一种测试设备、方法、装置及介质与流程

技术特征：
1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：处理器、耦合单元以及信号转换单元；所述耦合单元，用于连接被测芯片上的测试点以及反馈点；所述处理器与所述耦合单元连接，用于接收到开始测试指令后，生成待测试功能单元所需的第一电信号；通过所述耦合单元将所述第一电信号传输至所述被测芯片的测试点，以通过所述测试点，对所述被测芯片上包含所述测试点以及所述反馈点之间的逻辑电路的所述待测试功能单元进行测试；所述信号转换单元分别与所述耦合单元、以及所述处理器连接，还用于通过所述耦合单元接收所述被测芯片从所述反馈点输出的第二电信号；对所述第二电信号的电参数进行转换，将转换后的第二电信号传输至所述处理器；所述处理器，还用于接收所述转换后的第二电信号；根据所述转换后的第二电信号所对应的数字信号、以及预先配置的真值表中所述待测试功能单元对应的输出值，确定所述被测芯片的所述待测试功能单元是否测试通过。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述信号转换单元包括至少一个反馈信号转换器；所述反馈信号转换器，用于将所述第二电信号的电参数转换为满足预先配置的所述处理器的电气处理要求的电参数。3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述信号转换单元包括至少一个测试信号转换器；所述处理器，具体用于向所述信号转换单元中对应的测试信号转换器发送所述待测试功能单元所需的第一电信号；所述测试信号转换器，用于若接收到所述第一电信号，将所述第一电信号的电参数进行转换，根据转换后的第一电信号，对所述第一电信号进行更新；将更新后的第一电信号从对应的至少一个传输电路传输至所述耦合单元；通过所述耦合单元将每个所述传输电路传输的所述更新后的第一电信号，分别传输至所述被测芯片对应的测试点。4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述耦合单元包括输出探针和反馈探针；所述输出探针，用于与所述被测芯片上的测试点进行连接；所述反馈探针，用于与所述被测芯片上的反馈点进行连接。5.根据权利要求1或4所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括：气动单元以及压板；所述耦合单元被设置在所述压板上；所述气动单元分别与所述处理器、所述压板连接，用于根据所述处理器的控制，驱动所述压板按照预设的方向运动；所述处理器，还用于若接收到连接指令，控制所述气动单元驱动所述压板按照预设的方向运动，以使所述被测芯片与所述压板上的耦合单元连接。6.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述处理器，还用于按照预先配置的测试顺序，确定待测试功能单元；根据预先配置的功能单元与第一电信号的对应关系，确定并生成所述待测试功能单元所需的第一电信号。7.根据权利要求6所述的测试设备，其特征在于，所述测试顺序为第一电信号为有源信
号的第一功能单元的测试顺序先于，第一电信号为无源有关联信号的第二功能单元的测试顺序先于，第一电信号为无源无关联信号的第三功能单元的测试顺序。8.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于，所述处理器，具体用于若所述待测试功能单元为所述第二功能单元，根据预先配置的功能单元与第一电信号的对应关系，确定并分别生成与所述第二功能单元关联的第一功能单元正常运作时所需的第三电信号，以及所述待测试功能单元所需的第一电信号，以使所述待测试功能单元能在与所述第二功能单元关联的第一功能单元正常运作下进行测试。9.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于，若待测试功能单元为所述第一功能单元时，所述信号转换单元还包括测试电源；所述测试电源，还用于向所述待测试功能单元提供电源，以使所述待测试功能单元与其他第一功能单元共同进行测试。10.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于，所述处理器，具体用于若所述待测试功能单元为所述第三功能单元，根据预先配置的功能单元与第一电信号的对应关系，确定并生成在所述待测试功能单元之前测试的其他功能单元正常运作时所需的第四电信号，以及所述待测试功能单元所需的第一电信号，以使所述待测试功能单元能在所述其他功能单元正常运作下进行测试。11.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述处理器，具体用于接收开始生成所述待测试功能单元所需的第一个第一电信号之后的所述待测试功能单元对应的等待时长内，所述信号转换单元发送的转换后的第二电信号。12.根据权利要求11所述的测试设备，其特征在于，所述待测试功能单元对应的等待时长通过如下方式确定：根据所述待测试功能单元所需的第一电信号的数量，预先配置的生成每个所述第一电信号的生成时长值、以及预先配置的信号反馈时长，确定所述待测试功能单元对应的等待时长。13.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括通信单元；所述通信单元，用于在所述处理器确定所述被测芯片的所述待测试功能单元是否测试通过之后，接收所述处理器确定的测试结果并通过预先保存的通信方式发送。14.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括显示器；所述显示器，用于在所述处理器确定所述被测芯片的所述待测试功能单元是否测试通过之后，接收所述处理器确定的测试结果并显示。15.根据权利要求13或14所述的测试设备，其特征在于，所述测试结果包括测试是否通过的结果、以及所述待测试功能单元的标识信息。16.一种测试系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求1-15任一所述的测试设备以及被测芯片。17.根据权利要求16所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：上位机；所述上位机，用于接收开始测试指令并发送至所述测试设备。18.根据权利要求17所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于在所述测试设备确定所述被测芯片的待测试功能单元是否测试通过之后，接收所述测试设备确定的测试结果并显示。
19.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：接收到开始测试指令后，生成待测试功能单元所需的第一电信号；通过耦合单元将所述第一电信号传输至被测芯片的测试点，以通过所述测试点，对所述被测芯片上包含所述测试点以及所述反馈点之间的逻辑电路的所述待测试功能单元进行测试；接收信号转换单元发送的转换后的第二电信号；根据所述转换后的第二电信号所对应的数字信号、以及预先配置的真值表中所述待测试功能单元对应的输出值，确定所述被测芯片的所述待测试功能单元是否测试通过，其中，所述转换后的第二电信号为所述信号转换单元对通过所述耦合单元接收所述被测芯片从所述反馈点输出的第二电信号的电参数进行转换后确定的。20.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：生成模块，用于接收到开始测试指令后，生成待测试功能模块所需的第一电信号；发送模块，用于通过耦合单元将所述第一电信号传输至被测芯片的测试点，以通过所述测试点，对所述被测芯片上包含所述测试点以及所述反馈点之间的逻辑电路的所述待测试功能单元进行测试；接收模块，用于接收信号转换单元发送的转换后的第二电信号；处理模块，用于接收信号转换单元发送的转换后的第二电信号；根据所述转换后的第二电信号所对应的数字信号、以及预先配置的真值表中所述待测试功能单元对应的输出值，确定所述被测芯片的所述待测试功能单元是否测试通过，其中，所述转换后的第二电信号为所述信号转换单元对通过所述耦合单元接收所述被测芯片从所述反馈点输出的第二电信号的电参数进行转换后确定的。21.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备至少包括处理器和存储器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求19所述测试方法的步骤。22.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求19所述测试方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种测试设备、方法、装置及介质。由于根据被测芯片上需要测试的功能单元，确定了每个功能单元所对应的测试点和反馈点，后续通过测试设备的处理器生成待测试功能单元所需的第一电信号，将该第一电信号通过耦合单元传输至被测芯片的测试点，以对被测芯片上包含测试点以及反馈点之间的逻辑电路的待测试功能单元进行测试，从被测芯片的反馈点输出的第二电信号经过耦合单元传输至信号转换单元，由信号转换单元对该第二电信号的电参数进行转换后，将转换后的第二电信号传输至处理器，处理器根据转换后的第二电信号所对应的数字信号及预先配置的真值表，确定待测试功能单元是否测试通过，实现对被测芯片的功能是否正常的测试。常的测试。常的测试。


技术研发人员：王文 王松柏 高志华
受保护的技术使用者：合肥欣奕华智能机器股份有限公司
技术研发日：2020.12.07
技术公布日：2022/6/7