变频器输出电流的检测方法及其变频器与流程

1.本发明属于变频器领域，尤其涉及一种变频器输出电流的检测方法及其变频器。


背景技术：

2.根据用户用途的不同，有时变频器的配线可能会超过200米，检测电流值有时候会大幅波动，而检测电流与实际电流的差有时也变得很大，这就会导致出现过电流，或者过载的情况的出现。


技术实现要素：

3.经过发明人研究发现：在输出配线的长度变长时，配线的电容，电感都会增加。从而导致电流产生很大波动。对于小容量变频器，在电流检测方式上，特别在高频领域，由波动产生的影响很大，检测电流会比实际电流还要大。
4.如图1所示，在通常配线为10m程度的情况下，分压电阻两端的电压不存在波动，因此不会造成误检。而在长距离配线(例如500m)但是工作频率在40hz以下时，虽然存在电流波动，但是由于脉冲宽度比较大，从而也不会影响电流检测。但是在长距离配线(例如500m)并且工作频率在40hz以上时，由于脉冲宽度较小，因此电流波动对于电流检测的影响较大。
5.进一步分析发现，如图2所示，这是因为存在配线的电感成分(电感，电容)，所以产生了漏电流。通过漏电流的计算公式i＝2πf x c x v可以看出，配线的距离越长，漏电流越大。漏电流从变频器端流入，检测电流中加入了漏电流，从而使检测电流也相应变大。配线电感所产生的电流波动，在分压检测电流方式的情况下，检出的电流会大于实际电流，进而导致误检。其中，分压检测电流方式是n侧igbt的接通区间中，检测分压电阻两端的电流。因此，n侧igbt接通瞬间的波动现象必定发生。
6.鉴于以上分析，本发明的一个目的是提供一种变频器输出电流的检测方法及其变频器，以能够在长距离配线的情况下降低检测电流与实际电流的误差。
7.为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：
8.一种变频器输出电流的检测方法，包括以下步骤：
9.获取在半导体开关件接通时的电流波动时间；
10.将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述电流波动时间；
11.将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述电流波动时间之后。
12.作为一种优选的实施方式，所述检测方法包括以下步骤：
13.根据配线长度确定半导体开关件初始接通时间；
14.确定在所述半导体开关件初始接通时间中的实际电流波动时间；
15.将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述实际电流波动时间；
16.将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述实际电流波动时间之后。
17.作为一种优选的实施方式，确定半导体开关件初始接通时间的步骤包括：
18.根据配线长度确定初始电流波动时间；
19.将半导体开关件初始接通时间设置为大于所述初始电流波动时间。
20.作为一种优选的实施方式，所述半导体开关件初始接通时间为所述初始电流波动时间加上第一预定时间；所述第一预定时间取自范围2微秒-10微秒。
21.作为一种优选的实施方式，所述初始电流波动时间包括：利用配线长度与电流波动时间的对应关系公式计算得到的理论电流波动时间，或者，根据配线长度确定的电流波动时间经验值，或者，根据预存的不同配线长度所对应的电流波动时间确定的预存电流波动时间。
22.作为一种优选的实施方式，根据预存的不同配线长度所对应的半导体开关件接通时间确定半导体开关件初始接通时间。
23.作为一种优选的实施方式，所述确定实际电流波动时间的步骤包括：
24.在所述半导体开关件初始接通时间中在所述初始电流波动时间之后确定初始电流检测时间点；
25.从初始电流检测时间点按照预定间隔时间向前逐个采样直至得到初始电流安定时间点，将初始电流安定时间点之前的时间作为实际电流波动时间。
26.作为一种优选的实施方式，所述初始电流检测时间点位于区间[初始电流波动时间的最后时间点，半导体开关件初始接通时间的最后时间点)。
[0027]
作为一种优选的实施方式，所述初始电流检测时间点为初始电流波动时间加上第二预定时间在所述半导体开关件初始接通时间中的最后时间点，其中，0≤所述第二预定时间＜第一预定时间。
[0028]
作为一种优选的实施方式，所述预定间隔时间为1微秒-3微秒。
[0029]
作为一种优选的实施方式，以初始电流检测时间点采样得到的u相电流值为iu(0)，后续第n个电流检测时间点采样得到的u相电流值为iu(n)，将满足iu(n)与iu(0)的差值小于预定值的最后一个电流检测时间点作为初始电流安定时间点。
[0030]
作为一种优选的实施方式，确定所述半导体开关件最小接通时间的步骤包括：所述半导体开关件最小接通时间为所述实际电流波动时间加上第三预定时间；所述第三预定时间取自范围2微秒-10微秒。
[0031]
作为一种优选的实施方式，所述设置电流检测时间点的步骤包括：将电流检测时间点设置在半导体开关件接通时间的1/2时间点之后延迟预定时间；所述预定时间按照如下公式计算：预定时间等于二分之一的半导体开关件最小接通时间减去预定调整值。
[0032]
作为一种优选的实施方式，所述预定调整值在所述第三预定时间以下。
[0033]
作为一种优选的实施方式，在得到初始电流安定时间点所需的电流检测次数大于或等于预定检测次数时，将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述实际电流波动时间。
[0034]
作为一种优选的实施方式，该检测方法还包括：在得到初始电流安定时间点所需的电流检测次数小于预定检测次数时，将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述初始电流波动时间；相应的，将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述初始电流波动时间之后。
[0035]
作为一种优选的实施方式，所述检测方法包括以下步骤：
[0036]
发送测试脉冲；将所述测试脉冲中的半导体开关件接通时间设置为大于所述初始电流波动时间；在所述测试脉冲中，每个周期中的半导体开关件接通时间相等；
[0037]
发送工作脉冲；将所述工作脉冲中的半导体开关件最小接通时间设置为大于所述实际电流波动时间。
[0038]
作为一种优选的实施方式，该检测方法包括以下步骤：
[0039]
根据配线长度确定在半导体开关件接通时的电流波动时间；
[0040]
将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述电流波动时间；
[0041]
将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述电流波动时间之后。
[0042]
作为一种优选的实施方式，所述半导体开关件包括n侧igbt和/或p侧igbt；所述电流检测执行为对u相电流进行ad转换采样。
[0043]
一种变频器，包括处理器以及用于存储处理器可执行指令的存储器；所述指令被所述处理器执行时实现如上任意一项实施方式所述变频器输出电流的检测方法的步骤。
[0044]
有益效果：
[0045]
本发明一个实施例所提供的变频器输出电流的检测方法通过扩大半导体开关件最小接通时间并延迟电流检测时间点，能够减小接通时产生的电流波动对于电流检测的影响，因此，本实施例所提供的变频器输出电流的检测方法能够在长距离配线的情况下降低检测电流与实际电流的误差，提升检测电流的准确度。
[0046]
参照后文的说明和附图，详细公开了本发明的特定实施方式，指明了本发明的原理可以被采用的方式。应该理解，本发明的实施方式在范围上并不因而受到限制。
[0047]
针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。
[0048]
应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。
附图说明
[0049]
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0050]
图1是不同情况下分压方式检测电流示意图；
[0051]
图2是长距离配线情况下电流检测示意图；
[0052]
图3是本发明一个实施例所提供的变频器输出电流的检测方法步骤流程图；
[0053]
图4是图3的启动时序示意图；
[0054]
图5是图4的最小接通时间调整示意图。
具体实施方式
[0055]
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通
技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
[0056]
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0057]
请参阅图3。本发明一个实施例提供一种变频器输出电流的检测方法，包括以下步骤：
[0058]
s100、获取在半导体开关件接通时的电流波动时间；
[0059]
s200、将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述电流波动时间；
[0060]
s300、将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述电流波动时间之后。
[0061]
其中，半导体开关件通过通断控制实现供电的频率和幅值改变。半导体开关件接通时间可以包括电流波动时间和电流安定时间。电流安定时间位于电流波动时间之后。其中，半导体开关件可以包括晶体管。在本实施例中，所述半导体开关件包括n侧igbt和/或p侧igbt。结合图2所示，该变频器包括p侧igbt(pu、pv、pw)、n侧igbt(nu、nv、nw)。p侧igbt和n侧igbt相配合实现供电的变频控制。每个n侧igbt串联一分压电阻，通过该分压电阻进行分压电流检测，其电流分别为iu、iv、iw。所述电流检测执行为对u相电流进行ad转换采样。也即，电流检测时间点在本实施例中为ad转换电流检测时间点。
[0062]
本实施例所提供的变频器输出电流的检测方法通过扩大半导体开关件最小接通时间并延迟电流检测时间点，能够减小接通时产生的电流波动对于电流检测的影响，因此，本实施例所提供的变频器输出电流的检测方法能够在长距离配线的情况下降低检测电流与实际电流的误差，提升检测电流的准确度。
[0063]
在本实施例中，所述电流波动时间为实际电流波动时间。具体的，步骤s100可以按照包括步骤：s101、根据配线长度确定半导体开关件初始接通时间；s120、确定在所述半导体开关件初始接通时间中的实际电流波动时间。
[0064]
相应的，所述检测方法包括以下步骤：
[0065]
s110、根据配线长度确定半导体开关件初始接通时间；
[0066]
s120、确定在所述半导体开关件初始接通时间中的实际电流波动时间；
[0067]
s201、将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述实际电流波动时间；
[0068]
s301、将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述实际电流波动时间之后。
[0069]
进一步地，确定半导体开关件初始接通时间的步骤(s101)包括：s111、根据配线长度确定初始电流波动时间；s112、将半导体开关件初始接通时间设置为大于所述初始电流波动时间。
[0070]
在本实施例中，由于将半导体开关件最小接通时间进行了限制，进而会导致无法输出期望形式的短脉冲，使得输出电流的波形变歪。为降低波形变歪幅度，尽可能靠近期望输出电流的波形，半导体开关件初始接通时间可以稍大于初始电流波动时间。
[0071]
具体的，所述半导体开关件初始接通时间为所述初始电流波动时间加上第一预定
时间。所述第一预定时间取自范围2微秒-10微秒。其中，所述初始电流波动时间包括：利用配线长度与电流波动时间的对应关系公式计算得到的理论电流波动时间，或者，根据配线长度确定的电流波动时间经验值，或者，根据预存的不同配线长度所对应的电流波动时间确定的预存电流波动时间。通常初始电流波动时间相较于实际电流波动时间较大，从而初始电流波动时间的最后时间点通常位于半导体开关件(初始)接通时间的电流安定时间内。
[0072]
当然，半导体开关件初始接通时间也可以通过配线长度直接确定，例如：根据预存的不同配线长度所对应的半导体开关件接通时间确定半导体开关件初始接通时间。其中，在变频器的存储器中可以存储有配线长度与半导体开关件接通时间的对应数据信息，具体可以为表格形式存储，当然也可以采用数据库形式将相应数据存储。示意性质地举例为，如下表格所示：
[0073]
配线长度/m半导体开关件接通时间/μsaa’bb’cc’[0074]
在确定配线长度为am的情况下，处理器按照存储器预存的上述表格对应信息可以直接确定半导体开关件接通时间为a’μs，进而将a’μs确定为半导体开关件初始接通时间。
[0075]
对于不同的配线长度，考虑到设置方法以及配线的电感不同。每次电流检测和igbt的接通时间都需要进行调整，这比较麻烦，因此，本实施例的变频器可以在开机通电后先发送测试脉冲。在所述测试脉冲中，每个周期中的半导体开关件接通时间相等。利用测试脉冲获取实际电流波动时间。具体的，将所述测试脉冲中的半导体开关件接通时间设置为大于所述初始电流波动时间。在发送测试脉冲的过程中执行步骤s111、s112、s120。通过测试脉冲可以确定在所述半导体开关件初始接通时间中的实际电流波动时间。
[0076]
然后，变频器再发送工作脉冲。将所述工作脉冲中的半导体开关件最小接通时间设置为大于所述实际电流波动时间。并在工作脉冲中将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述实际电流波动时间之后。利用工作脉冲将电机驱动，此时利用分压检测方式所检测的电流由于避开了电流波动时间，从而与真实电流值之间的差距缩小，使得电流检测更加准确。
[0077]
本实施例的变频器输出电流的检测方法通过测试脉冲获得实际电流波动时间，基于此设置工作脉冲，使得工作脉冲中的半导体开关件最小接通时间均大于实际电流波动时间，而且，将电流检测时间点避开实际电流波动时间，在电流安定时间中进行电流检测(电流检测采样)，如此获得接近真实电流值的检测电流。
[0078]
在本实施例中，确定实际电流波动时间按照以下步骤进行确定：s121、在所述半导体开关件初始接通时间中在所述初始电流波动时间之后确定初始电流检测时间点；s122、从初始电流检测时间点按照预定间隔时间向前逐个采样直至得到初始电流安定时间点，将初始电流安定时间点之前的时间作为实际电流波动时间。可以理解地，还可以将初始电流安定时间点之后的时间作为实际电流安定时间，作为步骤s122的替换或者包含于步骤s122中。其中，为降低实际输出电流的波形变歪幅度，所述预定间隔时间为1微秒-3微秒。
[0079]
进一步的，所述初始电流检测时间点位于区间[初始电流波动时间的最后时间点，半导体开关件初始接通时间的最后时间点)。也即，初始电流检测时间点可以为初始电流波
动时间之后的任意时间点(不包括半导体开关件初始接通时间的最后时间点)。或者，所述初始电流检测时间点为初始电流波动时间加上第二预定时间在所述半导体开关件初始接通时间中的最后时间点，其中，0≤所述第二预定时间＜第一预定时间。
[0080]
在本实施例中，为取得实际电流波动时间(也可以视为确定实际电流安定时间)，以初始电流检测时间点采样得到的u相电流值为iu(0)，后续第n个电流检测时间点采样得到的u相电流值为iu(n)。将满足iu(n)与iu(0)的差值的绝对值小于预定值的最后一个电流检测时间点作为初始电流安定时间点。相应的，也可以将iu(n)与iu(0)的差值的绝对值大于预定值时的第一个电流检测时间点作为最后电流波动时间点。
[0081]
在本实施例中，为确保采样得到的结果可靠，确保后续对半导体最小接通时间(on幅值)的调整更加可靠，在得到初始电流安定时间点所需的电流检测次数大于或等于预定检测次数时，将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述实际电流波动时间。通常而言，位于电流安定时间的电流检测次数(也可以理解为采样次数)在5次以上，则可以确保该时间段为电流安定时间，在该时间段内进行电流检测(ad转换采样)则更加接近真实电流值。
[0082]
相应的，在该检测方法中，在得到初始电流安定时间点所需的电流检测次数小于预定检测次数时，将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述初始电流波动时间。相应的，将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述初始电流波动时间之后。另外，该种情况下变频器也可以输出长距离配线异常提示信号。
[0083]
进一步的，按照如下方式设置电流检测时间点：将电流检测时间点设置在半导体开关件接通时间的1/2时间点之后延迟第四预定时间(第四预定时间可以理解为延迟检测时间)。所述第四预定时间按照如下公式计算：第四预定时间等于二分之一的半导体开关件接通时间减去预定调整值。所述预定调整值小于所述第三预定时间。
[0084]
在本实施例中，在确定实际电流波动时间后，确定所述半导体开关件最小接通时间的步骤包括：将所述实际电流波动时间加上第三预定时间作为所述半导体开关件最小接通时间。也即，所述半导体开关件最小接通时间为所述实际电流波动时间加上第三预定时间。所述第三预定时间取自范围2微秒-10微秒。
[0085]
第一预定时间、第二预定时间、第三预定时间可以相同，也可以不同，本技术并不作特别的限定。在实际应用过程中，可以按照自身需求确定第一预定时间、第二预定时间、第三预定时间的大小。例如，第一预定时间可以取2微秒、第二预定时间可以取1微秒、第三预定时间可以取4微秒。
[0086]
下面结合附图4、附图5详细描述本实施例的变频器输出电流的检测方法，以便更好地理解本发明。
[0087]
在电源接入后变频器第一次运行时进行实施调整。变频器首先进入初期充电序列，并检测到负荷短路，在检测到负荷短路时插入载波频率波谷(对应
①
、
③
时间点)，以及对应
②
、
④
、
⑥
、
⑧
时间点插入pwm运算周期，具体的，设定载波周期为5khz左右(间隔次数＝1)。其中，插入载波频率波谷，以及插入pwm运算周期与现有的处理方式相同，此处不再赘述。并在诸如
⑤
、
⑦
时间点取得记作为iu[0]
···
iu[37]的u相电流ad值。
[0088]
以配线长度为500米为例，在配线长度为500m时，经过实测相电流的波动持续时间为约35μs，那么以40μs位置处作为电流检测时间点时的相电流应该处于安定状态。基于此，(p、n侧)igbt的接通时间设为45μs。第一次检测相电流(u相)的时间点(初始电流检测时间
点)为40μs。此时，初始电流检测取得的u相电流值保存为iu[0]。相应的，初始电流检测时间点的延迟时间为17.5μs(也即：延迟时间等于初始电流检测时间点减去二分之一的igbt接通时间，40-45/2＝17.5μs)。
[0089]
在下一周期(第二pwm周期)中，将p、n侧igbt的接通时间保持为45μs，相邻两个电流检测时间点的预定间隔时间设置为1μs。如此，进行第二次检测相电流(u相)时，第二电流检测时间点设置在39μs，此时，第二电流检测取得的u相电流值保存为iu[1]。相应的，第二电流检测时间点的延迟时间为39-45/2＝16.5μs。然后根据iu[1]和iu[0]的差值的绝对值判断第二电流检测时间点是否为初始电流安定时间点。具体的，在|iu[1]-iu[0]|≤p3-01(p3-01作为判断的预定值，也即波动幅度阈值)的时候，确定第二电流检测时间点处于电流安定时间，并且计数(cnt1＝1)。
[0090]
接下来，在下一周期中，将p、n侧igbt的接通时间保持为45μs，进行第三次检测相电流(u相)时，第三电流检测时间点设置在35μs，此时，第三电流检测取得的u相电流值保存为iu[2]。相应的，在该次电流检测中，|iu[2]-iu[0]|≤p3-01，此时，确定第三电流检测时间点处于电流安定时间，并且计数(cnt1＝2)
[0091]
如此，直至到第十三次检测相电流(u相)时，将第十三电流检测时间点设置在28μs，此时，第十三电流检测取得的u相电流值保存为iu[12]。其中，第十三电流检测时间点的延迟时间为28-45/2＝5.5μs。相应的，在该次电流检测中，|iu[12]-iu[0]|≤p3-01，此时，确定第十三电流检测时间点处于电流安定时间，并且计数(cnt1＝12)
[0092]
在下一周期，p、n侧igbt的接通时间继续保持为45μs。在进行第14次检测相电流(u相)时，将第十四电流检测时间点设置在27μs，此时，第十四电流检测取得的u相电流值保存为iu[13]。其中，第十四电流检测时间点的延迟时间为27-45/2＝4.5μs。相应的，在该次电流检测中，发现|iu[13]-iu[0]|＞p3-01，此时，确定第十四电流检测时间点处于电流波动时间，停止计数，也即不计数(cnt1＝13)。自动调整功能结束，测试脉冲发送完毕。
[0093]
可以看出，第十三电流检测时间点(28μs)为初始电流安定时间点，相应的，第十四电流检测时间点为最后电流波动时间点。本实施例中将第十三电流检测时间点之前的时间视为实际电流波动时间，并且，在第十三电流检测时间点处所取得的检测电流值具有较小的误差，接近真实电流值。
[0094]
在确定实际电流波动时间后，对于工作脉冲进行调整p、n侧igbt最小接通时间。首先，判断电流安定时间是否达到一定时长，在确定电流安定时间满足一定时长的情况下可以确定接通时间内确实存在一定时长的电流安定时间，表明所获取的电流检测结果比较可靠真实。具体的，可以依靠电流检测次数是否大于预定次数判断电流安定时间是否达到一定时长，进而确定检测结果是否可用。
[0095]
进而，在cnt1≥p3-02(预定检测次数，也即，预定电流检测次数)时，表明电流安定时间满足一定时长，检测数据可靠，进而将p、n侧igbt最小接通时间设置为40μs-cnt1(12) p3-03(p3-03为第三预定时间，也可以理解为输出电流调整幅度)，将电流检测时间点设置在28μs以后任意时间点即可。
[0096]
在本实施例中，t0＝1/2*l1 (1/2*l2
-△
t0)，l2＝t1
△
t1，
△
t0≤
△
t1，
△
t1＞0。其中，t0为电流检测时间点，l1为igbt接通时间，l2为igbt最小接通时间，
△
t0为预定调整值，t1为初始电流安定时间点，
△
t1为第三预定时间。
[0097]
而在cnt1《p3-02(预定检测次数)时，表明电流安定时间过短，因而可以视为检测出ld(long distance alarm：长距离配线异常)。此种情况下将p、n侧igbt最小接通时间设置为初始的45μs，电流检测的延迟时间直接设为初始的17.5μs。
[0098]
在另一个实施例中，该实施例的检测方法可以优选地适用在检测到长距离配线异常的情况下使用，当然，为缩短自动调整时间，也可以直接采用本实施例的变频器输出电流的检测方法，进而无需发送检测脉冲。在本实施例中，电流波动时间可以为理论电流波动时间或者经验电流波动时间。该电流波动时间具体通过配线长度确定。具体的，变频器输出电流的检测方法，包括以下步骤：
[0099]
s100’、根据配线长度确定在半导体开关件接通时的电流波动时间；
[0100]
s200’、将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述电流波动时间；
[0101]
s300’、将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述电流波动时间之后。
[0102]
本发明一个实施例还提供一种变频器，包括处理器以及用于存储处理器可执行指令的存储器；所述指令被所述处理器执行时实现如上任意一项实施例所述变频器输出电流的检测方法的步骤。
[0103]
本文引用的任何数值都包括从下限值到上限值之间以一个单位递增的下值和上值的所有值，在任何下值和任何更高值之间存在至少两个单位的间隔即可。举例来说，如果阐述了一个部件的数量或过程变量(例如温度、压力、时间等)的值是从1到90，优选从20到80，更优选从30到70，则目的是为了说明该说明书中也明确地列举了诸如15到85、22到68、43到51、30到32等值。对于小于1的值，适当地认为一个单位是0.0001、0.001、0.01、0.1。这些仅仅是想要明确表达的示例，可以认为在最低值和最高值之间列举的数值的所有可能组合都是以类似方式在该说明书明确地阐述了的。
[0104]
除非另有说明，所有范围都包括端点以及端点之间的所有数字。与范围一起使用的“大约”或“近似”适合于该范围的两个端点。因而，“大约20到30”旨在覆盖“大约20到大约30”，至少包括指明的端点。
[0105]
应该理解，以上描述是为了进行图示说明而不是为了进行限制。通过阅读上述描述，在所提供的示例之外的许多实施方式和许多应用对本领域技术人员来说都将是显而易见的。因此，本教导的范围不应该参照上述描述来确定，而是应该参照所附权利要求以及这些权利要求所拥有的等价物的全部范围来确定。出于全面之目的，所有文章和参考包括专利申请和公告的公开都通过参考结合在本文中。在前述权利要求中省略这里公开的主题的任何方面并不是为了放弃该主体内容，也不应该认为发明人没有将该主题考虑为所公开的发明主题的一部分。