基于失效窗口触发深度复测的存储器测试方法和系统与流程

本技术涉及数据存储领域，特别涉及一种基于失效窗口触发深度复测的存储器测试方法和系统。

背景技术：

1、存储器在嵌入式系统、工业控制、消费电子、存储模组和板级可靠性验证中被广泛使用。随着存储器的接口频率提高、总线线宽从单线扩展到双线、四线甚至八线，存储器接口链路的边界问题逐渐从简单功能错误，演变为与频率、电压、总线模式、地址阶段、数据阶段等多个问题组合的复合错误。

2、目前，相关技术的存储器测试方案中，普遍采用单一路径读写测试工具、完整阵列读写测试工具实现存储器接口链路的测试。但是，单一路径读写测试工具仅能完成基础数据比对，无法实现多路径差分甄别与总线模式正交校验，完整阵列读写测试工具需要对所有测试节点执行全量深度测试，无差异化筛选机制，存在大量无效冗余测试。

3、因此，现有的存储器测试方案，存在边界诊断能力弱和测试开销大的问题。

技术实现思路

1、本技术的主要目的是提出一种基于失效窗口触发深度复测的存储器测试方法和系统，旨在提高边界诊断能力和降低测试开销。

2、为实现上述目的，本技术提出一种基于失效窗口触发深度复测的存储器测试方法，包括：

3、遍历目标频率的测试节点集，根据当前测试节点对存储器的各路径进行粗扫描测试得到粗测数据；

4、解析所述粗测数据，判断所述当前测试节点是否为失效窗口；

5、若所述当前测试节点为正常窗口，则遍历下一测试节点；

6、若所述当前测试节点为失效窗口，则锁定当前测试节点对应的测试参数，启动正交组合的多总线读写模式对各所述路径进行全模式深度指纹复测得到复测结果。

7、在一些实施例中，所述遍历目标频率的测试节点集，根据当前测试节点对存储器的各路径进行粗扫描测试得到粗测数据之前还包括：

8、接收用户输入的配置参数，所述配置参数包括频率列表、各频率对应的电压范围、写入模式集合、读取模式集合、路径集合、数据图样集合、单节点测试轮次和边界补测策略参数；

9、读取所述存储器确定页容量，将所述页容量作为测试长度；

10、根据所述配置参数和所述测试长度生成多个频率的测试节点集，所述频率的测试节点集包括多个测试节点，所述测试节点包括频率、电压、数据图样、测试长度和测试轮次；

11、遍历全部所述频率的测试节点集，将当前遍历的频率的测试节点集作为所述目标频率的测试节点集。

12、在一些实施例中，所述路径包括控制配置路径、缓存装载路径、缓存读取路径、阵列提交路径或阵列读出路径；所述遍历目标频率的测试节点集，根据当前测试节点对存储器的各路径进行粗扫描测试得到粗测数据包括：

13、遍历所述目标频率的测试节点集中各测试节点，将当前遍历的测试节点作为所述当前测试节点；

14、根据所述当前测试节点对所述控制配置路径进行粗扫描测试，并对所述缓存装载路径、所述缓存读取路径、所述阵列提交路径和所述阵列读出路径中的一条或多条路径进行粗扫描测试；

15、采集所述控制配置路径的粗测数据，以及所述缓存装载路径、所述缓存读取路径、所述阵列提交路径、所述阵列读出路径中已进行粗扫描测试的路径对应的粗测数据。

16、在一些实施例中，所述解析所述粗测数据，判断所述当前测试节点是否为失效窗口包括：

17、解析所述控制配置路径的粗测数据，判断是否出现控制异常；

18、解析所述缓存装载路径、所述缓存读取路径、所述阵列提交路径、所述阵列读出路径中已进行粗扫描测试的路径对应的粗测数据，判断是否出现数据失败、样本不稳定、边界跳变中的一个或多个；

19、若出现控制异常、数据失败、样本不稳定、边界跳变中任意一个，则确定所述当前测试节点为失效窗口；

20、若未出现控制异常、数据失败、样本不稳定、边界跳变中任意一个，则确定所述当前测试节点为正常窗口。

21、在一些实施例中，所述锁定当前测试节点对应的测试参数，启动正交组合的多总线读写模式对各所述路径进行全模式深度指纹复测得到复测结果包括：

22、锁定所述当前测试节点对应的频率、电压、数据图样、测试长度和测试轮次；

23、配置单线写入和四线写入的写入模式，配置单地址单线普通读取、单地址单线快速读取、单地址双线读取、双地址双线读取、单地址四线读取和四地址四线读取的读取模式；

24、对任意一个写入模式和任意一个读取模式进行正组配对合交得到多个读写测试组合；

25、基于各所述读写测试组合，分别对控制配置路径、缓存装载路径、缓存读取路径、阵列提交路径和阵列读出路径进行深度指纹复测得到复测结果。

26、在一些实施例中，所述基于各所述读写测试组合，分别对控制配置路径、缓存装载路径、缓存读取路径、阵列提交路径和阵列读出路径进行深度指纹复测得到复测结果包括：

27、基于各所述读写测试组合，分别对控制配置路径、缓存装载路径、缓存读取路径、阵列提交路径和阵列读出路径进行深度指纹复测；

28、采集每个读写测试组合中各路径对应的复测数据；

29、对各所述读写测试组合中各路径对应的复测数据进行差分比对得到所述复测结果。

30、在一些实施例中，所述基于各所述读写测试组合，分别对控制配置路径、缓存装载路径、缓存读取路径、阵列提交路径和阵列读出路径进行深度指纹复测得到复测结果之后还包括：

31、根据所述复测结果确定所述失效窗口对应的目标边界场景；

32、调用与所述目标边界场景对应的边界补测策略对所述目标边界场景进行自适应边界补测得到边界补测结果。

33、在一些实施例中，所述基于失效窗口触发深度复测的存储器测试方法还包括：

34、在所述目标频率的测试节点集的全部所述测试节点遍历完成、所述当前测试节点为失效窗口或接收到测试停止指令时，进入安全回退状态，将所述存储器的供电电压调整至预设安全电压区间；

35、持续采集所述存储器的实时供电电压，并检测所述实时供电电压是否在预设时间内落入所述预设安全电压区间；

36、若否，则标记安全互锁异常，并终止测试；

37、若是，则释放安全就绪标志，并遍历下一频率的测试节点集。

38、在一些实施例中，所述基于失效窗口触发深度复测的存储器测试方法还包括：

39、采集全部所述频率的测试节点集的所述测试参数、所述复测结果和所述边界补测结果；

40、根据全部所述频率的测试节点集的所述测试参数、所述复测结果和所述边界补测结果生成测试结果图谱。

41、本技术进一步提出一种基于失效窗口触发深度复测的存储器测试系统，所述基于失效窗口触发深度复测的存储器测试系统包括测试设备和存储器；所述测试设备能够执行上述所述的基于失效窗口触发深度复测的存储器测试方法。

42、本技术技术方案通过遍历目标频率的测试节点集，根据当前测试节点对存储器的各路径进行粗扫描测试得到粗测数据；解析粗测数据，判断当前测试节点是否为失效窗口；若当前测试节点为正常窗口，则遍历下一测试节点；若当前测试节点为失效窗口，则锁定当前测试节点对应的测试参数，启动正交组合的多总线读写模式对各路径进行全模式深度指纹复测得到复测结果；通过失效窗口触发深度指纹复测的差异化测试机制，大幅减少测试开销；同时依托对各路径进行全模式深度指纹复测，精准区分控制链路的不同失效阶段，提高边界诊断能力。