可移动式紧缩场天线测量系统的制作方法

技术特征：
1.一种天线测量系统，用于测量固定于一基准面的一待测天线辐射，其特征在于，该天线测量系统包含：一多关节机器人，座设于该基准面的周边；一测量构件，配置于该多关节机器人的一活动端部，该测量构件包含一特定几何表面以及一馈入天线，该特定几何表面用以接收来自该馈入天线的信号，并且据以对该待测天线提供一入射信号；以及一处理器，耦接至该活动端部，用以控制该活动端部带动该测量构件相对于该待测天线沿一扫描路径移动，并在沿该扫描路径移动的过程中保持该特定几何表面朝向该待测天线。2.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为一碟形反射面，用以反射来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该馈入天线位于该碟形反射面与该待测天线之间。3.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为一透镜元件，用以聚焦来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该透镜元件位于该待测天线与该馈入天线之间。4.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为具有m
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n个反射单元的反射矩阵，用以反射来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该馈入天线位于该反射矩阵与该待测天线之间，m、n为正整数。5.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为具有m
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n个透射单元的透射矩阵，用以聚焦来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该透射矩阵位于该待测天线与该馈入天线之间，m、n为正整数。6.如权利要求2-5任一项的天线测量系统，其特征在于，于进行测量时，该待测天线保持静止，该处理器控制该特定几何表面朝向该待测天线进行对应不同经度的多个弧状扫描，其中该多个弧状扫描中任一者起始于垂直该基准面的法线的底端，并且于绕行该待测天线至该基准面一周后至该法线的该底端后结束。7.如权利要求2-5任一项的天线测量系统，其特征在于，于进行测量时，该待测天线以该基准面的法线为轴心进行自转，该处理器控制该特定几何表面朝向该待测天线以进行在特定经度位置上的弧状扫描，其中该弧状扫描起始于该法线的顶端，并且于绕行该待测天线至该法线的底端后结束。8.如权利要求2-5任一项的天线测量系统，其特征在于，于进行测量时，该待测天线保持静止且该待测天线的辐射面朝向该特定几何表面，该处理器控制该特定几何表面与该辐射面保持一预定距离作垂直方向移动与水平方向交替的二维平面扫描。9.如权利要求8所述的天线测量系统，其特征在于，该二维平面扫描包含以下循环操作顺序：高至低移动、侧向移动、低至高移动、侧向移动。10.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该多关节机器人另包含：一底座，座设于该基准面的周边；一第一机器臂，枢接于该底座；
一第二机器臂，枢接于该第一机器臂；以及一第三机器臂，枢接于该第二机器臂并且枢接于该活动端部，该第三机器臂以该第二机器臂的长度方向为轴心作旋转；其中该活动端部连接于该测量构件的背面。11.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该扫描路径为该特定几何表面与该待测天线保持在一预定距离内的运动轨迹。12.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该待测天线平行于该基准面，于进行测量时，该待测天线以该基准面的法线为轴心进行旋转，该处理器控制该特定几何表面朝向该待测天线沿重力方向作直线扫描。13.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该处理器内建于该多关节机器人，或外接于该多关节机器人。14.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该扫描路径为事先输入至该处理器，或是由该多关节机器人进行实时运算而产生。

技术总结
一种天线测量系统，用于测量固定于基准面的待测天线辐射场型。天线测量系统包含多关节机器人、测量构件以及处理器。多关节机器人座设于基准面的周边，且其活动端部可以扫描由基准面定义的短距区域；测量构件配置于多关节机器人的活动端部，测量构件的正面为特定几何表面，用以面向待测天线进行辐射测量；处理器耦接至活动端部，用以控制活动端部带动测量构件相对于待测天线沿事先定义的扫描路径移动，并在沿扫描路径移动的过程中保持特定几何表面朝向待测天线。朝向待测天线。朝向待测天线。


技术研发人员：周锡增 邱志伟
受保护的技术使用者：周锡增
技术研发日：2021.04.09
技术公布日：2022/8/16