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一种介质鉴定方法、装置、电子设备和存储介质与流程

2021-08-17 13:38:00 来源:中国专利 TAG:电子设备 介质 鉴定 装置 图像

技术特征:

1.一种介质鉴定方法,所述介质包括正常介质和待检测介质,其特征在于,所述方法包括:

从采集的所述正常介质的图像中确定含有第一对象的目标区域;所述第一对象中包含第一图案;

采用所述目标区域,获取与所述第一对象对应的第一轮廓特征点;

采用所述目标区域,获取与所述第一图案对应的第二轮廓特征点;

采用所述第一轮廓特征点在所述待检测介质中进行滑动匹配,判断所述待检测介质的第二对象是否完整;

采用所述第二轮廓特征点在所述待检测介质中进行滑动匹配,判断所述待检测介质的第二图案个数是否超过预设阈值;

若所述第二对象完整且所述第二图案个数超过预设阈值,则将所述待检测介质的第二对象确定为正常对象。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用所述目标区域,获取与所述第一对象对应的第一轮廓特征点的步骤,包括:

对所述目标区域进行二值化,获得目标区域二值图;

基于所述目标区域二值图,获取与所述第一对象对应的第一轮廓特征点。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述目标区域还包括除第一对象以外的第一背景区域,所述第一轮廓特征点包括对象轮廓特征点和第一背景特征点,所述对象轮廓特征点位于所述第一对象内,所述第一背景特征点位于所述第一背景区域内,所述基于所述目标区域二值图,获取与所述第一对象对应的第一轮廓特征点的步骤包括:

基于第一预设权重确定所述对象轮廓特征点的第一数量和所述第一背景特征点的第二数量;

采用所述第一数量和所述第二数量,在所述目标区域二值图中获取所述对象轮廓特征点和所述第一背景特征点。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述采用所述第一轮廓特征点在所述待检测介质中进行滑动匹配,判断所述待检测介质的第二对象是否完整的步骤,包括:

采用所述第一轮廓特征点在所述待检测介质中进行滑动匹配,确定所述第一轮廓特征点与所述待检测介质之间的第一匹配度;

从所述第一匹配度中确定第一最高匹配度;

判断所述第一最高匹配度是否超过预设的第一匹配度阈值;

若所述第一最高匹配度超过预设的第一匹配度阈值,则确定所述待检测介质的第二对象完整。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用所述目标区域,获取与所述第一图案对应的第二轮廓特征点的步骤包括:

从所述目标区域中确定第一对象所在的对象区域;

按照预设分区数量对所述对象区域进行分区二值化,获得对象区域分区二值图;

基于所述对象区域分区二值图,获取与所述第一图案对应的第二轮廓特征点。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述从所述目标区域中确定第一对象所在的对象区域的步骤,包括:

基于预设的目标对象宽度,计算所述目标区域的列投影像素和,获取与最小列投影像素和对应的起始区域坐标和结束区域坐标;

基于所述起始区域坐标和所述结束区域坐标,确定第一对象所在的对象区域;

基于所述目标对象宽度和所述第一图案的像素高度,将所述对象区域分为多个对象子区域;

对所述多个对象子区域进行对数变换处理,获得目标对象区域。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对所述多个对象子区域进行对数变换处理,获得目标对象区域的步骤包括:

采用每个对象子区域的原始灰度值、最小灰度值、最大灰度值以及预设的变换比例分别对对应的所述对象子区域进行对数变换,获得多个目标对象子区域;

采用所述多个目标对象子区域获得目标对象区域。

8.根据权利要求5-7任一项所述的方法,其特征在于,所述第二轮廓特征点包括图案轮廓特征点和第二背景特征点,所述对象区域二值图包括第一图案和除所述第一图案以外的第二背景区域,所述图案轮廓特征点位于所述第一图案内,所述第二背景特征点位于所述第二背景区域内,所述基于所述对象区域分区二值图,获取与所述第一图案对应的第二轮廓特征点的步骤包括:

基于第二预设权重确定所述图案轮廓特征点的第三数量和所述第二背景特征点的第四数量;

采用所述第三数量和所述第四数量,在所述对象区域分区二值图中获取所述图案轮廓特征点和所述第二背景特征点。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述待检测介质中包括多个待检测图案,所述采用所述第二轮廓特征点在所述待检测介质中进行滑动匹配,判断所述待检测介质的第二图案个数是否超过预设阈值的步骤,包括:

采用所述第二轮廓特征点在所述多个待检测图案中进行滑动匹配,确定所述第二轮廓特征点与所述待检测图案之间的第二匹配度;

判断所述第二匹配度是否超过预设的第二匹配度阈值;

若所述第二匹配度超过预设的第二匹配度阈值,则将所述待检测图案确定为第二图案;

判断所述第二图案的数量是否超过预设的数量阈值;

若所述第二图案的数量超过预设的数量阈值,则确定所述待检测介质的第二图案个数超过预设阈值。

10.一种介质鉴定装置,所述介质包括正常介质和待检测介质,其特征在于,所述装置包括:

目标区域确定模块,用于从采集的所述正常介质的图像中确定含有第一对象的目标区域;所述第一对象中包含第一图案;

第一轮廓特征点获取模块,用于采用所述目标区域,获取与所述第一对象对应的第一轮廓特征点;

第二轮廓特征点获取模块,用于采用所述目标区域,获取与所述第一图案对应的第二轮廓特征点;

第一判断模块,用于采用所述第一轮廓特征点在所述待检测介质中进行滑动匹配,判断所述待检测介质的第二对象是否完整;

第二判断模块,用于采用所述第二轮廓特征点在所述待检测介质中进行滑动匹配,判断所述待检测介质的第二图案个数是否超过预设阈值;

正常对象确定模块,用于若所述第二对象完整且所述第二图案个数超过预设阈值,则将所述待检测介质的第二对象确定为正常对象。

11.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的介质鉴定方法的步骤。

12.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的介质鉴定方法的步骤。


技术总结
本发明实施例提供了一种介质鉴定方法、装置、电子设备和存储介质,方法包括:从采集的正常介质的图像中确定含有第一对象的目标区域;第一对象中包含第一图案;采用目标区域,获取与第一对象对应的第一轮廓特征点;采用目标区域,获取与第一图案对应的第二轮廓特征点;采用第一轮廓特征点在待检测介质中进行滑动匹配,判断待检测介质的第二对象是否完整;采用第二轮廓特征点在待检测介质中进行滑动匹配,判断待检测介质的第二图案个数是否超过预设阈值;若第二对象完整且第二图案个数超过预设阈值,则将待检测介质的第二对象确定为正常对象。从而无需依赖大量正常纸币数据的统计结果,且提高了镂空安全线的鉴定效果。

技术研发人员:包宜鉴
受保护的技术使用者:深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;南京怡化信息技术有限公司
技术研发日:2021.01.29
技术公布日:2021.08.17
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本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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