一种VC-TCXO自动测试分选机的制作方法

一种vc-tcxo自动测试分选机
技术领域
1.本实用新型涉及晶片生产领域，具体涉及一种vc-tcxo自动测试分选机。


背景技术：

2.vc-tcxo是通过附加的温度补偿电路使由周围温度变化产生的振荡频率变化量削减的一种温度补偿型石英晶体谐振器，具有精度高等特点。
3.为了提高产品的良品率，对石英晶片的频率进行精准的测量和分选是提高石英晶体元器件质量和生产效率的一个重要工艺过程。现阶段一般使用转盘式测试分选机对石英晶振进行分选，但由于vc-tcxo的测试过程十分繁琐，若使用传统的转盘式分选，耗时太长，效率太低。因此，研发一种适用于vc-tcxo的测试分选机是十分有必要的。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是克服现有技术的缺点和不足，提供一种结构紧凑、测试效率高、分选速度快的vc-tcxo自动测试分选机。
5.为实现以上目的，本实用新型的技术解决方案是：一种vc-tcxo自动测试分选机，包括机架，其特征在于：所述机架上分别设置有圆振送料装置、双头取料机构、影像检测机构、传送系统、测试机构和收料分类机构，所述影像检测机构位于圆振送料装置的正上方，所述双头取料机构位于圆振送料装置送料端一侧，双头取料机构的前端安装有可调整晶片朝向的旋转机构，双头取料机构的一侧设置有晶片测试平台，所述晶片测试平台上设置有若干个用于放置晶片的凹槽，晶片测试平台滑动连接在传送系统上，所述测试机构和收料分类机构分别位于传送系统的两侧，所述收料分类机构包括收料装置和若干个用于盛放不同质量产品的分类盒，所述收料装置上设置有多个与晶片测试平台上的凹槽一一对应的收料吸嘴。
6.所述双头取料机构包括基座、取料吸嘴和取料吸嘴位移装置，所述取料吸嘴位移装置包括主动凸轮、从动凸轮和连接板，所述主动凸轮和从动凸轮通过同步装置传动连接，所述主动凸轮和从动凸轮分别通过其上的凸轮轴与连接板连接在一起，连接板的两端外壁上分别安装有取料吸嘴。
7.所述传送系统包括纵向滑轨、横向滑轨机构和纵向链轨传动机构，所述晶片测试平台滑动连接在横向滑轨机构上，所述横向滑轨机构滑动连接在纵向滑轨上，横向滑轨机构通过连接桥与纵向链轨传动机构连接在一起。
8.所述旋转机构包括驱动电机、主驱动轮、从驱动轮和落料平台，所述主驱动轮与驱动电机的电机轴传动连接，所述从驱动轮和主驱动轮通过皮带轮传动连接，所述落料平台与从驱动轮同轴连接。
9.所述落料平台的两侧分别设置有ng落料管。
10.所述机架上分布有若干个压缩气净化装置。
11.与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
12.1、本实用新型使用双头取料机构，在往旋转机构上放料时同步实现了往晶片测试平台上放料的操作，在晶片测试平台上设置若干个凹槽，使得测试机构可以一次对多个晶振进行测试，提高了测试效率；将圆振送料装置、旋转机构、传送系统、测试机构和收料分类机构分别放置在双头取料机构的四周，不仅使得整个系统结构更紧凑，而且由于减少了物料的运转路程，晶振的运转效率更高，分选速度也更快。
13.2、本实用新型中落料平台的两侧分别设置ng落料管，在进入测试程序之前就将不合格的晶振挑选出来，避免了重复测试造成的浪费，节省了时间、提高了效率。
14.3、本实用新型中机架上分布若干个压缩气净化装置，对生产过程中产生的微尘进行净化，避免了微尘对精密部件的损害。
附图说明
15.图1是本实用新型的结构视图一（立体图一）。
16.图2是本实用新型的结构视图二（立体图二）。
17.图3是本实用新型中双头取料机构的结构示意图。
18.图4是本实用新型中传送系统及晶片测试平台的结构示意图。
19.图5是本实用新型中旋转机构的结构示意图。
20.图中：机架1，圆振送料装置2，双头取料机构3，影像检测机构4，传送系统5，测试机构6，收料分类机构7，旋转机构8，晶片测试平台9，凹槽10，收料装置11，分类盒12，收料吸嘴13，基座14，取料吸嘴15，取料吸嘴位移装置16，主动凸轮17，从动凸轮18，连接板19，凸轮轴20，纵向滑轨21，横向滑轨机构22，纵向链轨传动机构23，连接桥24，驱动电机25，主驱动轮26，从驱动轮27，落料平台28，ng落料管29，压缩气净化装置30，一号同步轮31，二号同步轮32。
具体实施方式
21.以下结合附图说明和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
22.参见图1-图5，一种vc-tcxo自动测试分选机，包括机架1，所述机架1上分别设置有圆振送料装置2、双头取料机构3、影像检测机构4、传送系统5、测试机构6、收料分类机构7和若干个压缩气净化装置30，所述影像检测机构4固定在双头取料机构3的顶端，影像检测机构4的摄像头位于圆振送料装置2送料槽的正上方，所述双头取料机构3位于圆振送料装置2送料端一侧，双头取料机构3的前端安装有可调整晶片朝向的旋转机构8，双头取料机构3的一侧设置有晶片测试平台9，所述晶片测试平台9上设置有六个用于放置晶片的凹槽10，所述测试机构6和收料分类机构7分别位于传送系统5的两侧，所述收料分类机构7包括收料装置11和两个用于盛放不同质量产品的分类盒12（ng盒和ok盒），所述收料装置11滑动连接在滑轨上，收料装置11上设置有多个与晶片测试平台9上的凹槽10一一对应的收料吸嘴13。
23.所述双头取料机构3包括基座14、取料吸嘴15和取料吸嘴位移装置16，所述取料吸嘴位移装置16包括主动凸轮17、从动凸轮18和连接板19，所述主动凸轮17，所述基座14的顶部安装有电机，所述电机的电机轴上套接有主动凸轮17和一号同步轮31，所述从动凸轮18通过同步轴与二号同步轮32连接在一起，所述一号同步轮31和二号同步轮32之间通过同步带传动连接，所述主动凸轮17和从动凸轮18分别通过其上的凸轮轴20与连接板19连接在一
起，连接板19的两端外壁上分别安装有取料吸嘴15。
24.所述传送系统5包括纵向滑轨21、横向滑轨机构22和纵向链轨传动机构23，所述晶片测试平台9滑动连接在横向滑轨机构22上，所述横向滑轨机构22滑动连接在纵向滑轨21上，横向滑轨机构22通过连接桥24与纵向链轨传动机构23连接在一起。
25.所述旋转机构8包括驱动电机25、主驱动轮26、从驱动轮27和落料平台28，所述主驱动轮26与驱动电机25的电机轴传动连接，所述从驱动轮27和主驱动轮26通过皮带轮传动连接，所述落料平台28与从驱动轮27同轴连接，所述落料平台28的两侧分别设置有ng落料管29。
26.本实用新型的工作过程为：影像检测机构4上的摄像头识别圆振送料装置2的送料槽来料的方向，双头取料机构3将产品从圆振送料装置2的送料槽上取出放置到旋转机构8的落料平台28上，旋转机构8上的驱动电机25通过收取影像检测机构4上的摄像头识别结果确定是否启动，双头取料机构3第二次从别圆振送料装置2的送料槽中取料的同时，双头取料机构3上的位于右侧的取料吸嘴15将落料平台28上的产品取放到晶片测试平台9的凹槽10中，影像检测机构4上的摄像头识别晶片测试平台9上产品位置及方向是否正确。若正确，双头取料机构3重复取料动作直到晶片测试平台9上六颗产品放满，若判定ng,由双头取料机构3上的位于右侧的取料吸嘴15取回放置于落料平台28旁的ng落料管29中，再重新上料；晶片测试平台9上六颗产品全部正确放满后，将晶片测试平台9传送到测试机构6进行测试，测试完成后，再将晶片测试平台9传送到收料分类机构7取料位置，由收料装置11上的收料吸嘴13将晶片测试平台9上六颗产品全部吸附，ng产品落于ng料盒中，ok产品收集在ok料盒中。晶片测试平台9再回到上料位进行下一次上料动作，如此循环测试分选。