1上方的金属层2,金属层2的下表面与样品台本体1的上表面相接触。如图2所示,自金属层2的上表面至下表面方向设置若干一端开口的槽4,其开口端为金属层2的上表面,并且槽4的深度小于
金属层2的厚度。
48.本实施例中,样品台本体1为圆柱体结构,金属层2与样品台本体1可分离,各槽4形成如图5所示的规则的阵列排布,每个槽结构相同,尺寸相同,是直径为5mm的圆柱结构,金属层厚度为5mm,槽深度为2.5mm。
49.本实施例中,样品台制备方法如下:
50.(1)将金属层置于样品台本体上方,金属层的下表面与样品台本体的上表面相接触;
51.(2)如图4所示,在金属层的上表面涂覆光刻胶,利用模板法,通过紫外光照射去除部分光刻胶,然后通过酸刻蚀去除部分金属,控制刻蚀深度,获得所述槽,然后剥离光刻胶。
52.利用该扫描电镜样品台测量粉体样品时,粉体与溶剂混合形成混合液,将少量混合液滴入槽中,溶剂挥发后得到粉体样品进行测量。测量后金属层进行清洗后可重复使用,样品台本体可直接重复使用。
53.实施例3:
54.本实施例中,扫描电镜样品台结构与实施例1中基本相同,所不同的是金属层与样品台本体一体化。
55.本实施例中,样品台制备方法如下:
56.(1)在样品台本体上方通过磁控检测制备金属层;
57.(2)利用机械方法在金属层表面制作所述孔洞。
58.利用该扫描电镜样品台测量粉体样品时,粉体与溶剂混合形成混合液,将少量混合液滴入孔洞与样品台本体的上表面形成的槽结构中,溶剂挥发后得到粉体样品进行测量。测量后清洗该样品台后可重复使用。
59.实施例4:
60.本实施例中,扫描电镜样品台结构与实施例2中基本相同,所不同的是金属层与样品台本体一体化。
61.本实施例中,样品台制备方法如下:
62.(1)在样品台本体上方通过磁控检测制备金属层;
63.(2)利用机械方法在金属层表面制作所述槽。
64.利用该扫描电镜样品台测量粉体样品时,粉体与溶剂混合形成混合液,将少量混合液滴入孔洞与样品台本体的上表面形成的槽结构中,溶剂挥发后得到粉体样品进行测量。测量后清洗该样品台后可重复使用。
65.以上所述的实施例对本实用新型的技术方案进行了详细说明,应理解的是以上所述仅为本实用新型的具体实施例,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的原则范围内所做的任何修改、补充或类似方式替代等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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