一种晶体振荡器测试装置和系统的制作方法

1.本实用新型实施例涉及自动测试技术，尤其涉及一种晶体振荡器测试装置和系统。


背景技术：

2.随着通信技术的发展，晶体振荡器在通信行业的应用越来越广泛，所以对晶体振荡器的测试也越来越重要。对晶体振荡器的测试包括：晶体振荡器的拐点调试、频率准确度调试、频率准确度测试、电源特性测试、牵引范围测试、启动电流、稳定电流、低温启动电流测量、起振时间测试、低温通断电测试、温度特性测试、高低温测试和温度补偿等，上述测试都属于晶体振荡器的基本测试工序，使用不同的测试系统在不同的测试工位上分别完成这些测试工序。
3.晶体振荡器基本测试工序比较繁杂，将其分成多个工位进行测试，这样在产品在各个工位流转、装夹、下料都消耗掉很多时间、及人力，生产效率较低；特别是恒温晶体振荡器在各个工位的测试前烧钟时间也是对成本、人力及时间的消耗。


技术实现要素：

4.本实用新型提供一种晶体振荡器测试装置和系统，以实现对晶体振荡器的全面自动化测试。
5.第一方面，本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器测试装置，晶体振荡器测试装置包括：
6.控制模块，频率测试电路，以及至少一个测试模块；
7.控制模块，与控制终端和测试模块连接，用于接收控制终端发送的测试控制信息，并将测试控制信息转换为控制指令控制测试模块启动工作；
8.测试模块，与待测晶体振荡器连接，用于向待测晶体振荡器供电，以使待测晶体振荡器输出晶体频率信号；
9.频率测试电路，与频标源、控制模块和待测晶体振荡器连接，用于接收频标源输出的参考频率信号和待测晶体振荡器输出的晶体频率信号，根据参考频率信号和晶体频率信号确定待测晶体振荡器的频率，并发送给控制模块，以便控制模块将待测晶体振荡器的频率发送给控制终端实现对待测晶体振荡器的测试。
10.第二方面，本实用新型实施例还提供了一种晶体振荡器测试系统，该晶体振荡器测试系统包括：本实用新型实施例中任一的一种晶体振荡器测试测试装置、供电电源，控制终端、待测晶体振荡器和频标源；
11.晶体振荡器测试测试装置，用于接收控制终端发送的测试控制信息对待测晶体振荡器进行测试，根据频标源的参考频率信号确定待测晶体振荡器的频率以及确定电流值和起振时间，并发送至控制终端；
12.控制终端，用于根据接收到的频率、电流值和起振时间对应确定待测晶体振荡器
的测试结果；
13.供电电源，用于对晶体振荡器测试测试装置进行供电。
14.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器测试装置和系统，该装置包括：控制模块，频率测试电路，以及至少一个测试模块；控制模块，与控制终端和测试模块连接，用于接收控制终端发送的测试控制信息，并将测试控制信息转换为控制指令控制测试模块启动工作；测试模块，与待测晶体振荡器连接，用于向待测晶体振荡器供电，以使待测晶体振荡器输出晶体频率信号；频率测试电路，与频标源、控制模块和待测晶体振荡器连接，用于接收频标源输出的参考频率信号和待测晶体振荡器输出的晶体频率信号，并将根据参考频率信号和晶体频率信号确定的待测晶体振荡器的频率发送给控制模块，以便控制模块将待测晶体振荡器的频率发送给控制终端实现对待测晶体振荡器的测试。通过测试模块连接待测晶体振荡器，为待测晶体振荡器供电，以使待测晶体振荡器向频率测试电路输出晶体频率信号，频率测试电路通过将频标源输出的参考频率信号作为对照标准，与晶体频率信号进行比较，确定待测晶体振荡器的频率，并发送给控制模块，控制模块将所述待测晶体振荡器的频率发送给控制终端，控制终端通过对待测晶体振荡器的频率进行判断，完成对待测晶体震荡器的测试，解决了现有技术中对待测晶体振荡器进行测试时使用不用的测试系统、在不同的测试工位上进行测试所导致的测试工序复杂，浪费时间的问题，通过本实用新型实施例提供的晶体振荡器测试装置，实现了待测晶体振荡器的全面测试，所有测试工序在一个工位上即可完成，产品无需在各个测试工位流转，并且仅需要对待测晶体振荡器进行一次烧钟，节省时间和人力，提高了生产效率。
附图说明
15.图1是本实用新型实施例一中的一种晶体振荡器测试装置的结构示意图；
16.图2是本实用新型实施例二中的一种晶体振荡器测试装置的结构示意图；
17.图3是本实用新型实施例二中的另一种晶体振荡器测试装置的结构示意图；
18.图4是本实用新型实施例三中的一种晶体振荡器测试系统的结构示意图；
19.图5是本实用新型实施例三中的一种测试流程示意图。
具体实施方式
20.下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
21.实施例一
22.图1为本实用新型实施例一提供的一种晶体振荡器测试装置的结构示意图，本实施例可适用于对晶体振荡器进行测试的情况，该装置包括：控制模块11，频率测试电路12，以及至少一个测试模块13；
23.控制模块11，与控制终端14和测试模块13连接，用于接收控制终端14发送的测试控制信息，并将测试控制信息转换为控制指令控制测试模块13启动工作；
24.测试模块13，与待测晶体振荡器15连接，用于向待测晶体振荡器15供电，以使待测晶体振荡器15输出晶体频率信号；
25.频率测试电路12，与频标源16、控制模块11和待测晶体振荡器15连接，用于接收频标源16输出的参考频率信号和待测晶体振荡器15输出的晶体频率信号，并将根据参考频率信号和晶体频率信号确定的待测晶体振荡器15的频率发送给控制模块11，以便控制模块11将待测晶体振荡器15的频率发送给控制终端11实现对待测晶体振荡器15的测试。
26.在本实施例中，控制模块11可以理解为可实现控制功能，可以根据指令执行相应操作或者控制其他设备或器件执行相应操作的模块，例如，单片机，单片机是一种的嵌入式微控制器，可以实现控制功能，由运算器，控制器，存储器，输入输出设备等构成，相当于一个微型的计算机。频率测试电路12可以理解为用来测试晶体振荡器频率的电路；测试模块13可以理解为协助控制模块11实现晶体振荡器测试的模块，测试模块13可以在控制模块11的控制下启动工作，为待测试晶体振荡器供电；控制终端14可以理解为具备通信功能和数据处理功能的计算机终端设备，例如pc计算机，用于与晶体振荡器测试装置连接，与其进行信息交互，实现对待测晶体振荡器15的测试。待测晶体振荡器15可以理解为具有测试需求的晶体震荡器，晶体振荡器在生产完投入使用前，需要对其进行测试，确定其是否符合使用标准。频标源16可以理解为一个可以产生高准确度和高稳定度标准频率信号的设备，可以在测量一些设备时提供标准频率信号。
27.测试控制信息可以理解为对待测晶体振荡器15进行测试时，控制终端14根据测试类型所对应生成的、指示测试模块工作的信息；控制指令可以理解为与测试控制信息相对应的、控制测试模块13工作的指令；晶体频率信号可以理解为待测晶体振荡器按照一定频率输出的信号；参考频率信号可以理解为作为参考值(对照值)或者标准值的信号。
28.在对待测晶体振荡器15进行测试时，在控制终端14上按照待测晶体振荡器15的参数生成测试任务，测试任务生成后可以自动按照待测晶体振荡器15的参数和测试需求生成相应的测试控制信息，然后将测试控制信息发送给控制模块11，以通过控制模块11实现晶体振荡器测试装置和控制终端14的交互，实现对待测试晶体振荡器15的测试。在对待测晶体振荡器15进行不同类型的测试时，测试控制信息也不相同。控制模块11在接收到测试控制信息后，对应转换为控制指令，并通过控制指令控制测试模块13启动工作，测试模块13在启动工作后，为待测晶体振荡器15供电，测试模块13在为待测晶体振荡器15供电时，根据控制指令为晶体振荡器提供其需求的电压，控制指令可以控制测试模块13为待测晶体振荡器15供电的电压大小，由此实现电压类和电流类的相关测试。待测晶体振荡器15根据测试模块提供的输入电压工作，向频率测试电路12输出晶体频率信号，频率测试电路13同时接收频标源16发送的参考频率信号，并将参考频率信号和晶体频率信号进行比较，由于参考频率信号的频率已知，进而可以确定晶体频率信号的频率，即待测晶体振荡器15的频率，并发送给控制模块，控制模块可以将待测晶体振荡器15的频率发送给控制终端，控制终端对待测晶体振荡器15的频率进行判断，确定其是否符合测试要求，完成对待测晶体振荡器的测试。控制模块也可以自行对待测晶体振荡器15的频率进行判断，确定其是否符合测试要求。一个测试模块13连接一个待测晶体振荡器15，实现对一个待测晶体振荡器15的测试。
29.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器测试装置，通过测试模块连接待测晶体振荡器，为待测晶体振荡器供电，以使待测晶体振荡器向频率测试电路输出晶体频率信号，频率测试电路通过将频标源输出的参考频率信号作为对照标准，与晶体频率信号进行比较，确定待测晶体振荡器的频率，并发送给控制模块，控制模块将所述待测晶体振荡器的频
率发送给控制终端，控制终端通过对待测晶体振荡器的频率进行判断，完成对待测晶体震荡器的测试，解决了现有技术中对待测晶体振荡器进行测试时使用不同的测试系统、在不同的测试工位上进行测试所导致的测试工序复杂，浪费时间的问题，通过本实用新型实施例提供的晶体振荡器测试装置，实现了待测晶体振荡器的全面测试，所有测试工序在一个工位上即可完成，产品无需在各个测试工位流转，并且仅需要对待测晶体振荡器进行一次烧钟，节省时间和人力，提高了生产效率。
30.实施例二
31.图2为本实用新型实施例二提供的一种晶体振荡器测试装置的结构示意图。本实施例的技术方案在上述技术方案的基础上进一步细化，该装置包括：控制模块21，频率测试电路22，以及至少一个测试模块23；
32.控制模块21，与待测晶体振荡器24连接，还用于：根据控制终端25发送的晶体控制信息对应调整待测晶体振荡器24的寄存器中的寄存器值，以实现对待测晶体振荡器24的测试；
33.根据接收的测试结果对相应的寄存器值进行通信读写，测试结果由控制终端25根据待测晶体振荡器的频率确定。
34.在本实施例中，晶体控制信息可以理解为调整晶体振荡器的寄存器中的参数的信息；测试结果可以理解为测试待测晶体振荡器24得到的结果，例如，待测晶体振荡器的拐点值、标准频率值等。
35.控制模块21接收控制终端25发送的晶体控制信息，根据晶体控制信息对应调整待测晶体振荡器24的寄存器中的寄存器值，实现拐点测试和频率准确度测试。控制模块21与待测晶体振荡器24通信，根据晶体控制信息对应调整待测晶体振荡器24的寄存器中的寄存器值，例如，进行拐点测试时，按照待测晶体振荡器24生产时标明的拐点值(待测晶体振荡器输出频率稳定时的工作温度)，上下浮动调整拐点寄存器值，例如，生产时标明的拐点值为80℃，从70℃
‑
90℃，按照1℃的间隔依次调整拐点寄存器值，相应的，待测晶体振荡器24在每个温度下输出晶体频率信号，频率测试电路22每次确定出待测晶体振荡器24的频率后，将其发送给控制终端，控制终端25根据接收到的多个频率确定拐点，例如79℃为10hz，80℃为11hz，81℃为12hz，82℃为11hz，81℃为拐点，将拐点温度81℃写入待测晶体振荡器24中对应的寄存器值。同样，在进行频率准确度测试时，控制模块21与待测晶体振荡器24通信，根据用于调整频率寄存器值的晶体控制信息对应调整待测晶体振荡器24的寄存器中的寄存器值，相应的采集各频率并发送给控制终端25，控制终端25确定晶体标准频率，将其作为测试结果指示控制模块21写入待测晶体振荡器中对应的寄存器值。
36.进一步地，测试模块23，包括：晶振供电单元231和开关控制单元232；
37.晶振供电单元231，与供电电源26、控制模块21和开关控制单元232连接，用于根据控制模块21发送的控制指令中的电压输出指令将供电电源26的电压转换为晶体供电电压并输出；
38.开关控制单元232，与控制模块21和待测晶体振荡器24连接，用于根据控制模块21发送的控制指令中的开关通断指令确定工作状态。
39.在本实施例中，晶振供电单元231可以理解为待测晶体振荡器24提供输入电流或电压的单元；供电电源26可以理解为向晶体振荡器器测试装置提供电能的电源；电压输出
指令可以理解为指示晶振供电单元231输出电压的大小的指令；晶体供电电压可以理解为晶体供电单元在电压输出指令的控制下输出的电压值；开关控制单元232可以理解为控制待测晶体振荡器24与晶振供电单元231之间通断的单元，例如，开关mos管，通过开关控制单元232的断开和闭合可以进而控制待测晶体振荡器24的输入电流(或输入电压)，从而实现对待测晶体震荡器24的测试。
40.晶振供电单元231与供电电源26连接，接收供电电源26提供的电能，然后根据控制模块21发送的控制指令中的电压输出指令将供电电源输入的电压进行转化，升压或者降压为晶体供电电压，并输入给开关控制单元232，开关控制单元根据控制模块发送的控制指令中的开关通断指令确定工作状态为断开或者闭合，在工作状态为闭合时，导通晶体供电单元231与待测晶体振荡器24之间的电流，实现为待测晶体振荡器24供电，待测晶体振荡器24在供电状态下可以输出晶体频率信号，通过改变晶体供电电压的大小，得到频率变化值，实现对待测晶体振荡器的电源特性测试。
41.进一步地，测试模块23，还包括：数模转换器233；
42.数模转换器233，与控制模块21和待测晶体振荡器24连接，用于根据控制模块21发送的控制指令中的压控电压指令控制待测晶体振荡器24调整压控电压。
43.在本实施例中，数模转换器233可以理解为将数字信号转换为模拟信号的器件，压控电压指令可以理解为指示待测晶体振荡器24调整压控电压的指令。
44.数模转换器233分别与控制模块21和待测晶体振荡器24连接，在控制模块21指示待测晶体振荡器24调整压控电压时，将压控电压指令从数字信号转换为模拟信号，实现对待测晶体振荡器24压控电压的调整，待测晶体振荡器24在不同的压控电压下输出不同频率的晶体频率信号，频率测试电路进而确定待测晶体振荡器24在不同压控电压下的频率，得到频率牵引变化的上下值，实现待测晶体振荡器24的牵引范围测试。控制模块21通过控制终端25发送的测试控制信息生成相应的控制指令，控制待测晶体振荡器24。
45.进一步地，测试模块23，还包括：采样电阻234、放大电路235和模数转换器236；
46.采样电阻234，与开关控制单元232和待测晶体振荡器24连接；
47.放大电路235，与采样电阻234连接，用于对流经采样电阻234的电流形成的压差进行放大；
48.模数转换器236，与放大电路235和控制模块21连接，用于将放大后的压差转换为电压数字信号，并发送给控制模块21，以便控制模块21将电压数字信号转化为电流值发送给控制终端25实现对待测晶体振荡器24的电流测试。
49.在本实施例中，采样电阻234可以根据实际应用需求选择合适电阻值的电阻；放大电路可以理解为具有电流或电压放大功能的电路，可以对流过采样电阻234的电流形成的压差进行放大，放大电路即放大器，将输入的微弱信号(如变化的电压、电流等)放大到所需要的幅度值且与原输入信号变化规律一致的信号，进行不失真的放大；模数转换器236可以理解为将模拟信号转换为数字信号的器件。电压数字信号可以理解为数字信号形式的电压。
50.采样电阻234与开关控制单元232和待测晶体振荡器24连接，即与待测晶体振荡器24串联，所以流过采样电阻234的电流即为待测晶体振荡器24的电流，通过放大电路235对流过采样电阻234的电流形成的压差进行放大，然后输入到模数转换器236，模数转换器236
将模拟信号形式的压差电压转换为数字信号形式的电压数字信号，并将电压数字信号发送给控制模块21，控制模块21将电压数字信号转化为电流值发送给控制终端25，控制终端25根据电流值计算出待测晶体振荡器的启动电流，同时根据待测晶体振荡器输出的频率确定启动时的频率。
51.进一步地，测试模块23，还包括：分压电路237；
52.分压电路237，与采样电阻234和模数转换器236连接，用于采集待测晶体振荡器24的供电电压。
53.在本实施例中，分压电路237用来对输入待测晶体振荡器24的电压进行采集；供电电压可以理解为待测晶体振荡器24的输入电压。
54.分压电路237与采样电阻234连接，可以采集到从采样电阻234输出并流入到待测晶体振荡器24的供电电压的大小，将其传输给模数转换器236，由模数转换器236转换成数字信号发送给控制模块21，实现对供电电压的监控和及时反馈。
55.采样电阻234和放大电路235的功能是为了采集流过待测晶体振荡器24的电流，所以将其替换为一个电流采集装置(如电流传感器、电流表等)同样可以实现本技术的方案。同理，分压电路237的功能是为了采集待测晶体振荡器24的供电电压，将其替换为一个电压采集装置(如电压传感器、电压表等)同样也可以实现本技术的方案。示例性的，若替换为电流采集装置和电压采集装置，连接关系如下：电流采集装置与开关控制单元232和待测晶体振荡器24连接，电压采集装置连接待测晶体振荡器及地，其中电压采集装置与待测晶体振荡器连接到测试模块的一端连接。
56.进一步地，频率测试电路22，包括：频率信号处理单元221和时间数字转换器222；
57.频率信号处理单元221，与待测晶体振荡器24、频标源27、时间数字转换器222和控制模块21连接，用于接收频标源27输出的参考频率信号和待测晶体振荡器24输出的晶体频率信号，并发送给时间数字转换器222，以及将晶体频率信号的接收时间作为起振时间发送给控制模块21；
58.时间数字转换器222，与控制模块21连接，用于将待测晶体振荡器24的频率发送给控制模块21，待测晶体振荡器24的频率根据参考频率信号和晶体频率信号的频率差值以及参考频率信号的频率确定。
59.在本实施例中，频率信号处理单元221可以理解为采集频率信号的信号处理单元，例如，数字集成电路芯片fpga。时间数字转换器222可以理解为对按照一定频率传输的信号进行处理的时间测量电路；频率差值可以理解为参考频率信号的频率与晶体频率信号的频率的差值。
60.频率信号处理单元221接收频标源27输出的参考频率信号和测试模块21输出的晶体频率信号并输出给时间数字转换器222，时间数字转换器222比较参考频率信号和晶体频率信号的频率时，由于参考频率信号和晶体频率信号的频率不同，所以相同时间内接收到的参考频率信号和晶体频率信号的周期个数不同，因此可以确定频率差值，而频标源27所发出的参考频率信号的频率已知，进而根据参考频率信号的频率和频率差值确定待测晶体振荡器24的频率；时间数字转换器222在比较参考频率信号和晶体频率信号的频率时，由于参考频率信号的频率已知，而晶体频率信号的频率根据说明书或者规格书知道大概值，在通过参考频率信号的频率确定晶体频率信号的频率时，晶体频率信号的频率不能与参考频
率信号的频率相差过大，通常参考频率信号的频率是一个固定值，为了使参考频率信号与晶体频率信号的频率相差在一定范围内，可以对晶体频率信号进行一定比例的缩小或者放大，在比较完成后，再对应的放大或者缩小一定比例，进而得到晶体频率信号的频率。
61.将待测晶体振荡器24的频率发送给控制模块21，控制模块21只需要接收频率测试电路22发送的待测试晶体振荡器24的频率即可，无需自己测试待测试晶体振荡器24的频率。频率信号处理单元221在接收到晶体频率信号后，将接收时间作为起振时间发送给控制模块，实现对待测晶体振荡器24的起振时间的测试。
62.进一步地，该装置还包括：通信选通模块28；
63.通信选通模块28，与各测试模块23和控制模块21连接，用于根据控制模块21发送的通信选通信息控制对应的测试模块23启动工作。
64.在本实施例中，通信选通模块28可以理解为根据控制模块21的指示从各测试模块23中选择一个或多个测试模块23对待测晶体振荡器24进行测试的模块，通信选通模块28可以通过复杂可编程逻辑器件cpld实现；通信选通信息可以理解为指示对应的测试模块23启动工作的信息。
65.通信选通模块28与每个测试模块23连接，一个测试模块23可以对一个待测晶体振荡器24进行测试，图2以一个测试模块23和待测试晶体振荡器24为例，在实际测试晶体振荡器的时候，各测试模块23可以连接一个待测晶体振荡器24，实现对其的测试，也可以不连待测晶体振荡器24，不进行工作。由于多个测试模块23中，可能有需要进行工作的，有不需要进行工作的，此时需要通信选通模块28指示每个测试模块是否启动工作，实现对多个待测晶体振荡器24的同时测试。通信选通模块28接收控制模块21发送的通信选通信息，根据通信选通信息中指示的、需要启动工作的测试模块23控制对应的测试模块23启动工作，实现对待测晶体振荡器24的测试。
66.进一步地，该装置还包括：高低温温箱29；
67.高低温温箱29，与控制终端25连接，用于对控制模块21，频率测试电路22，通信选通模块28和各测试模块23进行密封，以及根据控制终端25的温度控制指令调整温度。
68.在本实施例中，高低温温箱29可以理解为一个可以调节温度的温箱；温度控制指令可以理解为控制高低温温箱进行温度调整的指令。
69.控制模块21，频率测试电路22，通信选通模块28和各测试模块23密封在高低温温箱29中，高低温温箱29通过接收控制终端25的温度控制指令，将温箱的温度调整到对应的温度，进而实现待测晶体振荡器24的高低温测试。
70.示例性的，图3提供了另一种晶体振荡器测试装置的结构示意图，开关控制单元232与待测晶体振荡器24通过采样电阻234连接，此时的开关控制单元232与待测晶体振荡器24不进行直接连接，晶体振荡器测试装置中的其余连接关系与图2一致。
71.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器测试装置，通过频率测试电路确定待测晶体振荡器的频率，并发送给控制模块，避免了通过控制模块确定待测晶体振荡器的频率为控制模块带来的数据处理负担，测试模块中的不同数据处理单元与控制模块进行配合，实现了对待测晶体振荡器的全面测试，所有测试工序在一个工位上即可完成，产品无需在各个测试工位流转，并且待测晶体振荡器只需要在测试前进行一次烧钟，节省时间和人力，提高了生产效率。通过本实用新型实施例提供的晶体振荡器测试装置对待测晶体振荡器进
行测试，测试工序简单，预先将测试程序写入到控制终端中，控制终端即可自动实现对待测晶体振荡器的各种类型测试，操作简单。
72.实施例三
73.图4为本实用新型实施例三提供的一种晶体振荡器测试系统的结构示意图，该系统包括：本实用新型任意实施例所提供的一种晶体振荡器测试测试装置31、供电电源32、控制终端33、待测晶体振荡器34和频标源35。
74.晶体振荡器测试测试装置31，用于接收控制终端33发送的测试控制信息对待测晶体振荡器34进行测试，根据频标源32的参考频率信号确定待测晶体振荡器34的频率以及确定电流值和起振时间，并发送至控制终端33；
75.控制终端33，用于根据接收到的频率、电流值和起振时间对应确定待测晶体振荡器34的测试结果；
76.供电电源32，用于对晶体振荡器测试测试装置31进行供电。
77.示例性的，图5为本实用新型实施例提供的一种测试流程示意图，以图3提供的晶体振荡器测试测试装置31的结构示意图为例，说明晶体振荡器测试系统对待测晶体振荡器的测试过程。
78.s1、开始测试。
79.s2、晶体振荡器测试系统初始化。
80.对晶体振荡器测试系统初始化是指根据待测晶体振荡器34的说明书或规格书将待测晶体振荡器34的晶体供电电压和频点写入到测试系统中，同时将晶体振荡器测试测试装置31断电。
81.s3、装夹待测晶体振荡器34。
82.s4、对晶体振荡器测试测试装置31通电，测试启动电流。
83.启动电流，即晶体振荡器测试测试装置31在通电瞬间流过待测晶体振荡器34的电流。通过晶体振荡器测试测试装置31中的采样电阻、放大电路和模数转换器采集并发送给控制模块，然后通过控制模块发送给控制终端33。
84.s5、烧钟。
85.即在通电后，持续一段时间，使待测晶体振荡器34的温度达到一定要求。
86.s6、拐点测试。
87.控制终端33通过发送晶体控制信息控制控制模块与待测晶体振荡器34进行通信，然后控制模块调整待测晶体振荡器34的拐点寄存器值，例如，在70℃
‑
90℃内进行调整，采集每次调整后得到的待测晶体振荡器34的频率，返回给控制终端33，控制终端33通过对拐点调整过程中采集到的所有频率进行处理，得到拐点值，并通过向控制模块发送晶体控制信息，将拐点值写入到对应的待测晶体振荡器34的寄存器中的寄存器值中。
88.s7、频率准确度调试。
89.控制终端33通过发送晶体控制信息控制控制模块与待测晶体振荡器34进行通信，然后控制模块调整待测晶体振荡器34的调频寄存器值，在进行频率准确度调试时，通常只需要调整几次频率寄存器值，分别采集频率，计算比例系数，然后将标准频率与目前采集到的频率之间的差值乘以比例系数，得到达到标准频率所对应的目标寄存器值所需要调整的值，将目前的寄存器值加上需要调整的值，即得到调频寄存器所需要写入的值，将其写入对
应的调频寄存器值中。
90.s8、频率准确度测试。
91.在完成频率准确度调试后，测试待测晶体振荡器34输出的频率是否为预期的频率值，完成频率准确度测试。
92.s9、测试稳定电流。
93.通过采样电阻、放大电路和模数转换器对电流进行测试。
94.s10、电源特性测试。
95.控制终端33通过测试控制信息对控制模块进行控制，调整晶振供电单元输出的晶体供电电压，使其在待测晶体振荡器34规格书中标明的晶体供电电压的
±
5％上下波动，并采集待测晶体振荡器34的频率，得到频率变化值，与预先确定的频率变化值允许范围进行比较，实现电源特性测试。
96.s11、牵引范围测试。
97.控制终端33控制控制模块发送压控电压指令，改变待测晶体振荡器34的压控电压或者相关寄存器值，得到待测晶体振荡器34的频率，实现待测晶体振荡器34的频率牵引变化的上下值测试。
98.s12、待测晶体振荡器34供电断开。
99.控制终端33通过控制控制模块发送开关通断指令控制开关控制单元断开，实现待测晶体振荡器34的供电断开。
100.s13、控制终端控制高低温温箱降温。
101.控制终端33通过温度控制指令控制高低温温箱调整温度。
102.s14、低温保温。
103.s15、低温启动测试。
104.通电，然后通过采样电阻、放大电路和模数转换器采集电流值，测试待测晶体振荡器34在低温下的启动电流、同时采集待测晶体振荡器34的频率，以及低温下的起振时间，实现低温启动测试。
105.s16、低温通断电测试。
106.通电一段时间测试频率，断电一段时间，再通电一段时间测试频率，测试频率是否稳定和准确，实现低温通断电测试。
107.s17、高低温测试初检。
108.低温下频率测试完成后，设定高低温温箱升温速率，控制高低温温箱记性升温，循环采集待测晶体振荡器34的频率及高低温温箱的温度，直到高温结束。采集高低温温箱的温度可以通过在晶体振荡器测试装置31上安装温度采集模块(例如，温度传感器)采集温度，也可以额外在高低温温箱上安装温度采集模块，采集待测晶体振荡器34的频率时，可以是每隔一定温度采集一次，或者固定温度采集一次等等，本实用新型实施例对此不做具体限定。
109.s18、补偿。
110.控制终端根据晶振高低温测试数据对待测晶体振荡器34进行补偿，使其可以在输出晶体频率信号时，输出符合频率要求的信号，在进行补偿时，控制终端通过一定算法或者其他数据处理方式计算需补偿的值。
111.s19、降温。
112.s20、高低温测试复检。
113.在完成补偿后，控制高低温温箱进行降温，从高温到低温过程中循环进行频率采集，根据采集到的数据对待测晶体振荡器34的补偿结果进行判定，即判断补偿后的待测晶体振荡器34的频率是否符合要求。
114.s21、断电，升常温拆取待测晶体振荡器34。
115.s22、结束测试。
116.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器测试系统，包括本实用新型任意实施例所提供的一种晶体振荡器测试测试装置、供电电源，频标源、控制终端和待测晶体振荡器；晶体振荡器测试测试装置，用于接收控制终端发送的测试控制信息对待测晶体振荡器进行测试，根据频标源的参考频率信号确定待测晶体振荡器的频率以及确定电流数字信号和起振时间，并发送至控制终端；控制终端，用于根据接收到的频率、电流数字信号和起振时间对应确定待测晶体振荡器的测试结果；供电电源，用于对晶体振荡器测试测试装置进行供电；通过晶体振荡器测试测试装置实现了对待测晶体振荡器的全面测试，所有测试工序在一个工位上即可完成，产品无需在各个测试工位流转，并且待测晶体振荡器只需要在测试前进行一次烧钟，节省时间和人力，提高了生产效率，测试工序简单，预先将测试程序写入到控制终端中，控制终端即可自动实现对待测晶体振荡器的各种类型测试，操作简单。
117.值得注意的是，上述晶体振荡器测试装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本实用新型的保护范围。
118.注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。