密封圈压入过程的监控方法、装置、设备及可读存储介质与流程

1.本发明涉及密封圈技术领域，尤其涉及密封圈压入过程的监控方法、装置、设备及可读存储介质。


背景技术：

2.在汽车和产业设备的各个领域中，密封圈主要用于将油、水等液体、空气、煤气等气体密封于装置内部的密封圈，防止泄漏。密封圈一般由用弹性体成形的环状构件形成，并且通过使用在被安装于两个构件的端面之间时朝径向的弹性变形所产生的回弹力对该端面之间进行密封，因此能够防止各种流体的泄漏。
3.目前，密封圈在压入过程中没有有效的监控手段，导致压入不良需要在最终完成品检查工程才能够拦截，在涉及到多发问题时，涉及到的返修工时将会非常巨大，严重影响生产效率。
4.因此，为了解决上述问题，亟需一种能够在密封圈压入时即可判断品质好坏以及时隔离不良品的方案。


技术实现要素：

5.本发明的主要目的在于提供一种密封圈压入过程的监控方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决如何在密封圈的压入过程中实现有效监控，以便及时拦截压入不良的产品，避免影响生产效率的技术问题。
6.为实现上述目的，本发明提供一种密封圈压入过程的监控方法，所述密封圈压入过程的监控方法包括以下步骤：
7.获取当前密封圈的压入数据；
8.基于所述压入数据生成行程曲线，基于所述行程曲线获取线性方程；
9.基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量；
10.基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良。
11.可选地，所述获取当前密封圈的压入数据的步骤之前包括：
12.获取多组正常压入数据，基于所述正常压入数据生成多组行程曲线；
13.将所述多组行程曲线进行拟合以得到标准线性曲线，并基于所述标准线性曲线获取标准线性方程；
14.根据所述多组正常压入数据和标准线性方程设定标准偏移量。
15.可选地，基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良的步骤包括：
16.基于所述线性方程和预设的标准线性方程的斜率大小关系，以及所述整体偏移量和预设的标准偏移量的数值大小关系，判断所述当前密封圈是否压入不良。
17.可选地，所述基于所述线性方程和预设的标准线性方程的斜率大小关系，以及所
述整体偏移量和预设的标准偏移量的数值大小关系，判断所述当前密封圈是否压入不良的步骤包括：
18.若所述线性方程的斜率小于所述标准线性方程的斜率，则认定所述当前密封圈压入不良；
19.若所述线性方程的斜率不小于所述标准线性方程的斜率，所述整体偏移量小于所述标准整体偏移量，则认定所述当前密封圈压入不良；
20.若所述线性方程的斜率不小于所述标准线性方程的斜率，且所述整体偏移量不小于所述标准整体偏移量，则认定所述当前密封圈压入正常。
21.可选地，所述基于所述压入数据生成行程曲线的步骤包括：
22.对所述压入数据进行筛选，剔除密封圈未压入时的数据，基于筛选后的数据生成行程曲线。
23.可选地，所述压入数据包括行程值和实际压入力，所述对所述压入数据进行筛选，剔除密封圈未压入时的数据，基于筛选后的数据生成行程曲线的步骤包括：
24.对所述压入数据进行筛选，剔除实际压入力为零的数据及其对应的行程值，基于筛选后的行程值和实际压入力生成行程曲线。
25.可选地，所述基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量的步骤包括：
26.将所述行程值代入所述线性方程中以得到线性压入力；
27.基于所述线性压入力和所述实际压入力计算整体偏移量。
28.此外，为实现上述目的，本发明还提供一种密封圈压入过程的监控装置，所述密封圈压入过程的监控装置包括：
29.获取模块，用于获取当前密封圈的压入数据；
30.生成模块，用于基于所述压入数据生成行程曲线，将所述行程曲线转化为线性方程；
31.计算模块，用于基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量；
32.判断模块，用于基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良。
33.此外，为实现上述目的，本发明还提供一种密封圈压入过程的监控设备，所述密封圈压入过程的监控设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的密封圈压入过程的监控程序，所述密封圈压入过程的监控程序被所述处理器执行时实现如上所述的密封圈压入过程的监控方法的步骤。
34.此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有密封圈压入过程的监控程序，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时实现如上所述的密封圈压入过程的监控方法的步骤。
35.本发明提出一种密封圈压入过程的监控方法、装置、设备及可读存储介质，克服了现有技术中密封圈在压入过程中没有有效的监控手段的问题。本发明通过获取当前密封圈的压入数据，对每个密封圈的压入数据进行了监控；通过基于所述压入数据生成行程曲线，基于所述行程曲线获取线性方程，基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量，构建了用于表征压入数据稳定性的参照对象；本发明还预设了标准的参照对象，通过基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压
入不良，能够实时地判断出当前的压入数据是否符合标准，进一步地即可得知当前压入的密封圈是否压入不良。本发明在密封圈的压入过程中实现了有效监控，能够在当前的压入工位及时拦截和隔离压入不良的产品，避免了不良品进入后续工位导致多发问题进而影响生产效率的情况，减少了零部件工厂返修的时间，也因为更好地保证了产品品质，可递减整车厂的不良发生情况，提高品牌竞争力。
附图说明
36.图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的密封圈压入过程的监控设备结构示意图；
37.图2为本发明密封圈压入过程的监控方法一实施例的流程示意图；
38.图3为本发明密封圈压入过程的监控方法一实施例前期数据验证过程中由多组数据构建的行程曲线示意图；
39.图4为本发明密封圈压入过程的监控方法一实施例基于图3进行筛选和拟合之后得到的行程曲线示意图；
40.图5为本发明密封圈压入过程的监控方法一实施例基于当前密封圈的压入数据生成的行程曲线示意图；
41.图6为本发明密封圈压入过程的监控装置一实施例的结构示意图。
42.本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
43.应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
44.本发明实施例的主要解决方案是：一种密封圈压入过程的监控方法，所述密封圈压入过程的监控方法包括以下步骤：
45.获取当前密封圈的压入数据；
46.基于所述压入数据生成行程曲线，基于所述行程曲线获取线性方程；
47.基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量；
48.基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良。
49.由于现有技术中，密封圈在压入过程中没有有效的监控手段，导致压入不良需要在最终完成品检查工程才能够拦截，在涉及到多发问题时，涉及到的返修工时将会非常巨大，严重影响生产效率。
50.因此，为了解决上述问题，本发明提供一种密封圈压入过程的监控方法，克服了现有技术中密封圈在压入过程中没有有效的监控手段的问题。本发明通过获取当前密封圈的压入数据，对每个密封圈的压入数据进行了监控；通过基于所述压入数据生成行程曲线，基于所述行程曲线获取线性方程，基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量，构建了用于表征压入数据稳定性的参照对象；本发明还预设了标准的参照对象，通过基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良，能够实时地判断出当前的压入数据是否符合标准，进一步地即可得知当前压入的密封圈是否压入不良。本发明在密封圈的压入过程中实现了有效监控，能够在当前的压入工
位及时拦截和隔离压入不良的产品，避免了不良品进入后续工位导致多发问题进而影响生产效率的情况，减少了零部件工厂返修的时间，也因为更好地保证了产品品质，可递减整车厂的不良发生情况，提高品牌竞争力。
51.参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的密封圈压入过程的监控设备结构示意图。
52.如图1所示，该密封圈压入过程的监控设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(central processing unit，cpu)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(wireless-fidelity，wi-fi)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(random access memory，ram)存储器，也可以是稳定的非易失性存储器(non-volatile memory，nvm)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储设备。
53.本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对密封圈压入过程的监控设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
54.如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、数据存储模块、网络通信模块、用户接口模块以及密封圈压入过程的监控程序。
55.在图1所示的密封圈压入过程的监控设备中，网络接口1004主要用于与其他设备进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互；本发明密封圈压入过程的监控设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在密封圈压入过程的监控设备中，所述密封圈压入过程的监控设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的密封圈压入过程的监控程序，并执行本发明实施例提供的密封圈压入过程的监控方法。
56.参照图2，本发明一实施例提供一种密封圈压入过程的监控方法，所述密封圈压入过程的监控方法包括：
57.步骤s10，获取当前密封圈的压入数据；
58.需要说明的是，本实施例中，执行主体为监控设备，所述监控设备可以是工控电脑，也可以是个人电脑、智能手机、平板电脑或者便携式计算机等能够与密封圈压入工位进行数据交互的设备。本实施例中的监控是基于生产线上的密封圈压入工位进行的，所述压入工位包含用于压入密封圈的压入设备，本实施例中的压入数据主要包括行程值和实际压入力，所述行程值和实际压入力依靠所述压入设备上包含的行程传感器和压力传感器进行获取。
59.作为一个实例，本实施例中，步骤s10之前包括：获取多组正常压入数据，基于所述正常压入数据生成多组行程曲线；将所述多组行程曲线进行拟合以得到标准线性曲线，并基于所述标准线性曲线获取标准线性方程；根据所述多组正常压入数据和标准线性方程设定标准偏移量。
60.需要说明的是，本实施例中，前期经过了大量的数据验证，发现在图纸规定范围内密封圈的压入力与密封圈和安装孔直径没有太大关联(均为过盈配合的前提下)，故可以通过管控密封圈的压入力与行程的波形数据，来实现密封圈压入品质的监控，因此，本实施例
在获取多组密封圈的压入数据(即所述正常压入数据)后，生成了多组行程曲线(即所述行程曲线)，参考图3，图3为本实施例中前期的数据验证过程中由多组数据构建的行程曲线示意图，其中横轴为行程，包括1、31、61、91、121和151，纵轴为压入力，包括0、20、40、60、80、100、120、140、160和150，其中最上方的行程曲线是由多组数据中的最大值生成的行程曲线，最下方的行程曲线是由多组数据中的最小值生成的行程曲线，中间的行程曲线是由多组数据的平均值生成的行程曲线，根据图3，可以得知压入力与行程的曲线关系类似于一元一次方程式y＝kx a，其中y代表压入力，x代表行程；将所有的压入力及行程的数据代入方程式，可发现所有数据的系数k值接近。
61.由于找到了正常压入曲线的规律，那么可以用该规律剔除非正常压入的密封圈，作为一个实例，本实施例中，所述基于所述正常压入数据生成多组行程曲线的步骤包括：对所述压入数据进行筛选，剔除密封圈未压入时的数据，基于筛选后的数据生成行程曲线；具体地，对所述压入数据进行筛选，剔除实际压入力为零的数据及其对应的行程值，基于筛选后的行程值和实际压入力生成行程曲线。
62.本实施例中，筛选上述多组数据中的正常压入数据，剔除密封圈未压入时的数据，以密封圈正式压入为0点生成图形，并利用上述多组数据的行程曲线拟合得到具体方程式(即所述标准线性方程)，并计算标准偏移量，参考图4，图4为本实施例中基于图3进行筛选和拟合之后得到的行程曲线示意图，从图4可以得知，其与图3的区别在于，剔除了压入力为0的部分数据，即3条分别代表最大值、平均值和最小值的行程曲线均以出现微小压入力时(视为密封圈正式压入)的行程作为曲线的原点，终点行程值不再一致，其中横轴的行程包括1、31、61、91和121，纵轴的压入力与图3中的标注一致。图4中的虚线即为拟合得到的具体方程式，即本实施例中的标准线性方程，从图中可以得知所述标准线性方程为y＝0.989x，根据所述多组正常压入数据和标准线性方程计算之后得到r2＝0.8463，经过综合考虑之后，本实施例中将标准偏移量设定为0.8，需要说明的是，本实施例中，整体偏移量越接近于1说明偏移程度越低，越接近于0说明偏移程度越高，在其他实施方式中，也可以根据具体计算方式将判断标准互换，本实施例对此不加以限制。
63.需要说明的是，上述具体数值并不代表对本实施例的范围限定，本实施中提供的上述数据仅为本实施例基于某一产线的密封圈压入工位的正常压入数据得到的结果，实际上，其他的密封圈压入工位亦能够将上述方法代入，根据实际收集到的压入数据，得到对应于该压入工位的标准线性方程和标准偏移量。
64.步骤s20，基于所述压入数据生成行程曲线，基于所述行程曲线获取线性方程；
65.可以理解的是，基于前述步骤可以得知，本实施例中，会基于当前的压入数据生成与预设的行程曲线类似的行程曲线，并基于所述行程曲线拟合得到线性方程，其生成方式可参照上述步骤s10之前的步骤。
66.作为一个实例，步骤s20包括：对所述压入数据进行筛选，剔除密封圈未压入时的数据，基于筛选后的数据生成行程曲线；具体地，对所述压入数据进行筛选，剔除实际压入力为零的数据及其对应的行程值，基于筛选后的行程值和实际压入力生成行程曲线。
67.参照图5，图5为本实施例中基于当前密封圈的压入数据生成的行程曲线示意图，从图5中可以得知，其包含两条虚线和一条实线，其中实线为基于当前密封圈的压入数据生成的行程曲线，本实施例中，其为ng图形，即其所属的密封圈属于压入不良的产品，上方虚
线为ok拟合线，与图4中的虚线一致，即标准线性方程式，下方虚线为ng拟合线，即基于所述ng图形的行程曲线拟合得到的线性方程y＝0.816x。
68.步骤s30，基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量；
69.可以理解的是，基于前述步骤可以得知，所述压入数据包括实际压入力和行程值。
70.作为一个实例，步骤s30包括：将所述行程值代入所述线性方程中以得到线性压入力；基于所述线性压入力和所述实际压入力计算整体偏移量。
71.可以理解的是，由于线性方程是拟合得到的，并非实际行程曲线，因此，将行程值依次代入其中得到的线性压入力会与压力传感器获取的实际压入力存在差异，所述整体偏移量正是基于该差异进行的评估，从图5中可以得知，基于当前密封圈的压入数据和线性方程y＝0.816x计算得到的整体偏移量r2＝0.6185。
72.需要说明的是，上述数据仅用于举例和便于理解本实施例，并不代表对当前密封圈的压入数据的限制，应理解的是，当前密封圈的压入检测结果是ok还是ng随实际获取到的压入数据变化。
73.步骤s40，基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良。
74.可以理解的是，上述步骤中已经给出了预设的标准线性方程和标准偏移量，也给出了基于当前密封圈的压入数据获取到的线性方程和整体偏移量，只需将它们进行对比即可得出当前密封圈是否压入不良的结果。
75.作为一个实例，本实施例中，步骤s40包括：基于所述线性方程和预设的标准线性方程的斜率大小关系，以及所述整体偏移量和预设的标准偏移量的数值大小关系，判断所述当前密封圈是否压入不良；若所述线性方程的斜率小于所述标准线性方程的斜率，则认定所述当前密封圈压入不良；若所述线性方程的斜率不小于所述标准线性方程的斜率，所述整体偏移量小于所述标准整体偏移量，则认定所述当前密封圈压入不良；若所述线性方程的斜率不小于所述标准线性方程的斜率，且所述整体偏移量不小于所述标准整体偏移量，则认定所述当前密封圈压入正常。
76.可以理解的是，只有线性方程的斜率即上述k值大于标准线性方程中的k值，且整体偏移量大于等于设定的标准偏移量时，才视为当前密封圈是正常压入，只要有一项不符合预设标准，则认定当前密封圈压入不良。本实施例中，基于上述数据可以得知，当前密封圈的斜率0.816小于预设的标准线性方程的斜率0.989，且当前密封圈的整体偏移量0.6185小于预设的标准偏移量0.8，显然，在两项条件均不符合预设标准的情况下，当前密封圈属于压入不良的情况，在当前的压入工位将其隔离。
77.在本实施例中，通过获取当前密封圈的压入数据，实现了对每个密封圈的压入数据的监控；通过基于所述压入数据生成行程曲线，基于所述行程曲线获取线性方程，基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量，构建了用于表征压入数据稳定性的参照对象；本实施例还预设了标准的参照对象，即预设的标准线性方程和标准偏移量，通过基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良，能够实时地判断出当前的压入数据是否符合标准，进一步地即可得知当前压入的密封圈是否压入不良。
78.本实施例在密封圈的压入过程中实现了有效监控，能够在当前的压入工位及时拦
截和隔离压入不良的产品，避免了不良品进入后续工位导致多发问题进而影响生产效率的情况，减少了零部件工厂返修的时间，也因为更好地保证了产品品质，可递减整车厂的不良发生情况，提高品牌竞争力。
79.此外，本发明实施例还提出一种密封圈压入过程的监控装置10，参照图6，所述密封圈压入过程的监控装置10包括：
80.获取模块101，用于获取当前密封圈的压入数据；
81.生成模块102，用于基于所述压入数据生成行程曲线，将所述行程曲线转化为线性方程；
82.计算模块103，用于基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量；
83.判断模块104，用于基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良。
84.此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有密封圈压入过程的监控程序，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时实现如下操作：
85.获取当前密封圈的压入数据；
86.基于所述压入数据生成行程曲线，基于所述行程曲线获取线性方程；
87.基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量；
88.基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良。
89.进一步地，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时还实现如下操作：
90.所述获取当前密封圈的压入数据的步骤之前包括：
91.获取多组正常压入数据，基于所述正常压入数据生成多组行程曲线；
92.将所述多组行程曲线进行拟合以得到标准线性曲线，并基于所述标准线性曲线获取标准线性方程；
93.根据所述多组正常压入数据和标准线性方程设定标准偏移量。
94.进一步地，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时还实现如下操作：
95.基于所述线性方程、所述整体偏移量、预设的标准线性方程和标准偏移量判断所述当前密封圈是否压入不良的步骤包括：
96.基于所述线性方程和预设的标准线性方程的斜率大小关系，以及所述整体偏移量和预设的标准偏移量的数值大小关系，判断所述当前密封圈是否压入不良。
97.进一步地，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时还实现如下操作：
98.所述基于所述线性方程和预设的标准线性方程的斜率大小关系，以及所述整体偏移量和预设的标准偏移量的数值大小关系，判断所述当前密封圈是否压入不良的步骤包括：
99.若所述线性方程的斜率小于所述标准线性方程的斜率，则认定所述当前密封圈压入不良；
100.若所述线性方程的斜率不小于所述标准线性方程的斜率，所述整体偏移量小于所述标准整体偏移量，则认定所述当前密封圈压入不良；
101.若所述线性方程的斜率不小于所述标准线性方程的斜率，且所述整体偏移量不小
于所述标准整体偏移量，则认定所述当前密封圈压入正常。
102.进一步地，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时还实现如下操作：
103.所述基于所述压入数据生成行程曲线的步骤包括：
104.对所述压入数据进行筛选，剔除密封圈未压入时的数据，基于筛选后的数据生成行程曲线。
105.进一步地，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时还实现如下操作：
106.所述压入数据包括行程值和实际压入力，所述对所述压入数据进行筛选，剔除密封圈未压入时的数据，基于筛选后的数据生成行程曲线的步骤包括：
107.对所述压入数据进行筛选，剔除实际压入力为零的数据及其对应的行程值，基于筛选后的行程值和实际压入力生成行程曲线。
108.进一步地，所述密封圈压入过程的监控程序被处理器执行时还实现如下操作：
109.所述基于所述压入数据和线性方程计算整体偏移量的步骤包括：
110.将所述行程值代入所述线性方程中以得到线性压入力；
111.基于所述线性压入力和所述实际压入力计算整体偏移量。
112.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
113.上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
114.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
115.以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。