一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪的制作方法

1.本实用新型属于测量设备领域，具体涉及能精确测量大尺寸板材任意部位厚度且操作简便的一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪。


背景技术：

2.目前，2mm以上的板材材料，在出货前都需要对不同批次的板材进行厚度测试。以三明治结构的蜂窝板为例，在完成复合工序后对板材进行厚度测试，以确定客户的正常使用。
3.现有的测厚方法多利用手握式测厚仪或手持式测厚仪进行板材材料的厚度测量。然而，由于这些测试设备能测试的区域有效，一般仅能测试离板材边缘5cm区域内材料的厚度，无法识别板材其他区域的厚度，导致厚度偏差的真实性无法评估。其他的测厚方法，例如超声波测厚仪，价格昂贵，测量方法繁琐。
4.有鉴于此，有必要对现有的测厚装置予以改进。一方面需要方便人员操作，另一方面成本不能太高。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于改善以上不足，提供一种结构简单，操作方便，测厚精确的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪。本实用新型的具体技术方案如下：
6.本实用新型公开了一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，测厚仪包括底盘、位于底盘正上方的升降测尺，升降测尺垂直于底盘设置、底盘与升降测尺之间为测量空间。
7.作为进一步地改进，本实用新型还包括固定套圈，固定套圈套接于升降测尺的表面，升降测尺可沿固定套圈上下移动。
8.作为进一步地改进，本实用新型固定套圈上、相对应于升降测尺刻度面的位置，固定有电子读数头。
9.作为进一步地改进，本实用新型固定套圈的高度小于升降测尺的1/5，为1
‑
3cm。
10.作为进一步地改进，本实用新型升降测尺的底端为测量平面，与底盘平行。
11.作为进一步地改进，本实用新型还包括固定架，底盘与固定套圈均固定于固定架上。
12.作为进一步地改进，本实用新型固定架上，底盘面的测量深度为1
‑
1.5米。
13.与现有技术相比，采用本实用新型的有益效果如下：
14.1、该测厚仪可以测量板材材料任意部位的厚度，更系统更真实地反映出板材厚度偏差，可用于检测各种尺寸板材任意部位的厚度。
15.2、相比传统的测量厚度的工具相比，该测厚仪结构简单，操作方便，成本低。
附图说明
16.图1为本实用新型测厚仪结构示意图；
17.图中，1为固定架，2为固定板；3为底盘，4为升降测尺，5为固定套圈，6为电子读数头，7为测量平面，8为测量深度。
具体实施方式
18.下面结合附图，通过具体实施例及对比例对本实用新型的技术方案予以进一步说明。
19.实施例1
20.图1为本实用新型测厚仪结构示意图；本实用新型公开了一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，测厚仪包括底盘3、位于底盘3正上方的升降测尺4，升降测尺4垂直于底盘3设置、底盘3与升降测尺4之间为测量空间，当需要测量时，板材移至测量空间内，根据需要调整至相应的位置测量，还包括固定套圈5，固定套圈5套接于升降测尺4位的表面，升降测尺4可沿固定套圈5上下移动，固定套圈5的高度小于升降测尺4的1/5，为1
‑
3cm。升降测尺4可向下移动至与底盘3接触，在固定套圈5上、相对应于升降测尺4刻度面的位置，固定有电子读数头6，当升降测尺4接触到底盘3，电子读数头6显示为“0”刻度线。升降测尺4的底端为测量平面7，与底盘3平行，底盘3与固定套圈5均固定于固定架1上，固定架1上固定有固定板2，固定套圈5固定在固定板2上，升降测尺4与固定板2平行，电子读数头6与固定块平行设置，在固定架1上，相应于底盘3面部分的测量深度8为1.5米，可容纳大部分板材的长宽以便于测量板材任意部位的厚度。
21.具体测试方法如下：将升降测尺移至与底盘完全接触。打开电子读数头并置“0”。上移升降测尺，将制成的蜂窝板放在底盘上，挪动蜂窝板，确定要测试厚度的区域。下移升降测尺，至轻轻接触蜂窝板材上表面，确定电子读数头的读数，即为蜂窝板材厚度。
22.以上列举的仅是本实用新型的一些具体实施例，显然，本实用新型不限于以上实施例，还可以有许多变形，本领域的普通技术人员能从本实用新型公开的内容直接导出或联想到的所有变形，均应认为是本实用新型的保护范围。


技术特征：
1.一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的测厚仪包括底盘(3)、位于底盘(3)正上方的升降测尺(4)，所述的升降测尺(4)垂直于底盘(3)设置、所述的底盘(3)与升降测尺(4)之间为测量空间。2.根据权利要求1所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，还包括固定套圈(5)，所述的固定套圈(5)套接于升降测尺(4)的表面，所述的升降测尺(4)可沿固定套圈(5)上下移动。3.根据权利要求2所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的固定套圈(5)上、相对应于升降测尺(4)刻度面的位置，固定有电子读数头(6)。4.根据权利要求2所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的固定套圈(5)的高度小于升降测尺(4)的1/5，为1
‑
3cm。5.根据权利要求2所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的升降测尺(4)的底端为测量平面(7)，与底盘(3)平行。6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，还包括固定架(1)，所述的底盘(3)与固定套圈(5)均固定于固定架(1)上。7.根据权利要求6所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的固定架(1)上，底盘(3)面的测量深度(8)为1
‑
1.5米。

技术总结
本实用新型公开了一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪。测厚仪包括底盘、位于底盘正上方的升降测尺，升降测尺垂直于底盘设置、底盘与升降测尺之间为测量空间。本实用新型的测厚仪可以测量板材材料任意部位的厚度，更系统更真实地反映出板材厚度偏差，可用于检测各种尺寸板材任意部位的厚度，相比传统的测量厚度的工具相比，该测厚仪结构简单，操作方便，成本低。低。低。


技术研发人员：顾灯华 陈荣枝 楼娣 朱艳妍
受保护的技术使用者：浙江华江科技股份有限公司
技术研发日：2020.12.31
技术公布日：2021/10/23