一种显示面板的检测方法与流程

1.本技术涉及显示领域，具体涉及一种显示面板的检测方法。


背景技术：

2.显示面板的制备过程通常包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的成盒(cell)工序，在进行cell工序时，需要对显示面板进行面板功能测试(cell-test)，cell-test可以检测显示面板在阵列基板、彩膜基板、成盒这三个工序中出现的不良，从而把不良的产品去除，以提升显示面板的制备良率。cell-test过程需要基于显示面板内部的cell-test测试电路进行，但是当测试电路设于驱动ic的对侧时，则无法检测扇出区的信号线是否断线。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供一种显示面板的检测方法，可以解决现有技术中显示面板的检测方法存在漏检的技术问题。
4.本技术实施例提供一种显示面板的检测方法，包括以下步骤:
5.提供一显示面板，所述显示面板包括显示区和设于所述显示区一侧的扇出区，所述显示区内设有若干像素单元以及信号线，每一信号线与至少一像素单元连接，所述信号线自所述显示区延伸至所述扇出区中；
6.将所述扇出区的信号线与检测电路结构的一端连接，在所述检测电路结构的另一端输入电信号，观测所述像素单元是否被点亮，若均被点亮，则所述显示面板合格，若存在至少一像素单元未被点亮，则所述显示面板不合格。
7.可选的，在本技术的一些实施例中，所述信号线的末端设于所述扇出区远离所述显示区的一侧，所述检测电路结构的所述一端与所述信号线的所述末端连接。
8.可选的，在本技术的一些实施例中，在所述观测每一信号线连接的像素单元是否被点亮的步骤之后，还包括以下步骤：
9.切断所述检测电路结构的所述一端与所述信号线的连接处。
10.可选的，在本技术的一些实施例中，若存在至少一像素单元未被点亮，则所述像素单元对应的所述信号线存在断点。
11.可选的，在本技术的一些实施例中，所述检测电路结构包括
12.至少两个薄膜晶体管单元，所述薄膜晶体管单元的栅极连接至第一走线、所述薄膜晶体管单元的源极连接至第二走线，所述薄膜晶体管单元的漏极分别与一信号线连接。
13.可选的，在本技术的一些实施例中，所述将所述扇出区的信号线与检测电路结构的一端连接的具体步骤如下：
14.将所述检测电路结构的所述薄膜晶体管单元的漏极与信号线一一对接；
15.向所述第一走线和第二走线输入电信号；
16.观测每一信号线连接的像素单元是否被点亮，若是，则该信号线合格，若否，则该
信号线不合格；
17.向所述第一走线和所述第二走线输入接地信号。
18.可选的，在本技术的一些实施例中，向所述第一走线输入的电信号的电压为17～32v。
19.可选的，在本技术的一些实施例中，向所述第二走线输入的电信号的电压为6～16v。
20.可选的，在本技术的一些实施例中，在所述向所述第一走线和所述第二走线输入接地信号的步骤之后，还包括以下步骤：
21.切断所述薄膜晶体管单元的漏极与所述信号线的连接处。
22.可选的，在本技术的一些实施例中，采用激光镭射切断所述薄膜晶体管单元的漏极与所述信号线的连接处。
23.本技术实施例的有益效果在于，本技术实施例的一种显示面板的检测方法将检测电路结构与扇出区中信号线的末端连接，并通过对检测电路结构给电以观测像素单元是否被点亮的方式具象化检测出显示面板内的所有信号线是否存在断点，其检测方式简单，且在检测完成后可以激光切除检测电路结构，不会增加显示面板的重量，也不会损伤显示面板。
附图说明
24.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
25.图1是本技术实施例一提供的显示面板的检测方法对应的结构示意图；
26.图2是本技术实施例一提供的显示面板的检测方法的流程图；
27.图3是本技术实施例二提供的显示面板的检测方法对应的结构示意图；
28.图4是本技术实施例二提供的显示面板的检测方法的流程图；
29.图5是本技术实施例三提供的显示面板的检测方法对应的结构示意图。
30.附图标记说明：
31.显示面板10；显示区110；
32.扇出区120；像素单元111；
33.信号线112；第一检测电路结构20；
34.第二检测电路结构30；薄膜晶体管单元31；
35.第一走线32；第二走线33；
36.第三检测电路结构40；电容结构41；
37.第三走线42。
具体实施方式
38.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于
本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术，并不用于限制本技术。在本技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
39.本技术实施例提供一种显示面板的检测方法。以下分别进行详细说明。
40.实施例一
41.如图1所示，本实施例中，本发明用以检测的显示面板10包括显示区110和设于显示区110一侧的扇出区120。其中，显示区110内设有若干阵列分布的像素单元111和连接像素单元111的信号线112，每一信号线112与至少一像素单元111连接，用以传输电信号以驱动像素单元111的点亮或熄灭。信号线112从显示区110延伸至扇出区120中，且所有信号线112的末端集中设于扇出区120远离显示区110的一侧边缘处，用以后续的驱动邦定。在实际生产中，需要确保信号线无断裂，以保证显示面板10的良品率，本实施例中，提供了一种第一检测电路结构20，用以检测显示面板10中的信号线是否断裂。
42.具体的，本实施例中的第一检测电路结构20包括一条主干线以及若干支线，每一信号线112的末端均与第一检测电路结构20的一支线连接，在检测显示面板10时，在所述主干线的其中一端输入电信号，所述电信号通过所述主干线分流至每一支线中，再通过所述支线传输至每一信号线112中，若信号线112无断裂问题，则电信号会继续传输并点亮该信号线112连接的像素单元111，反之，若信号线112存在断裂问题，则电信号会被中断，其对应的像素单元111也不会被点亮，故在主干线输入电信号后，只需通过观测每一信号线112对应的像素单元111是否被点亮即可同时且具象化得知每一信号线112是否存在断线。
43.为了更好的解释本发明，如图2所示，本实施例还提供了上述显示面板的检测方法，具体步骤如下：
44.s11)提供上述待检测的显示面板10，显示面板10包括显示区110设于显示区110一侧的扇出区120，显示区110内设有若干像素单元111以及信号线112，每一信号线112与至少一像素单元111连接，信号线112自显示区110延伸至扇出区120中，且所有信号线112的末端汇聚于扇出区120远离显示区110的一侧边缘处。
45.s12)提供上述的第一检测电路结构20，其中，第一检测电路结构20包括一条主干线以及若干支线。将信号线112的末端连接至第一检测电路结构20的支线上，对第一检测电路结构20的主干线的其中一端输入电信号，观测像素单元111是否被点亮，若均被点亮，则显示面板10合格；若存在至少一像素单元111未被点亮，则显示面板10不合格，根据未被点亮的像素单元111可知其对应连接的信号线112存在断点，可据此追溯存在断点的信号线112并标记，以便后续修复。
46.s13)采用激光切断第一检测电路结构20中支线与信号线112的连接处，以断开检测电路20和显示面板10。
47.本实施例的有益效果在于，将检测电路结构与扇出区中信号线的末端连接，并通过对检测电路结构给电以观测像素单元是否被点亮的方式具象化检测出显示面板内的所有信号线是否存在断点，其检测方式简单，且在检测完成后激光切除检测电路结构，不会增加显示面板的重量，也不会损伤显示面板。
48.实施例二
49.如图3所示，本实施例中的待检测的显示面板10与实施例1中提供的待检测面板10相同，不同在于，本实施例中的第二检测电路结构30包括若干薄膜晶体管单元31、第一走线32以及第二走线33。
50.具体的，薄膜晶体管单元31包括开关端(栅极)以及信号端(源极和漏极)，其中，薄膜晶体管单元31的数量对应显示面板10中信号线112的数量，薄膜晶体管单元31的开关端连接至第一走线32，所述信号端中的源极连接至第二走线33，而漏极与信号线112一一对应连接。通过对第一走线32输入电信号a从而打开薄膜晶体管单元31，再通过对第二走线33输入电信号b，其中电信号b通过被打开的薄膜晶体管单元31的漏极传输至每一信号线112中，本实施例中，电信号a的电压为17～32v，电信号b的电压为6～16v。若信号线112无断裂问题，则电信号b会继续传输并点亮该信号线112连接的像素单元111，反之，若信号线112存在断裂问题，则电信号b会被中断，其对应的像素单元111也不会被点亮，故只需通过观测每一信号线112对应的像素单元111是否被点亮即可同时且具象化得知每一信号线112是否存在断线。
51.在结束检测时，只需将第一走线32和第二走线33同时接地，即可释放薄膜晶体管单元31内的电信号并关闭薄膜晶体管单元31。
52.本实施例与实施例1不同的是，本实施例在检测完成后可以无需去除第二检测电路结构30，不会对显示面板10造成任何不良影响，节省了一道工序。
53.如图4所示，为了更好的解释本发明，本实施例还提供了上述显示面板的检测方法，其具体步骤如下：
54.s21)提供上述待检测的显示面板10，显示面板10包括显示区110设于显示区110一侧的扇出区120，显示区110内设有若干像素单元111以及信号线112，每一信号线112与至少一像素单元111连接，信号线112自显示区110延伸至扇出区120中，且所有信号线112的末端汇聚于扇出区120远离显示区110的一侧边缘处。
55.s22)提供上述的第二检测电路结构30，其中，包括若干薄膜晶体管单元31、第一走线32以及第二走线33，薄膜晶体管单元31的开关端连接至第一走线32，所述信号端中的源极连接至第二走线33，而漏极与信号线112一一对应连接。通过对第一走线32输入电信号a从而打开薄膜晶体管单元31，再通过对第二走线33输入电信号b，观测像素单元111是否被点亮，若均被点亮，则显示面板10合格；若存在至少一像素单元111未被点亮，则显示面板10不合格，根据未被点亮的像素单元111可知其对应连接的信号线112存在断点，可据此追溯存在断点的信号线112并标记，以便后续修复。
56.s23)对第一走线32和第二走线33输入接地信号。
57.可选的，在步骤s22)之后，还可以包括以下步骤：
58.s24)采用激光切断检测电路30中漏极与信号线112的连接处，以断开检测电路30和显示面板10。
59.本技术实施例的有益效果在于，本技术实施例的一种显示面板的检测方法将检测电路结构与扇出区中信号线的末端连接，并通过对检测电路结构给电以观测像素单元是否被点亮的方式具象化检测出显示面板内的所有信号线是否存在断点，其检测方式简单，且在检测完成后可以无需去除检测电路结构，同时不会对显示面板造成任何不良影响，节省
了一道工序。
60.实施例三
61.如图5所示，本实施例中的待检测的显示面板10与实施例1中提供的待检测面板10相同，不同在于，本实施例中的第三检测电路结构40包括若干电容结构41，其中，电容结构41的一端与信号线112一一对应连接，电容结构41的另一端被汇聚连接至第三走线42上，根据现有技术可知，显示面板10存在公共走线，本实施例中，在检测时，对第三走线42施加电信号，在通过测试电容的装置对所述公共走线进行检测，当检测的电容值小于预设值时，表示显示面板10内的信号线112存在断点，由于本实施例并非通过像素单元111是否被点亮判断信号线是否断裂，故本实施例中的第三检测电路结构40能够检测显示面板10内的任意走线，而并非只能检测与像素单元111连接的信号线，其检测范围更广。
62.本技术实施例的有益效果在于，本技术实施例的一种显示面板的检测方法将检测电路结构与扇出区中信号线的末端连接，并通过对检测电路结构给电以观测像素单元是否被点亮的方式具象化检测出显示面板内的所有信号线是否存在断点，其检测方式简单，且在检测完成后可以激光切除检测电路结构，不会增加显示面板的重量，也不会损伤显示面板。
63.以上对本技术实施例所提供的一种显示面板的检测方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。