一种适用于测试仪的自学习测试系统及方法与流程

1.本发明涉及自动测试领域，具体涉及一种利用测试仪进行自动测试和自学习，得到被测对象完整连接关系的自学习测试模块。


背景技术：

2.测试仪广泛应用于航天、航空、船舶、汽车等领域，一般在线缆网或产品加工完成后须进行测试以验证其焊接正确性，现有的线缆网和产品测试方式主要有两种：一是利用万用表，对照设计图纸，人工逐点对被测对象进行导通、绝缘、元器件测试；二是利用测试仪，根据设计图纸得到被测对象的连接关系，输入至测试仪中，进行导通、绝缘的自动测试。
3.两种方式在线缆或被测产品规模小、点数少时均可以验证被测对象连接关系的正确性。随着现在被测对象特别是线缆网的使用规模的不断扩大，连接关系非常复杂的情况下，人工逐点测试和人工梳理线缆关系都很费时且容易出错。现有两种方式均存在效率低、耗时长、可靠性差等局限性。且现有线缆测试仪大多具备导通绝缘的测试功能，但不分辨元器件。


技术实现要素：

4.本发明的主要目的在于提供一个可用于测试仪的自学习系统及方法，负责对未知连接关系的进行自动测试和自学习分析，以得到未知连接关系的被测对象的标准连接关系(包括导通、绝缘、电阻、二极管)，从而可得到测试仪进行测试所需的导通表、绝缘表、元器件表几个配置文件，快速准确的判断被测对象的电连接状态是否正确。
5.本发明的技术解决方案如下：一种适用于测试仪的自学习测试系统，包括：设置模块、快速扫描测试模块、自学习分析模块；
6.设置模块用于设置被测对象接入测试仪的被测点起始范围或被测点数n，以及被测对象连接关系的判断标准；
7.快速扫描测试模块按照减少重复测试的原则，快速实现全部被测点间的测试，并将被测点间测试时的阻值以被测点的编号为标记记录在临时回路表中；
8.自学习分析模块根据临时回路表中记录的阻值以及设置模块中设置的被测对象连接关系的判断标准，确定被测对象的完整连接状态。
9.优选的，所述被测对象连接关系包括导通、绝缘、电阻、二极管。
10.优选的，所述的判断标准为电阻上下限，低于下限表明导通，高于上限表明绝缘，之间表明电阻。
11.优选的，所述快速扫描测试模块通过下述方式实现：
12.步骤一：将被测点进行顺序编号并设置临时回路表，该表用n*n矩阵形式记录被测点之间的阻值，当测试电流正向时，i点对j点测试时的阻值记录在矩阵a
ij
位置，当测试电流反向时，i点对j点测试时的阻值记录在矩阵a
ji
位置；
13.步骤二：从第1个被测点记为1点开始对其他点逐点扫描测试，得到1点与其他所有
点的阻值关系并记录到临时回路表中，根据被测对象连接关系的判断标准得到与1点导通的点的集合v1；
14.步骤三：记与1点不导通的所有点的集合为u1＝u
‑
v1，u1中选取任意一点记为a点对u1中其他点逐点扫描测试，得到a点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与a点导通的点的集合v2；
15.步骤四：记与1点不导通的点的集合为u2＝u1‑
v2，u2中除a点之外任意一点的点记为b点对u2中其他点逐点扫描测试，得到b点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与b点导通的点的集合v3；
16.步骤五：记与1点不导通的点的集合为u3＝u2‑
v3，u2中除a、b点之外任意一点的点记为c点对u3中其他点逐点扫描测试，得到c点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与c点导通的点的集合v4；
17.步骤六：以此类推，直至与1点不导通的点的集合u
m
为空集；
18.步骤七：将测试电流反向，重复步骤二至步骤六。
19.优选的，步骤三
‑
步骤六中优选从集合中按照序号从小到大或者从大到小依顺序选取。
20.优选的，所述自学习分析模块通过下述方式实现：
21.若a
ij
≠a
ji
且根据所述判断标准判断其中一个值为导通，另一个为绝缘，则判定i、j点间为二极管，将二极管及其i、j点位置写入元器件表中；
22.若a
ij
＝a
ji
，将集合v1、v2、v3、v4……
v
m
按每个集合为一组记录在导通表中；取每组第一点记录在绝缘表中；
23.记除了已记录在导通表内的点的剩余点记为集合w，遍历w中的点，根据所述判断标准判断w中a
ij
大小，若是绝缘，写入绝缘表中；若是电阻，则将电阻阻值和i、j点位置写入元器件表中。
24.一种适用于测试仪的自学习测试方法，包括如下步骤：
25.s1、将被测对象接入测试仪，并设置被测对象的被测点起始范围或被测点数n，以及被测对象连接关系的判断标准；
26.s2、将被测点进行顺序编号并设置临时回路表，该表用n*n矩阵形式记录被测点之间的阻值，当测试电流正向时，i点对j点测试时的阻值记录在矩阵a
ij
位置，当测试电流反向时，i点对j点测试时的阻值记录在矩阵a
ji
位置；
27.s3、从第1个被测点记为1点开始对其他点逐点扫描测试，得到1点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，根据被测对象连接关系的判断标准得到与1点导通的点的集合v1；
28.s4、记与1点不导通的所有点的集合为u1＝u
‑
v1，u1中任意一点记为a点对u1中其他点逐点扫描测试，得到a点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与a点导通的点的集合v2；
29.s5、记与1点不导通的点的集合为u2＝u1‑
v2，u2中除a点之外任意一点的点记为b点对u2中其他点逐点扫描测试，得到b点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与b点导通的点的集合v3；
30.s6、记与1点不导通的点的集合为u3＝u2‑
v3，u2中除a、b点之外任意一点的点记为c
点对u3中其他点逐点扫描测试，得到c点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与c点导通的点的集合v4；
31.s7、以此类推，直至与1点不导通的点的集合u
m
为空集；
32.s8、将测试电流反向，重复s3至s7；得到最终的临时回路表；
33.s9、根据临时回路表中记录的阻值以及设置的被测对象连接关系的判断标准，确定被测对象的完整连接状态。
34.优选的，s9具体实现方式如下：
35.若a
ij
≠a
ji
且根据所述判断标准判断其中一个值为导通，另一个为绝缘，则判定i、j点间为二极管，将二极管及其i、j点位置写入元器件表中；
36.若a
ij
＝a
ji
，将集合v1、v2、v3、v4……
v
m
按每个集合为一组记录在导通表中；取每组第一点记录在绝缘表中；
37.记除了已记录在导通表内的点的剩余点记为集合w，遍历w中的点，根据所述判断标准判断w中a
ij
大小，若是绝缘，写入绝缘表中；若是电阻，则将电阻阻值和i、j点位置写入元器件表中。
38.本发明方法运行在测试仪的上位机中。
39.本发明与现有技术相比的优点在于：
40.(1)本发明完成了测试仪对被测对象中导通、绝缘、电阻、二极管关系的分辨，能够反映被测对象的完整连接状态，无遗漏问题。
41.(2)本发明中快速扫描测试的方法，大幅提升了测试效率。因测试仪进行测试的时间与测试次数正相关，本发明中方法相比于所有被测点全遍历的一对一测量减少了近半测试次数，避免了大量重复测试工作，节省了大量时间。被测对象规模越大，测试效率的提高越明显。
42.(3)本发明中采用电流正反向两次测试，能够判断电路中是否存在二极管，同时两次测试结果也保证了测试结果的准确性、可靠性。
43.(4)本发明的方法由测试仪自动测试替代人工编写测试所需的导通表、绝缘表、元器件表几个测试配置文件的工作，节省大量人力成本和时间成本。
附图说明
44.图1为快速扫描测试所得临时回路表。
具体实施方式
45.下面结合附图对本发明做详细说明。
46.本发明系统/方法运行在测试仪的上位机中，具体实施方式如下：
47.1)测试仪设置
48.将被测对象接入测试仪，将被测点接入测试仪的起始点范围输入测试仪程序。视起点为1点，最后一个点为n点，全部点的集合为u。
49.在测试仪设置参数，即导通、绝缘、电阻的判断标准，具体表现为电阻上下限。
50.2)快速扫描测试
51.步骤一：将被测点进行顺序编号并设置临时回路表，该表用n*n矩阵形式记录被测
点之间的阻值，当测试电流正向时，i点对j点测试时的阻值记录在矩阵a
ij
位置，当测试电流反向时，i点对j点测试时的阻值记录在矩阵a
ji
位置；
52.步骤二：从第1个被测点记为1点开始对其他点逐点扫描测试，得到1点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，根据被测对象连接关系的判断标准得到与1点导通的点的集合v1；
53.步骤三：记与1点不导通的所有点的集合为u1＝u
‑
v1，u1中序号最小的点记为a点对u1中其他点逐点扫描测试，得到a点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与a点导通的点的集合v2；
54.步骤四：记与1点不导通的点的集合为u2＝u1‑
v2，u2中除a点之外序号最小点的点记为b点对u2中其他点逐点扫描测试，得到b点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与b点导通的点的集合v3；
55.步骤五：记与1点不导通的点的集合为u3＝u2‑
v3，u2中除a、b点之外序号最小的点记为c点对u3中其他点逐点扫描测试，得到c点与其他所有点的阻值关系并记录到临时回路表中，得到与c点导通的点的集合v4；
56.步骤六：以此类推，直至与1点不导通的点的集合u
m
为空集；
57.步骤七：将测试电流反向，重复步骤二至步骤六。
58.至此，所有测试点扫描完毕，可得到临时回路表如图1。
59.3)自学习分析
60.测试前已在测试仪中进行了参数配置，以设置的阻值上下限为限制条件，低于下限表明导通，高于上限表明绝缘，之间表明电阻。
61.记矩阵i行j列得元素为a
ij
，通过判断矩阵中a
ij
、a
ji
是否相等，以及其值的范围，则可判断i、j两点间是否为二极管和电阻。具体判断如下：
62.若a
ij
≠a
ji
且根据所述判断标准判断其中一个值为导通，另一个为绝缘，则判定i、j点间为二极管，将二极管及其i、j点位置写入元器件表中；
63.若a
ij
＝a
ji
，将集合v1、v2、v3、v4……
v
m
按每个集合为一组记录在导通表中；取每组第一点记录在绝缘表中；
64.记除了已记录在导通表内的点的剩余点记为集合w，遍历w中的点，根据所述判断标准判断w中a
ij
大小，若是绝缘，写入绝缘表中；若是电阻，则将电阻阻值和i、j点位置写入元器件表中。
65.如由图1所示测试所得临时回路表，第4点和第n
‑
1点间是二极管，第3点和第6点间是一10欧电阻。上述得到的元器件表、导通表和绝缘表即可表示被测对象的完整连接状态。
66.本发明未详细说明部分属本领域技术人员公知常识。