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超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法与流程

2022-04-13 16:27:02 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及一种缺陷检测方法,特别是涉及了一种超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法。


背景技术:

2.超声波测厚技术是其它机械尺寸测量的一种补充,用于测量无法接触到长度方向上其中一个端点的情况下,测量长度尺寸。利用超声波在物体中的传播时间,测量锻件的厚度,探头同样具有发射和接收超声波的功能,如果超声波在传播过程中遇到缺陷的阻碍,同样不能接收到超声波。


技术实现要素:

3.本发明所要解决的技术问题是:将提供一种使用测厚技术,采用超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法。
4.为了解决上述问题,本发明采用的技术方案是:采用超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法,其步骤如下:
5.制作超声波厚测探头;采用超声波测厚探头对锻件进行探伤,探测液从进液口流入,从出液口流入并与锻件接触,超声波通过探测液反馈到探头晶片上,在电脑上显示超声波的形状;在超声波的显示中,始波和界面波之间的距离是超声波在探头液程中传播的距离,界面波与一次底波是超声波在锻件中的传播距离,界面波与一次底波或一次底波与二次底波之间的缺陷波是锻件中存在缺陷时,缺陷表面的反射波能够被探头接收到时的缺陷反射信号,当缺陷面倾斜于超声波的传播方向时,也会阻碍超声波的传播,使底波信号降低,也可以发现缺陷。
6.进一步,所述厚测探头由主体部分、探头晶片、进液口、出液口组成。
7.与现有技术相比,本发明的有益效果如下:
8.本发明所述的采用超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法,利用测厚探头具有发射和接收超声波的功能特点,并且超声波的频率较高,超声脉冲窄,连接到常规脉冲反射式超声波仪器上,用和接收电脉冲的功能,仪器的发射电压施加到测厚探头的晶片上时,探头产生高频振动,通过耦合介质向锻件中发射超声波,超声波传播过程中遇到反射界面时,反射的超声波反向作用在探头的晶片上,产生压电效应,此电信号被超声波仪器处理并显示,达到与常规探伤探头对缺陷的检测目的,特别适用对小厚度锻件的检测。
附图说明
9.下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。
10.图1是厚测探头的结构示意图;
11.图2是测厚探头探测锻件缺陷是的超声波显示图。
具体实施方式
12.实施本发明所述的采用超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法,其步骤如下:
13.提供一种厚测探头,其结构由主体部分1、探头晶片2、进液口3、出液口4组成。采用超声波厚测探头对锻件进行探伤,探测液从进液口3流入,从出液口4流入并与锻件接触,超声波通过探测液反馈到探头晶片2上,在电脑上显示超声波的形状;在超声波的显示中,始波11和界面波12之间的距离是超声波在探头液程中传播的距离,界面波12与一次底波13是超声波在锻件中的传播距离,界面波12与一次底波13或一次底波13与二次底波15之间的缺陷波14是锻件中存在缺陷时,缺陷表面的反射波能够被探头接收到时的缺陷反射信号,当缺陷面倾斜于超声波的传播方向时,也会阻碍超声波的传播,使底波信号降低,也可以发现缺陷。


技术特征:
1.一种采用超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法,其特征在于:制作超声波厚测探头;采用超声波厚测探头对锻件进行探伤,探测液从进液口流入,从出液口流入并与锻件接触,超声波通过探测液反馈到探头晶片上,在电脑上显示超声波的形状;在超声波的显示中,始波和界面波之间的距离是超声波在探头液程中传播的距离,界面波与一次底波是超声波在工件中的传播距离,界面波与一次底波或一次底波与二次底波之间的缺陷波是工件中存在缺陷时,缺陷表面的反射波能够被探头接收到时的缺陷反射信号,当缺陷面倾斜于超声波的传播方向时,也会阻碍超声波的传播,使底波信号降低,也可以发现缺陷。2.根据权利要求1所述的超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法,其特征在于:所述厚测探头由主体部分、探头晶片、进液口、出液口组成。

技术总结
本发明公开了一种超声波脉冲反射检测锻件内部缺陷的方法,其特征在于,锻造步骤如下:提供一种厚测探头,其结构由主体部分、探头晶片、进液口、出液口组成;利用测厚探头具有发射和接收超声波的功能特点,并且超声波的频率较高,超声脉冲窄,连接到常规脉冲反射式超声波仪器上,用和接收电脉冲的功能,仪器的发射电压施加到测厚探头的晶片上时,探头产生高频振动,通过耦合介质向锻件中发射超声波,超声波传播过程中遇到反射界面时,反射的超声波反向作用在探头的晶片上,产生压电效应,此电信号被超声波仪器处理并显示,达到与常规探伤探头对缺陷的检测目的,特别适用对小厚度锻件的检测。测。测。


技术研发人员:强超
受保护的技术使用者:贵州安大航空锻造有限责任公司
技术研发日:2020.09.29
技术公布日:2022/4/12
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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