校验方法、测试机台及存储介质与流程

技术特征：
1.一种校验方法，用于校验待测存储器中冗余电路的修补功能，所述冗余电路基于反熔丝存储阵列选通驱动，其特征在于，包括：获取所述待测存储器中的修补映射表，所述修补映射表用于表征所述反熔丝存储阵列中反熔丝器件与所述冗余电路的映射关系；基于所述修补映射表生成对应于每个所述反熔丝器件的测试向量，所述测试向量用于开启所述反熔丝器件在所述修补映射表中对应的存储地址；提供测试数据和读/写命令，基于所述测试向量获取所述待测存储器的测试结果，并基于所述测试结果和所述测试数据判断所述测试向量对应的所述冗余电路的修补功能是否正常。2.根据权利要求1所述的校验方法，其特征在于，在生成所述测试向量之前，还包括：获取所述待测存储器中的待测区域地址，所述待测区域地址为待测试区域中的所述存储地址；基于所述修补映射表，获取属于所述待测区域地址的子映射表；所述基于所述修补映射表生成对应于每个所述反熔丝器件的测试向量，包括：基于所述子映射表生成对应于每个所述反熔丝器件的测试向量。3.根据权利要求1或2所述的校验方法，其特征在于，所述测试向量基于存储的测试脚本生成，且所述测试脚本预先设定并存储在测试机台中。4.根据权利要求3所述的校验方法，其特征在于，所述提供测试数据和读/写命令，基于所述测试向量获取所述待测存储器的测试结果，包括：基于系统verilog编程命令解析所述测试向量，获取所述测试向量所需检测的所述存储地址；向所述存储地址提供所述测试数据和所述读/写命令，获取所述存储地址的测试结果。5.根据权利要求4所述的校验方法，其特征在于，所述基于所述测试结果和所述测试数据判断所述测试向量对应的所述冗余电路的修补功能是否正常，包括：基于所述测试结果和所述测试数据中的关键词判断所述测试结果和所述测试数据是否相同；若所述测试结果和所述测试数据相同，则对应的所述冗余电路的修补功能正常；若所述测试结果和所述测试数据不同，则对应的所述冗余电路的修补功能异常。6.根据权利要求5所述的校验方法，其特征在于，基于所述测试向量和存储的测试脚本自动化获取所述待测存储器的测试结果。7.根据权利要求1所述的校验方法，其特征在于，所述判断所述测试向量对应的所述冗余电路的修补功能是否正常之后，还包括：输出修补功能异常的所述冗余电路对应的所述存储地址。8.一种测试机台，连接待测存储器，其特征在于，采用权利要求1～7任一项所述的校验方法对所述待测存储器的冗余电路进行校验，包括：信息获取模块，被配置为，获取所述待测存储器中的修补映射表；数据截取模块，连接所述信息获取模块，被配置为，基于所述修补映射表生成对应于每个所述反熔丝器件的测试向量；信号发送模块，连接所述数据截取模块，被配置为，向所述测试向量中的存储地址提供
测试数据和读/写命令；信号接收模块，被配置为，接收所述待测存储器基于所述测试数据和所述读/写命令生成的测试结果；测试判断模块，连接所述信号发送模块和所述信号接收模块，被配置为，基于所述测试数据和所述测试结果，判断所述冗余电路的修补功能是否正常。9.根据权利要求8所述的测试机台，其特征在于，还包括：定位模块，被配置为，获取外部输入的待测区域地址，并基于所述待测区域地址和所述修补映射表，获取属于所述待测区域地址的子映射表；所述数据截取模块，还连接所述定位模块，被配置为，基于所述子映射表生成对应于每个所述反熔丝器件的测试向量。10.根据权利要求8所述的测试机台，其特征在于，所述数据截取模块，包括：脚本存储单元，被配置为，用于设置并存储测试脚本；数据生成单元，连接所述脚本存储单元和所述信息获取模块，被配置为，基于所述修补映射表和存储的测试脚本生成所述测试向量。11.根据权利要求8所述的测试机台，其特征在于，所述信号发送模块，包括：数据解析单元，连接所述数据截取模块，被配置为，基于系统verilog编程命令解析所述测试向量，获取所述测试向量所需检测的所述存储地址；命令发送单元，连接所述数据解析单元，被配置为，向所述存储地址提供所述测试数据和所述读/写命令。12.根据权利要求8所述的测试机台，其特征在于，所述测试判断模块还被配置为，输出修补功能异常的所述冗余电路对应的所述存储地址。13.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1～7任一项所述的校验方法。

技术总结
本公开实施例涉及半导体电路测试领域，特别涉及一种校验方法、测试机台及存储介质，校验方法包括：获取待测存储器中的修补映射表，修补映射表用于表征反熔丝存储阵列中反熔丝器件与冗余电路的映射关系；基于修补映射表生成对应于每个反熔丝器件的测试向量，测试向量用于开启反熔丝器件在修补映射表中对应的存储地址；提供测试数据和读/写命令，基于测试向量获取待测存储器的测试结果，并基于测试结果和测试数据判断测试向量对应的冗余电路的修补功能是否正常。本公开实施例通过设计一种批量且自动化验证每一个反熔丝存储单元对应的冗余电路信息的测试方法，简便快捷的测试存储器冗余电路的功能是否正常，以提升存储器的稳定性。定性。定性。


技术研发人员：鲍杰
受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司
技术研发日：2022.06.21
技术公布日：2022/8/26