系统和方法与流程

技术特征：
1.一种在使用增材层制造技术生产三维工件的设备中使用的系统，所述系统包括：照射单元，被配置为用照射束选择性地对照射平面进行照射，以及控制单元，耦接到所述照射单元并且被配置为控制所述照射单元根据生产所述三维工件时的局部工艺参数来调制所述照射束的照射束属性。2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述局部工艺参数包括在生产所述三维工件时使用的工艺气体的局部工艺气体属性。3.根据权利要求2所述的系统，其中，所述局部工艺气体属性包括局部工艺气体流动速度和/或局部工艺气体流动均匀性。4.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述照射束属性包括在所述照射束与生产所述三维工件的材料的相互作用期间的照射束能量输入强度。5.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述照射束属性包括用所述照射束选择性地对所述照射平面进行照射时的两个连续照射事件之间的时间间隔。6.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述照射束属性包括(i)照射束功率、(ii)当在整个照射平面上扫描所述照射束时的照射束扫描速度以及(iii)照射束聚焦中的一种或多种。7.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述系统被配置为将所述照射平面划分为多个区域，并且其中，所述控制单元被配置为控制所述照射单元基于所述照射束照射所述多个区域中的哪个区域来调制所述照射束属性。8.根据权利要求7所述的系统，其中，所述控制单元被配置为控制所述照射单元基于所述区域到所述设备的工艺气体入口和/或工艺气体出口的空间距离来改变两个连续照射事件之间的时间间隔。9.根据权利要求7或8所述的系统，还包括工艺气体测量装置，所述工艺气体测量装置耦接到所述控制单元并且被配置为确定整个照射平面上的工艺气体流动速度分布和/或工艺气体流动均匀性分布，其中，所述系统被配置为基于所述工艺气体流动速度分布和/或所述工艺气体流动均匀性分布将所述照射平面划分为所述多个区域。10.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述控制单元被配置为控制所述照射单元在整个照射平面上扫描所述照射束之前和/或之后，基于预定数量的扫描向量来调制所述照射束属性。11.根据权利要求10所述的系统，当引用权利要求9时，其中，所述系统被配置为将所述扫描向量分配给所述区域。12.根据前述权利要求中任一项所述的系统，还包括热辐射测量单元，所述热辐射测量单元耦接到所述控制单元并且被配置为在所述三维工件的生产期间测量所述照射平面上和/或上方的局部热辐射，并且其中，所述控制单元被配置为控制所述照射单元基于所述局部热辐射来调制所述照射束属性。13.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述系统包括第一照射单元和第二照射单元，所述第一照射单元被配置为用第一照射束选择性地对所述照射平面进行照射，所述第二照射单元被配置为用第二照射束选择性地对所述照射平面进行照射，并且其中，所述控制单元被配置为控制所述第一照射单元和/或所述第二照射单元基于所述三维工件的生产期间所述第一照射束和所述第二照射束相对于彼此的时间依赖性空间关系，来调制
所述第一照射束和/或所述第二照射束的照射束属性。14.一种对使用增材层制造技术生产三维工件的设备的照射单元进行控制的控制单元，所述控制单元包括：输入端，被配置为接收与所述三维工件的生产期间的局部工艺参数相关的数据；处理器，被配置为处理所述数据以生成用于控制所述照射单元的控制数据；以及输出端，能耦接到所述照射单元并且被配置为将所生成的控制数据输出到所述照射单元，以用于控制所述照射单元。15.一种使用增材层制造技术生产三维工件的设备，其中，所述设备包括如权利要求1至13中任一项所述的系统和/或如权利要求14所述的控制单元。16.一种对使用增材层制造技术生产三维工件的设备的照射单元进行控制的方法，所述方法包括：确定使用所述增材层制造技术生产所述三维工件期间的局部工艺参数，以及根据所确定的局部工艺参数来控制照射束。

技术总结
我们描述一种系统，该系统用于使用增材层制造技术生产三维工件的设备中，该系统包括：照射单元，被配置为用照射束选择性地照射照射平面；以及控制单元，耦接到照射单元并且被配置为控制照射单元根据生产三维工件时的局部工艺参数来调制照射束的照射束属性。工艺参数来调制照射束的照射束属性。工艺参数来调制照射束的照射束属性。


技术研发人员：迪特尔
受保护的技术使用者：SLM方案集团股份公司
技术研发日：2020.09.14
技术公布日：2022/5/6