一种新型探伤检测设备的制作方法

1.本实用新型涉及探伤检测设备技术领域，具体为一种新型探伤检测设备。


背景技术：

2.探测金属材料或部件内部的裂纹或缺陷。常用的探伤方法有：x光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤等方法。物理探伤就是不产生化学变化的情况下进行无损探伤，常用的探伤方法有：x光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、涡流探伤、γ射线探伤、渗透探伤(荧光探伤、着色探伤)等物理探伤方法，采用不同探伤设备实现检测的目的。
3.现有的探伤检测设备存在的缺陷是：大多数采用封闭结构，探测检测装置与待检测件的距离难以保持，需要对工件进行转动移动，设备成本高，探测尺寸有限，成像精度较差，测量速度较慢，维护麻烦等情况发生。
4.因此需要研发一种新型探伤检测设备很有必要。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于提供一种新型探伤检测设备，通过设有探伤机构，其探伤机构采用目前成熟可靠的x光技术，可以确保可靠性，改变了以往的检测机构缺乏定位装置的情况，采用半开放结构加快了检测速度的同时，使装置允许进行更大尺寸的工件的检测，配合装置自带的良好清洁设备，使装置可以保持良好的检测，影像精度和准确度，以解决上述背景技术中提出探伤检测设备，缺乏固定，检测尺寸小，测量速度慢，维护困难的问题。
6.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种新型探伤检测设备，包括电控箱，所述电控箱的顶部安装有支撑架，所述支撑架的顶部安装有固定架，所述固定架的内部底端两侧均安装有滑动导柱，所述滑动导柱的一端贯穿固定架与下压机构连接，所述电控箱的顶部中心位置安装有探伤机构，所述支撑架的内部后端中心位置安装有清洁机构。
7.优选的，所述电控箱的内部顶端安装有缓冲安装架。
8.优选的，所述电控箱的底部两侧边缘处均安装有减震支脚，所述减震支脚的底部安装有垫脚。
9.优选的，所述固定架内部底端的前方中心位置安装有导向筒，所述导向筒的底端中心位置安装有推杆。
10.优选的，所述固定架内部底端的后方中心位置安装有伺服轨道a。
11.优选的，所述下压机构包括固定板和连接板，所述固定板的顶部两侧与滑动导柱的一端固定连接。
12.优选的，所述固定板的底部两侧均设有挂环a，所述连接板的顶部两侧均设有挂环b，所述挂环b与挂环a之间通过定位弹簧连接，所述连接板的底部中心位置安装有压头。
13.优选的，所述探伤机构包括x射线探伤仪，所述x射线探伤仪的顶部安装有检测座。
14.优选的，所述清洁机构包括安装板，所述安装板的前端面中心位置安装有导轨。
15.优选的，所述安装板的前端面下方安装有伺服轨道b，所述导轨的前端面一侧安装有活动清洁装置。
16.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
17.通过将支撑架配合电控箱、固定架，使装置实现半开放结构便于将较大的工件放置进入装置内，且可以为装置内的电子设备提供良好的保护，通过减震支脚配合垫脚，使装置安放底面时可以维持良好稳定性，避免外界震动对装置测量造成不利影响，并提供一定程度的定位，通过缓冲安装架，使探伤用的x射线设备可以与工件保持较为紧密的贴合，同时可以减轻设备的运动机构对其造成不利影响，通过滑动导柱配合固定架，使压头结构可以获得良好的定位导向保持较高的定位压紧精度，通过采用伺服轨道a和伺服轨道b，使装置的各部分运动组件在可以快速运动的前提下，保持了良好的运动精度，通过设置清洁机构，使装置在半开放的结构调节下也可以对工作操作区域保持较高的清洁性，确保设备的检测精度和检测稳定性。
附图说明
18.图1为本实用新型提供的正视剖面图；
19.图2为本实用新型提供的正视图；
20.图3为本实用新型提供的下压机构正视图；
21.图4为本实用新型提供的探伤机构正视图；
22.图5为本实用新型提供的清洁机构结构立体图；
23.图6为本实用新型提供的整体结构立体图。
24.图中：1、电控箱；101、支撑架；102、缓冲安装架；103、减震支脚；104、垫脚；2、固定架；201、导向筒；202、推杆；203、伺服轨道a；204、滑动导柱；3、下压机构；301、固定板；302、挂环a；303、连接板；304、挂环b；305、定位弹簧；306、压头；4、探伤机构；401、x射线探伤仪；402、检测座；5、清洁机构；501、安装板；502、导轨；503、伺服轨道b；504、活动清洁装置。
具体实施方式
25.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
26.本实用新型提供如下技术方案：一种新型探伤检测设备，在使用的过程中可以有效的对探伤检测设备增强精准性和稳定性，增加了下压机构3和探伤机构4，请参阅图1-6，包括电控箱1，电控箱1的顶部安装有支撑架101，支撑架101的顶部安装有固定架2，固定架2的内部底端两侧均安装有滑动导柱204，滑动导柱204的一端贯穿固定架2与下压机构3连接，电控箱1的顶部中心位置安装有探伤机构4，支撑架101的内部后端中心位置安装有清洁机构5；
27.进一步的，电控箱1的内部顶端安装有缓冲安装架102，电控箱1的底部两侧边缘处均安装有减震支脚103，减震支脚103的底部安装有垫脚104，具体的，将电控箱1的底部四个拐角处安装减震支脚103，并将减震支脚103的底端安装垫脚104，使减震支脚103配合垫脚
104，可对装置进行稳定的安放；
28.进一步的，固定架2内部底端的前方中心位置安装有导向筒201，导向筒201的底端中心位置安装有推杆202，固定架2内部底端的后方中心位置安装有伺服轨道a203，具体的，将推杆202安装在导向筒201的输出端上，使导向筒201带动推杆202进行自由上下运动；
29.进一步的，下压机构3包括固定板301和连接板303，固定板301的顶部两侧与滑动导柱204的一端固定连接，固定板301的底部两侧均设有挂环a302，连接板303的顶部两侧均设有挂环b304，挂环b304与挂环a302之间通过定位弹簧305连接，连接板303的底部中心位置安装有压头306，具体的，固定板301与滑动导柱204配合，使推杆202的运动进行限制和定位，压头306对工件进行压制，定位弹簧305对固定板301进行定位，使固定板301可以在允许的上下运动范围进行运动；
30.进一步的，探伤机构4包括x射线探伤仪401，x射线探伤仪401的顶部安装有检测座402，具体的，利用探伤机构4对工件进行检测，检测座402便于工件放置，x射线探伤仪401对工件进行照射检验；
31.进一步的，清洁机构5包括安装板501，安装板501的前端面中心位置安装有导轨502，安装板501的前端面下方安装有伺服轨道b503，导轨502的前端面一侧安装有活动清洁装置504，具体的，利用清洁机构5可以对装置的工作区域进行清洁处理，安装板501为清洁机构5提供固定位置，导轨502为活动清洁装置504的运动提供导向，伺服轨道b503为活动清洁装置504的移动提供动力来源，该探伤设备，采用成熟的x光技术，可以实现无伤检测，且相对以往的设备可以对更大工件进行检测，检测精度更高。
32.工作原理：在使用本实用新型时，电控箱1安装设备的电气系统便于运行及维护，减震支脚103配合垫脚104对装置进行稳定的安放，支撑架101配合固定架2对设备进行固定支撑，下压机构3对工件进行固定，导向筒201对推杆202进行导向，固定板301与滑动导柱204配合，使推杆202的运动进行限制和定位，压头306对工件进行压制，导向筒201驱动推杆202，使推杆202可以实现自由上下运动，定位弹簧305对固定板301进行定位，使固定板301可以在允许的上下运动范围进行运动，探伤机构4对工件进行检测，检测座402便于工件放置，x射线探伤仪401对工件进行照射检验，缓冲安装架102避免了x射线探伤仪401受外界影响，而导致检测精度有误差的情况，清洁机构5可以对装置的工作区域进行清洁处理，安装板501为清洁机构5提供固定位置，导轨502为活动清洁装置504的运动提供导向，伺服轨道b503为活动清洁装置504的移动提供动力来源，该探伤设备，采用成熟的x光技术，可以实现无伤检测，且相对以往的设备可以对更大工件进行检测，检测精度更高。
33.虽然在上文中已经参考实施例对本实用新型进行了描述，然而在不脱离本实用新型的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，本实用新型所披露的实施例中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用，在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此，本实用新型并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。