一种芯片测试用手动调节机械臂的制作方法

1.本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试用手动调节机械臂。


背景技术：

2.随着科技的发展，芯片产业发展越来越快，芯片的小型化、多功能是现代芯片产业的发展趋势。由于芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片测试环节至关重要。芯片在测试需要将芯片放置于芯片测试头和机台之间，通过机械臂驱动芯片测试头移动，实现芯片的测试。现有的机械臂多为智能机器人手臂，其价格高昂，不利于中小型企业的发展；且机器人手臂的结构复杂，制造难度大。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于提供一种芯片测试用手动调节机械臂，以解决上述背景技术中提出的问题。
4.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片测试用手动调节机械臂，包括依次转动连接的第一段臂、第二段臂和第三段臂，所述第一段臂的远离第二段臂端设有导杆连接块，两个所述导杆连接块设置于第一段臂的上下两侧，所述第一段臂与两个导杆连接块之间连接有竖直设置的第一连接轴，所述第一段臂和第二段臂之间连接有竖直设置的第二连接轴，所述第二段臂和第三段臂之间连接有竖直设置的第三连接轴，所述第三段臂的远离第二段臂端转动连接有抱臂固定盘，所述第一段臂的上方设有固定盘，所述固定盘固定于导杆连接块的下方，所述固定盘上设有调节孔，所述第一段臂上对应调节孔的位置设有第一锁紧孔，所述第一锁紧孔连接有第一锁紧把手，所述第二连接轴和第三连接轴上均套设有一个锁紧块，所述锁紧块上设有第二锁紧把手，所述第三段臂上连接有固定插销，所述抱臂固定盘上沿其圆周方向设有多个配合固定插销的定位孔。
5.进一步优选，所述调节孔为圆弧形的腰形孔，便于第一段臂的转动调节。
6.进一步优选，所述锁紧块上开设有上下贯穿的固定孔，用于第一连接轴、第二连接轴的安装；所述固定孔连接有锁紧槽，所述锁紧槽贯穿锁紧块，实现对固定孔的孔径调节，便于第一连接轴、第二连接轴的安装。
7.进一步优选，所述锁紧块上设有第二锁紧孔，所述第二锁紧孔垂直于锁紧槽且贯穿锁紧块，实现锁紧槽的宽度的调节，进而实现对固定孔的孔径调节。
8.进一步优选，所述第二锁紧孔为螺纹孔，其与第二锁紧把手螺接，实现对第一连接轴、第二连接轴的锁紧、固定。
9.进一步优选，所述固定孔的孔壁上设有上下贯穿的多个切割槽，每个所述切割槽的远离固定孔端均设有切割孔，便于固定孔的孔径的调节。
10.进一步优选，两个所述锁紧块分别固定于第一段臂和第二段臂上，用于第一段臂和第二段臂的转动后固定；所述锁紧块上设有多个第一连接孔，用于锁紧块的固定。
11.进一步优选，所述第三段臂上设有固定块，所述固定插销贯穿固定块且与固定块
螺接，实现固定插销的安装；所述固定块上设有第二连接孔，用于固定块的安装。
12.进一步优选，所述第一锁紧孔为螺纹孔，其与第一锁紧把手螺接，实现对固定盘和第一段臂的锁紧、固定。
13.进一步优选，所述导杆连接块活动连接有机身导杆，用于该手动调节机械臂的安装；所述抱臂固定盘连接有测试头，实现对芯片的测试。
14.有益效果：本发明的芯片测试用手动调节机械臂，通过第一段臂、第二段臂和第三段臂的前后转动，通过固定盘、第一锁紧把手、调节孔实现第一段臂的旋转后固定，通过锁紧块和第二锁紧把手实现第二段臂、第三段臂旋转后固定，实现该手动调节机械臂的左右伸出长度的调节，及前后转动角度的调节，进而实现带动测试头前后、左右移动和角度的转动；通过导杆连接块与测试机的机身导杆连接，实现导杆连接块沿机身导杆做上下运动，进而实现该手动调节机械臂的上下运动，带动测试头上下运动；通过转动抱臂固定盘，及固定插销和抱臂固定盘上的定位孔的插合，实现带动测试头转动一定角度及转动后的固定；该手动调节机械臂能够带动测试头做上下、前后、左右移动及旋转一定角度，实现对不同位置或角度的芯片的测试，调节方便，便于人工手动调节；该测试机械臂的结构简单，易于加工、组装，且生产成本低，有利于中小型企业的使用和发展。
附图说明
15.图1为本发明实施例所公开的芯片测试用手动调节机械臂的轴测结构示意图；图2为本发明实施例所公开的芯片测试用手动调节机械臂的显示连接轴的轴测结构示意图；图3为本发明实施例所公开的第一段臂和导杆连接块、固定盘的配合结构示意图；图4为本发明实施例所公开的锁紧块的配合结构示意图；图5为本发明实施例所公开的第三段臂和抱臂固定盘、固定块、固定插销的配合结构示意图。
16.附图标记：1-第一段臂，2-第二段臂，3-第三段臂，4-导杆连接块，5-抱臂固定盘，6-第一连接轴，7-第二连接轴，8-第三连接轴，9-固定盘，10-调节孔，11-第一锁紧孔，12-第一锁紧把手，13-锁紧块，14-固定孔，15-锁紧槽，16-第二锁紧孔，17-第二锁紧把手，18-切割槽，19-切割孔，20-第一连接孔，21-固定块，22-固定插销，23-定位孔，24-第二连接孔。
具体实施方式
17.以下是本发明的具体实施例并结合附图，对本发明的技术方案作进一步的描述，但本发明并不限于这些实施例。
18.如图1-5所示，一种芯片测试用手动调节机械臂，包括依次转动连接的第一段臂1、第二段臂2和第三段臂3，第一段臂1的远离第二段臂2端设有导杆连接块4，两个导杆连接块4设置于第一段臂1的上下两侧，其中，导杆连接块4与芯片测试机的机身导杆相连接，且能够沿着机身导杆做上下运动，进而实现带动与导杆连接块4连接的第一段臂1上下运动，实现该手动调节机械臂的上下运动。第一段臂1与两个导杆连接块4之间连接有竖直设置的第一连接轴6，第一段臂1和第二段臂2之间连接有竖直设置的第二连接轴7，第二段臂2和第三段臂3之间连接有竖直设置的第三连接轴8，通过第一连接轴6、第二连接轴7和第三连接轴8
实现第一段臂1、第二段臂2和第三段臂3的转动连接，实现第一段臂1、第二段臂2和第三段臂3的相对前后移动，实现该手动调节机械臂的左右长度的调节，进而实现该手动调节机械臂的前后移动和左右移动。第三段臂3的远离第二段臂2端转动连接有抱臂固定盘5，通过抱臂固定盘5实现带动与其连接的测试头运动，进而实现对芯片的测试。
19.本技术中，第一段臂1的上方设有固定盘9，固定盘9固定于导杆连接块4的下方，固定盘9上设有调节孔10，第一段臂1上对应调节孔10的位置设有第一锁紧孔11，第一锁紧孔11连接有第一锁紧把手12。其中，固定盘9作为第一段臂1转动调节的导向板，调节孔10为圆弧形的腰形孔，其为以第一连接轴6为中心轴的半圆形的腰型孔，保证第一段臂1转动时不会受到第一锁紧把手12的阻碍；第一锁紧孔11为螺纹孔，其与第一锁紧把手12螺接，通过第一锁紧把手12实现将固定盘9与第一段臂1锁合、固定，其调节方式为，松动第一锁紧把手12，保证固定盘9和第一段臂1能够相对转动，然后以第一连接轴6为转轴转动第一段臂1一个角度后，此时第一锁紧把手12位于固定盘9上调节孔10的另一个位置，转动第一锁紧把手12将其锁紧，将固定盘9和第一段臂1锁合、固定，防止第一段臂1转动，即实现第一段臂1的转动角度的调节。
20.本技术中，第二连接轴7和第三连接轴8上均套设有一个锁紧块13，锁紧块13上设有第二锁紧把手17，通过锁紧块13和第二锁紧把手7的锁合或松动，实现第二段臂2相对第一段臂1的转动调节和第三段臂3相对第二段臂2的转动调节，因第二连接轴7，实现第二段臂2。其中，锁紧块13上开设有上下贯穿的固定孔14，两个锁紧块13上的固定孔14分别用于第二连接轴7和第三连接轴8的插入；固定孔14连接有锁紧槽15，锁紧槽15贯穿锁紧块13，固定孔14的孔壁上设有上下贯穿的多个切割槽18，每个切割槽18的远离固定孔14端均设有切割孔19，通过锁紧槽15和切割槽18的设置，保证固定孔14的孔径能够发生变化，当锁紧第二锁紧把手17时，第二锁紧把手17抵压锁紧块13，使锁紧槽15的宽度变小，进而使得固定孔14的孔径跟着变小，切割槽18保证固定孔14的孔径能够变小，且切割槽18的宽度能够随着固定孔14的孔径变小，切割孔19能够减小切割槽18的宽度变小的阻力，通过切割槽18和切割孔19能够减小固定孔14的孔径变小阻力，进而便于固定孔14对连接轴的锁紧，便于连接轴的插入和锁紧，保证第二段臂2相对第一段臂1固定和第三段臂3相对第二段臂2固定。
21.本技术中，第三段臂3上连接有固定插销22，抱臂固定盘5上沿其圆周方向设有多个定位孔23。通过固定插销22和定位孔23的配合，实现抱臂固定盘5与第三段臂3的位置的固定。其中，第三段臂3上设有固定块21，固定插销22贯穿固定块21且与固定块21螺接，通过将固定插销22插入抱臂固定盘5上的定位孔23内，实现抱臂固定盘5与第三段臂3的固定。当转动抱臂固定盘5，使其上不同固定孔23与固定插销22插合，实现抱臂固定盘5旋转后的固定，实现与抱臂固定盘5连接的测试头旋转一定的角度，实现测试头的转动调节。固定块21上设有第二连接孔24，固定块21通过第二连接孔24与第三段臂3连接。
22.本技术中，锁紧块13上设有第二锁紧孔16，第二锁紧孔16垂直于锁紧槽15且贯穿锁紧块13，第二锁紧孔16为螺纹孔，其与第二锁紧把手17螺接，通过旋转第二锁紧把手17，能够调节锁紧槽15的宽度，使锁紧槽15的宽度变小，实现将固定孔23的孔径调小，将连接轴锁紧；两个锁紧块13分别固定于第一段臂1和第二段臂2上，进而实现对第二连接轴7和第三连接轴8的锁紧，实现第二段臂2相对第一段臂1的角度固定和第三段臂3相对第二段臂2的角度固定，实现第二段臂2和第三段臂3左右转动运动后的固定。锁紧块13上设有多个第一
连接孔20，实现锁紧块13的固定。
23.最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明性的保护范围之内的发明内容。