用于在多管芯封装中保护集成电路管芯的屏蔽管芯的制作方法

背景技术：

1、集成电路制造和封装的新趋势导致管芯内部信号重新布置到管芯边界和上部金属层，使得所述信号更容易遭受物理探测攻击。另外，管芯分解已经将原本位于管芯内部的信号转移到半外部总线，例如桥接电路管芯(例如，intel®嵌入式多管芯互连桥接器(emib))，从而进一步增加所述信号的脆弱性。现有的解决方案(例如，密码学方法和内部中介层布线)提供有限的保护并且无法满足在上部金属层中路由的信号的全面安全需求，特别是在多管芯配置中。

技术实现思路

1.一种装置，包括：

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一集成电路管芯和所述第二集成电路管芯通过覆盖所述第一集成电路管芯和所述第二集成电路管芯的所述管芯中的金属迹线导电耦合。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯用于基于检测到包括所述管芯的金属迹线的电路是开路的而修改功能。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯用于基于检测到包括所述管芯的金属迹线的电路是开路的而删除特定数据。

5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一集成电路管芯用于通过所述管芯的至少一个金属迹线向所述第二集成电路管芯传输信号，并且所述第二集成电路管芯的所述功能基于从所述第一集成电路管芯接收所述信号。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述信号包括静态值或递增计数器值。

7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯用于基于存储在所述管芯中的信息获得值，并且所述第一集成电路管芯的所述功能或所述第二集成电路管芯的所述功能基于从所述管芯获得所述值。

8.根据权利要求7所述的装置，其中，存储于所述管芯中的所述值包括封装标识符、密钥的至少一部分或密钥份额。

9.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯用于检测包括所述管芯的金属迹线的电路的一个或多个电特性的变化，并且所述第一集成电路管芯的所述功能或所述第二集成电路管芯的所述功能将基于检测所述一个或多个电特性的所述变化而被修改。

10.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一集成电路管芯和所述第二集成电路管芯用于基于检测到包括所述管芯的金属迹线的电路是开路的而维持特定功能。

11.根据权利要求1所述的装置，其中，所述管芯延伸超过所述第一集成电路管芯和所述第二集成电路管芯的外边缘。

12.根据权利要求1所述的装置，其中，所述至少一个金属迹线基本上横贯所述管芯的长度。

13.根据权利要求1所述的装置，其中，所述至少一个金属迹线通过所述第一集成电路管芯的与所述管芯相对的一侧或所述第二集成电路管芯的与所述管芯相对的一侧而导电耦合到所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯。

14.根据权利要求13所述的装置，其中，所述至少一个金属迹线通过所述封装衬底中的金属迹线导电耦合到所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯。

15.根据权利要求1所述的装置，其中，所述至少一个金属迹线通过所述封装衬底与所述集成电路管芯之间的中介层中的金属迹线而导电耦合到所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯。

16.根据权利要求1-15中任一项所述的装置，还包括在所述第一集成电路管芯与所述管芯之间或在所述第二集成电路管芯与所述管芯之间的包括金属的层。

17.根据权利要求1-15中任一项所述的装置，还包括围绕所述第一集成电路管芯和所述第二集成电路管芯的中介层，所述中介层包括将所述管芯的金属迹线与所述第一集成电路管芯或所述第二集成电路管芯导电耦合的过孔。

18.一种系统，包括：

19.根据权利要求18所述的系统，其中，所述至少一个集成电路管芯的功能将基于检测到包括所述管芯的至少一个金属迹线的电路是开路的而被修改。

20.根据权利要求18所述的系统，其中，所述至少一个集成电路管芯用于基于检测到包括所述管芯的至少一个金属迹线的电路是开路的而删除特定数据。

21.根据权利要求18-20中任一项所述的系统，其中，第一集成电路管芯用于通过所述管芯的至少一个金属迹线向第二集成电路管芯传输信号，并且所述第二集成电路管芯的功能基于从所述第一集成电路管芯接收所述信号。

22.根据权利要求18-20中任一项所述的系统，其中，所述至少一个集成电路管芯用于基于存储在所述管芯的所述金属迹线中的信息而获得值，并且所述至少一个集成电路管芯的功能基于获得所述值。

23.一种集成电路器件组件，包括：

24.根据权利要求23所述的集成电路器件组件，其中，所述第一集成电路部件的功能或所述第二集成电路部件的功能基于所述金属迹线导电耦合在所述第一集成电路部件与所述第二集成电路部件之间。

25.根据权利要求23或24所述的集成电路器件组件，其中，所述第一集成电路部件或所述第二集成电路部件基于检测到包括所述管芯的金属迹线的电路是开路的而删除数据。