四线测试双通道探针组件的制作方法

技术特征：
1.一种四线测试双通道探针组件，包括pcb板件、上探针组件、下探针组件，其特征在于：所述pcb板件设有测试通孔，所述测试通孔的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环；所述上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，所述测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，所述测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，所述弧形衔接段的两端分别与所述上侧接触盘、横向衔接段衔接，所述竖直衔接段的两端分别与所述横向衔接段、尾部连接片衔接；所述尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，所述上探针组件的组成结构与所述下探针组件相同，所述侧部衔接端面与所述通孔孔环的内壁接触。2.如权利要求1所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述横向衔接段的延伸方向与所述竖直衔接段的延伸方向垂直。3.如权利要求1所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述横向衔接段、尾部连接片位于所述竖直衔接段的同一侧，且所述横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片整体呈u型分布。4.如权利要求3所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述尾部连接片呈三角形。5.如权利要求4所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述尾部连接片呈直角三角形。6.如权利要求1所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述侧部衔接端面呈弧形或斜面状，所述侧部衔接端面凸出于所述铜片安装槽。7.如权利要求1所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述测试组件包括连接杆、设置于连接杆端部的安装盘、设置于安装盘上的端部衔接片，所述铜片安装槽位于所述安装盘和所述端部衔接片上。8.如权利要求7所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述端部衔接片的延伸方向与所述安装盘的表面垂直。9.如权利要求7所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述上探针组件还包括对称铜片，所述对称铜片与测试接触铜片沿所述连接杆的轴线对称分布。10.如权利要求9所述的四线测试双通道探针组件，其特征在于：所述测试组件上设置有两个铜片安装槽，分别用于安装所述对称铜片与测试接触铜片。

技术总结
本发明公开了一种四线测试双通道探针组件，包括PCB板件、上探针组件、下探针组件，PCB板件设有测试通孔，测试通孔的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环；上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，上探针组件的组成结构与下探针组件相同，侧部衔接端面与通孔孔环的内壁接触。采用侧部衔接端面通孔孔环的内壁接触的方式代替探针点接触的方式，解决了探针无法准确扎在PAD造成误测的问题，解决了PAD表面容易打痕的问题，提高了测试的方便程度。度。度。


技术研发人员：赵志刚 文东升
受保护的技术使用者：苏州市科林源电子有限公司
技术研发日：2022.03.30
技术公布日：2022/8/16