闪存坏块的检测方法、检测设备和计算机存储介质与流程

1.本技术涉及存储技术领域，特别是涉及一种闪存坏块检测方法、检测设备和计算机存储介质。


背景技术：

2.闪存是存储芯片的一种，通过特定的程序可以修改里面的数据。闪存不仅具备电子可擦除可编程的性能，还可以快速读取数据，使数据不会因为断电而丢失。
3.在对闪存产品进行测试的过程中，发现个别闪存颗粒出现新增坏块的情况。这是生产工艺的问题，由于某个块(block)的sgs和sgd控制端的短路，导致该块相邻的块数据读出错误。为测出有坏块的不良品，常规测试方法包括的块的擦、写、读，然而常规的块的擦、写、读无法有效测出这类因生产工艺导致的坏块。


技术实现要素：

4.本技术提供一种闪存坏块的检测方法、检测设备和计算机存储介质，能够解决现有技术中无法有效检测出因生产工艺导致的坏块。
5.为解决上述问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种闪存坏块检测方法，包括：基于第一预设数值对闪存中的奇数块进行写入处理；基于第二预设数值对闪存中的偶数块进行写入处理；顺序读取并检验所述闪存中的块，判断奇数块中的读取数值是否匹配第一预设数值，偶数块中的读取数值是否匹配第二预设数值；若否，则确定为坏块。
6.其中，检测方法还包括：在对闪存中的块进行写入处理之前，对所述闪存中的块进行擦除处理。
7.其中，基于第一预设数值对所述闪存中的奇数块进行写入处理，基于第二预设数值对所述闪存中的偶数块进行写入处理均包括：对块中的首页及尾页写入预设数值。
8.其中，对块中的首页及尾页写入预设数值包括：对所述首页的首地址，和所述尾页的首地址写入所述预设数值。
9.其中，顺序读取并检验所述闪存中的块包括：顺序读取并检验所述块中的页。
10.其中，第一预设数值和第二预设数值均为一个字节
11.其中，第一预设数值和第二预设数值中0和1均各占一半。
12.其中，第一预设数值和第二预设数值中的一个为0x55，另一个为0xaa。
13.为解决上述问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种闪存坏块的检测设备，包括互耦接的存储器和处理器，处理器用于执行存储器中存储的程序指令，以实现上述检测方法。
14.为解决上述问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种计算机存储介质，其上存储有程序指令，能够实现以上所述的检测方法。
15.与现有技术相比，本技术的有益效果是：基于第一预设数值对闪存中的奇数块进行写入处理；基于第二预设数值对闪存中的偶数块进行写入处理；顺序读取并检验所述闪
存中的块，判断奇数块中的读取数值是否匹配第一预设数值，偶数块中的读取数值是否匹配第二预设数值；若否，则确定为坏块；以更高效地检测出因生产工艺导致的坏块。
16.应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本技术。
附图说明
17.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1是本技术闪存坏块的检测方法一实施例方式的流程示意图；
19.图2是本技术检测设备一实施方式的结构示意图。
20.图3是本技术计算机存储介质一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
21.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
22.请参阅图1，图1是本技术闪存坏块的检测方法一实施例方式的流程示意图。具体地，该方法包括以下步骤：
23.s11：在对闪存中的块进行写入处理之前，对闪存中的块进行擦除处理。
24.本实施例中的方法包括了改变闪存中所有块的数值，可以理解的是，改变所有块的数值的方法包括但不限于在闪存中擦除每个块的数据，即将闪存中的块的数值都置为0xff。
25.擦除或改变闪存中所有块的数据保证了闪存中所有块中的数据的一致性与可预测性，闪存中的块包括坏块和正常的块，都能被擦除；擦除后的块数值能够被保持一致且能够被预测，以便于后续步骤中的操作，例如，读写和校验等。
26.s12：基于第一预设数值对闪存中的奇数块进行写入处理。
27.本实施例中，奇数块为编号为奇数的块，例如，闪存中共有n个块，编号从0开始，则奇数块为编号为1,3,5......，n(若n为奇数)的块。
28.本实施例中，写入处理包括对块中的首页及尾页写入第一预设数值，即，对首页的首地址和尾页的首地址写入第一预设数值。在首页的首地址和尾页的首地址写入第一预设数值，能够更快速地完成后续的校验过程，即，确定第一页的第一个位置和最后一页的第一个位置有数值，在读取过程中，数值的读取是以页为单位的，因而，校验过程中能够确定第一页和最后一页是有可预测的数值的；同时，如果该块是坏块，那么在首页和尾页写入数值能够在检测时涵盖所有页的数值校验并且只需要两个字节的数据，进而查出该块是坏块。
29.本实施例中，在块中有m个页，一个页中有k个单元或地址。对块中的首页及尾页写入第一预设数值包括对第1个页和第m个(即，最后一个)页写入第一预设数值；具体地，在第
1个页中的第1个地址写入第一预设数值，和第m个页的第1个地址写入第一预设数值，一个地址或单元可以是一个字节，在此不做限制。
30.本实施例中，第一预设数值为一个字节；一个字节可以有八个比特，在此不做限制。第一预设数值中0和1均各占一半；第一预设数值可以是0x55，即，二进制位下的01010101；也可以是0xaa，即，二进制位下的10101010。在0和1各占一半的情况下，在后续校验过程中，能够更加快速和简便地校验结果并且能够在一个字节内覆盖到0和1的数据写入，例如，在第一预设数值是0x55的情况下，第二预设数值是0xaa，则在对依次每页做异或计算得到结果进行校验时，根据页数能够快速判断出校验出的结果是否正确。
31.s13：基于第二预设数值对闪存中的偶数块进行写入处理。
32.本实施例中，偶数块为编号为偶数的块，例如，闪存中共有n个块，编号从0开始，则偶数块为编号为0,2,4,6......，n(若n为偶数)的块。本实施例中，写入处理包括对块中的首页及尾页写入第二预设数值，即，对首页的首地址和尾页的首地址写入第二预设数值。在首页的首地址和尾页的首地址写入第二预设数值，能够更快速地完成后续的校验过程，即，确定第一页的第一个位置和最后一页的第一个位置有数值，在读取过程中，数值的读取是以页为单位的，因而，校验过程中能够确定第一页和最后一页是有可预测的数值的；同时，如果该块是坏块，那么在首页和尾页写入数值能够在检测时涵盖所有页的数值校验并且只需要两个字节的数据，进而查出该块是坏块。
33.本实施例中，在块中有m个页，一个页中有k个单元或地址。对块中的首页及尾页写入第二预设数值包括对第1个页和第m个(即，最后一个)页写入第二预设数值；具体地，在第1个页中的第1个地址写入第二预设数值，和第m个页的第1个地址写入第二预设数值，一个地址或单元可以是一个字节，在此不做限制。
34.本实施例中，第二预设数值为一个字节；一个字节可以有八个比特，在此不做限制。第二预设数值中0和1均各占一半；第二预设数值可以是0x55，即，二进制位下的01010101；也可以是0xaa，即，二进制位下的10101010。在0和1各占一半的情况下，在后续校验过程中，能够更加快速和简便地校验结果，例如，在第一预设数值是0x55的情况下，第二预设数值是0xaa，则在依次对每页做异或计算得到结果进行校验时，根据页数能够快速判断出校验出的结果是否正确。
35.s14：顺序读取并检验闪存中的块，判断奇数块中的读取数值是否匹配第一预设数值，偶数块中的读取数值是否匹配第二预设数值。
36.本实施例中，顺序读取闪存中的块包括从第零块顺序读取至第n块(即，最后一块)。例如，共有5个块，第零块读取出第一预设数值，第一块读取出第二预设数值，以此类推，第四块读取出第一预设数值；即奇数块读出的数值与偶数块读出的数值不同，即第零块读出的数值应该与第一块读出的数值不同，第一块读出的数值应该与第二块读出的数值不同，以此类推。
37.本实施例中，因生产工艺导致的问题，可能使得相邻两块的数值相同。即，第零块可能是坏块，则在向第零块写入第一预设数值或第二预设数值时，第一块会复写被写入第零块的第一预设数值或第二预设数值。例如，在第零块写入0x55，第一块同时被因生产工艺导致的短路同时被写入0x55，且在向第一块写入0xaa时，第零块会复写被写入第一块的第一预设数值或第二预设数值，导致第零快与第一块中的数值总是相同，即相邻两个块间，若
是有坏块，两个块的数值总是相同。。
38.基于此原理，本实施例中对应奇数块和偶数块写入不同的数值，即保证相邻块之间写入的数值不同，以便于写入错误的检测，即发现了有相邻两个块的数值相同就发现了坏块；因为若写入相同数值，两个块的数值就一定相同，导致无法确认两个块之间的数值是否因为坏块相同。
39.s15：若否，则确定为坏块。
40.本实施例中，若没有出现不符合预设数值的块，则闪存中的块通过检测，不是坏块；若出现不符合预设数值的块，则闪存中存在坏块。具体地，在闪存中相邻的第零块和第一块之中有坏块，则在向其中之一写入第一预设数值或第二预设数值时，另一块会复写被写入的第一预设数值或第二预设数值，使得有相邻的块的数值相同。
41.本实施例中，在一个闪存中有n个块，按照步骤s11到s14描述的方法对该闪存实施。若该闪存中存在坏块，则该闪存中该坏块相邻的一个块的数值与该坏块中的数值相同，则在检测到有连续两个数值相同的块时就停止检测并确认该闪存中存在坏块；若该闪存中不存在坏块，则该闪存中的相邻的两个块之间的数值都不相同，检测会在检测到最后一个块时结束，并确认该闪存中不存在坏块。
42.请参阅图2，图2是本技术电子设备一实施方式的结构示意图。如图2所示，该电子设备包括处理器21、与处理器21耦接的存储器22。其中，存储器22存储有用于实现上述本技术闪存坏块的检测方法提供的程序指令；处理器21用于执行存储器22存储的程序指令以实现上述方法实施例的步骤。其中，处理器21还可以称为cpu(central processing unit，中央处理单元)。处理器21可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器21还可以是通用处理器、数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器21也可以是任何常规的处理器等。
43.可以理解的是，本技术中闪存可以包括nand-flash芯片、eeprom(electrically erasable programmable read only memory，带电可擦可编程只读存储器)芯片或nor flash(非易失闪存技术)芯片，在本技术中不做限制。
44.请参阅图3，图3是本技术计算机存储介质一实施方式的结构示意图。如图3所示，本技术实施例的计算机可读存储介质30存储有程序指令31，该程序指令31被执行时实现本技术上述实施例提供的方法。其中，该程序指令31可以形成程序文件以软件产品的形式存储在上述计算机可读存储介质30中，以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本技术各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的计算机可读存储介质30包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，或者是计算机、服务器、手机、平板等终端设备。
45.以上所述仅为本技术的实施方式，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本技术的专利保护范围内。