一种电子类元器件用测试设备的制作方法

技术特征：
1.一种电子类元器件用测试设备，包括本体(1)，其特征在于：所述本体(1)的右侧设置有连接线(2)，所述本体(1)右侧的顶部固定连接有限位块(3)，所述限位块(3)的底部开设有限位槽(4)，所述连接线(2)的顶部固定连接有限位杆(5)，所述限位杆(5)的顶部延伸至限位槽(4)的内腔，所述限位块(3)的右侧开设有活动槽(6)，所述活动槽(6)的内腔设置有与限位杆(5)配合使用的固定机构(7)，所述活动槽(6)的右侧设置有与固定机构(7)配合使用的活动机构(8)，所述活动槽(6)内壁的右侧开设有与活动机构(8)配合使用的活动孔(9)，所述活动槽(6)的底部开设有与固定机构(7)配合使用的固定孔(10)，所述限位杆(5)的表面开设有与固定机构(7)配合使用的固定槽(11)，所述活动槽(6)内壁的顶部设置有与固定机构(7)配合使用的固定套(12)。2.如权利要求1所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述固定机构(7)包括固定块(701)，所述固定块(701)的底部延伸至固定槽(11)的内腔，所述固定块(701)的顶部固定连接有与活动机构(8)配合使用的固定杆(702)，所述固定杆(702)的右侧穿过固定套(12)并固定连接有定位杆(703)，所述固定杆(702)的顶部固定连接有弹簧(704)。3.如权利要求2所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述活动机构(8)包括按块(801)，所述按块(801)的左侧穿过活动孔(9)并固定连接有活动板(802)，所述活动板(802)的右侧设置有与固定杆(702)配合使用的活动杆(803)。4.如权利要求1所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述限位杆(5)靠近限位槽(4)内壁的一侧与限位槽(4)的内壁接触，所述固定套(12)的顶部与活动槽(6)的内壁固定连接。5.如权利要求2所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述固定块(701)靠近固定槽(11)内壁的一侧与固定槽(11)的内壁接触，所述弹簧(704)的顶部与活动槽(6)的内壁固定连接。6.如权利要求3所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述按块(801)靠近活动孔(9)内壁的一侧与活动孔(9)的内壁接触，所述活动杆(803)通过转轴与固定杆(702)和活动槽(6)的内壁活动连接。

技术总结
本实用新型公开了一种电子类元器件用测试设备，包括本体，本体的右侧设置有连接线，本体右侧的顶部固定连接有限位块，限位块的底部开设有限位槽，连接线的顶部固定连接有限位杆，限位杆的顶部延伸至限位槽的内腔，限位块的右侧开设有活动槽，活动槽的内腔设置有与限位杆配合使用的固定机构。通过设置本体、连接线、限位块、限位槽、限位杆、活动槽、固定机构、固定块、固定杆、定位杆、弹簧、活动机构、按块、活动板、活动杆、活动孔、固定孔、固定槽和固定套的配合使用，解决了现有的电子类元器件用测试设备大多数没有对连接线的防掉落结构，连接线在外力的影响下会容易脱落，不方便使用者使用的问题。用的问题。用的问题。


技术研发人员：陈瑞珠
受保护的技术使用者：陈瑞珠
技术研发日：2021.01.20
技术公布日：2021/10/23