一种LED显示驱动芯片开路检测回读方法与流程

一种led显示驱动芯片开路检测回读方法
技术领域
1.本发明涉及led显示技术领域，特别涉及一种led显示驱动芯片开路检测回读方法。


背景技术：

2.市场上的led显示驱动芯片多采用多通道多行扫设计，一颗芯片驱动由若干led灯珠组成的阵列。当led灯珠阵列中有一颗灯珠开路，在显示屏上会出现以开路灯珠为中心的十字架，对显示效果造成影响。
3.为解决开路十字架现象，led显示驱动芯片一般带有开路检测功能。通过检测芯片输出通道的电压值，自动判断灯珠是否开路，若检测到开路灯珠，则关闭相应通道的pwm输出，防止出现开路十字架现象。实际应用中，仅屏蔽开路灯珠的pwm输出无法从根本上解决问题，需要对开路灯珠进行维修或替换。在屏幕面积大，像素点间距减小的场合下，定位开路灯珠位置变得困难。因此需要一种将开路检测结果回传至上位机的方法，帮助定位和处理故障。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种led显示驱动芯片开路检测回读方法，以将led显示屏上开路灯珠的位置信息从芯片中回传至上位机，方便故障定位和处理，提升led显示屏可维护性。
5.为解决上述技术问题，本发明提供了一种led显示驱动芯片开路检测回读方法，包括：
6.步骤1、在led显示驱动芯片上设置一位的串行数据输入端口sdi，一位的串行指令输入端口le，一位的串行数据输出端口sdo；
7.步骤2、设置写寄存器指令wr_reg，通过le端口向芯片发送写寄存器指令后，将sdi端口的数据写入芯片内部寄存器；
8.步骤3、设置读寄存器指令rd_reg，通过le端口向芯片发送读寄存器指令后，芯片内部寄存器的数据通过sdo端口串行输出；
9.步骤4、设置led显示驱动芯片行扫数r，r为正整数，表示芯片循环扫描的led灯珠的行数；
10.步骤5、设置一位的开路检测信息回读使能寄存器reg_open_rd_en，高电平或低电平均能够使能；
11.步骤6、设置开路检测信息选择寄存器reg_open_row，用于存储待读出的开路检测信息的行扫号r，r为正整数，1≤r≤r；
12.步骤7、设置开路检测信息寄存器reg_open_data，用于暂存待读出的开路检测信息；
13.步骤8、执行开路检测，将检测结果存放在led显示驱动芯片内置的sram中，将第一
行扫到第r行扫的数据分别存放在sram地址0～(r
‑
1)中；
14.步骤9、将要读出开路检测信息的行扫号r配置到寄存器reg_open_row中；
15.步骤10、使能寄存器reg_open_rd_en，步骤9中设置的第r行扫的开路检测信息从sram中读出并被存放在寄存器reg_open_data中；
16.步骤11、向芯片发送读寄存器指令，将寄存器reg_open_data中的数据从sdo端口串行输出并由上位机接收。
17.可选的，所述步骤1中，寄存器数据和显示灰度数据均由sdi端口输入芯片；芯片指令由le端口输入芯片；寄存器数据由sdo端口串行输出；不用于寄存器数据输出时，sdo端口的输出复制sdi端口的输入数据，该功能用于多颗led显示驱动芯片级联时进行数据传输。
18.可选的，所述步骤2中，通过sdi端口输入的数据分为地址帧和数据帧两部分，由芯片内部译码逻辑处理后，将数据帧内容写入地址帧指向的寄存器。
19.可选的，所述步骤3中，待读取的寄存器地址通过sdi端口进行设置。
20.可选的，所述步骤5中，在芯片内部定义一位的开路检测信息回读使能寄存器reg_open_rd_en，能够通过wr_reg指令对reg_open_rd_en寄存器进行配置，使能开路检测信息回读功能；reg_open_rd_en寄存器能够通过高电平或低电平使能。
21.可选的，所述步骤6中，由于通过rd_reg指令一次只能读出一个寄存器的数据，多行扫的开路检测信息无法一次读出，因此需要先指定要读出开路检测信息的行扫号并通过wr_reg指令配置到寄存器reg_open_row中。
22.可选的，所述步骤9中，通过wr_reg指令，将要读出开路检测信息的行扫号r配置到寄存器reg_open_row中。
23.可选的，所述步骤10中，通过wr_reg指令将寄存器reg_open_rd_en配置为使能电平，使能开路检测信息回读功能，将步骤9中设置的第r行扫的开路检测信息从sram中读出并存放在寄存器reg_open_data中。
24.可选的，所述步骤11中，首先通过sdi端口输入寄存器reg_open_data的地址，然后向芯片发送读寄存器指令rd_reg，将寄存器reg_open_data中的数据从sdo端口串行输出并由上位机接收。
25.本发明的有益效果在于：
26.(1)本发明提供的将led显示驱动芯片开路检测信息回读至上位机的方法，方便定位led显示屏上的开路灯珠，提升led显示屏的可维护性；
27.(2)本发明仅通过寄存器读写完成开路检测信息的回读，不额外增加led显示驱动芯片的输入输出引脚，方便上位机进行控制和编程。
附图说明
28.图1是本发明提供的led显示驱动芯片开路检测回读方法流程示意图；
29.图2是本发明提供的led显示驱动芯片开路检测回读方法的时序图。
具体实施方式
30.以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种led显示驱动芯片开路检测回读方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说
明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
31.实施例一
32.本发明提供了一种led显示驱动芯片开路检测回读方法，其流程构如图1所示，包括：
33.步骤1、在led显示驱动芯片上设置一位的串行数据输入端口sdi，一位的串行指令输入端口le，一位的串行数据输出端口sdo；
34.寄存器数据和显示灰度数据均由sdi端口输入芯片；芯片指令由le端口输入芯片；寄存器数据由sdo端口串行输出；不用于寄存器数据输出时，sdo端口的输出复制sdi端口的输入数据，该功能用于多颗led显示驱动芯片级联时进行数据传输；
35.步骤2、设置写寄存器指令wr_reg，通过le端口向芯片发送写寄存器指令后，将sdi端口的数据写入芯片内部寄存器；
36.通过sdi端口输入的数据分为地址帧和数据帧两部分，由芯片内部译码逻辑处理后，将数据帧内容写入地址帧指向的寄存器；
37.步骤3、设置读寄存器指令rd_reg，通过le端口向芯片发送读寄存器指令后，芯片内部寄存器的数据通过sdo端口串行输出；待读取的寄存器地址通过sdi端口进行设置；
38.步骤4、设置led显示驱动芯片行扫数r，r为正整数，表示芯片循环扫描的led灯珠的行数；
39.步骤5、在芯片内部设置一位的开路检测信息回读使能寄存器reg_open_rd_en，能够通过wr_reg指令对reg_open_rd_en寄存器进行配置，使能开路检测信息回读功能；reg_open_rd_en寄存器能够通过高电平或低电平使能；
40.步骤6、设置开路检测信息选择寄存器reg_open_row，用于存储待读出的开路检测信息的行扫号r，r为正整数，1≤r≤r；
41.由于通过rd_reg指令一次只能读出一个寄存器的数据，多行扫的开路检测信息无法一次读出，因此需要先指定要读出开路检测信息的行扫号并通过wr_reg指令配置到寄存器reg_open_row中；
42.步骤7、设置开路检测信息寄存器reg_open_data，用于暂存待读出的开路检测信息；
43.步骤8、执行开路检测，将检测结果存放在led显示驱动芯片内置的sram中，将第一行扫到第r行扫的数据分别存放在sram地址0～(r
‑
1)中；
44.步骤9、通过wr_reg指令，将要读出开路检测信息的行扫号r配置到寄存器reg_open_row中；
45.步骤10、通过wr_reg指令将寄存器reg_open_rd_en配置为使能电平，使能开路检测信息回读功能，步骤9中设置的第r行扫的开路检测信息从sram中读出并被存放在寄存器reg_open_data中；
46.步骤11、首先通过sdi端口输入寄存器reg_open_data的地址，然后向芯片发送读寄存器指令，将寄存器reg_open_data中的数据从sdo端口串行输出并由上位机接收。
47.图2中，首先通过sdi端口串行输入reg_open_row寄存器的地址和要读取开路检测信息的行扫号r，同时通过le端口发送写寄存器指令wr_reg；在下一个时钟上升沿，行扫号r
被锁存到寄存器reg_open_row中；通过sdi端口串行输入reg_open_rd_en寄存器的地址和待写入的数据(二进制1)，同时通过le端口发送写寄存器指令wr_reg；在下一个时钟上升沿，寄存器reg_open_rd_en的值被写为1，开路检测信息回读功能使能；在下一个时钟上升沿，根据行扫号r，从芯片内置sram的相应地址中读取第r行扫的开路检测结果，并将结果存储在寄存器reg_open_data中；通过sdi端口串行输入reg_open_data寄存器的地址，同时通过le端口发送读寄存器指令rd_reg；在下一个时钟上升沿，寄存器reg_open_data中的开路检测信息从sdo端口串行输出，上位机从sdo端口接受数据。
48.根据图2，本发明提供的开路检测信息回读方法通过led显示驱动芯片的读写寄存器功能完成了存储在片上sram中的开路检测信息的读取和输出。寄存器读写本身是led显示驱动芯片必需的功能，故本发明的开路检测信息回读方法并未额外增加芯片的输入输出引脚，仅在现有功能上进行拓展，具有良好的兼容性；同时，本发明的开路检测信息回读方法支持芯片级联，只需将上一级芯片的sdo端口连接至下一级芯片的sdi端口，可从最后一级芯片的sdo端口读出所有级联芯片的开路检测信息。
49.上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。