一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置的制作方法

1.本实用新型涉及一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置。


背景技术：

2.目前，凸轮轴罩盖平面度检测通常是使用三坐标机进行测量，但三坐标机测量耗时长，检测效率低，而且三坐标机结构复杂，成本较大。凸轮轴使用三坐标测量一般首先要制作专用的测量夹具，以便凸轮轴在三坐标测量时能够稳定放置，其次测量时要进行初步基准建立，再进行取点测量，一般测量点要分布整个区域范围，测量节拍10分钟左右，不适合快速测量以及全数检查。随着凸轮轴模具的不断老化，平面度可能会有恶化趋势，快速检测必不可少。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是提供一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置。
4.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置，包括用于放置工件的定位底板和放置在工件上的手持底板，定位底板上设有定位粗限位柱，手持底板的底表面设有多个用于定位工件的定位销，手持底板的底表面设有多个压在工件基准面上的基准块，手持底板上开有多个槽，手持底板的上表面上设有多个测量块，每个测量块中设有测量槽，每个测量槽对应手持底板上的槽，检测时，千分表的测量棒穿过测量槽和槽检测工件。
5.本实用新型的进一步改进在于：手持底板的两侧设有手柄。
6.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
7.本实用新型可快速测量凸轮轴罩盖整体平面度和局部平面度；检测方便快速，测量稳定性高；相对于三坐标检测，成本低，可移动，制作周期短；测量结果可实现计量数值，可用于过程能力分析。
附图说明
8.图1为本实用新型的结构示意图；
9.图2为手持底板的俯视图；
10.图3为本实用新型的使用状态图；
11.图中标号：1
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定位底板、2
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手持底板、3
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定位粗限位柱、4
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定位销、5
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基准块、6
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测量块、7
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测量槽、8
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千分表、9
‑
测量棒、10
‑
手柄、11
‑
凸轮轴罩盖。
具体实施方式
12.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所
获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
13.需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。
14.本实施例提供一种技术方案：一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置，包括用于放置工件的定位底板1和放置在工件上的手持底板2，手持底板2的两侧设有手柄10，定位底板1上设有定位粗限位柱3，手持底板2的底表面设有多个用于定位工件的定位销4，手持底板2的底表面设有多个压在工件基准面上的基准块5，手持底板2上开有多个槽，手持底板2的上表面上设有多个测量块6，测量块6上设有凸起的纹路，可以减少用料，同时方便千分表8平移，每个测量块6中设有测量槽7，每个测量槽7对应所述手持底板2上的槽，槽和测量块6的位置和个数根据需要检测的工件的位置而定，需要检测部位的形状决定了测量槽7及槽的形状。检测时，千分表8的测量棒9穿过测量槽7和槽检测工件。
15.将凸轮轴罩盖上的孔对应放置在本实用新型的定位销4上，将凸轮轴罩盖进行固定平稳，然后使用千分表8测量。千分表8首先从任一测量块6头部开始，测量棒9插入测量块6的测量槽7内，千分表8下压与测量块6端面贴平，并将千分表8设置归零。然后在下压状态下，平移千分表8，并观察千分表8的数值变化，数值变化即代表平面度。若需要测量整体平面度，则将千分表8提起后依次放置在下一个测量块6内，平移，观察数据变化，直到所有测量块6检测完成，期间数据变化值最大的即为整体平面度。若需要测量局部平面度，则在每一测量块6放置千分表8时进行归零，读取每一测量块6内的数据变化最大值。
16.本实用新型解决了快速检测凸轮轴罩盖整体平面度和局部平面度，并实现计量数据，用于快速分析平面度的过程能力。
17.需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
18.需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的术语在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式，例如，能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、产品或设备固有的其它步骤或单元。
19.为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在
……
之上”、
ꢀ“
在
……
上方”、“在
……
上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在
……
上方”可以包括“在
……
上方”和“在
……
下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
20.现在，将参照附图更详细地描述根据本申请的示例性实施方式。然而，这些示例性实施方式可以由多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的实施方式。应当理解的是，提供这些实施方式是为了使得本申请的公开彻底且完整，并且将这些示例性实施方式的构思充分传达给本领域普通技术人员，在附图中，为了清楚起见，有可能扩大了层和区域的厚度，并且使用相同的附图标记表示相同的器件，因而将省略对它们的描述。
21.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。


技术特征：
1.一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置，包括用于放置工件的定位底板（1）和放置在工件上的手持底板（2），其特征在于：所述定位底板（1）上设有定位粗限位柱（3），所述手持底板（2）的底表面设有多个用于定位工件的定位销（4），所述手持底板（2）的底表面设有多个压在工件基准面上的基准块（5），所述手持底板（2）上开有多个槽，所述手持底板（2）的上表面上设有多个测量块（6），每个所述测量块（6）中设有测量槽（7），每个测量槽（7）对应所述手持底板（2）上的槽，检测时，千分表（8）的测量棒（9）穿过测量槽（7）和槽检测工件。2.根据权利要求1所述一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置，其特征在于：所述手持底板（2）的两侧设有手柄（10）。3.根据权利要求1所述一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置，其特征在于：所述测量块（6）上设有凸起的纹路。

技术总结
本实用新型公开了一种凸轮轴罩盖平面度的测量装置，包括用于放置工件的定位底板和放置在工件上的手持底板，定位底板上设有定位粗限位柱，手持底板的底表面设有多个用于定位工件的定位销，手持底板的底表面设有多个压在工件基准面上的基准块，手持底板上开有多个槽，手持底板的上表面上设有多个测量块，每个测量块中设有测量槽，每个测量槽对应手持底板上的槽，检测时，千分表的测量棒穿过测量槽和槽检测工件。本实用新型可快速测量凸轮轴罩盖整体平面度和局部平面度；检测方便快速，测量稳定性高；相对于三坐标检测，成本低，可移动，制作周期短；测量结果可实现计量数值，可用于过程能力分析。能力分析。能力分析。


技术研发人员：丁秀芳 张森 朱慧琴
受保护的技术使用者：广东鸿图南通压铸有限公司
技术研发日：2021.06.25
技术公布日：2021/11/15