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闪存坏块的检测方法、检测设备和计算机存储介质与流程

2023-02-19 05:22:18 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种闪存坏块的检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:基于第一预设数值对所述闪存中的奇数块进行写入处理;基于第二预设数值对所述闪存中的偶数块进行写入处理;顺序读取并检验所述闪存中的块,判断所述奇数块中的读取数值是否匹配第一预设数值,所述偶数块中的读取数值是否匹配第二预设数值;若否,则确定为坏块。2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括:在对所述闪存中的块进行写入处理之前,对所述闪存中的块进行擦除处理。3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,基于第一预设数值对所述闪存中的奇数块进行写入处理,基于第二预设数值对所述闪存中的偶数块进行写入处理均包括:对块中的首页及尾页写入预设数值。4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述对块中的首页及尾页写入预设数值,包括:对所述首页的首地址,和所述尾页的首地址写入所述预设数值。5.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述顺序读取并检验所述闪存中的块,包括:顺序读取并检验所述块中的页。6.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述第一预设数值和所述第二预设数值均为一个字节。7.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述第一预设数值和所述第二预设数值中0和1均各占一半。8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,所述第一预设数值和所述第二预设数值中的一个为0x55,另一个为0xaa。9.一种闪存坏块的检测设备,其特征在于,包括相互耦接的存储器和处理器,所述处理器用于执行所述存储器中存储的程序指令,以实现权利要求1至8任一项所述的检测方法。10.一种计算机存储介质,其上存储有程序指令,其特征在于,所述程序指令被处理器执行时实现权利要求1至8任一项所述的检测方法。

技术总结
本申请公开了一种闪存坏块的检测方法包括:基于第一预设数值对所述闪存中的奇数块进行写入处理;基于第二预设数值对所述闪存中的偶数块进行写入处理;顺序读取并检验所述闪存中的块,判断所述奇数块中的读取数值是否匹配第一预设数值,所述偶数块中的读取数值是否匹配第二预设数值;若否,则确定为坏块。本申请检测方法能够更高效地检测出因生产工艺导致的坏块。坏块。坏块。


技术研发人员:刘小龙
受保护的技术使用者:深圳市江波龙电子股份有限公司
技术研发日:2021.08.16
技术公布日:2023/2/17
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