一种解决TEG测试光照、高低温的装置的制作方法

一种解决teg测试光照、高低温的装置
技术领域
1.本实用新型涉及tft测试技术领域，具体而言，涉及一种解决teg测试光照、高低温的装置。


背景技术：

2.tft是薄膜晶体管的缩写，tft式显示屏上的每个液晶像素点都是由集成在像素点后面的薄膜晶体管来驱动，因此tft式显示屏也是一类有源矩阵液晶显示设备，是最好的lcd彩色显示器之一，tft式显示器具有高亮度等优点，如我国专利cn201821435917.4提供的一种高亮度tft显示器；
3.由于在生产中测试经常会模拟tft器件的工作状态时的电学特性，就要求teg测试设备测试满足以下测试功能：暗态teg、光照teg以及高低温teg，而现有技术中测试时不能同时满足光照和进行高温或低温的需求。因此我们对此做出改进，提出一种解决teg测试光照、高低温的装置。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于：针对目前存在的测试时不能同时满足光照和进行高温或低温需求的问题。
5.为了实现上述发明目的，本实用新型提供了以下技术方案：
6.解决teg测试光照、高低温的装置，以改善上述问题。
7.本技术具体是这样的：
8.包括辅助机构，所述辅助机构包括工作台，所述工作台的顶部开设有第一凹槽，所述第一凹槽内腔的底部开设有第二凹槽，所述第二凹槽的四壁上均设置有可控亮度光源，所述第二凹槽内腔的底部依次设置有可控温高温发生设备、隔温板以及可控温低温发生设备，所述第一凹槽内设置有样品台，所述工作台上方设置有显微镜设备。
9.作为本技术优选的技术方案，所述工作台上设置有对显微镜设备进行支撑的支撑机构，所述支撑机构包括开设在工作台顶部一侧的滑槽。
10.作为本技术优选的技术方案，所述滑槽内通过轴承转动连接有第一丝杆，所述第一丝杆的一端穿过滑槽并延伸至工作台一侧的外部且固定连接有手柄。
11.作为本技术优选的技术方案，所述第一丝杆的外表面螺纹连接有滑块，所述滑块的顶部通过轴承转动连接有第二丝杆，所述第二丝杆的顶端也固定连接有手柄。
12.作为本技术优选的技术方案，所述第二丝杆的外表面螺纹连接有支撑板，所述支撑板的外表面套设有支撑框，所述支撑框上设置有固定螺栓，所述固定螺栓的底端延伸至支撑框内且与支撑板顶部接触。
13.作为本技术优选的技术方案，所述滑块的顶部固定安装有限位板，所述限位板的顶端穿过支撑板并延伸至支撑板上方。
14.作为本技术优选的技术方案，所述支撑框一侧固定连接有连接杆，所述连接杆远
离支撑框的一端与显微镜设备连接。
15.作为本技术优选的技术方案，所述工作台的顶部设置有位于样品台和滑槽之间的防护机构，所述防护机构包括两个支撑座，两个所述支撑座的底部均与工作台的顶部固定连接。
16.作为本技术优选的技术方案，两个所述支撑座上均通过轴承转动连接有连接转轴，两个所述连接转轴之间固定连接有防护块，所述防护块一侧开设有防护槽。
17.作为本技术优选的技术方案，所述防护块开设有防护槽的一面上设置有两个支撑管，两个所述支撑管内均穿插连接有橡胶块，两个所述橡胶块的一侧均固定安装有支撑杆，所述支撑杆远离橡胶块的一端穿过支撑管并延伸至支撑管一侧的外部且固定连接有支撑块。
18.与现有技术相比，本实用新型的有益效果：
19.在本技术的方案中：
20.1.本技术通过在第二凹槽的四壁上设置可控亮度光源以及在第二凹槽内腔的底部设置可控温高温发生设备和可控温低温发生设备，通过对可控亮度光源亮度的控制以及对可控温高温发生设备和可控温低温发生设备温度的控制能够实现tft特性测试时需要的光照和高低温条件，解决了现有技术中存在的测试时不能同时满足光照和进行高温或低温需求的问题；
21.2.通过设置的支撑机构，支撑机构能够对显微镜设备进行支撑，并且能够调整显微镜设备的高度以及水平位置，利用工作人员使用；
22.3.通过设置的防护机构，防护机构中的支撑管和支撑块能够用于放置被检测的tft，使得tft与样品台之间留有间隙，方便将tft取下，且拉动支撑块能够调整支撑块与支撑管之间的距离，提高适用范围，提高了该装置的实用性；
23.4.通过设置的防护机构，防护机构中的防护块能够转动，通过转动防护块能够将使得防护槽朝上，而显微镜设备可以插入防护槽中，这样在不使用时能够对显微镜设备进行防护，进一步提高该装置的实用性。
附图说明
24.图1为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的结构示意图；
25.图2为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的显微镜设备的结构示意图；
26.图3为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的图2中a处放大结构示意图；
27.图4为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的支撑机构和防护机构的结构示意图；
28.图5为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的滑块的结构示意图；
29.图6为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的防护机构的结构示意图；
30.图7为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的连接转轴的结构示意图；
31.图8为本技术提供的解决teg测试光照、高低温的装置的支撑管的剖视结构示意图。
32.图中标示：
33.1、辅助机构；101、工作台；102、第一凹槽；103、可控亮度光源；104、隔温板；105、可控温高温发生设备；106、可控温低温发生设备；107、样品台；108、第二凹槽；109、显微镜设备；
34.2、轮子；
35.3、支撑机构；301、滑槽；302、第一丝杆；303、滑块；304、第二丝杆；305、支撑板；306、限位板；307、支撑框；308、连接杆；
36.4、防护机构；401、支撑座；402、连接转轴；403、防护块；404、防护槽；405、支撑管；406、橡胶块；407、支撑杆；408、支撑块。
具体实施方式
37.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。
38.因此，以下对本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的部分实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
39.需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。
40.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
41.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，这类术语仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
42.实施例1：
43.如图1、图2和图3所示，本实施方式提出一种解决teg测试光照、高低温的装置，包括辅助机构1，辅助机构1包括工作台101，工作台101的顶部开设有第一凹槽102，第一凹槽102内腔的底部开设有第二凹槽108，第二凹槽108的四壁上均设置有可控亮度光源103，第二凹槽108内腔的底部依次设置有可控温高温发生设备105、隔温板104以及可控温低温发生设备106，通过在第二凹槽108的四壁上设置可控亮度光源103以及在第二凹槽108内腔的底部设置可控温高温发生设备105和可控温低温发生设备106，通过对可控亮度光源103亮度的控制以及对可控温高温发生设备105和可控温低温发生设备106温度的控制能够实现tft特性测试时需要的光照和高低温条件，解决了现有技术中存在的测试时不能同时满足光照和进行高温或低温需求的问题，第一凹槽102内设置有样品台107，工作台101上方设置有显微镜设备109。
44.实施例2：
45.下面结合具体的工作方式对实施例1中的方案进行进一步的介绍，详见下文描述：
46.如图4和图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，工作台101上设置有对显微镜设备109进行支撑的支撑机构3，支撑机构3包括开设在工作台101顶部一侧的滑槽301，工作台101的底部安装有轮子2，轮子2的设置便于对工作台101进行移动，轮子2为脚刹万向轮。
47.如图4和图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，滑槽301内通过轴承转动连接有第一丝杆302，第一丝杆302的一端穿过滑槽301并延伸至工作台101一侧的外部且固定连接有手柄，手柄的设置便于工作人员对第一丝杆302进行转动。
48.如图4和图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第一丝杆302的外表面螺纹连接有滑块303，滑块303与滑槽301的内壁滑动连接，滑块303的顶部通过轴承转动连接有第二丝杆304，第二丝杆304的顶端也固定连接有手柄，手柄的设置便于工作人员对第二丝杆304进行转动，利于使用。
49.如图4和图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第二丝杆304的外表面螺纹连接有支撑板305，转动第二丝杆304能够带动支撑板305上升或下降，支撑板305的外表面套设有支撑框307，支撑框307上设置有固定螺栓，固定螺栓的底端延伸至支撑框307内且与支撑板305顶部接触，拧松固定螺栓后推动支撑框307能够调节支撑框307的位置，拧紧固定螺栓后能够对支撑框307的位置进行固定。
50.如图4和图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，滑块303的顶部固定安装有限位板306，通过设置的限位板306能够对支撑板305进行限位，避免支撑板305跟随第二丝杆304转动，限位板306的顶端穿过支撑板305并延伸至支撑板305上方。
51.如图4和图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，支撑框307一侧固定连接有连接杆308，连接杆308的设置用于连接支撑框307和显微镜设备109，连接杆308远离支撑框307的一端与显微镜设备109连接。
52.实施例3：
53.下面结合具体的工作方式对实施例1和实施例2中的方案进行进一步的介绍，详见下文描述：
54.如图4、图5和图6所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，工作台101的顶部设置有位于样品台107和滑槽301之间的防护机构4，防护机构4包括两个支撑座401，两个支撑座401的底部均与工作台101的顶部固定连接，两个支撑座401能够对连接转轴402进行支撑。
55.如图4、图5、图6和图7所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，两个支撑座401上均通过轴承转动连接有连接转轴402，两个连接转轴402之间固定连接有防护块403，轴承的设置使得连接转轴402能够转动，也使得防护块403能够转动，防护块403的一端为弧形，弧形的设置利于防护块403的转动，防护块403一侧开设有防护槽404。
56.如图4、图5、图6、图7和图8所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，防护块403开设有防护槽404的一面上设置有两个支撑管405，两个支撑管405内均穿插连接有橡胶块406，橡胶块406与支撑管405内壁之间的摩擦力能够对支撑块408的位置进行限制，减少使用时支撑块408发生移动的情况，两个橡胶块406的一侧均固定安装有支撑
杆407，支撑杆407远离橡胶块406的一端穿过支撑管405并延伸至支撑管405一侧的外部且固定连接有支撑块408。
57.具体的，本解决teg测试光照、高低温的装置在工作时/使用时：拉动支撑块408并根据实际情况调整好支撑块408与支撑管405之间的距离，调整好之后将需要测试的tft放置在两个支撑管405的顶部之间，将测试设备的探针扎上tft对应的通道，然后启动可控亮度光源103并根据测试需求调整好可控亮度光源103的亮度，然后启动可控温高温发生设备105或可控温低温发生设备106，并根据测试需求调整好相应的温度，通过对可控亮度光源103亮度的控制以及对可控温高温发生设备105和可控温低温发生设备106温度的控制能够实现tft特性测试时需要的光照和高低温条件，拧松支撑框307上的固定螺栓并推动支撑框307移动，调整好支撑框307的位置后拧紧固定螺栓，然后转动第二丝杆304，通过第二丝杆304带动支撑板305升降，并根据实际情况调整好显微镜设备109的高度，然后转动第一丝杆302，通过第一丝杆302带动滑块303移动，通过滑块303带动显微镜设备109移动，调整好显微镜设备109的位置，即可通过显微镜设备109观察测试情况；
58.当不使用时，转动防护块403使得防护槽404朝上，然后通过支撑机构3带动显微镜设备109移动，并使显微镜设备109插入防护槽404中，这样在不使用时能够对显微镜设备109进行防护，而再次使用时，通过支撑机构3带动显微镜设备109上升并与防护槽404分离，然后转动防护块403使得防护块403复位即可。
59.以上实施例仅用以说明本实用新型而并非限制本实用新型所描述的技术方案，尽管本说明书参照上述的各个实施例对本实用新型已进行了详细的说明，但本实用新型不局限于上述具体实施方式，因此任何对本实用新型进行修改或等同替换；而一切不脱离发明的精神和范围的技术方案及其改进，其均涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。