显示面板检测线路、显示面板及显示器件的制作方法

1.本技术涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板检测线路、显示面板及显示器件。


背景技术：

2.目前显示屏产业非常发达，作为人机交互第一窗口，显示屏在生活中无处不在。显示面板在array阵列制程中，经常使用铜(cuprum,cu)作为金属走线。在液晶盒测试(cell test)阶段，因为有显示面板检测线路/短路棒(shorting-bar)连接到液晶盒测试端子(cell est pad，ct pad)进行cell test点屏测试，在后续刀轮切割后，端子侧金属的侧面裸露在外。在信赖性(ra)测试，以及在消费者使用过程中，会发生cu金属腐蚀膨胀，导致相邻两根信号线短路，造成显示面板内显示亮暗线不良。


技术实现要素：

3.本技术提供一种能够改善显示面板检测线路发生金属腐蚀膨胀短路导致显示面板出现亮暗线的一种显示面板检测线路、显示面板及显示器件。
4.一方面，本技术提供一种显示面板检测线路，包括短路棒和与所述短路棒耦接的测试线，所述短路棒和所述测试线共同用于传输显示测试信号至显示面板内，所述测试线包括：
5.切割段，所述切割段采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层，在完成所述显示面板的测试程序后通过切割方式切除所述切割段；
6.固定段，所述固定段耦接于所述切割段的两端，所述固定段和所述切割段共同用于传输所述显示测试信号至所述显示面板内。
7.在本技术一种可能的实现方式中，所述检测线路包括多个测试线，多个所述测试线的所述切割段均采用的是由金属氧化物导体构成的所述第一导体层。
8.在本技术一种可能的实现方式中，所述测试线包括依次间隔设置的偶数列测试线和奇数列测试线，所述偶数列测试线的切割段或者所述奇数列测试线的切割段采用的是金属氧化物导体构成的所述第一导体层。
9.在本技术一种可能的实现方式中，所述测试线包括电源信号线和多个显示信号线，多个所述显示信号线的切割段均采用的是金属氧化物导体构成的所述第一导体层。
10.在本技术一种可能的实现方式中，所述电源信号线的切割段采用的是由金属导体构成的第二导体层。
11.在本技术一种可能的实现方式中，所述固定段采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层或者由金属导体构成的第三导体层。
12.在本技术一种可能的实现方式中，所述切割段沿切割方向的第一导体宽度小于所述固定段沿切割方向的第二导体宽度。
13.在本技术一种可能的实现方式中，所述金属氧化物导体包括氧化铟镓锌、氧化铟
锡和钼钛合金。
14.在本技术一种可能的实现方式中，
15.另一方面，本技术提供一种显示面板，所述显示面板包括如所述的显示面板检测线路。
16.另一方面，本技术还提供一种显示器件，所述显示器件包括如所述的显示面板。
17.本技术的显示面板检测线路包括短路棒和与短路棒耦接的测试线，测试线包括切割段和固定段，其中，本技术的测试线切割段采用了由金属氧化物导体构成的第一导体层，从而在完成显示面板的测试程序后通过切割方式切除测试线的切割段时，切割段的端子侧金属的侧面裸露在外也不容易发生腐蚀现象，进而能够改善显示面板检测线路发生金属腐蚀膨胀短路导致显示面板出现亮暗线的问题。
附图说明
18.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
19.图1是本技术实施例提供的显示面板检测线路的一个实施例流程示意图；
20.图2是本技术实施例提供的显示面板检测线路的一个实施例流程示意图；
21.图3是本技术实施例提供的显示面板检测线路的一个实施例流程示意图；
22.图4是本技术实施例提供的显示面板检测线路的一个实施例流程示意图。
具体实施方式
23.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
24.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
25.在本技术中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本技术中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本发明，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本发明。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本发明的描述变得晦涩。因此，本发明并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本技术所公开的原理和特征的最广范围相一致。
26.本技术实施例提供一种显示面板检测线路、显示面板及显示器件，以下分别进行详细说明。
27.如图1所示，为本技术实施例中显示面板检测线路的一个实施例结构示意图，该显示面板检测线路包括短路棒1和与短路棒1耦接的测试线2，短路棒1和测试线2共同用于传输显示测试信号至显示面板内，测试线2包括：
28.切割段3，切割段3采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层，在完成显示面板的测试程序后通过切割方式切除切割段3；
29.固定段4，固定段4耦接于切割段3的两端，固定段4和切割段3共同用于传输显示测试信号至显示面板内。
30.在本实施例中，显示面板检测线路包括多个测试线2，多个测试线2可以是显示数据线和电源数据线，显示数据线可以是用于向显示面板输入r、g、b和s等像素显示测试信号的数据线，电源数据线可以是用于向显示面板输入vdd的电源测试信号的数据线。
31.短路棒1也包括多个分别与多个测试线2一一对应的数据线，短路棒1的两端耦接有测试固化垫5，即短路棒1中的每个数据线均分别对应耦接有的测试固化垫5。短路棒1用于获取从多个测试固化垫5分别输入的不同的显示测试信号，并将多个不同的显示测试信号分别对应传输至多个测试线2。
32.测试线2的一端与显示面板显示区域的邦定固化垫6耦接，测试线2的另一端与短路棒1耦接，测试线2和短路棒1内均设置有用于传输信号的导体，测试线2上和短路棒1上均开设有过孔，测试线2内的导体至少部分显露于测试线2的过孔中，短路棒1内的导体至少部分显露于短路棒1的过孔中，测试线2内的导体和短路棒1内的导体通过分别设置于对应过孔中的导电层的接触实现耦接。实际生产中，在显示面板形成阵列基板后则对显示面板进行显示测试，测试过程中，通过在测试固化垫5上输入对应的显示测试信号，并通过测试线2和短路棒1将显示测试信号传输至显示面板显示区域内，实现显示面板的显示测试。
33.在完成显示面板的测试程序后，为了避免短路棒1对显示面板的正常显示产生不良影响，需要通过面板刀轮切割或者激光裂片等切割方式将与显示面板检测线路断开，即通过切割测试线2的方式将短路棒1从显示面板的显示电路中切除，切除短路棒1后，测试线2内的导体外露容易氧化出现膨胀，使相邻的测试线2短路，导致显示面板出现亮暗线的问题。
34.为了解决上述问题，本技术的显示面板检测线路包括短路棒1和与短路棒1耦接的测试线2，测试线2包括切割段3和固定段4，其中，本技术的测试线2切割段3采用了由金属氧化物导体构成的第一导体层，从而在完成显示面板的测试程序后通过切割方式切除测试线2的切割段3时，切割段3的端子侧金属的侧面裸露在外也不容易发生腐蚀现象，进而能够改善显示面板检测线路发生金属腐蚀膨胀短路导致显示面板出现亮暗线的问题。
35.在本技术中，可以通过将短路棒1耦接的所有测试线2的切割段3均采用由金属氧化物导体构成的第一导体层，为了在解决测试线2切割后氧化腐蚀的问题的同时，提升测试信号线传输信号的运行效率，也可以将短路棒1耦接的部分测试线2中的切割段3均采用由金属氧化物导体构成的第一导体层，下面对多个测试线2的切割段3的设置方式进行具体阐述。
36.在本技术的另一个实施例中，如图1所示，多个测试线2的切割段3均采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层。
37.在本实施例中，显示面板检测线路的每个测试线2的切割段3中的导体均采用的是
由金属氧化物导体构成的第一导体层，第一导体层的金属氧化物导体包括氧化铟镓锌、氧化铟锡和钼钛合金，显示面板检测线路的每个测试线2的固定段4采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层或者由金属导体构成的第三导体层，这里对显示面板检测线路的每个测试线2的固定段4不做具体的限定。
38.在本技术的另一个实施例中，也可以将短路棒1耦接的部分测试线2中的切割段3均采用由金属氧化物导体构成的第一导体层，如图2所示，具体为：
39.测试线2包括依次间隔设置的偶数列测试线2和奇数列测试线2，偶数列测试线2的切割段3或者奇数列测试线2的切割段3采用的是金属氧化物导体构成的第一导体层。
40.在本实施例中，图2中所示出的短路棒1和测试线2为显示面板检测线路的一部分，实际会有n个短路棒1和测试线2，n为自然数，n的数量根据具体的显示面板设计进行设定，可以将n个测试线2按照排列顺序依次将相邻的测试线2设定为偶数列测试线2和奇数列测试线2，并将偶数列测试线2的切割段3或者奇数列测试线2的切割段3采用的是金属氧化物导体构成的第一导体层，从而使短路棒1耦接的部分测试线2中的切割段3均采用由金属氧化物导体构成的第一导体层。
41.在本实施例中，当偶数列测试线2的切割段3采用的是金属氧化物导体构成的第一导体层时，则奇数列测试线2的切割段3和与固定段4均采用的是由金属导体构成的第三导体层；当奇数列测试线2的切割段3采用的是金属氧化物导体构成的第一导体层时，则偶数列测试线2的切割段3和与固定段4均采用的是由金属导体构成的第三导体层，其中，第一导体层的金属氧化物导体包括氧化铟镓锌、氧化铟锡和钼钛合金。
42.本实施例将相邻两个测试线2的其中一个测试线2的切割段3采用第一导体层，在降低切割段3的端子侧金属在切割后发生膨胀的概率的同时，相对于将所有测试线2的切割段3均采用第一导体层的方案，能够提升显示面板检测线路的信号传输效率。
43.在本技术的另一个实施例中，还可以采用另一种设计方式，使短路棒1耦接的部分测试线2中的切割段3均采用由金属氧化物导体构成的第一导体层，如图3所示，具体为：
44.测试线2包括电源信号线和多个显示信号线，多个显示信号线的切割段3均采用的是金属氧化物导体构成的第一导体层，电源信号线的切割段3采用的是由金属氧化物导体构成的第一导体层或者是由金属导体构成的第二导体层。
45.即在本实施例中，将用于向显示面板输入r、g、b和s等像素显示测试信号的显示信号线采用由金属氧化物导体构成的第一导体层，将用于向显示面板输入vdd的电源测试信号的电源信号线采用由金属导体构成的第二导体层，显示面板检测线路的每个测试线2的固定段4采用的由金属导体构成的第三导体层，在本实施例中，第二导体层和第三导体层可以是相同金属导体，也可以是不同的金属导体。
46.本实施例将测试线2中的显示信号线采用由金属氧化物导体构成的第一导体层，并将测试线2中的电源信号线采用由金属导体构成的第二导体层，在降低切割段3的端子侧金属在切割后发生膨胀的概率的同时，有利于显示面板检测线路的电源信号线走大电流，保障显示面板检测线路的工作效率。
47.在本技术的另一个实施例中，在将所有测试线2的切割段3或者部分测试线2的切割段3采用由金属氧化物导体构成的第一导体层时，还可以通过设计测试线2的切割段3的尺寸的方式，来改善测试线2的切割段3在切割后氧化膨胀导致短路的问题，具体的：如图4
所示，切割段3沿切割方向的第一导体宽度小于固定段4沿切割方向的第二导体宽度。
48.示例性的，将切割段3沿切割方向的第一导体宽度可以是0.01mm，固定段4沿切割方向的第一导体宽度可以是0.02mm。从而在切割段3被切割后，切割段3发生氧化膨胀，也可以因宽度因素，相邻的切割段3不会发生连接而短路。在本实施例中说明的切割段3可以是上述实施例中示出的所有测试线2的切割段3，也可以是上述实施例中示出的部分测试线2的切割段3，在解决与本技术相同技术问题时，涉及到的与本技术相同技术方案的均在本技术的保护内。
49.在本技术的另一个实施例中，在种显示面板检测线路的基础之上，本技术还提供一种显示面板，所述显示面板包括如上述任意一个实施例中的显示面板检测线路。
50.在本技术的另一个实施例中，本技术还提供一种显示器件，显示器件包括如上述的显示面板。
51.以上对本技术实施例所提供的一种显示面板检测线路、显示面板及显示器件进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。