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一种快速判定DDR芯片失效的装置的制作方法

2021-07-20 16:25:00 来源:中国专利 TAG:芯片 判定 失效 装置 特别
一种快速判定DDR芯片失效的装置的制作方法

本实用新型涉及芯片测试技术领域,特别涉及一种快速判定ddr芯片失效的装置。



背景技术:

随着智慧时代的到来,电子设备对数据处理运算能力越大,这就要求设备内置ddr芯片的容量越大,这就要求设备内置ddr芯片的数量增多,例如手机、电视、机顶盒等。工厂在大批量生产这些设备时,线路板的ddr芯片存在失效或焊接不好的情况,工厂维修人员在判定ddr芯片有问题时,一般将ddr芯片取下,对于取下的ddr芯片不能判定芯片是否失效,只能将其贴装到好的线路板上,能正常工作来判定是否失效,此维修方式耗费时间长,降低维修进度。对于取下的ddr芯片直接换成新的芯片,也能维修故障板,此维修存在一种想象,如果ddr芯片是未焊接好,而芯片未失效,通过更换新ddr芯片,相当于重新对ddr芯片进行了贴装,而取下的芯片未失效,不能报废,如果当成失效芯片进行报废,造成公司财产损失,为避免损失,将取下的ddr芯片放在此装置上,能快速判定ddr芯片是否失效,对于未失效的芯片可以重新进行使用,减少公司财产损失。



技术实现要素:

本实用新型要解决的技术问题是:提出一种快速判定ddr芯片失效的装置,以便对取下的ddr芯片能快速有效判定是否失效。

为解决上述问题,本实用新型采用的技术方案是:一种快速判定ddr芯片失效的装置,包括:用于和ddr进行读写操作的mcu、用于存储ddr设置参数的flash、用于ddr芯片电接入并固定ddr芯片的ddr测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置;其中,所述mcu分别与所述flash、ddr测试插座、串行数据通信接口电连接,所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时,可将该ddr芯片放入ddr测试插座,mcu按ddr芯片的规格参数,对ddr进行读写操作,如读写操作正常,人机交互装置反馈该芯片正确,如反馈错误,表示该芯片失效,进而起到快速判定的目的。

进一步的,本实用新型中,人机交互装置可以是pc电脑;所述串行数据通信接口可以为rs232接口。

本实用新型的有益效果是:

1、简单快速有效判定

将ddr芯片放入ddr测试插座,通电开机,通过串口输入ddr型号,mcu按输入ddr型号进行相关规格数据的读取,通过读取数据的比较,来判定ddr是否失效,并通过串行数据通信接口和人机交互装置输出测试结果。

2、兼容多个厂家的ddr判定

不同厂家的ddr,其规格参数不同,一个型号对应一套参数,本实用新型中flash可以录入不同厂家的ddr型号,从而兼容多个厂家的ddr判定。

3、输入简单

对于新增加的ddr型号,参考ddr芯片的规格书,将ddr的关键参数通过串行数据通信接口和人机交互装置输入到mcu,mcu将输入参数保存到外置flash里,如要测试ddr时,mcu依照输入型号能快速从flash读取参数数据,并按此参数对ddr进行读写操作。

附图说明

图1是实施例提供的一种快速判定ddr芯片失效的装置的结构框图;

图2是实施例中快速判定ddr芯片失效装置的软件流程框图。

具体实施方式

本实用新型提出了一种快速判定ddr芯片失效的装置,以便对取下的ddr芯片能快速有效判定是否失效,具体用于和ddr进行读写操作的mcu、用于存储ddr设置参数的flash、用于ddr芯片电接入并固定ddr芯片的ddr测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置;其中,所述mcu分别与所述flash、ddr测试插座、串行数据通信接口电连接,所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时,可将该ddr芯片放入ddr测试插座,mcu按ddr芯片的规格参数,对ddr进行读写操作,如读写操作正常,人机交互装置反馈该芯片正确,如反馈错误,表示该芯片失效,进而起到快速判定的目的。

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步祥细的描述。

如图1,实施例提供了一种快速判定ddr芯片失效的装置,包括mcu单元、用于存储ddr设置参数的flash单元、电源单元、ddr测试插座、rs232串口单元、pc电脑等,此装置的核心是,通过mcu对ddr进行数据的读写操作,并对读写数据进行比较,以判定此ddr芯片是否失效,ddr测试座子能焊接到pcb上,将测试ddr芯片放入ddr测试插座,并进行锁定,以确保ddr能高速的同mcu进行通讯,外置的flash内保存有每个ddr型号对应一套完成的ddr测试的关键数据,这样在通过rs232串口输入ddr型号后,mcu依照输入型号,将flash内对应的参数调出,并按参数的设定值同ddr测试插座上的ddr芯片进行读写操作,mcu对读写操作的数据进行比较,以判定ddr芯片是否失效。

如图2,软件流程框图,将被测ddr芯片放入ddr测试座子,开机,通过rs232串口输入ddr型号,mcu依据输入型号,从外置flash里调取对应的ddr参数,mcu以此设定参数同被测ddr进行读写操作,mcu对读写数据进行比较,出现错误,说明被测ddr失效,如正确,标明芯片正常,mcu通过rs232串口输出判定结果。

实施例中,ddr测试插座焊接到测试装置上,确保与mcu进行读写操作,将测试ddr芯片放入测试插座,然后盖上盖子,并锁定,确保测试ddr芯片的引脚紧密接触到测试插座上的对应引脚。ddr的外形封装不同,测试时需贴装对应的ddr测试插座。



技术特征:

1.一种快速判定ddr芯片失效的装置,其特征在于:包括用于和ddr进行读写操作的mcu、用于存储ddr设置参数的flash、用于ddr芯片电接入并固定ddr芯片的ddr测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置;所述mcu分别与所述flash、ddr测试插座、串行数据通信接口电连接,所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。

2.如权利要求1所述的一种快速判定ddr芯片失效的装置,其特征在于:所述串行数据通信接口为rs232接口。


技术总结
本实用新型涉及芯片测试技术领域,公开了一种快速判定DDR芯片失效的装置,以便对取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。本实用新型包括用于和DDR进行读写操作的MCU、用于存储DDR设置参数的FLASH、用于DDR芯片电接入并固定DDR芯片的DDR测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置;所述MCU分别与所述FLASH、DDR测试插座、串行数据通信接口电连接,所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时,可将该DDR芯片放入DDR测试插座,MCU按DDR芯片的规格参数,对DDR进行读写操作,如读写操作正常,表示该芯片正确,如反馈错误,表示该芯片失效,进而起到快速判定的目的。本实用新型适用于DDR芯片失效检测。

技术研发人员:彭军;孙晓虎;罗里刚;何红
受保护的技术使用者:四川长虹网络科技有限责任公司
技术研发日:2020.12.25
技术公布日:2021.07.20
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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