检测核酸特异性和/或非特异性吸附的方法与流程

本发明涉及核酸检测，具体涉及一种检测核酸特异性和/或非特异性吸附的方法。

背景技术：

1、在芯片上进行核酸检测，例如利用表面固定有探针的芯片捕获核酸以及进一步对捕获得的核酸进行分析检测，包括序列测定、信息分析等，芯片表面和/或其上的探针对核酸的非特异性吸附，会影响获得的有效数据量以及检测结果的准确性。对非特异性吸附情况的定性或定量检测，能够判定芯片的质量、芯片表面修饰情况以及用于检测结果预测等。

2、例如在目前的核酸测序中，特别是利用芯片的基因测序中，在芯片上进行核酸杂交时存在非特异性情况，包括芯片表面对模板链的非特异性吸附和芯片表面上的探针对模板链的非特异性吸附。这些非特异性吸附会造成测序结果错误率增加，导致测序通量和测序质量的下降。

3、因此，评估这些非特异性吸附情况，对于芯片生产质控、利用芯片进行核酸检测等领域具有重要意义。

技术实现思路

1、本发明实施例旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一或者至少提供一种有用的商业选择。为此，本发明提供一种检测核酸特异性和/或非特异性吸附的方法。

2、根据第一方面，提供一种检测核酸特异性和/或非特异性吸附的方法，该方法包括：使待测核酸与第一探针反应，上述第一探针固定在第一基底表面上，上述待测核酸与上述第一探针至少部分互补，上述待测核酸带有第一标记，上述第一探针带有第二标记，上述第一标记能够产生第一信号，上述第二标记能够产生第二信号；检测上述第一基底表面上的信号，获得第一检测结果；使上述待测核酸与第二探针反应，上述第二探针固定在第二基底表面上，上述第二探针带有上述第二标记，上述待测核酸与上述第二探针不互补；检测上述第二基底表面上的信号，获得第二检测结果；基于上述第一检测结果和上述第二检测结果，检测上述待测核酸的特异性和/或非特异性吸附。

3、根据第二方面，提供一种检测核酸非特异性吸附的方法，该方法包括：使待测核酸与第三探针反应，上述第三探针固定在第三基底表面上，上述待测核酸带有第三标记，上述第三探针带有第四标记，上述待测核酸与上述第三探针不互补，上述第三标记能够产生第三信号，上述第四标记能够产生第四信号；检测上述第三基底表面上的信号，获得第三检测结果；使待测核酸与第四基底表面反应；检测上述第四基底表面上的信号，获得第四检测结果；基于上述第三检测结果和上述第四检测结果，检测上述待测核酸的非特异性吸附。

4、根据第三方面，提供一种检测核酸特异性和/或非特异性吸附的方法，该方法包括：使待测核酸与第五探针反应，第五探针固定在第五基底表面上，待测核酸与第五探针至少部分互补，待测核酸带有第五标记，上述第五探针带有第六标记，上述第五标记能够产生第五信号，上述第六标记能够产生第六信号；检测上述第五基底表面上的信号，获得第五检测结果；使上述待测核酸与第六探针反应，上述第六探针固定在第六基底表面上，上述第六探针带有上述第六标记，上述待测核酸与上述第六探针不互补；检测上述第六基底表面上的信号，获得第六检测结果；使待测核酸与第七基底表面反应；检测上述第七基底表面上的信号，获得第七检测结果；基于上述第五检测结果、第六检测结果和第七检测结果中的至少两个检测结果，检测上述待测核酸的特异性和/或非特异性吸附。

5、上述检测核酸非特异性吸附的方法，能够定性或定量检测基底表面和/或基底表面上的探针对目标核酸的非特异吸附情况和/或特异性吸附情况；通过检测系统检测基底表面的信号，能够定性或定量区分特异性和非特异性吸附，获得非特异性或特异性吸附的定量、分布情况等信息，能够用于芯片生产以及所有涉及芯片检测核酸过程的方法或应用中，例如用于空载芯片（不带探针）或者捕获芯片（带探针）性能的评价、芯片生产的质控，用于芯片捕获核酸的效果的预测、分析比较等。

1.一种检测核酸特异性和/或非特异性吸附的方法，其特征在于，所述方法包括：

2.一种检测核酸非特异性吸附的方法，其特征在于，所述方法包括：

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一探针在所述第一基底表面上的分布状态选自随机分布和规则分布中的至少一种，所述第二探针在所述第二基底表面上的分布状态与所述第一探针在所述第一基底表面上的分布状态相同；和/或

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

7.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，

8.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，（i）和/或（ii）的亮点检测步骤之前还包括：

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，（b）、（e）和（f）任一步骤中，所述根据所述亮点判定阈值判断所述候选亮点是否为所述亮点，包括：在所述预处理后的第一图像、预处理后的第二图像、预处理后的第三图像和/或预处理后的第四图像中查找大于(pp-1)连通的像素点并将查找到的所述像素点作为所述候选亮点的中心，p为自然数且为大于1的奇数；