校准接口板的制作方法

技术特征：
1.一种测试系统，所述测试系统包括：设备接口板(dib)，所述设备接口板包括一个或多个信号传输路径和用于连接至所述测试系统的一个或多个其它组件的接口；测试电路，所述测试电路用于将测试信号注入至所述一个或多个信号传输路径中，并在所述接口处测量所述测试信号的传输版本以获得测量信号；以及一个或多个处理设备，所述一个或多个处理设备用于基于所述注入的测试信号与所述测量信号之差来生成校准系数，并且将所述校准系数存储在计算机存储器中，所述校准系数对所述一个或多个信号传输路径对所述测试信号的影响进行校正。2.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试信号扫过一个频率范围。3.根据权利要求2所述的测试系统，其中所述一个或多个处理设备被编程为生成用于在计算机显示设备上进行显示的用户界面(ui)，所述ui用于启动多个测试系统参数的编程，包括所述频率范围的设置。4.根据权利要求1所述的测试系统，其中在所述测试信号中，具有不同频率的不同测试信号同时具有不同的功率水平。5.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对所述dib上的所述一个或多个信号传输路径上的信号损耗进行校正。6.根据权利要求1所述的测试系统，所述测试系统还包括：探针，所述探针用于选择性地接触所述dib上的信号触点，以将所述测试信号注入至所述一个或多个信号传输路径中。7.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述计算机存储器位于所述dib上。8.根据权利要求1所述的测试系统，所述测试系统还包括用于连接至所述dib的所述接口以获得所述测量信号的电路。9.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述一个或多个传输路径中的传输路径包括无源电子设备或有源电子设备中的至少一者。10.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试电路是射频(rf)测试仪器的一部分，并且所述一个或多个信号传输路径被配置为传输rf信号。11.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试信号的频率大于2千兆赫(ghz)。12.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试信号的频率在毫米(mm)波范围内。13.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试信号的频率大于6千兆赫(ghz)。14.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试信号的频率大于18千兆赫(ghz)。15.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对由沿着所述一个或多个信号传输路径的传输引起的所述测试信号中的功率变化进行校正。16.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对由沿着所述一个或多个信号传输路径的传输引起的所述测试信号中的频率变化进行校正。17.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对由沿着所述一个或多个信号传输路径的传输引起的所述测试信号中的功率、线性或增益变化中的至少一者进行校正。18.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对所述一个或多个信号传输路径中信号传输路径的长度对所述测试信号的影响进行校正。19.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对所述一个或多个信号传输路
径中的信号传输路径的受损或插入损耗对所述测试信号的影响进行校正。20.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对所述一个或多个信号传输路径中的信号传输路径的阻抗对所述测试信号的影响进行校正。21.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述dib是多个dib中被配置为与所述测试系统一起使用的一个dib，所述计算机存储器位于所述dib上，并且所述校准系数独属于所述dib。22.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述计算机存储器位于所述dib上，并且所述计算机存储器中的校准系数能够由计算系统通过应用程序编程接口(api)获取。23.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试电路被配置为输出测试信号到附接到所述dib的待测设备(dut)，所述dut用于响应于所述测试信号产生输出信号；并且其中所述一个或多个处理设备被编程为基于所述校准系数中的至少一个校准系数来校正所述输出信号。

技术总结
本发明公开了一种示例性测试系统，其包括设备接口板(DIB)，该设备接口板具有一个或多个信号传输路径和用于连接至该测试系统的一个或多个其它组件的接口。测试电路，该测试电路被配置为将测试信号注入至该一个或多个信号传输路径中，并在该接口处测量该测试信号的传输版本以获得测量信号。一个或多个处理设备，该一个或多个处理设备被配置为基于该注入的测试信号与该测量信号之差来生成校准系数，并且将该校准系数存储在计算机存储器中。该校准系数用于对该一个或多个信号传输路径对该测试信号的影响进行校正。测试信号的影响进行校正。测试信号的影响进行校正。


技术研发人员：史蒂芬
受保护的技术使用者：泰瑞达公司
技术研发日：2021.03.03
技术公布日：2022/9/13