存储装置的测试方法、一体式测试设备与流程

本申请涉及存储装置测试，特别是涉及存储装置的测试方法、一体式测试设备。

背景技术：

1、目前的存储装置测试技术，均是采用不同功能的设备对其进行分别测试，进而得到多个测试结果。

2、不足之处在于，利用不同测试设备进行测试，测试成本较高，以及测试效果上也存在缺陷，存在无法发现存储装置的潜在问题的现象。

技术实现思路

1、本申请提供的存储装置的测试方法、一体式测试设备，解决同一个测试设备测试单一所导致的一些潜在问题不容易被发现的问题。

2、第一方面，本申请提供一种存储装置的测试方法，应用于一体式测试设备，该方法包括：获取测试用例集；其中，测试用例集中包括不同类型的测试设备的多种测试用例；测试设备包括高低温测试设备和常温测试设备；利用测试用例集中的多种测试用例对存储装置进行测试，其中，测试类型包括版本测试、可靠性测试、环境应力测试、性能测试、掉电测试、读写测试和/或协议压力测试。

3、其中，获取测试用例集，包括：接收配置文件；配置文件内设置有测试类型、测试用例id、测试用例名称和/或测试标志；根据配置文件的内容获取测试用例集。

4、其中，接收配置文件之前，包括：在一体式测试设备的操作界面显示配置文件的配置界面；接收用户的操作指令，并保存配置界面上与操作指令对应的设置，生成配置文件。

5、其中，根据配置文件的内容获取测试用例集，包括：利用测试脚本与配置文件进行交互，根据配置文件的内容获取测试用例集。

6、其中，获取测试用例集，包括：接收用户输入的存储装置的供应商和/或自动读取存储装置的供应商；根据供应商获取测试用例集。

7、其中，获取测试用例集，包括：在一体式测试设备的操作界面提供测试用例选择界面；其中，测试用例选择界面显示有若干测试用例标识；响应于测试用例选择界面被保存，将测试用例选择界面上被选择的测试用例标识所对应的测试用例作为测试用例集中的测试用例。

8、其中，存储装置的数量至少为两个，方法还包括：在一体式测试设备的操作界面提供测试状态显示界面；响应于查询指令，在测试状态显示界面显示与查询指令对应的存储装置的测试状态。

9、其中，测试中的存储装置至少为两种类型，且不同类型的存储装置同时测试的数量不同，方法还包括：按照第一类型的存储装置的第一数量构建测试状态显示界面；其中，测试状态显示界面用于显示若干行显示方格，每一行显示方格的数量为第一数量；每一显示方格用于显示一个存储装置的测试状态；其中，当目标行显示方格用于显示第二数量的第二类型的存储装置时，目标行显示方格中未使用的显示方格被设置为禁用状态。

10、第二方面，本申请提供一种一体式测试设备，该一体式测试设备包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行计算机程序以实现如第一方面提供的测试方法。

11、其中，一体式测试设备为mpt3000。

12、本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供的存储装置的测试方法、一体式测试设备，在一体式测试设备上，利用不同类型的测试设备的多种测试用例构建测试用例集；测试设备包括高低温测试设备和常温测试设备；利用测试用例集中的多种测试用例对存储装置进行测试，其中，测试类型包括版本测试、可靠性测试、环境应力测试、性能测试、掉电测试、读写测试和/或协议压力测试，实现一体式测试设备兼容多种测试，以此解决同一个测试设备测试单一所导致的一些潜在问题不容易被发现的问题。

1.一种存储装置的测试方法，其特征在于，应用于一体式测试设备，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取测试用例集，包括：

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述接收配置文件之前，包括：

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述配置文件的内容获取所述测试用例集，包括：

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取测试用例集，包括：

6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取测试用例集，包括：

7.根据权利要求1-6任一项所述的测试方法，其特征在于，所述存储装置的数量至少为两个，所述方法还包括：

8.根据权利要求1-6任一项所述的测试方法，其特征在于，测试中的所述存储装置至少为两种类型，且不同类型的存储装置同时测试的数量不同，所述方法还包括：

9.一种一体式测试设备，其特征在于，所述一体式测试设备包括：

10.根据权利要求9所述的一体式测试设备，其特征在于，所述一体式测试设备为mpt3000。