一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统

1.本发明涉及质谱仪器技术领域，更具体地说是涉及一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统。


背景技术：

2.稳定性同位素质谱仪，是指一种专门测定c、h、o、n和s等稳定性同位素比值的质谱仪器(irms)。在轻元素的稳定性同位素分析时均以气体形式进行质谱测定，因此首先要将被分析的样品转化为气体。在离子源中气体分子被电离成带正电荷的离子，并经电场和磁场的作用将离子按照它们的质荷比分开，然后根据不同离子束流的强度测定稳定性同位素比值；稳定性同位素质谱测定可采用单路测量，或采用双路(样品路和标准路)。现有的样品进样方式，需要先称量包样锡纸的重量，去皮称量样品重量，包样，然后上机进样，操作较为繁琐；而且锡舟是敞口设计，因此粉末样品的防静电以及扬尘需要进行考虑，从而防止外部气流进入，影响测试结果。
3.因此，如何提供一种能够具备自动称样、自动进样功能的用于稳定性同位素质谱仪的进样系统是本领域技术人员亟需解决的技术难题之一。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本发明提供了一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统，目的就是为了解决上述之不足而提供。
5.为解决上述技术问题，本发明采取了如下技术方案：
6.一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统，包括质谱仪本体、进样装置、机械臂、样品称量装置和样品等待区；所述进样装置设置于所述质谱仪本体上端壁的一侧；所述样品称量装置倾斜设置于所述质谱仪本体上端壁的另一侧且靠近前端设置；所述机械臂固定设置于所述进样装置和所述样品称量装置之间，且靠近所述质谱仪本体后端设置；所述样品等待区对应所述样品称量装置设置于所述质谱仪本体上端壁的后端位置。
7.优选地，所述机械臂包括支柱、底座、连接块和机械臂机构；所述底座固定连接于所述质谱仪本体上端壁上；所述支柱下端与所述底座固定连接；所述连接块活动动连接于所述支柱的侧面上；所述机械臂结构活动连接于所述连接块上。
8.优选地，所述机械臂结构包括依次活动连接的第一活动关节、第二活动关节、第三活动关节；所述第三活动关节远离所述第二活动关节的一端设有轴接部；所述轴接部轴连接有一连接部；所述连接部远离所述轴接部的一侧端滑动设置有卡爪机构。
9.优选地，所述支柱侧壁上设有滑动槽，所述连接块通过所述滑动槽活动连接于支柱上。
10.优选地，所述质谱仪本体上端壁上还设置有一防静电保护罩。
11.优选地，所述防静电保护罩采用防静电pc板材质。
12.优选地，所述样品称量装置采用十万分之一天平。
13.优选地，所述质谱仪本体设置有门扇结构，所述门扇结构上设置有控制盘。
14.优选地，所述进样装置、所述机械臂和所述样品称量装置均与所述控制盘电连接。
15.优选地，所述样品等待区为一托盘结构，用于承载装有待检测样品的锡舟。
16.优选地，所述质谱仪本体内设置有中央处理器，所述进样装置、所述机械臂、所述样品称量装置和所述控制盘均与所述中央处理器电连接。
17.优选地，所述质谱仪本体采用flash ea 1112型质谱仪。
18.优选地，所述进样装置采用mas 200r轮盘式自动进样器。
19.本发明相对于现有技术取得了以下技术效果：
20.本发明通过设置机械臂、十万分之一天平以及样品等待区，通过中央处理器控制机械臂自动将样品等待区的装有待测样品的锡舟放置在十万分之一天平上进行称量，中央处理器会自动记录称量结果，机械臂再将其送入进样装置的进样口；从而能够实现自动称样及自动进样的功能，且装置结构简单，体积小，适用于市场推广。而且本技术通过设置防静电保护罩，能够保持整个进样系统内部气流平稳，从而使得在进样之后系统自动吹扫样品时，防止外部气流进入，影响测试结果。
附图说明
21.图1为本发明一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统的结构示意图；
22.图2为机械臂的结构示意图；
23.图中：1、质谱仪本体；11、控制盘；12、门扇结构；2、进样装置；3、机械臂；31、支柱；311、滑动槽；32、底座；33、连接块；34、第一活动关节；35、第二活动关节；36、第三活动关节；37、轴接部；38、连接部；39、机械爪机构；4、称量装置；5、样品等待区；6、防静电保护罩。
具体实施方式
24.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
25.实施例1
26.参照图1-2所示一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统，包括质谱仪本体1、进样装置2、机械臂3、样品称量装置4和样品等待区5；进样装置2设置于质谱仪本体1上端壁的一侧；样品称量装置4倾斜设置于质谱仪本体1上端壁的另一侧且靠近前端设置；机械臂3固定设置于进样装置2和样品称量装置4之间，且靠近质谱仪本体1后端设置；样品等待区5对应样品称量装置4设置于质谱仪本体1上端壁的后端位置。
27.机械臂3包括支柱31、底座32、连接块33和机械臂机构；底座32固定连接于质谱仪本体1上端壁上；支柱31下端与底座32固定连接；连接块33活动动连接于支柱31的侧面上；机械臂结构活动连接于连接块33上。机械臂结构包括依次活动连接的第一活动关节34、第二活动关节35、第三活动关节36；第三活动关节36远离第二活动关节35的一端设有轴接部37；轴接部37轴连接有一连接部38；连接部38远离轴接部的一侧端滑动设置有卡爪机构39。支柱31侧壁上设有滑动槽311，连接块33通过滑动槽311活动连接于支柱31上。
28.作为本实施例的优选或可选方式，质谱仪本体1上端壁上还设置有一防静电保护罩6。
29.作为本实施例的优选或可选方式，样品称量装置4采用十万分之一天平。
30.作为本实施例的优选或可选方式，质谱仪本体1设置有门扇结构12，门扇结构12上设置有控制盘11。
31.作为本实施例的优选或可选方式，进样装置2、机械臂3和样品称量装置4均与控制盘11电连接。
32.作为本实施例的优选或可选方式，样品等待区5为一托盘结构，用于承载装有待检测样品的锡舟。
33.作为本实施例的优选或可选方式，质谱仪本体1采用flash ea 1112型质谱仪。
34.作为本实施例的优选或可选方式，进样装置2采用mas 200r轮盘式自动进样器。
35.在一些实施例中，锡舟的尺寸大小可以根据进样装置不同型号的进样口尺寸大小进行相应调整。
36.本发明通过设置机械臂、十万分之一天平以及样品等待区，通过中央处理器控制机械臂自动将样品等待区的装有待测样品的锡舟放置在十万分之一天平上进行称量，中央处理器会自动记录称量结果，机械臂再将其送入进样装置的进样口；从而能够实现自动称样及自动进样的功能，且装置结构简单，体积小，适用于市场推广。而且本技术通过设置防静电保护罩，能够保持整个进样系统内部气流平稳，从而使得在进样之后系统自动吹扫样品时，防止外部气流进入，影响测试结果。
37.以上所述，仅是本发明较佳实施例而已，并非对本发明的技术范围作任何限制，故凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。