时钟校准方法和电子设备与流程

本发明涉及时钟技术领域，特别是涉及一种时钟校准方法和一种电子设备。

背景技术：

时钟芯片通过对年、月、周、日、时、分、秒等进行计时，实现实时的显示时间。随着通信等技术的发展，对时钟芯片的时钟精度的要求越来越高。

相关技术中，时钟芯片连接有晶振电路，通过晶振电路向时钟芯片提供输入频率，使时钟芯片产生对应的时钟信号，因此时钟芯片的时钟精度受到晶振输入频率的影响。

随着时钟芯片与晶振使用时间的增加，晶振会逐渐老化，晶振的老化造成晶振频率的偏差，而晶振频率的偏差造成时钟芯片输出时间的偏差，从而导致时钟精度降低。

技术实现要素：

本发明实施例所要解决的技术问题是提供一种时钟校准方法，以在晶振出现老化现象的情况下，改善与晶振电连接的时钟芯片的时钟精度。

相应的，本发明实施例还提供了一种时钟校准装置、电子设备和存储介质，用以保证上述方法的实现及应用。

为了解决上述问题，本发明的第一方面的实施例公开了一种时钟校准方法，包括：

响应于时钟芯片的校准信号，记录所述时钟芯片的第一输出频率和当前时间；所述当前时间为待校准时间；

根据所述第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值；

根据所述第一频率均值与第二频率均值，计算得到所述时钟芯片的老化率；其中，所述第二频率均值根据所述多个第二输出频率确定；

根据所述老化率对所述时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

可选地，所述根据所述第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值，包括：

将所述多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列；

将所述第一输出频率插至所述输出频率队列的队尾，并删除所述输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列；

根据所述更新频率数列，确定所述第一频率均值。

可选地，所述根据所述更新频率数列，确定所述第一频率均值，还包括：

滤除所述更新频率数列中的抖动数据，以生成当前频率数列；

将所述当前频率数列的频率均值确定为所述第一频率均值。

可选地，所述根据所述第一频率均值与第二频率均值，计算得到所述时钟芯片的老化率，包括：

确定所述第一频率均值与所述第二频率均值之间的差值；

将所述差值与所述第二频率均值之间的比值确定为所述老化率。

可选地，所述根据所述老化率对所述时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间，包括：

确定所述输出频率队列中最后获得的第二输出频率对应的历史时间；

根据所述待校准时间与所述历史时间获得所述时钟芯片对应的使用时长；

根据所述使用时长与所述老化率，获得补偿时间；

采用所述补偿时间对所述待校准时间进行校准，以使所述时钟芯片输出校准后的时间。

可选地，所述方法还包括：

根据所述当前频率数列更新所述输出频率队列，以在执行下一次时钟校准时，根据更新后的所述输出频率队列确定所述第二频率均值；以及

将所述校准后的时钟信号存储为与所述第一输出频率对应的历史时钟信号。

可选地，所述响应于时钟芯片的校准信号，记录所述时钟芯片的第一输出频率和当前时间，包括：

响应于所述校准信号，根据预设的调节方式调节指定芯片的芯片温度，所述指定芯片为所述时钟芯片，和/或与所述时钟芯片配合设置的处理器；

检测到所述芯片温度被调节至大于或等于预设温度阈值，记录所述第一输出频率与所述当前时间。

可选地，所述根据预设的调节方式调节指定芯片的芯片温度，包括：

控制预存的高功耗程序持续运行，以提高所述指定芯片的芯片温度，直至检测到所述芯片温度上升至大于或等于所述预设温度阈值。

可选地，在响应于时钟芯片的校准信号，记录所述时钟芯片的第一输出频率和当前时间之前，所述方法还包括：

循环运行所述高功耗程序，在每次检测到所述芯片温度大于或等于所述预设温度阈值的情况下，记录所述时钟芯片的第二输出频率，以生成所述预存的多个第二输出频率。

本发明的第二方面的实施例公开了一种时钟校准装置，包括：

记录单元，用于响应于时钟芯片的校准信号，记录所述时钟芯片的第一输出频率和当前时间；所述当前时间为待校准时间；

获取单元，用于根据所述第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值；

计算单元，用于根据所述第一频率均值与第二频率均值，计算得到所述时钟芯片的老化率；其中，所述第二频率均值根据所述多个第二输出频率确定；

校准单元，用于根据所述老化率对所述时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

本发明的第三方面的实施例公开了一种电子设备，包括：处理器、时钟芯片、晶振电路与存储器，其中，

所述时钟芯片与所述晶振电路电连接，所述晶振电路用于向所述时钟芯片提供输入频率，所述时钟芯片用于根据所述输入频率配置输出的输出频率；

所述处理器分别与所述时钟芯片以及所述存储器通信连接，所述处理器能够读取所述时钟芯片的输出频率与时间信号，

所述存储器存储有能够被所述至处理器执行的指令，以使所述处理器能够执行本发明的第一方面的实施例中任一项所述的时钟校准方法的步骤。

可选地，所述电子设备还包括：

电路基板，所述电路基板的至少一个板面上具有覆铜区域；其中，所述处理器与所述时钟芯片设置于同一所述覆铜区域内，或所述处理器与所述时钟芯片中的一个设置于所述覆铜区域，另一个设置于与所述覆铜区域相对的所述电路基板的另一侧的板面上；

温度传感器，设于所述处理器上，并与所述处理器电连接，所述温度传感器用于采集所述处理器的芯片温度。

本发明的第四方面的实施例公开了一种计算机可读介质，存储有计算机可执行指令，其特征在于，所述计算机可执行指令用于执行本发明的第一方面的实施例中任一项所述的时钟校准方法。

本发明实施例通过在处理器获取到时钟芯片的校准信号时，读取时钟芯片的第一输出频率与当前时间，当前时间即为时钟芯片需要校准的时间。与处理器电连接的存储器中存储有多个第二输出频率，第二输出频率为该时钟芯片的历史输出频率，根据多个第二输出频率得到第二频率均值，根据第一输出频率与多个第二输出频率得到第一频率均值，进而能够根据第一频率均值与第二频率均值评估时钟芯片的老化率，其中，时钟芯片的老化率也可以理解为向时钟芯片输入晶振频率的晶振的老化率。在确定时钟芯片的老化率后，基于老化率对当前时间进行补偿，以实现对待校准时间的校准操作，进而降低时钟芯片计时的偏差，保证时钟芯片计时的精度，从而有利于延长包括时钟芯片与晶振的时钟芯片系统的使用寿命。

附图说明

图1是本发明的一种时钟校准方法实施例的步骤流程图；

图2是本发明的另一种时钟校准方法实施例的步骤流程图；

图3是本发明的再一种时钟校准方法实施例的步骤流程图；

图4是本发明的又一种时钟校准方法实施例的步骤流程图；

图5是本发明的又一种时钟校准方法实施例的步骤流程图；

图6是本发明的又一种时钟校准方法实施例的步骤流程图；

图7是本发明的一种时钟校准装置实施例的结构框图；

图8是本发明的一种时钟校准装置实施例的结构框图；

图9是本发明的一种电子设备实施例的结构框图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

为了可以更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

参照图1，示出了本发明的一种时钟校准方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤s102，响应于时钟芯片的校准信号，记录时钟芯片的第一输出频率和当前时间，当前时间为待校准时间。

其中，时钟芯片的校准信号可以为由电子设备接收到的校准信号，校准信号可以由与电子设备适配的服务器发送，也可以为通过用户的触控操作获取，另外，也可以通过设置固定的校准周期，在达到校准周期时，自动生成校准信号，比如设置每半年自动校准一次时钟芯片等。

另外，时钟芯片的第一输出频率可以用于为其它的工作芯片提供所需的时钟频率。

步骤s104，根据第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值。

其中，根据第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值，具体可以通过将第一输出频率与多个第二输出频率进行均值求解，得到第一频率均值。

第二输出频率可以为在时钟芯片与晶振出厂前通过测试获得的频率。

步骤s106，根据第一频率均值与第二频率均值，计算得到时钟芯片的老化率，其中，第二频率均值根据多个第二输出频率确定。

具体地，第二频率均值根据多个第二输出频率确定，具体包括，将多个第二输出频率的均值，确定为第二频率均值。其中，本领域的技术人员能够理解的是，在每一次执行时间校准时，如果有执行时间校准的历史记录，则将前一次进行时钟校准时得到的第一频率均值作为本次执行时钟校准时的第二频率均值。

其中，石英晶体的老化率指石英晶体使用一段时间后产生频率等参数的偏移，晶振频率的偏移相应的导致时钟芯片输出频率的偏移，因此通过检测时钟芯片的老化率能够确定石英晶体的老化率，而时钟芯片的老化率则通过检测时钟芯片的输出频率的偏移确定，输出频率的偏移由第一频率均值与第二频率均值进行计算确定。

步骤s108，根据老化率对时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

其中，在确定时钟芯片的老化率后，基于老化率对当前时间进行补偿，以实现对待校准时间的校准操作，进而降低时钟芯片计时的偏差。

本实施例提供的时钟校准方法，通过在处理器获取到时钟芯片的校准信号时，读取时钟芯片的第一输出频率与当前时间，当前时间即为时钟芯片需要校准的时间。与处理器电连接的存储器中存储有多个第二输出频率，第二输出频率为该时钟芯片的历史输出频率，根据多个第二输出频率得到第二频率均值，根据第一输出频率与多个第二输出频率得到第一频率均值，进而能够根据第一频率均值与第二频率均值评估时钟芯片的老化率，其中，时钟芯片的老化率也可以理解为向时钟芯片输入晶振频率的晶振的老化率。基于老化率对当前时间，能够保证时钟芯片计时的精度，从而有利于延长包括时钟芯片与晶振的时钟芯片系统的使用寿命。

参照图2，示出了本发明的另一种时钟校准方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤s202，响应于时钟芯片的校准信号，记录时钟芯片的第一输出频率和当前时间，当前时间为待校准时间。

本实施例中，步骤s202的具体实现过程可以参见图1所示实施例中步骤s102的相关描述，此处不再赘述。

步骤s204，将预存的多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列。

其中，输出频率队列为按照时间先后顺序将多个第二输出频率进行排列，最终得到的一组频率值数列，输出频率队列的特点为先进先出、后进后出，包括：f1、f2、f3、f4、f5……fn，n为第二输出频率的数量，优选地，n≥10，并且n为5的整数倍，f1为多个第二输出频率中最早采集的频率值，fn为多个第二输出频率中最晚采集的频率值。

步骤s206，将第一输出频率插至输出频率队列的队尾，并删除输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列。

其中，由于输出频率队列的特点为先进先出、后进后出，在将第一输出频率fn 1插至输出频率队列的队尾时，对应删除f1，得到的更新频率数列为：f2、f3、f4、f5……fn 1。

步骤s208，根据更新频率数列，确定第一频率均值。

具体地，根据更新频率数列确定第一频率均值，即确定f2、f3、f4、f5……fn 1的平均值，以作为第一频率均值，第一频率均值反映了当前时钟芯片的偏移后的输出频率，第二频率均值反映了时钟芯片的输出频率的标准值，以根据第一频率均值与第二频率均值计算时钟芯片的老化率。

步骤s210，根据第一频率均值与第二频率均值，计算得到时钟芯片的老化率，其中，第二频率均值根据多个第二输出频率确定。

步骤s212，根据老化率对时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

本实施例中，步骤s202的具体实现过程可以参见图1所示实施例中步骤s106与步骤s108的相关描述，此处不再赘述。

在该实施例中，通过采用队列的形式生成输出频率队列与更新频率数列，以对应计算第二频率均值与第一频率均值，通过采用第二频率均值与第一频率均值计算时钟芯片的老化率，能够保证老化率的计算精度，进而保证根据老化率进行时钟校准的可靠性。

参照图3，示出了本发明的再一种时钟校准方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤s302，响应于时钟芯片的校准信号，记录时钟芯片的第一输出频率和当前时间,当前时间为待校准时间。

步骤s304，将预存的多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列。

步骤s306，将第一输出频率插至输出频率队列的队尾，并删除输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列。

本实施例中，步骤s302至步骤s306的具体实现过程可以参见图2所示实施例中步骤s202至步骤s206的相关描述，此处不再赘述。

步骤s308，滤除更新频率数列中的抖动数据，以生成当前频率数列。

其中，抖动数据可以理解为时钟芯片工作异常时的输出频率，滤除更新频率数列中的抖动数据的一种方式为去掉频率值异常的输出频率，以保证第一频率均值计算的可靠性。

在n≥10，并且n为5的整数倍的前提下，在更新频率队列{f2、f3、f4、f5……fn 1}中，去掉频率值最小的n/5个，再去掉最大的n/5个的部分。

步骤s310，将当前频率数列的频率均值确定为第一频率均值。

步骤s312，根据第一频率均值与第二频率均值，计算得到时钟芯片的老化率，其中，第二频率均值根据多个第二输出频率确定。

具体地，计算第二频率均值时，在输出频率队列{f1，f2、f3、f4、f5……fn}中，去掉频率值最小的n/5个，再去掉最大的n/5个的部分之后，计算平均值，作为第二频率均值。

步骤s314，根据老化率对时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

在该实施例中，通过在生成更新频率数列的基础上，进一步滤除抖动数据，以提高第一频率均值与第二频率均值的计算精度，进而有利于提升老化率的计算精度，从而提升时钟校准的校准精度。

参照图4，示出了本发明的又一种时钟校准方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤s402，响应于时钟芯片的校准信号，记录时钟芯片的第一输出频率和当前时间；当前时间为待校准时间。

步骤s404，将预存的多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列。

步骤s406，将第一输出频率插至输出频率队列的队尾，并删除输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列。

步骤s408，滤除更新频率数列中的抖动数据，以生成当前频率数列。

步骤s410，将当前频率数列的频率均值确定为第一频率均值。

本实施例中，步骤s402至步骤s410的具体实现过程可以参见图3所示实施例中步骤s302至步骤s310的相关描述，此处不再赘述。

步骤s412，确定第一频率均值与第二频率均值之间的差值。

步骤s414，将差值与第二频率均值之间的比值确定为老化率。

步骤s416，根据老化率对时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

在该实施例中，通过采用第一频率均值与第二频率均值之间的差值与第二频率均值之间的比值确定为老化率，能够较准确的评估晶振频率的偏移率，进而通过老化率对时钟芯片的待校准时间进行校准，在不增加硬件成本的前提下，实现可靠的时钟校准。

参照图5，示出了本发明的又一种时钟校准方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤s502，响应于时钟芯片的校准信号，记录时钟芯片的第一输出频率和当前时间；当前时间为待校准时间。

步骤s504，将预存的多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列。

步骤s506，将第一输出频率插至输出频率队列的队尾，并删除输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列。

步骤s508，滤除更新频率数列中的抖动数据，以生成当前频率数列。

步骤s510，将当前频率数列的频率均值确定为第一频率均值。

步骤s512，确定第一频率均值与第二频率均值之间的差值。

步骤s514，将差值与第二频率均值之间的比值确定为老化率。

本实施例中，步骤s502至步骤s514的具体实现过程可以参见图4所示实施例中步骤s402至步骤s414的相关描述，此处不再赘述。

步骤s516，确定输出频率队列中最后获得的第二输出频率对应的历史时间。

步骤s518，根据待校准时间与历史时间获得时钟芯片对应的使用时长。

步骤s520，根据使用时长与老化率，获得补偿时间。

步骤s522，采用补偿时间对待校准时间进行校准，以使时钟芯片输出校准后的时间。

在该实施例中，可以将历史时间理解为时钟芯片开启使用的时间起点，结合待校准时间即可获得时钟芯片对应的使用时长，根据句使用时长与老化率，确定补偿时间，以实现对待校准时间的精确补偿。

优选地，在步骤s522之后，时间校准方法还包括：

根据当前频率数列更新输出频率队列，以在执行下一次时钟校准时，根据更新后的输出频率队列确定第二频率均值。以及

将校准后的时钟信号存储为与第一输出频率对应的历史时钟信号。

在该实施例中，在每次完成时间校准后，将校准后的时间与对应的第一输出频率存储为上述的历史时间与输出频率队列中最后获得的第二输出频率，以在下次校准时，将上述数据作为补偿基准。

参照图6，示出了本发明的又一种时钟校准方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤s602，响应于校准信号，根据预设的调节方式调节指定芯片的芯片温度，指定芯片为时钟芯片，和/或与时钟芯片配合设置的处理器。

步骤s604，检测到芯片温度被调节至大于或等于预设温度阈值，记录第一输出频率与当前时间。

其中，由于不同的晶振具有不同的频率温度特性，所以环境温度对晶振的振荡频率影响很大，在本申请的时间校准方案中，通过在芯片温度被调节至大于或等于预设温度阈值的情况下记录对应的输出频率，这样，能够消除由于季节不同或所在地区纬度不同造成的温度差异对晶振振荡频率的影响，保证输出频率读取工况环境的一致性，进而得到消除温度影响后的老化率，使基于该老化率执行的时间校准方案更具有通用性。

可选地，在响应于时钟芯片的校准信号，记录时钟芯片的第一输出频率和当前时间之前，方法还包括：

循环运行高功耗程序，在每次检测到芯片温度大于或等于预设温度阈值的情况下，记录时钟芯片的第二输出频率，以生成预存的多个第二输出频率。

其中，作为步骤s602一种可选的实现方式，包括：控制预存的高功耗程序持续运行，以提高指定芯片的芯片温度，直至检测到芯片温度上升至大于或等于预设温度阈值。

具体地，作为一种优选的实现方案，指定芯片为处理器，通过控制处理器调用并运行高功耗程序，高功耗程序对应于更高的发热量，通过该方式调节处理器的芯片温度，以将采集到的处理器的芯片温度作为时钟芯片的芯片温度。

结合下述处理器与时钟芯片的设置方式，包括：电路基板的至少一个板面上具有覆铜区域；其中，处理器与时钟芯片设置于同一覆铜区域内，或处理器与时钟芯片中的一个设置于覆铜区域，另一个设置于与覆铜区域相对的电路基板的另一侧的板面上；温度传感器，设于处理器上，并与处理器电连接，温度传感器用于采集处理器的芯片温度，使处理器的芯片温度与时钟芯片的芯片温度接近或相同。

步骤s606，将预存的多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列。

步骤s608，将第一输出频率插至输出频率队列的队尾，并删除输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列。

步骤s610，滤除更新频率数列中的抖动数据，以生成当前频率数列。

步骤s612，将当前频率数列的频率均值确定为第一频率均值。

步骤s614，确定第一频率均值与第二频率均值之间的差值。

步骤s616，将差值与第二频率均值之间的比值确定为老化率。

步骤s618，确定输出频率队列中最后获得的第二输出频率对应的历史时间；

步骤s620，根据待校准时间与历史时间获得时钟芯片对应的使用时长；

步骤s622，根据使用时长与老化率，获得补偿时间。

步骤s624，采用补偿时间对待校准时间进行校准，以使时钟芯片输出校准后的时间。

本实施例中，步骤s606至步骤s624的具体实现过程可以参见图5所示实施例中步骤s504至步骤s522的相关描述，此处不再赘述。

参照图7，示出了本发明的又一种时钟校准方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

产品出厂前，主芯片通过循环持续运行高耗能算法提高系统温度，当温度达到高温报警阀值时，读取并记录此时时钟芯片的第二输出频率f。

检测到时钟芯片的第二输出频率读取的次数达到n次，得到一组输出频率数列{f1、f2、f3、f4、f5……fn}，n≥10，并且是5的整数倍。

在输出频率数列中去掉频率值最小的n/5个，再去掉最大的n/5个，计算出剩余频率的平均值作为第二频率均值fi，并记录当前从时钟芯片读取到的历史时间为ti。

在产品使用中，主芯片通过循环运行高耗能算法得到当前的第一输出频率fn 1，将输出频率数列{f1、f2、f3、f4、f5……fn}中的f1去掉后将fn 1加入到数列的最后，得到更新频率数列{f2、f3、f4、f5……fn 1}。

在更新频率数列中去掉频率值最小的n/5个，再去掉最大的n/5个，得到当前频率数列，计算当前频率数列的平均值为fm，并记录当前从时钟芯片读取到的时间tm，即待校准时间。

计算得到此时的老化率为(fi-fm)/fi。

根据老化率对时钟进行补偿，补偿方法为当前时间tr＝tm (tm-ti)*(fi-fm)/fi。

把tr保存为新的ti，fm保存为新的fi。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图7，示出了本发明一种时钟校准装置700实施例的结构框图，具体可以包括记录单元702、获取单元704、计算单元706和校准单元708。

其中，记录单元702用于响应于时钟芯片的校准信号，记录时钟芯片的第一输出频率和当前时间；当前时间为待校准时间。

获取单元704用于根据第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值。

计算单元706用于根据第一频率均值与第二频率均值，计算得到时钟芯片的老化率；其中，第二频率均值根据多个第二输出频率确定。

校准单元708用于根据老化率对时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

可选地，参照图8，获取单元704包括：生成子单元7042，用于将多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列；生成子单元7042还用于：将第一输出频率插至输出频率队列的队尾，并删除输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列；第一确定子单元7044，用于根据更新频率数列，确定第一频率均值。

可选地，第一确定子单元7044还包括：过滤子单元7044a，用于滤除更新频率数列中的抖动数据，以生成当前频率数列；第一确定子单元7044还用于：将当前频率数列的频率均值确定为第一频率均值。

可选地，计算单元706包括：第二确定子单元7062，用于确定第一频率均值与第二频率均值之间的差值；第二确定子单元7062还用于：将差值与第二频率均值之间的比值确定为老化率。

可选地，校准单元708包括：第三确定子单元7082，用于确定输出频率队列中最后获得的第二输出频率对应的历史时间；获取子单元7084，用于根据待校准时间与历史时间获得时钟芯片对应的使用时长；获取子单元7084还用于：根据使用时长与老化率，获得补偿时间；校准子单元7086，用于采用补偿时间对待校准时间进行校准，以使时钟芯片输出校准后的时间。

可选地，装置700还包括：更新单元710，用于根据当前频率数列更新输出频率队列，以在执行下一次时钟校准时，根据更新后的输出频率队列确定第二频率均值；以及存储单元712，用于将校准后的时钟信号存储为与第一输出频率对应的历史时钟信号。

可选地，记录单元702包括：调节子单元7022，用于响应于校准信号，根据预设的调节方式调节指定芯片的芯片温度，指定芯片为时钟芯片，和/或与时钟芯片配合设置的处理器；记录子单元7024，用于检测到芯片温度被调节至大于或等于预设温度阈值，记录第一输出频率与当前时间。

可选地，调节子单元7022包括：控制子单元7022a，用于控制预存的高功耗程序持续运行，以提高指定芯片的芯片温度，直至检测到芯片温度上升至大于或等于预设温度阈值。

可选地，装置700还包括：生成单元714，用于循环运行高功耗程序，在每次检测到芯片温度大于或等于预设温度阈值的情况下，记录时钟芯片的第二输出频率，以生成预存的多个第二输出频率。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

参照图9，示出了本发明一种电子设备的结构框图，包括：处理器902、时钟芯片904、晶振电路906与存储器908，其中，所述时钟芯片904与所述晶振电路906电连接，所述晶振电路906用于向所述时钟芯片904提供输入频率，所述时钟芯片904用于根据所述输入频率配置输出的输出频率；所述处理器902分别与所述时钟芯片904以及所述存储器908通信连接，所述处理器902能够读取所述时钟芯片904的输出频率与时间信号，存储器908存储有能够被所述至处理器902执行的指令，以使处理器902能够执行本发明的上述实施例中任一项所述的时钟校准方法的步骤。

可选地，电子设备还包括：电路基板，电路基板的至少一个板面上具有覆铜区域；其中，处理器与时钟芯片设置于同一覆铜区域内，或处理器与时钟芯片中的一个设置于覆铜区域，另一个设置于与覆铜区域相对的电路基板的另一侧的板面上；温度传感器，设于处理器上，并与处理器电连接，温度传感器用于采集处理器的芯片温度。

硬件原理设计时将时钟芯片振荡频率通过i/o口输出到主芯片i/o输入口。

硬件线路板设计时将时钟系统中的器件放在主芯片附近或者主芯片反面线路板位置，并且与主芯片共用散热铜层，便于热传导。

启动主芯片温度检测功能，并设置中断使能。

产品出厂前，主芯片通过持续运行高耗能算法提高系统温度，当温度达到高温报警阀值时，读取并记录此时时钟芯片输出的频率f。

本发明实施例可以应用于具有时钟功能的电子设备，所述电子设备可以是移动电子设备，也可以为非移动电子设备。示例性的，移动电子设备可以为加密设备、手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobilepersonalcomputer，umpc)、上网本或者个人数字助理(personaldigitalassistant，pda)等，加密设备具体可以为税务ukey，非移动电子设备可以为服务器、网络附属存储器(networkattachedstorage，nas)、个人计算机(personalcomputer，pc)、电视机(television，tv)、柜员机或者自助机等，本申请实施例不作具体限定。

本发明的实施例的计算机可读介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行：

响应于时钟芯片的校准信号，记录所述时钟芯片的第一输出频率和当前时间；所述当前时间为待校准时间；

根据所述第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值；

根据所述第一频率均值与第二频率均值，计算得到所述时钟芯片的老化率；其中，所述第二频率均值根据所述多个第二输出频率确定；

根据所述老化率对所述时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间。

可选地，所述根据所述第一输出频率与预存的多个第二输出频率，获得第一频率均值，包括：

将所述多个第二输出频率按照输出时间的先后排列，并生成输出频率队列；

将所述第一输出频率插至所述输出频率队列的队尾，并删除所述输出频率队列中处于队首的第二输出频率，以生成更新频率数列；

根据所述更新频率数列，确定所述第一频率均值。

可选地，所述根据所述更新频率数列，确定所述第一频率均值，还包括：

滤除所述更新频率数列中的抖动数据，以生成当前频率数列；

将所述当前频率数列的频率均值确定为所述第一频率均值。

可选地，所述根据所述第一频率均值与第二频率均值，计算得到所述时钟芯片的老化率，包括：

确定所述第一频率均值与所述第二频率均值之间的差值；

将所述差值与所述第二频率均值之间的比值确定为所述老化率。

可选地，所述根据所述老化率对所述时钟芯片的待校准时间进行校准，获得校准后的时间，包括：

确定所述输出频率队列中最后获得的第二输出频率对应的历史时间；

根据所述待校准时间与所述历史时间获得所述时钟芯片对应的使用时长；

根据所述使用时长与所述老化率，获得补偿时间；

采用所述补偿时间对所述待校准时间进行校准，以使所述时钟芯片输出校准后的时间。

可选地，所述方法还包括：

根据所述当前频率数列更新所述输出频率队列，以在执行下一次时钟校准时，根据更新后的所述输出频率队列确定所述第二频率均值；以及

将所述校准后的时钟信号存储为与所述第一输出频率对应的历史时钟信号。

可选地，所述响应于时钟芯片的校准信号，记录所述时钟芯片的第一输出频率和当前时间，包括：

响应于所述校准信号，根据预设的调节方式调节指定芯片的芯片温度，所述指定芯片为所述时钟芯片，和/或与所述时钟芯片配合设置的处理器；

检测到所述芯片温度被调节至大于或等于预设温度阈值，记录所述第一输出频率与所述当前时间。

可选地，所述根据预设的调节方式调节指定芯片的芯片温度，包括：

控制预存的高功耗程序持续运行，以提高所述指定芯片的芯片温度，直至检测到所述芯片温度上升至大于或等于所述预设温度阈值。

可选地，在响应于时钟芯片的校准信号，记录所述时钟芯片的第一输出频率和当前时间之前，所述方法还包括：

循环运行所述高功耗程序，在每次检测到所述芯片温度大于或等于所述预设温度阈值的情况下，记录所述时钟芯片的第二输出频率，以生成所述预存的多个第二输出频率。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种时钟校准方法和一种时钟校准装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。