一种用于手表后盖的磁吸组装测试装置的制作方法

本实用新型涉及智能手表后盖组装的技术领域，具体涉及一种用于手表后盖的磁吸组装测试装置。

背景技术：

随着科技的发展，手表也重传统的机械手表、电子手表逐渐往智能化手表的方向去发展，现有的智能手表后盖需要安装镶嵌件，如插片、金属压片等镶嵌件，而该安装过程中的工序较为繁琐，结构复杂，所以现有的安装方式多采用人工进行安装，大大影响组装效率，人工劳动强度大，成本高，由于采用人工进行安装，其安装定位精度不好控制，容易出现误差，影响镶嵌件安装质量，从而影响后续组装质量及使用质量，且现有的智能手表后盖还需要进行插片(充电插片)的导通测试，而现有的镶嵌件安装工序与导通测试工序通常是分开不同工位操作的，费时费力，不能同步进行，大大影响智能手表后盖的组装效率，从而影响生产效率。

技术实现要素：

本项实用新型是针对现在的技术不足，提供一种用于手表后盖的磁吸组装测试装置。

本实用新型为实现上述目的所采用的技术方案是：

一种用于手表后盖的磁吸组装测试装置，所述磁吸组装测试装置包括工作台、控制箱、组装测试治具及下压组件，所述工作台设置在所述控制箱上，所述下压组件设置在所述工作台上，所述组装测试治具设置在工作台中间，所述工作台中间设有通孔。

作进一步改进，所述组装测试治具由上至下依次包括上压板、磁吸板、定位板、定位底座及底座，所述底座设有导通测试板，所述导通测试板设置在通孔内，所述底座设有多块探针座，所述定位底座设有矩形槽及多个直槽孔，所述定位板设有多个放置凹槽，所述定位板上设有钢片压板，所述磁吸板设有多个矩形凹槽一及多个压块，所述矩形凹槽一内均设有压磁铁。

作进一步改进，所述下压组件包括多条导柱、顶板、驱动气缸及连接压板，所述连接压板设有多个通孔一，多个所述通孔一均设有导套，多个所述导套分别套设在所述导柱上，并可沿着导柱上下移动，所述驱动气缸设置在所述顶板上，所述驱动气缸的驱动杆与所述连接压板连接，所述连接压板下方设有多条连接柱，所述上压板设置在多条连接柱下方。

作进一步改进，所述上压板两侧均设有导柱一及两个缓冲件，所述底座两侧均设有通孔二，所述通孔二设有均导套二，所述导套二分别套设在所述导柱一，所述导套二沿着导柱一上下移动，所述上压板设有上导通测试板、多组顶针组及多个上探针穿过通孔，所述上导通测试板设置在所述上压板上方。

作进一步改进，多个所述压块设置在所述磁吸板底面，多个所述矩形凹槽一设置在所述磁吸板上方，多个所述压块分别一一对应设置在多个所述矩形凹槽一下方，所述磁吸板底面设有多个定位导柱，多个所述定位到柱分别设置在所述磁吸板底面的四个角部，所述磁吸板还设有两弧形凹槽，多块所述压块均设有多组探针穿过通孔组一及多组顶针组穿过通孔，多个所述矩形凹槽一底面均设有多组探针穿过通孔组二及多组顶针组穿过通孔二。

作进一步改进，所述钢片压板设有多个与放置凹槽一一对应的矩形通孔，多个所述放置凹槽均设有直槽孔一，所述钢片压板通过螺钉固定在所述定位板上，所述定位板还设有多个与所述定位导柱配合的定位孔。

作进一步改进，所述定位板底部设有与所述多块探针座穿入的直槽形凹槽，多块所述探针座均设有两组下探针穿过孔组。

作进一步改进，所述导通测试板设有多组下探针组，所述上导通测试板设有多组上探针组，所述导通测试板与上导通测试板均通过导线与所述控制箱连接。

作进一步改进，多组所述下探针组分别与多组所述上探针组一一镜像相对设置。

作进一步改进，所述控制箱设有显示屏、控制按钮及把手。

本实用新型的有益效果：本实用新型通过设置组装测试治具及下压组件，可同步进行手机后盖金属插片的导通检测及镶嵌件快速组装两个工序，降低劳动强度，大大提高手机后盖的组装效率，降低人工操作存在的误差而影响镶嵌件组装的精度及质量，从而提高产品合格率及质量；通过设置多个放置凹槽及多个压块，可同步进行多个手机后盖的组装及检测，提高生产效率，通过设置磁吸板并在其设置多个压磁铁，通过磁吸的方式快速将镶嵌件吸附在压块下，保证镶嵌件快速精密的固定在压块下的同时，减少需要对镶嵌件位置的定位步骤，使得组装效率大大提升，通过设置定位导柱及定位孔的配合，保证磁吸板与定位底座的贴合靠近时的位置，提高镶嵌件组装到手机后盖的质量及精确度，提高生产效率。

下面结合附图与具体实施方式，对本实用新型进一步说明。

附图说明

图1为本实施例的用于手表后盖的磁吸组装测试装置整体结构示意图；

图2为本实施例的用于手表后盖的磁吸组装测试装置分解示意图；

图3为本实施例的组装测试治具分解示意图；

图4为本实施例的磁吸板结构示意图；

图5为本实施例的磁吸板底部结构示意图；

图6为本实施例的定位板结构示意图；

图7为本实施例的定位板底部结构示意图；

图8为本实施例的探针座结构示意图；

图9为本实施例的上压板底部结构示意图。

图中：1.用于手表后盖的磁吸组装测试装置，2.工作台，3.控制箱，4.组装测试治具，5.下压组件，6.导通测试板，7.钢片压板，8.上导通测试板，9.顶针组，10.上探针穿过通孔，20.通孔，30.显示屏，31.控制按钮，32.把手，40.上压板，41.磁吸板，42.定位板，43.定位底座，44.底座，50.导柱，51.顶板，52.驱动气缸，53.连接压板，60.下探针组，70.矩形通孔，80.上探针组，400.导柱一，401.缓冲件，410.矩形凹槽一，411.压块，412.压磁铁，413.定位导柱，414.弧形凹槽，420.放置凹槽，424.定位孔，423.直槽形凹槽，440.探针座，430.矩形槽，431.直槽孔，510.连接柱，530.导套，441.导套二，4100.探针穿过通孔组二，4101.顶针组穿过通孔二，4110.探针穿过通孔组一，4111.顶针组穿过通孔，4200.直槽孔一，4400.下探针穿过孔组。

具体实施方式

以下所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不因此而限定本发明的保护范围。

实施例，参见附图1～图9，一种用于手表后盖的磁吸组装测试装置1包括工作台2、控制箱3、组装测试治具4及下压组件5，所述工作台2设置在所述控制箱3上，所述下压组件5设置在所述工作台2上，所述组装测试治具4设置在工作台2中间，所述工作台2中间设有通孔20，所述控制箱3设有显示屏30、控制按钮31及把手32，所述组装测试治具4由上至下依次包括上压板40、磁吸板41、定位板42、定位底座43及底座44，所述底座44设有导通测试板6，所述导通测试板6设置在通孔20内，所述底座44设有多块探针座440及多个探针座放置凹槽，所述探针座440分别放置在探针座放置凹槽内，所述探针座放置凹槽均设有贯穿孔，所述贯穿孔用于导通测试板6的多组下探针组60穿过，所述定位底座43设有矩形槽430及多个直槽孔431，所述定位板42设置在所述矩形槽430内，无需螺钉锁固，方便快速更换定位板42，所述定位板42设有多个放置凹槽420，所述定位板42上设有钢片压板7，所述钢片压板7用于将手表后盖物料放置到所述放置凹槽420内后的压紧动作，防止放置在放置凹槽420的手表后盖物料加工时出现移位，所述磁吸板41设有多个矩形凹槽一410及多个压块411，所述矩形凹槽一410内均设有压磁铁412，所述压磁铁412用于提供磁吸力，从而将镶嵌件吸附到所述压块411上，所述磁吸板41用于快速定位吸附镶嵌到手表后盖上的镶嵌件，便于后续的组装，提高组装效率。

所述下压组件5包括多条导柱50、顶板51、驱动气缸52及连接压板53，所述连接压板53设有多个通孔一，多个所述通孔一均设有导套530，多个所述导套530分别套设在所述导柱50上，并可沿着导柱50上下移动，所述驱动气缸52设置在所述顶板51上，所述驱动气缸52的驱动杆与所述连接压板53连接，所述连接压板53下方设有多条连接柱510，所述上压板40设置在多条连接柱510下方，所述下压组件5用于控制上压板40下压与定位板42连接，从而进行镶件料件与手表后盖的组装测试动作。

所述上压板40两侧均设有导柱一400及两个缓冲件401，所述底座44两侧均设有通孔二，所述通孔二设有均导套二441，所述导套二441分别套设在所述导柱一400，所述导套二441沿着导柱一400上下移动，从而保证上压板40的垂直运动稳定性，所述上压板40设有上导通测试板8、多组顶针组9及多个上探针穿过通孔10，所述上导通测试板8设置在所述上压板40上方，所述多组顶针组9用于下压时将磁吸板41上的镶嵌件顶出镶嵌到手机后盖料件上，所述缓冲件401为缓冲气缸，所述缓冲件401用于组装测试治具合模时提供一定的缓冲作用，从而防止冲击力过大损坏组装测试治具4或内部加工料件。

多个所述压块411设置在所述磁吸板41底面，多个所述矩形凹槽一410设置在所述磁吸板41上方，多个所述压块411分别一一对应设置在多个所述矩形凹槽一410下方，所述磁吸板41底面设有多个定位导柱413，多个所述定位到柱413分别设置在所述磁吸板41底面的四个角部，所述磁吸板41还设有两弧形凹槽414，多块所述压块411均设有多组探针穿过通孔组一4110及多组顶针组穿过通孔4111，多个所述矩形凹槽一410底面均设有多组探针穿过通孔组二4100及多组顶针组穿过通孔二4101，所述多组探针穿过通孔组一4110用于顶针的穿过与手表后盖上的插片的上表面接触。

所述钢片压板7设有多个与放置凹槽420一一对应的矩形通孔70，多个所述放置凹槽420均设有直槽孔一4200，所述直槽孔一4200用于下探针组60的穿过与手表后盖上的插片的下表面接触，所述钢片压板7通过螺钉固定在所述定位板42上，所述定位板42还设有多个与所述定位导柱413配合的定位孔424，所述定位导柱413与定位孔424用于磁吸板41与定位板42贴合时的定位，保证位置，从而保证压块411与放置凹槽420的位置对正，保证组装加工质量，所述矩形通孔70用于将手表后盖需要镶嵌的表面露出，并给压块411穿过将镶嵌件镶嵌到手表后盖上。

所述定位板42底部设有与所述多块探针座440穿入的直槽形凹槽423，多块所述探针座440均设有两组下探针穿过孔组4400，所述导通测试板6设有多组下探针组60，所述上导通测试板8设有多组上探针组80，所述导通测试板6与上导通测试板8均通过导线与所述控制箱2连接，所述控制箱2内设有控制主板，多组所述下探针组60分别与多组所述上探针组80一一镜像相对设置，所述下探针组60用于与手表后盖的金属插片的下表面接触，所述上探针组80用于与手表后盖的金属插片的上表面接触，从而测试手表后盖的金属插片的是否导通，从而判断手机后盖产品的是否合格。

本实用新型的工作原理：将镶嵌件固定在磁吸板的压块上，将手机后盖物料放置在放置凹槽内，并通过钢片压板压紧，工作时，下压组件控制上压板垂直下降，磁吸板的定位导柱靠近定位孔，并沿着定位孔继续往下，磁吸板的底面与钢片压板上表面贴合后，上压板的顶针组将镶嵌件顶出固定在手机后盖的镶嵌件安装凹槽内，同时的，上导通测试板的上探针组贴近手机后盖金属插片的上表面，导通测试板的下探针组贴近手机后盖金属插片的下表面，控制箱输出导通电流，检测金属插片是否合格及是否导通，并将检测结构在显示屏上显示出来哪个放置凹槽上的手机后盖产品合格或不合格，导通测试完毕后，下压组件复位，整个组装及测试工序完成，进行手机后盖产品的下料，更换新的代加工手机后盖料件及安装镶嵌件料件，进行下一组手机后盖料件的加工。

本实用新型并不限于上述实施方式，采用与本实用新型上述实施例相同或近似结构或装置，而得到的其他用于用于手表后盖的磁吸组装测试装置，均在本实用新型的保护范围之内。