一种下压高度可调的平移测试分选设备的制作方法

1.本实用新型涉及半导体封装测试领域内的一种分选设备。


背景技术：

2.现有技术中，平移测试分选设备作为测试分选设备的一种，已经被广泛运用；其测试区硬件连接的位置在正常情况下是标准设计，不能进行调整；而测试的产品会有不同的厚度，测试不同的产品时就需要多个不同厚度的垫片，这样就增加了相应的采购成本；而且多个垫片切换时，如操作不当，容易更换错误；与此同时，增加多个垫片，同步会增加库房的管理工作量，给后期的维护带来较大的不便。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是提供一种下压高度可调的平移测试分选设备，本实用新型广泛用于芯片的测试中，通过增加不同数量的垫片，做到兼容不同厚度的产品测试，同时实现标准化的管理，减少采购成本，减少更换，同时可以延长使用寿命，降低成本。
4.本实用新型的目的是这样实现的：一种下压高度可调的平移测试分选设备，包括测试板，所述测试板的底部配合设置有滑槽安装部，测试板的角落位置设置有圆孔安装部，测试板的中心位置设置有测试下压区域，测试下压区域呈下凹形状设置；所述测试下压区域包括若干组垫片槽，每个垫片槽内配合设置有垫片放置部，对应的垫片放置部处放置有垫片；所述垫片放置部处还配合设置有底部缓冲机构；所述垫片上还配合设置有垫片缓冲部。
5.本实用新型工作时，测试之前需要选好对应的测试板，将测试板安装放置在测试台上，测试的产品会有不同厚度，然后依次在测试下压区域的矩形垫片槽和方形垫片槽分别放置矩形垫片和方形垫片，矩形垫片和方形垫片的厚度一致；放置完毕之后此时开始下压，下压过程中，位于最下面的矩形垫片和方形垫片的垫片缓冲部直接与矩形垫片槽、方形垫片槽四个角落位置的缓冲橡胶接触，并在下压过程中逐渐压平，这样可以避免直接接触避免变形；同时相邻上下层的矩形垫片可以通过对应垫片缓冲部进行接触，避免相邻矩形垫片过度挤压，方形垫片也是如此；这样可以提高整个测试板下压的安全性；由于在压紧过程中垫片橡胶和缓冲橡胶会产生形变，这样可以降低误差，提高精准度，同时也可以延长使用寿命。
6.作为本实用新型的进一步改进，为保证测试板能够进行批量化的生产而且便于进行安装校正；所述测试板呈四边形设置，所述圆孔安装部位于测试板四个角落的位置，所述测试下压区域对应测试板也呈四边形设置，所述测试下压区域的形状对应测试板的形状等比例缩小。
7.作为本实用新型的进一步改进，为保证垫片槽便于进行集中管理同时能够进行标准化操作；所述垫片槽包括位于测试下压区域两侧位置的矩形垫片槽及位于测试下压区域中心位置的方形垫片槽；所述矩形垫片槽和方形垫片槽并列设置。
8.作为本实用新型的进一步改进，为保证垫片不会卡在矩形垫片槽及方形垫片槽中，便于进行操作；所述矩形垫片槽的中心位置设置有盲孔，所述方形垫片槽的中心位置设置有通孔，通孔面积占方形垫片槽面积一半以下。
9.作为本实用新型的进一步改进，为保证底部缓冲机构的缓冲效果好，而且避免设备过度的磨损；所述底部缓冲机构分别设置在矩形垫片槽和方形垫片槽四个角落的位置，所述底部缓冲机构包括浅槽孔，安装在浅槽孔上的缓冲橡胶；所述浅槽孔呈u形设置，所述缓冲橡胶的顶部呈圆弧形设置。
10.作为本实用新型的进一步改进，为保证矩形垫片和方形垫片便于标准化的管理同时确保受力均衡，提高工作效率；所述垫片包括矩形垫片和方形垫片，所述矩形垫片和方形垫片分别包括正面和反面，垫片的正面和反面分别设置有垫片缓冲部；垫片缓冲部位于垫片正面和反面四个角落的位置。
11.作为本实用新型的进一步改进，为保证缓冲效果好，缓冲效率高，避免垫片之间相互挤压进而损坏；所述垫片缓冲部配合设置有垫片橡胶，所述垫片橡胶的面积小于缓冲橡胶的面积。
附图说明
12.图1为本实用新型的结构视图。
13.图2为本实用新型的主视图。
14.图3为垫片槽的截面图。
15.图4为垫片的截面图。
16.其中，1测试板、2圆孔安装部、3测试下压区域、4垫片、5矩形垫片、6方形垫片、7缓冲橡胶、8浅槽孔、9垫片橡胶、10滑槽安装部、11垫片放置部、12盲孔、13通孔。
具体实施方式
17.如图1
‑
4所示，本实用新型的目的是这样实现的：一种下压高度可调的平移测试分选设备，包括测试板1，所述测试板1的底部配合设置有滑槽安装部10，测试板1的角落位置设置有圆孔安装部2，测试板1的中心位置设置有测试下压区域3，测试下压区域3呈下凹形状设置；所述测试下压区域3包括若干组垫片槽，每个垫片槽内配合设置有垫片放置部11，对应的垫片放置部11处放置有垫片4；所述垫片放置部11处还配合设置有底部缓冲机构；所述垫片4上还配合设置有垫片缓冲部；所述测试板1呈四边形设置，所述圆孔安装部2位于测试板1四个角落的位置，所述测试下压区域3对应测试板1也呈四边形设置，所述测试下压区域3的形状对应测试板1的形状等比例缩小；所述垫片槽包括位于测试下压区域3两侧位置的矩形垫片槽及位于测试下压区域3中心位置的方形垫片槽；所述矩形垫片槽和方形垫片槽并列设置；所述矩形垫片槽的中心位置设置有盲孔12，所述方形垫片槽的中心位置设置有通孔13，通孔13面积占方形垫片槽面积一半以下；所述底部缓冲机构分别设置在矩形垫片槽和方形垫片槽四个角落的位置，所述底部缓冲机构包括浅槽孔8，安装在浅槽孔8上的缓冲橡胶7；所述浅槽孔8呈u形设置，所述缓冲橡胶7的顶部呈圆弧形设置；所述垫片4包括矩形垫片5和方形垫片6，所述矩形垫片5和方形垫片6分别包括正面和反面，垫片4的正面和反面分别设置有垫片缓冲部；垫片缓冲部位于垫片4正面和反面四个角落的位置；所述垫片
缓冲部配合设置有垫片橡胶9，所述垫片橡胶9的面积小于缓冲橡胶7的面积。
18.本实用新型工作时，测试之前需要选好对应的测试板1，将测试板1安装放置在测试台上，测试的产品会有不同厚度，然后依次在测试下压区域3的矩形垫片槽和方形垫片槽分别放置矩形垫片5和方形垫片6，矩形垫片5和方形垫片6的厚度一致；放置完毕之后此时开始下压，下压过程中，位于最下面的矩形垫片5和方形垫片6的垫片缓冲部直接与矩形垫片槽、方形垫片槽四个角落位置的缓冲橡胶7接触，并在下压过程中逐渐压平，这样可以避免直接接触避免变形；同时相邻上下层的矩形垫片5可以通过对应垫片缓冲部进行接触，避免相邻矩形垫片5过度挤压，方形垫片6也是如此；这样可以提高整个测试板1下压的安全性；由于在压紧过程中垫片橡胶9和缓冲橡胶7会产生形变，这样可以降低误差，提高精准度，同时也可以延长使用寿命。
19.本实用新型并不局限于上述实施例，在本实用新型公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本实用新型的保护范围内。


技术特征：
1.一种下压高度可调的平移测试分选设备，包括测试板，其特征在于，所述测试板的底部配合设置有滑槽安装部，测试板的角落位置设置有圆孔安装部，测试板的中心位置设置有测试下压区域，测试下压区域呈下凹形状设置；所述测试下压区域包括若干组垫片槽，每个垫片槽内配合设置有垫片放置部，对应的垫片放置部处放置有垫片；所述垫片放置部处还配合设置有底部缓冲机构；所述垫片上还配合设置有垫片缓冲部。2.根据权利要求1所述的一种下压高度可调的平移测试分选设备，其特征在于：所述测试板呈四边形设置，所述圆孔安装部位于测试板四个角落的位置，所述测试下压区域对应测试板也呈四边形设置，所述测试下压区域的形状对应测试板的形状等比例缩小。3.根据权利要求1所述的一种下压高度可调的平移测试分选设备，其特征在于：所述垫片槽包括位于测试下压区域两侧位置的矩形垫片槽及位于测试下压区域中心位置的方形垫片槽；所述矩形垫片槽和方形垫片槽并列设置。4.根据权利要求3所述的一种下压高度可调的平移测试分选设备，其特征在于：所述矩形垫片槽的中心位置设置有盲孔，所述方形垫片槽的中心位置设置有通孔，通孔面积占方形垫片槽面积一半以下。5.根据权利要求1所述的一种下压高度可调的平移测试分选设备，其特征在于：所述底部缓冲机构分别设置在矩形垫片槽和方形垫片槽四个角落的位置，所述底部缓冲机构包括浅槽孔，安装在浅槽孔上的缓冲橡胶；所述浅槽孔呈u形设置，所述缓冲橡胶的顶部呈圆弧形设置。6.根据权利要求1所述的一种下压高度可调的平移测试分选设备，其特征在于：所述垫片包括矩形垫片和方形垫片，所述矩形垫片和方形垫片分别包括正面和反面，垫片的正面和反面分别设置有垫片缓冲部；垫片缓冲部位于垫片正面和反面四个角落的位置。7.根据权利要求6所述的一种下压高度可调的平移测试分选设备，其特征在于：所述垫片缓冲部配合设置有垫片橡胶，所述垫片橡胶的面积小于缓冲橡胶的面积。

技术总结
本实用新型涉及半导体元件封装测试领域的一种下压高度可调的平移测试分选设备，包括测试板，测试板的底部配合设置有滑槽安装部，测试板的角落位置设置有圆孔安装部，测试板的中心位置设置有测试下压区域，测试下压区域呈下凹形状设置；测试下压区域包括若干组垫片槽，每个垫片槽内配合设置有垫片放置部，对应的垫片放置部处放置有垫片；垫片放置部处还配合设置有底部缓冲机构；垫片上还配合设置有垫片缓冲部；本实用新型广泛用于芯片的测试中，通过增加不同数量的垫片，做到兼容不同厚度的产品测试，同时实现标准化的管理，减少采购成本，减少更换，同时可以延长使用寿命，降低成本。本。本。


技术研发人员：苏广峰 蒋蕾
受保护的技术使用者：安测半导体技术（江苏）有限公司
技术研发日：2021.03.24
技术公布日：2021/11/21