一种半导体生产用检测机构的制作方法

摘要: 本技术涉及半导体生产设备,尤其涉及一种半导体生产用检测机构。背景技术:1、在半导体制造领域,晶圆、芯片等半导体本体的表面缺陷直接决定产品良率与可靠性,因此,通过...
一种半导体生产用检测机构的制作方法

本技术涉及半导体生产设备,尤其涉及一种半导体生产用检测机构。

背景技术:

1、在半导体制造领域,晶圆、芯片等半导体本体的表面缺陷直接决定产品良率与可靠性,因此,通过视觉检测实现缺陷精准识别成为生产关键环节。

2、多数检测机构依赖人工辅助定位或简易机械限位,难以适配流水线批量检测需求,部分自动化定位设备采用单侧驱动式夹持结构,两侧夹持组件移动不同步,直接造成检测相机对焦偏差,引发纳米级缺陷漏检;因此我们提出一种半导体生产用检测机构来解决这个问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种半导体生产用检测机构,以解决上述背景技术中所提出的问题。

2、为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

3、一种半导体生产用检测机构,包括:半导体本体、检测台和检测相机,所述检测台的顶部固定安装有四组支架、框架和l型立柱,相邻的两组所述支架的内部均转动安装有输送轮,两组所述输送轮的外侧传动安装有输送带,所述半导体本体设置在输送带上,所述框架的内部固定安装有两组导向杆,两组所述导向杆的外侧滑动安装有两组移动板,两组所述移动板的顶部均铰接有传动杆,两组所述传动杆的一端铰接有同一个转盘,两组所述移动板的一侧均固定安装有框体,两组所述框体的内部均滑动安装有连接块,两组所述连接块的一侧均固定安装有两组缓冲弹簧,两组所述连接块的另一侧均固定安装有推板,所述框架的顶部固定安装有电机二,所述电机二的输出端上固定安装有转盘,所述转盘与两组移动板的顶部之间均铰接有传动杆,所述l型立柱的顶部固定安装有电动推杆,所述电动推杆的输出上固定安装有安装板,所述检测相机设置在安装板的底部。

4、优选的,所述检测台的顶部固定安装有支板,所述支板的一侧固定安装有电机一,所述电机一的输出端上固定安装有扇形齿轮,其中一组所述输送轮的一侧固定安装有传动齿轮,所述安装板的顶部与l型立柱的底部之间设置有两组升降杆。

5、优选的,两组所述连接块滑动安装在相应框体内,两组所述缓冲弹簧的另一端固定安装在相应框体的一侧内壁上。

6、优选的,所述框架的顶部固定安装有电机二,所述转盘固定安装在电机二的输出端上。

7、优选的,两组所述移动板的内部均开设有两组滑孔,两组所述导向杆与相应滑孔之间相适配。

8、优选的,所述传动齿轮与扇形齿轮之间相啮合。

9、本实用新型中,所述的一种半导体生产用检测机构,通过设置电机一带动扇形齿轮转动,因扇形齿轮与传动齿轮之间相啮合,从而传动与传动齿轮相连的输送轮间歇转动,并通过两组输送轮之间传动输送带,进而输送带间歇性运转,并将半导体本体进行输送,保障检测与定位的协同性,提升检测精度,适配流水线批量生产,平衡效率与安全性;

10、本实用新型中,所述的一种半导体生产用检测机构,通过设置电动推杆推动安装板沿升降杆上下移动,调节检测相机的高度,以适应不同厚度的半导体本体检测需求;随后对半导体本体的表面进行拍照或扫描,获取其外观图像,检测相机将采集到的图像数据传输至外部控制系统,系统对图像进行分析处理,判断半导体本体是否符合生产标准,使得同一台检测设备能够适应各种厚度的半导体本体,无需更换或改造相机支架,极大地提升了设备的通用性和灵活性;

11、本实用新型结构设计合理,通过设置电机二带动转盘转动,转盘转动通过传动杆拉动两组移动板在导向杆内相对滑动,随后带动与之相连的框体、连接块、推板等组件相对移动,此时推板先接触半导体本体后,连接块在框体内滑动,缓冲弹簧被压缩,产生柔性夹持力,避免损坏半导体本体,同时将其精准居中定位在检测区域,实现自动化、高精度居中定位,且这种设计使得夹持力变得柔和且具有弹性,既能牢固地将工件定位,又能有效避免在定位过程中对半导体本体造成物理损伤。

1.一种半导体生产用检测机构,其特征在于,包括:半导体本体(1)、检测台(2)和检测相机(21),所述检测台(2)的顶部固定安装有四组支架(3)、框架(9)和l型立柱(17),相邻的两组所述支架(3)的内部均转动安装有输送轮(4),两组所述输送轮(4)的外侧传动安装有输送带(5),所述半导体本体(1)设置在输送带(5)上,所述框架(9)的内部固定安装有两组导向杆(11),两组所述导向杆(11)的外侧滑动安装有两组移动板(12),两组所述移动板(12)的顶部均铰接有传动杆(23),两组所述传动杆(23)的一端铰接有同一个转盘(22),两组所述移动板(12)的一侧均固定安装有框体(13),两组所述框体(13)的内部均滑动安装有连接块(14),两组所述连接块(14)的一侧均固定安装有两组缓冲弹簧(16),两组所述连接块(14)的另一侧均固定安装有推板(15),所述框架(9)的顶部固定安装有电机二(10),所述电机二(10)的输出端上固定安装有转盘(22),所述转盘(22)与两组移动板(12)的顶部之间均铰接有传动杆(23),所述l型立柱(17)的顶部固定安装有电动推杆(18),所述电动推杆(18)的输出上固定安装有安装板(19),所述检测相机(21)设置在安装板(19)的底部。

2.根据权利要求1所述的一种半导体生产用检测机构,其特征在于,所述检测台(2)的顶部固定安装有支板(7),所述支板(7)的一侧固定安装有电机一(8),所述电机一(8)的输出端上固定安装有扇形齿轮(24),其中一组所述输送轮(4)的一侧固定安装有传动齿轮(6),所述安装板(19)的顶部与l型立柱(17)的底部之间设置有两组升降杆(20)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体生产用检测机构,其特征在于,两组所述连接块(14)滑动安装在相应框体(13)内,两组所述缓冲弹簧(16)的另一端固定安装在相应框体(13)的一侧内壁上。

4.根据权利要求1所述的一种半导体生产用检测机构,其特征在于,所述框架(9)的顶部固定安装有电机二(10),所述转盘(22)固定安装在电机二(10)的输出端上。

5.根据权利要求1所述的一种半导体生产用检测机构,其特征在于,两组所述移动板(12)的内部均开设有两组滑孔,两组所述导向杆(11)与相应滑孔之间相适配。

6.根据权利要求2所述的一种半导体生产用检测机构,其特征在于,所述传动齿轮(6)与扇形齿轮(24)之间相啮合。