存储设备的测试方法、电子设备以及存储介质与流程

本发明应用于设备测试的，特别是一种存储设备的测试方法、电子设备以及存储介质。

背景技术：

1、存储设备的测试过程中，样品存储设备通常会重复使用，例如不同的测试阶段通过更换不同的固件进行相应测试。

2、但在版本迭代或测试过程中因人为因素，容易导致样品存储设备的状态丢失或发生记录不全等问题，即使通过测试记录追溯也无法完全保障准确性。

3、因此在异常测试结果分析中，往往需要反复实验确定样品存储设备的状态，这严重影响了异常分析效率和项目进度。

技术实现思路

1、本发明提供了存储设备的测试方法、电子设备以及存储介质，以解决异常分析效率和项目进度较低的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明第一方面提供了一种存储设备的测试方法，包括：测试机对存储设备进行预设测试，并实时将存储设备的状态数据存储在存储设备的预设存储区域内；响应于存储设备发生测试异常，通过测试机从存储设备的预设存储区域内获取存储设备的状态数据，以基于状态数据进行异常定位，得到存储设备的测试结果。

3、其中，预设测试包括至少一种测试阶段，实时将存储设备的状态数据存储在存储设备的预设存储区域内，包括：响应于存储设备在当前的测试阶段发生异常或存储设备完成当前的测试阶段，将当前的状态数据与当前的测试阶段建立对应关系；将建立对应关系后的状态数据存储在存储设备的预设存储区域内，其中，预设存储区域内的状态数据以测试阶段为单位，按照时间轴进行顺序排列。

4、其中，通过测试机对存储设备进行预设测试，之前包括：通过测试机基于预设测试的类型获取存储设备中对应的初始状态数据；初始状态数据包括存储设备的当前状态数据；判断当前状态数据是否满足预设测试的测试需求；若当前状态数据满足预设测试的测试需求，对存储设备进行预设测试。

5、其中，初始状态数据还包括历史状态数据；判断初始状态数据是否满足预设测试的测试需求，还包括：基于初始状态数据内的历史状态数据对应的测试阶段的类型确定预设测试中至少一种测试阶段的类型；其中，预设测试中测试阶段的类型与历史状态数据对应的测试阶段的类型不同。

6、其中，通过测试机基于预设测试的类型获取存储设备的初始状态数据，将初始状态数据存储在存储设备的预设存储区域内，包括：在存储设备的私有存储空间中划分得到空白的预设存储区域；将初始状态数据以及存储设备的唯一标识封装成数据块，将数据块存入预设存储区域中，以供测试机进行获取。

7、其中，预设测试包括破坏磨损记录测试，基于状态数据进行异常定位，得到存储设备的测试结果，包括：基于数据保持时长、读干扰数据、pe循环次数以及最大磨损值对存储设备进行异常定位，得到存储设备的测试结果；或预设测试包括超稳测试，基于状态数据进行异常定位，得到存储设备的测试结果，包括：基于数据保持时长、读干扰数据、pe循环次数、最大磨损值、坏块数量、异常断电数量、是否经过高温锅炉以及写放大指数对存储设备进行异常定位，得到存储设备的测试结果；其中，状态数据包括pe循环次数、最大磨损值、数据保持时长、读干扰数据、坏块数量、异常断电数量、是否经过高温锅炉以及写放大指数中的一种或多种。

8、为解决上述技术问题，本发明第二方面提供了一种存储设备的测试方法，包括：存储设备接收测试机的测试指令以进行预设测试；实时接收测试机发送存储指令，以将存储设备的状态数据存储在存储设备的预设存储区域内；响应于存储设备发生测试异常，接受测试机的获取指令，将预设存储区域内的状态数据发送给测试机，以使测试机基于状态数据进行异常定位，得到存储设备的测试结果。

9、其中，实时接收测试机发送的存储设备的状态数据，并存储在存储设备的预设存储区域内，还包括：响应于预设测试包括第三方测试步骤，接收第三方测试步骤对应的状态数据，并将第三方测试步骤对应的状态数据顺序存储在存储设备的预设存储区域内。

10、为解决上述技术问题，本发明第三方面还提供了一种电子设备，电子设备包括：处理器和存储器，存储器中存储有程序数据，处理器用于执行如上述任一项的存储设备的测试方法。

11、为解决上述技术问题，本发明第四方面还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有程序数据，程序数据能够被执行以实现如上述任一项的存储设备的测试方法。

12、为解决上述技术问题，本发明的存储设备的测试方法通过测试机对存储设备进行预设测试，并实时将存储设备的状态数据存储在存储设备的预设存储区域内；响应于存储设备发生测试异常，通过测试机从存储设备的预设存储区域内获取存储设备的状态数据，以基于状态数据进行异常定位，得到存储设备的测试结果，能够通过实时存储状态数据，记录存储设备在预设测试过程中所经历的状态及其变更，从而帮助异常回溯时，能够准确反应存储设备在发生异常时的状态，基于该状态即可进行异常分析，无需后续反复实验确定存储设备的状态，从而提高异常定位效率和加快测试项目进度。

1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述预设测试包括至少一种测试阶段，所述实时将所述存储设备的状态数据存储在所述存储设备的预设存储区域内，包括：

3.根据权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述通过测试机对存储设备进行预设测试，之前包括：

4.根据权利要求3所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述初始状态数据还包括历史状态数据；所述判断所述初始状态数据是否满足所述预设测试的测试需求，还包括：

5.根据权利要求3所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述通过所述测试机基于所述预设测试的类型获取所述存储设备的初始状态数据，将所述初始状态数据存储在所述存储设备的预设存储区域内，包括：

6.根据权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，

7.一种存储设备的测试方法，其特征在于，包括：

8.根据权利要求7所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述实时接收所述测试机发送的存储设备的状态数据，并存储在所述存储设备的预设存储区域内，还包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：处理器和存储器，所述存储器中存储有程序数据，所述处理器用于执行如权利要求1-6任一项所述的存储设备的测试方法或权利要求7或8所述的存储设备的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有程序数据，所述程序数据能够被执行以实现如权利要求1-6任一项所述的存储设备的测试方法或权利要求7或8所述的存储设备的测试方法。