技术特征：
技术总结
本发明公开了一种检测柱状自组装薄膜结构的方法，包括：分别构建材料A和与基板最稳定的界面结构a，以及材料B和与基板最稳定的界面结构b；分别计算界面结构a的界面结合能(EfA)，以及界面结构b的界面结合能(EfB)；计算界面结合能(EfA)与界面结合能(EfB)的差值，若所述差值大于零，则材料A形成为纳米柱镶嵌在材料B中；若所述差值小于零，则材料B形成为纳米柱镶嵌在材料A中。采用本发明实施例提供的判断竖直柱状自组装薄膜结构的方法能够预先确定所形成的竖直柱状自组装薄膜的结构，可以有选择性的制备竖直柱状自组装薄膜，节省了制备材料，提高了制备效率。
技术研发人员：姜杰;杨琼;周益春
受保护的技术使用者：湘潭大学
技术研发日：2018.11.02
技术公布日：2019.01.11
再多了解一些
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