天线在位检测电路、方法、装置和系统与流程

1.本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种天线在位检测电路、方法、装置和系统。


背景技术：

2.随着移动通信技术的发展，大规模天线技术发挥着至关重要的作用。高阶mimo传输可以获得极高的频谱效率，随着天线规模的增加，用户间干扰和噪声的影响都趋于消失，达到相同的覆盖和吞吐量，所需的发射功率也将降低，提升能量效率；大规模天线技术提供的赋形增益可以补偿高频段的路径损耗，使得高频段的移动通信应用部署成为可能。
3.现有大规模天线的天线数达到16、32、64、128甚至256个。传统的天线在位检测方法主要包括两种：一种是每个天线连接一个gpio(general-purpose input/output，通用输入/输出口)，通过判断每个gpio高低电平的方式检测天线是否在位；另一种是通过检驻波，通过驻波比数值的大小判定天线是否在位。
4.在天线数较大的情况下，上述第一种方法需要消耗大量的gpio资源，需要选择gpio资源非常丰富的cpu、cpld或fpga实现，在天线数特别多的情况下，甚至需要单独的芯片实现天线在位检测功能，成本较高；上述第二种方法需要为每路天线设计采样前向和反向功率的电路，且需要复杂的软件算法，软硬件成本较高。并且，上述两种方法都会导致pcb(printed circuit board，印制电路板)布局布线困难，需增加pcb层数，成本较高。
5.综上，现有方法存在布局布线复杂和成本较高等不足。


技术实现要素：

6.本发明提供一种天线在位检测电路、方法、装置和系统，用以解决现有技术中布局布线复杂的缺陷，实现布局布线的简化和成本的降低。
7.本发明提供一种天线在位检测电路，包括：电源、m条第一线缆、n条第二线缆和k个检测单元；1≤k≤m
×
n；
8.所述检测单元，用于连接天线；所述检测单元与一条所述第一线缆、一条所述第二线缆和所述电源连接；连接任一所述第一线缆的所述检测单元的数量不大于n；连接任一所述第二线缆的所述检测单元的数量不大于m。
9.根据本发明提供一种的天线在位检测电路，所述检测单元包括用于连接天线的天线连接端；
10.所述检测单元还包括与所述天线连接端通过电感连接的场效应管或三极管。
11.根据本发明提供一种的天线在位检测电路，所述场效应管为n沟道场效应管；
12.所述天线连接端通过所述电感连接所述n沟道场效应管的源极；所述n沟道场效应管的源极通过电阻连接所述电源；所述n沟道场效应管的栅极连接所述第一线缆；所述n沟道场效应管的漏极连接所述第二线缆。
13.根据本发明提供一种的天线在位检测电路，m＝n。
14.本发明还提供一种基于上述任一种所述天线在位检测电路的天线在位检测方法，
包括：
15.将第i条第一目标线缆置为高电平，其他所述第一目标线缆置为低电平；
16.获取各第二目标线缆的高低电平状态；
17.基于各所述第二目标线缆的高低电平状态，检测与所述第i条第一目标线缆连接的检测单元对应的天线是否在位；
18.其中，在所述第一目标线缆为第一线缆的情况下，所述第二目标线为第二线缆；在所述第一目标线缆为第二线缆的情况下，所述第二目标线为第一线缆。
19.本发明还提供一种基于上述任一种所述天线在位检测电路的天线在位检测装置，包括：
20.电平控制模块，用于将第i条第一目标线缆置为高电平，其他所述第一目标线缆置为低电平；
21.电平获取模块，用于获取各第二目标线缆的高低电平状态；
22.在位检测模块，用于基于各所述第二目标线缆的高低电平状态，检测与所述第i条第一目标线缆连接的检测单元对应的天线是否在位；
23.其中，在所述第一目标线缆为第一线缆的情况下，所述第二目标线为第二线缆；在所述第一目标线缆为第二线缆的情况下，所述第二目标线为第一线缆。
24.本发明还提供一种天线在位检测系统，包括：上述任一种所述天线在位检测电路和上述任一种所述天线在位检测装置。
25.本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述天线在位检测方法的步骤。
26.本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述天线在位检测方法的步骤。
27.本发明还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述天线在位检测方法的步骤。
28.本发明提供的天线在位检测电路、方法、装置和系统，通过天线在位检测电路包括m条第一线缆、n条第二线缆和k个检测单元，用于连接天线的每一检测单元仅与一条第一线缆电连接且仅与一条第二线缆电连接，实现天线在位检测，能节省gpio资源，能大大简化布局布线，能降低pcb开发工作量和减少pcb的层数，能有效降低成本。
附图说明
29.为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
30.图1是本发明提供的天线在位检测电路的结构示意图之一；
31.图2是本发明提供的天线在位检测电路的结构示意图之二；
32.图3是本发明提供的天线在位检测方法的流程示意图之一；
33.图4是本发明提供的天线在位检测方法的流程示意图之二；
34.图5是本发明提供的天线在位检测装置的结构示意图；
35.图6是本发明提供的天线在位检测系统的连接示意图；
36.图7是本发明提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
37.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
38.在本发明实施例的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，且不涉及顺序。
39.在本发明实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明实施例中的具体含义。
40.下面结合图1至图7描述本发明提供的天线在位检测电路、方法、装置和系统。
41.图1是本技术提供的天线在位检测电路的结构示意图之一。下面结合图1描述本技术实施例的天线在位检测电路。如图1所示，该天线在位检测电路包括：电源101、m条第一线缆102、n条第二线缆103和k个检测单元104；1≤k≤m
×
n。
42.具体地，天线在位检测电路可以包括电源101、第一线缆102、第二线缆103和检测单元104。
43.可选地，第一线缆102的数量为m，m为大于1的整数。
44.可选地，第二线缆103的数量为n，n为大于1的整数。
45.可选地，检测单元104的数量为k，k为正整数，1≤k≤m
×
n。
46.优选地，m与n在数值上相差尽量最小。
47.检测单元104，用于连接天线；检测单元104与一条第一线缆102、一条第二线缆103和电源101连接。
48.具体地，每一检测单元104，可以用于连接一个天线。
49.在进行天线在位检测的情况下，多天线系统中的每个天线，可以与一个检测单元104电连接。对于连接有天线的任意两个检测单元104，上述两个检测单元104连接的天线不同；对于任意两个天线，上述两个天线连接的检测单元104不同。
50.对于每一检测单元104，与电源101连接；电源101向检测单元104提供输入电压或输入电流。检测单元104包括电路结构，该电路结构在电源101提供的输入电压或输入电流的作用下，基于是否天线是否在位，呈现不同的通断状态，使得检测单元104也呈现不同的通断状态，因而可以检测单元104用于检测天线的在位状态。
51.对于每一检测单元104，该检测单元104仅与一条第一线缆102电连接，也仅与一条第二线缆103电连接，因此通过该第一线缆102和/或该第二线缆103，可以检测该检测单元104的通断状态。
52.连接任一第一线缆102的检测单元104的数量不大于n；连接任一第二线缆103的检测单元104的数量不大于m。
53.具体地，对于任一第一线缆102，连接该第一线缆102的检测单元104的数量不大于n，并且对于任一第二线缆103，连接该第二线缆103的检测单元104的数量不大于m，即不会出现一个检测单元104连接两条第一线缆102和/或连接两条第二线缆103的情况。
54.本发明实施例中，可以将第一线缆102作为行线，第二线缆103作为列线，或者将第一线缆102作为列线，第二线缆103作为行线，使得各检测单元104在逻辑上排列成矩阵(在实际物理位置的排列上可以是任意形状)，也使得多天线系统中的各天线在逻辑上排列成矩阵(即形成逻辑上的天线阵列，在实际物理位置的排列上可以是任意形状)。
55.本发明实施例中，仅需要针对每一第一线缆102和每一第二线缆103设置gpio，基于第一线缆102和第二线缆103的配合，可以确定任一第一线缆102与任一第二线缆103的交叉点处的检测单元104的通断状态，从而确定该检测单元104对应的天线是否在位。
56.对于有m
×
n个天线的多天线系统，传统的方法需要设置m
×
n个gpio，而本发明实施例中，仅需要设置m n个gpio，通过上述m n个gpio即可传递m
×
n个天线在位信号。在天线的数量大于或等于6的情况下，可以节省gpio资源；天线的数量越多，节省gpio资源的效果越明显。
57.本发明实施例通过天线在位检测电路包括m条第一线缆、n条第二线缆和k个检测单元，用于连接天线的每一检测单元仅与一条第一线缆电连接且仅与一条第二线缆电连接，实现天线在位检测，能节省gpio资源，能大大简化布局布线，能降低pcb开发工作量和减少pcb的层数，能有效降低成本。
58.基于上述任一实施例的内容，检测单元包括用于连接天线的天线连接端。
59.具体地，在进行天线在位检测的情况下，检测单元可以通过天线连接端，与天线电连接。天线连接端可以直接与射频电路的天线接口相连，从而与天线电连接。
60.检测单元还包括与天线连接端通过电感连接的场效应管或三极管。
61.具体地，检测单元还可以包括场效应管或三极管。
62.可选地，该场效应管可以为金属-氧化物-半导体型场效应管(mosfet)或结型场效应管。该场效应管可以为n沟道耗尽型场效应管、n沟道增强型场效应管、p沟道耗尽型场效应管或p沟道增强型场效应管。
63.可选地，该三极管可以为npn型三极管或pnp型三极管。
64.优选地，k个检测单元包括的场效应管的型号相同，或者k个检测单元包括的三极管的型号相同。
65.可选地，场效应管可以与电源101连接。场效应管，用于在电源提供的输入电压或输入电流的作用下，基于是否天线是否在位，呈现不同的通断状态，使得检测单元也呈现不同的通断状态。
66.可选地，三极管可以与电源101连接。三极管，用于在电源提供的输入电压或输入电流的作用下，基于是否天线是否在位，呈现不同的通断状态，使得检测单元也呈现不同的通断状态。
67.电感，用于隔离射频信号以及传递天线在位检测信号，避免射频电路由于阻抗失配而功率损失及避免天线检测功能导致射频信号出现杂散。
68.可选地，在天线与天线连接端连接正常的情况下，场效应管(或三极管)导通，输出高电平；在天线与天线连接端未连接的情况下，场效应管(或三极管)不导通，输出低电平。
69.本发明实施例基于电感、场效应管或三极管等构建检测单元，使用电子元件的成本低，能有效降低成本。
70.基于上述任一实施例的内容，场效应管为n沟道场效应管。
71.具体地，检测单元104包括的场效应管为n沟道场效应管。
72.图2是本技术提供的天线在位检测电路的结构示意图之二。如图2所示，天线连接端通过电感连接n沟道场效应管的源极；n沟道场效应管的源极通过电阻连接电源；n沟道场效应管的栅极连接第一线缆；n沟道场效应管的漏极连接第二线缆。
73.具体地，图2示出的天线在位检测电路包括m条第一线缆(r1至rm)和n条第二线缆(c1至cn)。
74.对于任一检测单元104，天线连接端a用于连接天线；天线连接端a通过电感l与n沟道场效应管的源极相连；该n沟道场效应管的源极通过电阻r(电阻r为上拉电阻)上拉处理，与电源vcc连接；该n沟道场效应管的漏极与第二线缆连接；该n沟道场效应管的栅极与第一线缆连接。
75.可选地，每一第一线缆可以与电源vcc连接，或者每一第二线缆可以与电源vcc连接。
76.每行n沟道场效应管的漏极直接相连并上拉后作为阵列的列线，每列沟道场效应管的栅极直接相连作为阵列的行线。
77.本发明实施例基于电感、n沟道场效应管和电阻等构建检测单元，使用电子元件的成本低，能有效降低成本。
78.基于上述任一实施例的内容，m＝n。
79.具体地，第一线缆102和第二线缆103的数量相等，可以最大程度地节省gpio资源，消耗的gpio的数量最少，具有最高的效率。
80.例如，对于有256个天线构成多天线系统，可摆放成16
×
16矩阵、8
×
32矩阵、4
×
64矩阵等；摆放成16
×
16消耗16 16＝32个gpio，摆放成8
×
32矩阵消耗8 32＝40个gpio，摆放成8
×
64矩阵消耗8 64＝72个gpio，显然，对于256多天线系统，m＝n＝16时消耗gpio数量最少。
81.图3是本技术提供的天线在位检测方法的流程示意图之一。下面结合图3描述本技术实施例的天线在位检测方法。如图3所示，该方法包括：步骤301、步骤302和步骤303。
82.具体地，本发明实施例提供的天线在位检测方法的执行主体可以为天线在位检测装置。本发明实施例提供的天线在位检测方法，基于上述任一天线在位检测电路实施例提供的天线在位检测电路，进行对多天线系统的天线在位检测。
83.该天线在位检测装置可以包括cpu(中央处理器，central processing unit)、cpld(复杂可编程逻辑器件，complex programmable logic device)或fpga(现场可编程逻辑门阵列，field programmable gate array)等。该天线在位检测装置包括的cpu、cpld或fpga等，用于执行步骤301、步骤302和步骤303。
84.步骤301、将第i条第一目标线缆置为高电平，其他第一目标线缆置为低电平。
85.其中，在第一目标线缆为第一线缆的情况下，第二目标线为第二线缆；在第一目标
线缆为第二线缆的情况下，第二目标线为第一线缆。
86.具体地，在对多天线系统进行天线在位检测时，该天线在位检测装置包括的m n个gpio中，m个gpio分别连接一个第一线缆，剩余的n个gpio分别连接一个第二线缆。
87.在第一目标线缆为第一线缆，第二目标线为第二线缆的情况下，可以逐行进行天线在位检测；在第一目标线缆为第二线缆，第二目标线为第一线缆的情况下，可以逐列进行天线在位检测。
88.下面以第一目标线缆为第一线缆，第二目标线为第二线缆为例，描述天线在位检测方法的设施过程。第一目标线缆为第二线缆，第二目标线为第一线缆进行天线在位检测的步骤，与第一目标线缆为第一线缆，第二目标线为第二线缆进行天线在位检测的步骤类似，此处不再赘述。
89.在第一目标线缆为第一线缆，第二目标线为第二线缆的情况下，第一线缆可以连接到天线在位检测装置的gpio输出引脚，第二线缆可以连接到该天线在位检测装置的gpio输入引脚，第二线缆可以与
90.该天线在位检测装置可以通过gpio输出引脚，依次将每条第一线缆置为高电平，其他的第一线缆置为第电平。置为高电平的第一线缆的为第i条第一线缆，1≤i≤m。
91.步骤302、获取各第二目标线缆的高低电平状态。
92.具体地，在第i条第一线缆置为高电平，其他第一线缆置为低电平的情况下，置为低电平的各条第一线缆连接的所有n沟道场效应管(以检测单元包括n沟道场效应管为例，检测单元包括其他类型的场效应管或三极管的原理类似，此处不再赘述)由于栅-源电压vgs≤0而截止，第二线缆上的电平取决于第i条第一线缆连接的n沟道场效应管的导通状态。
93.该天线在位检测装置可以通过gpio输入引脚，读取各条第二线缆的高低电平状态，即确定各条第二线缆上的电平是高电平还是低电平。
94.步骤303、基于各第二目标线缆的高低电平状态，检测与第i条第一目标线缆连接的检测单元对应的天线是否在位。
95.具体地，对于任一第二线缆，若连接该第二线缆的检测单元的天线连接端没有连接天线，n沟道场效应管的源极由于上拉电阻的作用为高电平，该n沟道场效应管的vgs＝0，该n沟道场效应管不导通，由于上拉电阻的作用，因此该第二线缆上的电平为高电平；若该天线连接端有天线接入，该天线连接端在直流上表现为对地短路，该n沟道场效应管的源极电压被拉低，该n沟道场效应管的vgs》0，该n沟道场效应管导通，该第二线缆上的电平也因此被拉低，该第二线缆上的电平为低电平。综上，若第二线缆为低电平，则表示所检测行(即第i条第一线缆对应的行，一般为第i行)的该列所在的天线在位，即行列交叉点所在的天线在位；否则，行列交叉点所在的天线不在位。
96.通过对每一条第一线缆执行上述步骤，可以完成对整个多天线系统的天线在位检测。
97.本发明实施例通过天线在位检测电路包括m条第一线缆、n条第二线缆和k个检测单元，用于连接天线的每一检测单元仅与一条第一线缆电连接且仅与一条第二线缆电连接，实现天线在位检测，能节省gpio资源，能大大简化布局布线，能降低pcb开发工作量和减少pcb的层数，能有效降低成本。
98.为了便于对本发明上述各实施例的理解，下面以图2所示的天线在位检测电路为例，说明天线在位检测方法的实施过程。
99.如图4所示，天线在位检测方法可以包括以下步骤：
100.步骤401、初始化。
101.定义行号变量i并初始化为1，定义列gpio检测值j，定义用来存放每一列线读取值的长度为m的数组k[m]。
[0102]
步骤402、第i行ri对应的gpio输出高电平，其它行号对应的gpio输出低电平。
[0103]
将行号ri对应的行线置高电平，其它所有行线置低电平。cpu(或cpld、fpga)的m个gpio输出管脚输出[0
……
01](i＝m的情况下，0表示低电平，1表示高电平)，置低的行线上连接的所有场效应管由于vgs≤0而截止，列线上的电平将取决于第一行的场效应管的导通状态。
[0104]
步骤403、读取列线c1～cn的高低电平状态。
[0105]
读取列线c1～cn对应的gpio数值j并存储在数组元素k[i-1]中，列线1对应gpio的最低位。
[0106]
步骤404、判断数组元素k[i-1]是否为0。
[0107]
若是，则执行步骤406；若否，则执行步骤405。
[0108]
步骤405、判断数组元素k[i-1]对应二进制数中所有不为0的比特位。
[0109]
读取列线gpio并将读出值存储到数组元素k[i-1]，判断数组元素k[i-1]对应二进制值中不为0的比特位(对应天线在位状态，0表示在位，1表示不在位)，将不在位的天线行号和列号上报，ri行天线在位检测结束。
[0110]
例如，当i＝1时，读取到的n个列线gpio引脚值j对应的二进制数为[0
……
0110]，则表示行列交叉点r1c2和r1c3对应的天线不在位。
[0111]
步骤406、判断i是否等于m。
[0112]
若是，则结束；若否，则i值加1之后，返回执行步骤402。
[0113]
通过重复上述步骤，直至i＝m行天线检测完成，可以得到所有天线的在位状态并存储在数组k[m]中。
[0114]
可以理解的是，可以周期性的执行上述步骤401至步骤406，对天线的在位状态进行自动、实时检测。
[0115]
下面对本发明提供的天线在位检测装置进行描述，下文描述的天线在位检测装置与上文描述的天线在位检测方法可相互对应参照。
[0116]
图5根据本发明实施例提供的天线在位检测装置的结构示意图。基于上述任一实施例的内容，如图5所示，该装置包括电平控制模块501、电平获取模块502和在位检测模块503，其中：
[0117]
电平控制模块501，用于将第i条第一目标线缆置为高电平，其他第一目标线缆置为低电平；
[0118]
电平获取模块502，用于获取各第二目标线缆的高低电平状态；
[0119]
在位检测模块503，用于基于各第二目标线缆的高低电平状态，检测与第i条第一目标线缆连接的检测单元对应的天线是否在位；
[0120]
其中，在第一目标线缆为第一线缆的情况下，第二目标线为第二线缆；在第一目标
线缆为第二线缆的情况下，第二目标线为第一线缆。
[0121]
具体地，电平控制模块501、电平获取模块502和在位检测模块503顺次电连接。
[0122]
电平控制模块501可以通过gpio输出引脚，依次将每条第一目标线缆置为高电平，其他的目标第一线缆置为第电平。
[0123]
电平获取模块502可以通过gpio输入引脚，读取每条第二目标线缆上的电平。
[0124]
对于每条第二目标线缆，在位检测模块503在该条第二目标线缆上的电平为低电平的情况下，确定与该置为高电平的第一目标线缆和该条第二目标线缆连接的检测单元对应的天线不在位；在该条第二目标线缆上的电平为高电平的情况下，确定与该置为高电平的第一目标线缆和该条第二目标线缆连接的检测单元对应的天线在位。
[0125]
本发明实施例提供的天线在位检测装置，用于执行本发明上述天线在位检测方法，其实施方式与本发明提供的天线在位检测方法的实施方式一致，且可以达到相同的有益效果，此处不再赘述。
[0126]
该天线在位检测装置用于前述各实施例的天线在位检测方法。因此，在前述各实施例中的天线在位检测方法中的描述和定义，可以用于本发明实施例中各执行模块的理解。
[0127]
本发明实施例通过天线在位检测电路包括m条第一线缆、n条第二线缆和k个检测单元，用于连接天线的每一检测单元仅与一条第一线缆电连接且仅与一条第二线缆电连接，实现天线在位检测，能节省gpio资源，能大大简化布局布线，能降低pcb开发工作量和减少pcb的层数，能有效降低成本。
[0128]
图6根据本发明实施例提供的天线在位检测系统的结构示意图。基于上述任一实施例的内容，如图6所示，该系统包括天线在位检测电路602和天线在位检测装置601。
[0129]
具体地，天线在位检测装置601可以通过gpio与天线在位检测电路602连接。
[0130]
天线在位检测电路602，可以通过连接射频电路603的天线接口，连接多天线系统604包括的m
×
n个天线。
[0131]
本发明实施例通过天线在位检测电路包括m条第一线缆、n条第二线缆和k个检测单元，用于连接天线的每一检测单元仅与一条第一线缆电连接且仅与一条第二线缆电连接，实现天线在位检测，能节省gpio资源，能大大简化布局布线，能降低pcb开发工作量和减少pcb的层数，能有效降低成本。
[0132]
图7示例了一种电子设备的实体结构示意图，如图7所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)710、通信接口(communications interface)720、存储器(memory)730和通信总线740，其中，处理器710，通信接口720，存储器730通过通信总线740完成相互间的通信。处理器710可以调用存储器730中的逻辑指令，以执行天线在位检测方法，该方法包括：将第i条第一目标线缆置为高电平，其他第一目标线缆置为低电平；获取各第二目标线缆的高低电平状态；基于各第二目标线缆的高低电平状态，检测与第i条第一目标线缆连接的检测单元对应的天线是否在位；其中，在第一目标线缆为第一线缆的情况下，第二目标线为第二线缆；在第一目标线缆为第二线缆的情况下，第二目标线为第一线缆。
[0133]
此外，上述的存储器730中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以
软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0134]
本技术实施例提供的电子设备中的处理器710可以调用存储器730中的逻辑指令，其实施方式与本技术提供的天线在位检测方法的实施方式一致，且可以达到相同的有益效果，此处不再赘述。
[0135]
另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的天线在位检测方法，该方法包括：将第i条第一目标线缆置为高电平，其他第一目标线缆置为低电平；获取各第二目标线缆的高低电平状态；基于各第二目标线缆的高低电平状态，检测与第i条第一目标线缆连接的检测单元对应的天线是否在位；其中，在第一目标线缆为第一线缆的情况下，第二目标线为第二线缆；在第一目标线缆为第二线缆的情况下，第二目标线为第一线缆。
[0136]
本技术实施例提供的计算机程序产品被执行时，实现上述天线在位检测方法，其具体的实施方式与前述方法的实施例中记载的实施方式一致，且可以达到相同的有益效果，此处不再赘述。
[0137]
又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各提供的天线在位检测方法，该方法包括：将第i条第一目标线缆置为高电平，其他第一目标线缆置为低电平；获取各第二目标线缆的高低电平状态；基于各第二目标线缆的高低电平状态，检测与第i条第一目标线缆连接的检测单元对应的天线是否在位；其中，在第一目标线缆为第一线缆的情况下，第二目标线为第二线缆；在第一目标线缆为第二线缆的情况下，第二目标线为第一线缆。
[0138]
本技术实施例提供的非暂态计算机可读存储介质上存储的计算机程序被执行时，实现上述天线在位检测方法，其具体的实施方式与前述方法的实施例中记载的实施方式一致，且可以达到相同的有益效果，此处不再赘述。
[0139]
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
[0140]
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如rom/ram、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
[0141]
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管
参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。