四线测试双通道探针组件的制作方法

1.本发明涉及pcb测试领域，尤其涉及一种四线测试双通道探针组件。


背景技术：

2.目前，pcb、fpc的孔电阻测试中，一般采用4线方法，在孔的两端分别放两根探针，组成4线测试回路。其中两根探针加载电流，另外两根探针测量电压。
3.但是，现有的4线方法在孔电阻测试时存在以下缺陷：
4.1、线性探针的直径一般70um左右，孔环接触部位范围为01.-0.3mm之间，在测试时，线性探针需要与孔环接触部位触碰，实际产品出现涨缩，偏移的问题，线性探针未与孔环接触部位触碰，线性探针落在孔环外围，导致无法测试，测试具有局限性。
5.2、线性探针的头部容易弯曲，造成pad表面打痕。
6.3、多只探针并联测试，成本增加，如遇到客户产品孔环《0.2mm时，无法使用探针测试。


技术实现要素：

7.为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种四线测试双通道探针组件，其能解决测试具有局限性的问题。
8.本发明的目的之一采用如下技术方案实现：
9.一种四线测试双通道探针组件，包括pcb板件、上探针组件、下探针组件，所述pcb板件设有测试通孔，所述测试通孔的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环；所述上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，所述测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，所述测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，所述弧形衔接段的两端分别与所述上侧接触盘、横向衔接段衔接，所述竖直衔接段的两端分别与所述横向衔接段、尾部连接片衔接；所述尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，所述上探针组件的组成结构与所述下探针组件相同，所述侧部衔接端面与所述通孔孔环的内壁接触。
10.进一步地，所述横向衔接段的延伸方向与所述竖直衔接段的延伸方向垂直。
11.进一步地，所述横向衔接段、尾部连接片位于所述竖直衔接段的同一侧，且所述横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片整体呈u型分布。
12.进一步地，所述尾部连接片呈三角形。
13.进一步地，所述尾部连接片呈直角三角形。
14.进一步地，所述侧部衔接端面呈弧形或斜面状，所述侧部衔接端面凸出于所述铜片安装槽。
15.进一步地，所述测试组件包括连接杆、设置于连接杆端部的安装盘、设置于安装盘上的端部衔接片，所述铜片安装槽位于所述安装盘和所述端部衔接片上。
16.进一步地，所述端部衔接片的延伸方向与所述安装盘的表面垂直。
17.进一步地，所述上探针组件还包括对称铜片，所述对称铜片与测试接触铜片沿所述连接杆的轴线对称分布。
18.进一步地，所述测试组件上设置有两个铜片安装槽，分别用于安装所述对称铜片与测试接触铜片。
19.相比现有技术，本发明的有益效果在于：
20.所述上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，所述测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，所述测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，所述弧形衔接段的两端分别与所述上侧接触盘、横向衔接段衔接，所述竖直衔接段的两端分别与所述横向衔接段、尾部连接片衔接；所述尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，所述上探针组件的组成结构与所述下探针组件相同，所述侧部衔接端面与所述通孔孔环的内壁接触。采用侧部衔接端面通孔孔环的内壁接触的方式代替探针点接触的方式，解决了探针无法准确扎在pad造成误测的问题，解决了pad表面容易打痕的问题，提高了测试的方便程度。
21.上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
22.图1为本发明四线测试双通道探针组件中一较佳实施例的立体图；
23.图2为图1所示四线测试双通道探针组件的剖视图；
24.图3为图1所示四线测试双通道探针组件中一pcb板件的立体图；
25.图4为图1所示四线测试双通道探针组件中探针组件的立体图；
26.图5为图1所示四线测试双通道探针组件中一上探针组件的立体图；
27.图6为图5所示上探针组件的分解图；
28.图7为图5所示上探针组件的另一分解图；
29.图8为图1所示四线测试双通道探针组件中一测试接触铜片的立体图；
30.图9为图1所示四线测试双通道探针组件的局部立体图。
31.图中：10、pcb板件；11、通孔孔环；111、测试通孔；20、上探针组件；21、测试组件；211、连接杆；212、安装盘；213、端部衔接片；214、铜片安装槽；22、测试接触铜片；221、上侧接触盘；222、弧形衔接段；223、横向衔接段；224、竖直衔接段；226、尾部连接片；23、对称铜片；2261、侧部衔接端面；30、下探针组件。
具体实施方式
32.下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
33.需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它
可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
34.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
35.请参阅图1-9，一种四线测试双通道探针组件，包括pcb板件10、上探针组件20、下探针组件30，所述pcb板件10设有测试通孔111，所述测试通孔111的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环11；所述上探针组件20包括测试组件21、测试接触铜片22，所述测试组件21上设置有用于安装测试接触铜片22的铜片安装槽214，所述测试接触铜片22包括上侧接触盘221、弧形衔接段222、横向衔接段223、竖直衔接段224、尾部连接片226，所述弧形衔接段222的两端分别与所述上侧接触盘221、横向衔接段223衔接，所述竖直衔接段224的两端分别与所述横向衔接段223、尾部连接片226衔接；所述尾部连接片226设置有用于与通孔孔环11接触的侧部衔接端面2261，所述上探针组件20的组成结构与所述下探针组件30相同，所述侧部衔接端面2261与所述通孔孔环11的内壁接触。采用侧部衔接端面2261通孔孔环11的内壁接触的方式代替探针点接触的方式，解决了探针无法准确扎在pad造成误测的问题，解决了pad表面容易打痕的问题，提高了测试的方便程度。
36.优选的，所述横向衔接段223的延伸方向与所述竖直衔接段224的延伸方向垂直。具体的，所述横向衔接段223、尾部连接片226位于所述竖直衔接段224的同一侧，且所述横向衔接段223、竖直衔接段224、尾部连接片226整体呈u型分布。所述尾部连接片226呈三角形。具体的，所述尾部连接片226呈直角三角形。所述侧部衔接端面2261呈弧形或斜面状，所述侧部衔接端面2261凸出于所述铜片安装槽214。采用“上侧接触盘221、弧形衔接段222、横向衔接段223、竖直衔接段224、尾部连接片226”的组合形式及组合形状，一方面解决了测试问题，另一方面使安装便捷，解决了铜片脱出问题。
37.优选的，所述测试组件21包括连接杆211、设置于连接杆211端部的安装盘212、设置于安装盘212上的端部衔接片213，所述铜片安装槽214位于所述安装盘212和所述端部衔接片213上。所述端部衔接片213的延伸方向与所述安装盘212的表面垂直。所述上探针组件20还包括对称铜片23，所述对称铜片23与测试接触铜片22沿所述连接杆211的轴线对称分布。所述对称铜片23与测试接触铜片22解决了测试不便的问题。
38.优选的，所述测试组件21上设置有两个铜片安装槽214，分别用于安装所述对称铜片23与测试接触铜片22。采用四个铜片代替点测试，结构新颖，设计巧妙，适用性强，便于推广。
39.上述实施方式仅为本发明的优选实施方式，不能以此来限定本发明保护的范围，本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。