一种提高干涉式光纤陀螺装配合格率的装配调试方法与流程

技术特征：
1.一种提高干涉式光纤陀螺装配合格率的装配调试方法，其特征在于，包括如下步骤：（1）用于装配陀螺的结构件需要具有磁屏蔽性能的，在装配陀螺前，用磁屏蔽测试工装测试结构件的磁屏蔽性能，将与裸环测试相比，安装磁屏蔽结构件后对地磁的感应灵敏度降低20倍及以上的，确认为磁屏蔽性能合格的结构件，将测试合格的结构件用于陀螺装配；（2）将光纤环与陀螺结构件粘接前，将所述光纤环与光纤环筛选工装连接，测试光纤环的温度性能，将全温极差小于0.5
°
/h的光纤环确认为温度性能合格的光纤环，将温度性能合格的光纤环用于陀螺装配；（3）将光源、耦合器、y波导与所述步骤（2）测试得到温度性能合格的光纤环装配完成后，使用光功率测试工装，测试与探测器相接的所述耦合器端的光功率，将光功率不小于50μw的光路组件用于陀螺装配；（4）完成陀螺光路组件装配后，对所述步骤（2）测试得到温度性能合格的光纤环及器件尾纤进行点胶固化，将其安装在振动筛选工装上进行振动筛选，将振动过程中与振前后的陀螺输出零偏均值差小于1
°
/h的光路组件用于陀螺装配；（5）将振动结果满足要求的陀螺光路组件，焊接光源、y波导调制线的对接插座，与电路板上的插座对接，进行光电联调，探测器输出电压在0.8～1v、探测器的复位信号波形调平后，进行陀螺光路组件、陀螺电路组件的温度性能测试，其中所考查的温度范围为
‑
40～60℃，所要求的的温度性能如步骤（6）所述；（6）对陀螺光路组件、陀螺电路组件进行高低温循环测试，陀螺的全温峰峰值不大于2
°
/h，陀螺输出零偏值应与温度及温度的变化率呈正相关或负相关，不存在零位跳变、抖动等异常现象，将满足要求的陀螺光路组件、陀螺电路组件进行全温零偏重复性测试；（7）对满足所述步骤（6）指标的光路、电路组件进行全温零偏重复性测试，若各温度点下零位重复性均满足考核指标，则拆除电路板上的插座、光源、y波导上的插座，将导线长度、走线方式、线路固定等按照工艺文件要求操作，装配成陀螺整机。2.根据权利要求1所述的一种提高干涉式光纤陀螺装配合格率的装配调试方法，其特征在于，所述步骤（7）中的温度点为
‑
40℃、
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20℃、0℃、20℃、60℃。3.根据权利要求1所述的一种提高干涉式光纤陀螺装配合格率的装配调试方法，其特征在于，所述磁屏蔽测试工装、所述光纤环筛选工装、所述功率测试工装、所述振动测试工装所用的陀螺光路组件、电路组件技术状态与正式产品保持一致，以保证筛选测试结果的有效性。

技术总结
本发明提供一种提高干涉式光纤陀螺装配合格率的装配调试方法，在干涉式光纤陀螺（以下简称“陀螺”）进行电路置换、整机装配前，对结构件的磁屏蔽性能、光路组件的振动性能、光纤环的温度性能、光路组件与电路组件的匹配性进行充分的验证筛选，将筛选合格的结构件、光路组件、电路组件装配成整机。基于上述筛选，可避免整机装配完成后，由于某个部件指标超差导致的整机性能超差，有效规避陀螺的不合格风险，提高整机的合格率。同时，提前筛选剔除不合格的部组件，可降低陀螺的返修率，有效避免由于返修引入的导致陀螺性能异常的问题。返修引入的导致陀螺性能异常的问题。返修引入的导致陀螺性能异常的问题。


技术研发人员：王成林
受保护的技术使用者：瑞燃（上海）环境工程技术有限公司
技术研发日：2021.08.02
技术公布日：2021/10/23