技术总结
本申请公开了MEMS器件。所述MEMS器件包括:衬底;位于衬底上的MEMS传感器,所述MEMS传感器包括在衬底上形成的空腔以及位于空腔上的结构层;以及位于MEMS传感器上的晶体管,其中,所述晶体管的至少一部分形成在所述MEMS传感器的结构层中。该MEMS器件将MEMS传感器和晶体管堆叠形成垂直结构,从而减小芯片尺寸、提高芯片性能以及降低器件成本。
技术研发人员:孙伟;闻永祥;季锋;刘琛
受保护的技术使用者:杭州士兰集成电路有限公司
文档号码:201621075882
技术研发日:2016.09.23
技术公布日:2017.05.31
本申请公开了MEMS器件。所述MEMS器件包括:衬底;位于衬底上的MEMS传感器,所述MEMS传感器包括在衬底上形成的空腔以及位于空腔上的结构层;以及位于MEMS传感器上的晶体管,其中,所述晶体管的至少一部分形成在所述MEMS传感器的结构层中。该MEMS器件将MEMS传感器和晶体管堆叠形成垂直结构,从而减小芯片尺寸、提高芯片性能以及降低器件成本。
技术研发人员:孙伟;闻永祥;季锋;刘琛
受保护的技术使用者:杭州士兰集成电路有限公司
文档号码:201621075882
技术研发日:2016.09.23
技术公布日:2017.05.31
再多了解一些
本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。