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芯片检测接口电路的制作方法

2022-02-20 15:58:13 来源:中国专利 TAG:


1.本实用新型涉及半导体芯片检测技术领域,特别涉及一种芯片检测接口电路。


背景技术:

2.某一系列芯片,其通信协议为非标准协议,也就是自定义协议,一般单片机不能与该系列芯片通信。为了检测该系列芯片,通过相应的电路使通用单片机其能与之通信。
3.该系列芯片,电压范围在0-5.2v之间,一般单片机的电压识别范围在0-3.3v,并且识别高低范围在0.7v为高电平,低于0.7为低电平。这一系列芯片电压差在0.2v左右,使得通用单片机与该系列芯片通信困难,导致芯片检测效率低的问题。


技术实现要素:

4.本实用新型的主要目的是提供一种芯片检测接口电路,旨在通过信号检测电路、脉冲变压电路和数据引脚检测电路能够使得单片机与该系列芯片采用非标准通信协议通信,用于提高芯片故障检测的兼容性和芯片检测效率。
5.为实现上述目的,本实用新型提出的芯片检测接口电路包括电源变压电路、主控电路和芯片检测电路;其中,所述电源变压电路,分别与所述主控电路和所述芯片检测电路电连接,用于提供工作电压;所述主控电路,与所述芯片检测电路电连接,用于对所述芯片检测电路进行检测控制,并与芯片检测主机交互各检测信号;所述芯片检测电路包括脉冲变压电路、信号检测电路和数据引脚检测电路,所述脉冲变压电路与所述主控电路电连接,所述信号检测电路与所述主控电路电连接,所述数据引脚检测电路,用于将所述脉冲变压电路、所述信号检测电路和待检测芯片电连接。
6.在本实用新型的一实施例中,所述数据引脚检测电路包括输出信号连接端和输入信号连接端,所述输入信号连接端与第一电容串联,所述输出信号连接端与第二电容串联,第一电容的另一端和第二电容的另一端均与地电连接。
7.在本实用新型的一实施例中,所述脉冲变压电路包括电压比较电路、整流稳压电路和脉冲生成电路;其中,所述电压比较电路,分别与所述电源变压电路和所述主控电路电连接,用于按照所述工作电压输出电压比较结果;所述整流稳压电路,与所述电压比较电路电连接,用于按照所述电压比较结果输出稳定电压;所述脉冲生成电路,分别与所述整流稳压电路、所述主控电路和所述输出信号连接端电连接,用于将所述稳定电压转换为脉冲信号。
8.在本实用新型的一实施例中,所述信号检测电路包括采样分压电路、第一电压检测电路和第二电压检测电路;其中,所述采样分压电路,与所述输入信号连接端电连接,用于接收待检测芯片发送的波形信号,并将所述波形信号转换为电压采样信号;所述第一电压检测电路,分别与所述采样分压电路和所述主控电路电连接,用于对所述电压采样信号和第一参考电压信号进行比较并输出第一检测信号;所述第二电压检测电路,分别与所述采样分压电路和所述主控电路电连接,用于对所述电压采样信号和第二参考电压信号进行
比较并输出第二检测信号。
9.在本实用新型的一实施例中,所述电源变压电路包括电源升压电路、电源降压电路和电源转换电路;其中,电源升压电路的输入端,与电源供电端电连接;电源升压电路的输出端,分别与电源降压电路的输入端和电源转换电路的输入端电连接。
10.在本实用新型的一实施例中,所述电源升压电路,用于将电源供电端的电压升压至5.5v稳定电源,所述电源供电端的电压为4.2v。
11.在本实用新型的一实施例中,所述电源降压电路,用于将所述电源升压电路提供的5.5v稳定电源降压处理,得到第一直流电源信号,所述第一直流电源信号用于指示向所述主控电路提供所述工作电压。
12.在本实用新型的一实施例中,所述电源转换电路,用于将所述电源升压电路提供的5.5v电源转换为第二直流电源信号,所述第二直流电源信号用于指示向所述芯片检测电路提供所述工作电压。
13.在本实用新型的一实施例中,所述芯片检测接口电路还包括数据通信接口电路,分别与所述主控电路和所述芯片检测主机电连接,用于通过rs485通讯方式与所述芯片检测主机交互各检测信号。
14.在本实用新型的一实施例中,所述主控电路还包括主控芯片、复位电路、调试电路、显示电路、按键电路、晶体振荡电路和缓冲输出电路;其中,所述主控芯片,分别与所述复位电路、所述调试电路、所述显示电路、所述按键电路、所述晶体振荡电路和所述缓冲输出电路电连接。
15.本实用新型提出的芯片检测接口电路包括电源变压电路、主控电路和芯片检测电路;其中,所述电源变压电路,分别与所述主控电路和所述芯片检测电路电连接,用于提供工作电压;所述主控电路,与所述芯片检测电路电连接,用于对所述芯片检测电路进行检测控制,并与芯片检测主机交互各检测信号;所述芯片检测电路包括脉冲变压电路、信号检测电路和数据引脚检测电路,所述脉冲变压电路与所述主控电路电连接,所述信号检测电路与所述主控电路电连接,所述数据引脚检测电路,用于将所述脉冲变压电路、所述信号检测电路和待检测芯片电连接。本方案通过信号检测电路、脉冲变压电路和数据引脚检测电路能够使得单片机与该系列芯片采用非标准通信协议通信,提高了芯片故障检测的兼容性和芯片检测效率。
附图说明
16.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
17.图1为本实用新型中芯片检测接口电路的一实施例的结构示意图;
18.图2为本实用新型中芯片检测接口电路的另一实施例的结构示意图;
19.图3为本实用新型中电压比较电路的一实施例的结构示意图;
20.图4为本实用新型中整流稳压电路的一实施例的结构示意图;
21.图5为本实用新型中脉冲生成电路的一实施例的结构示意图;
22.图6为本实用新型中采样分压电路的一实施例的结构示意图;
23.图7为本实用新型中第一电压检测电路的一实施例的结构示意图;
24.图8为本实用新型中第二电压检测电路的一实施例的结构示意图。
25.附图标号说明:
26.标号名称标号名称1000芯片检测接口电路250按键电路100电源变压电路260晶体振荡电路200主控电路270缓冲输出电路300芯片检测电路310脉冲变压电路400芯片检测主机320信号检测电路500待检测芯片330数据引脚检测电路600数据通信接口电路311电压比较电路110电源升压电路312整流稳压电路120电源降压电路313脉冲生成电路130电源转换电路321采样分压电路210主控芯片322第一电压检测电路220复位电路323第二电压检测电路230调试电路331输出信号连接端240显示电路332输入信号连接端
27.本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
28.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
29.需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
30.另外,在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
31.请参阅图1,本实用新型提出一种芯片检测接口电路1000包括电源变压电路100、主控电路200和芯片检测电路300;其中,该电源变压电路100,分别与该主控电路200和该芯片检测电路300电连接,用于提供工作电压;该主控电路200,与该芯片检测电路300电连接,用于对该芯片检测电路300进行检测控制,并与芯片检测主机400交互各检测信号;该芯片
检测电路300包括脉冲变压电路310、信号检测电路320和数据引脚检测电路330,该脉冲变压电路310与该主控电路200电连接,该信号检测电路320与该主控电路200电连接,该数据引脚检测电路330,用于将该脉冲变压电路310、该信号检测电路320和待检测芯片500电连接。
32.该电源变压电路100用于指示经过变压、整流和滤波的稳压电路。进一步地,电源变压电路100包括输入端和输出端(图示未标出),该电源变压电路100的输入端与电源供电端电连接(图示未标出),电源变压电路100的输出端与主控电路200的供电引脚(图示未标出)电连接,用于将输入的交流电压或直流电压转换为直流电压。该电源变压电路100可以升压,也可以降压,具体此处不做限定。例如,电源变压电路100将电源供电端输入的直流电压4.2v转换为5.5v的直流电压,也可以将将电源供电端输入的直流电压12v或者交流电压220v电压转换为5.5v的直流电压,具体此处不做限定。
33.该主控电路200,通过数据引脚与芯片检测电路300电连接,并接收电源变压电路100的供电电压,用于对该芯片检测电路300进行检测控制,也就是,主控电路200既可以控制芯片检测电路300的信号输入,也可以接收并处理该芯片检测电路300的信号输出,得到各检测信号,其中,各检测信号用于指示待检测芯片500的工作参数数据。该主控电路200与该芯片检测主机400无线连接,将各检测信号实时传输至芯片检测主机400。该芯片检测主机400用于对该主控电路200实时上报的各检测信号进行数据分析处理,以检测待检测芯片500是正常芯片还是异常芯片。
34.该芯片检测电路300包括脉冲变压电路310、信号检测电路320和数据引脚检测电路330。进一步地,该脉冲变压电路310通过两个数据引脚和该主控电路200电连接,该脉冲变压电路310用于生成时钟脉冲信号,并将该时钟脉冲信号设置为待检测芯片500的输入信号,该时钟脉冲信号的频率和时钟脉冲信号的电压范围均由该主控电路200控制。
35.该信号检测电路320的输入端与该数据引脚检测电路330电连接,信号检测电路320的输出端与该主控电路200电连接,该信号检测电路320用于采集待检测芯片500的输出信号,并将待检测芯片500的输出信号转换为各检测信号,进一步地,该信号检测电路320将各检测信号传输至主控电路200中。
36.数据引脚检测电路330与待检测芯片500电连接。进一步地,待检测芯片500分别与脉冲变压电路310的输出端和信号检测电路320的输入端连接,以实现在非标准通信协议下的芯片检测。其中,待检测芯片500的型号和管脚数量不做限定。数据引脚检测电路330的引脚数量可以为1个,也可以为多个,具体此处不做限定。较佳的,数据引脚检测电路330的引脚数量为2个,包括脉冲变压电路310的输出端和信号检测电路320的输入端。
37.本实用新型技术方案,芯片检测接口电路包括电源变压电路、主控电路和芯片检测电路;其中,电源变压电路,分别与主控电路和芯片检测电路电连接,用于提供工作电压;主控电路,与芯片检测电路电连接,用于对芯片检测电路进行检测控制,并与芯片检测主机交互各检测信号;芯片检测电路包括脉冲变压电路、信号检测电路和数据引脚检测电路,脉冲变压电路与主控电路电连接,信号检测电路与主控电路电连接,数据引脚检测电路,用于将脉冲变压电路、信号检测电路和待检测芯片电连接。通过信号检测电路、脉冲变压电路和数据引脚检测电路能够使得单片机与该系列芯片采用非标准通信协议通信,提高了芯片故障检测的兼容性和芯片检测效率。
38.在本实用新型的一实施例中,请参阅图1至图2,该数据引脚检测电路330包括输出信号连接端331和输入信号连接端332,输入信号连接端332与第一电容的一端(图示未标识)串联,输出信号连接端331与第二电容的一端(图示未标识)串联,第一电容的另一端和第二电容的另一端均与地电连接。进一步地,输出信号连接端331和输入信号连接端332通过连接端口与待检测芯片500的对应引脚电连接。
39.在本实用新型的一实施例中,为了实现与待检测芯片500进行通信,请一并参阅图2,该脉冲变压电路310包括电压比较电路311、整流稳压电路312和脉冲生成电路313;其中,该电压比较电路311,分别与该电源变压电路100和该主控电路200电连接,用于按照该工作电压输出电压比较结果;该整流稳压电路312,与该电压比较电路311电连接,用于按照该电压比较结果输出稳定电压;该脉冲生成电路313,分别与该整流稳压电路312、该主控电路200和该输出信号连接端331电连接,用于将该稳定电压转换为脉冲信号。
40.请一并参阅图3,电压比较电路311包括电压放大器和多个分压电阻,分压电阻r1的一端与电源变压电路100的输出端vcc电连接(例如3.3v电压),分压电阻r1的另一端与分压电阻r2串联,分压电阻r2与主控电路200的低电平使能引脚clk_en电连接,分压电阻r1和分压电阻r2之间的连接点与电压比较器u1(例如,lm358m)的正极(也就是引脚3)电连接;分压电阻r3和分压电阻r4串联,分压电阻r3的一端连接有电源v1(可以为1.6v),分压电阻r4的另一端与地gnd电连接,分压电阻r3和分压电阻r4之间的连接点与电压放大器u1的负极(也就是引脚2)电连接,电压放大器u1的引脚8与电源v2电连接,电源放大器u1的引脚8与地gnd之间串联连接电容c1,电压放大器u1的输出端连接有电阻r5。本电压比较电路311,电路信号处理精度高,输出阀值精准,误差小。电压放大器u1的型号可以为lm358,也可以为lm393,还可以为其他型号,具体此处不做限定。以lm358为例,当电压放大器lm358的正极(也就是引脚3)电压为0.8v至0.85v时,通过r1和r2分压得到0.8v-0.85v电压,施加负反馈线性放大器输入端电压差为0(虚短路),相应的,电压比较电路311的输出端输出信号vout1为低电平0v。
41.请一并参阅图4,整流稳压电路312包括三极管q1(例如,2n3904),三极管q1的基极与电阻r5串联,也就是,三极管q1的基极接收电压比较电路311的输出端输出信号vout1,三极管q1的发射极接地,三极管q1的集电极分别与电阻r6和肖特基二极管d1的负极串联,电阻r6的另一端连接电源v2,肖特基二极管的正极和电阻r7的一端串联,并且电阻r7的另一端与电源v2电连接,肖特基二极管d1的负极与低gnd之间串联连接电容c2,将肖特基二极管d1的正极和电阻r7之间的连接点引出输出信号连接端331,并输出电压信号vout2。例如,r1与d1之间电压在大约1.6v,d1的正向压降为0.3v左右,输出电压信号vout2为1.9v。
42.请一并参阅图5,脉冲生成电路313包括三极管q2(例如,2n3904),三极管q2的集电极与输出信号连接端331电连接,三极管q2的发射极与地gnd电连接,三极管q2的基极与电阻r8串接,电阻r8的另一端与主控电路200的信号输出引脚(pwm_out)电连接。三极管q2的基极与地之间还分别串接有电容c4和电阻r9,三极管q2的集电极与地之间串接有电容c3。
43.可以理解的是,脉冲变压电路310控制电压放大器u1的正极电压信号近似电压放大器u1的负极电压信号,以使得电压放大器u1输出低电平,整流稳压电路312中的三极管q1处于截止状态(若三极管q1导通,则电阻r6直接接地,输出电压为0v,肖特基二极管d1的正极和电阻r7之间的连接点之间的输出信号vout2非1.6v),电阻r6与三极管q1的集电极之间
的电压为1.6v左右,肖特基二极管d1处于导通状态,肖特基二极管d1的电压为0.2v-0.4v左右,输出信号连接端331(也就是肖特基二极管d1的正极和电阻r7的连接点vout2)的输出电压信号为2v左右。当主控电路200的信号输出引脚输出pwm脉冲信号(也就是pwm_out)时,三极管q2周期性处于关断或导通的工作状态,进而控制输出信号连接端331输出脉冲信号v-,脉冲信号v-可以包括2v和0v。进一步地,输出信号连接端331输出脉冲信号v-是可以根据输出信号vout2和主控电路200的信号输出引脚输出脉冲信号pwm_out进行调整的。
44.在本实用新型的一实施例中,请一并参阅图2,该信号检测电路320包括采样分压电路321、第一电压检测电路322和第二电压检测电路323;其中,该采样分压电路321,与该输入信号连接端332电连接,用于接收待检测芯片500发送的波形信号,并将该波形信号转换为电压采样信号;该第一电压检测电路322,分别与该采样分压电路321和该主控电路200电连接,用于对该电压采样信号和第一参考电压信号进行比较并输出第一检测信号;该第二电压检测电路323,分别与该采样分压电路321和该主控电路200电连接,用于对该电压采样信号和第二参考电压信号进行比较并输出第二检测信号。
45.请一并参阅图6,进一步地,采样分压电路321与输入信号连接端332电性连接,输入信号连接端332与电容c5串联,电容c5与地gnd电性连接,电容c5用于对输入信号连接端332进行整理滤波。输入信号连接端332输入的各检测信号v 经过电阻r10和电阻r11分压处理后,从电阻r10和电阻r11之间的连接点引出第一电压信号连接端vdd1,用于输出电压采样信号;电阻r10的另一端串联连接电阻r12的一端,电阻r12的另一端连接电源v2,电阻r12的阻值可以为0欧姆。
46.请一并参阅图7,第一电压检测电路322包括电压比较器u2、多个分压电阻和多个电容,电压比较器u2的正极(引脚3)与第一电压信号连接端vdd1电连接。具体的,分压电阻r13、分压电阻r14和分压电阻r15依次串联,分压电阻r13的另一端与电源v2电连接,分压电阻r12的另一端与地gnd电连接,分压电阻r15和电容c6并联连接,从分压电阻r14和分压电阻r15之间的连接点引出第二电压信号连接端vdd2,用于输出第一参考电压信号,第二电压信号连接端vdd2与电压比较器u2的负极(引脚2)电连接,电压比较器u2的引脚8与地gnd之间串联连接电容c6。电压比较器u2的输出端(引脚1)与电源vcc之间连接有上拉电阻r16,电压比较器u2的输出端与主控电路200的数据引脚data1电连接。
47.请一并参阅图8,第二电压检测电路323包括电压比较器u3、多个分压电阻和多个电容,电压比较器u3的正极(引脚3)与第一电压信号连接端vdd1电连接。具体的,分压电阻r17、分压电阻r18和分压电阻r19依次串联,分压电阻r17的另一端与电源v2电连接,分压电阻r19的另一端与地gnd电连接,分压电阻r19和电容c8并联连接,从分压电阻r17和分压电阻r18之间的连接点引出第三电压信号连接端vdd3,用于输出第二参考电压信号,第三电压信号连接端vdd3与电压比较器u3的负极(引脚2)电连接,电压比较器u3的引脚8与地gnd之间串联连接电容c9。电压比较器u3的输出端(引脚1)与电源vcc之间连接有上拉电阻r20,电压比较器u3的输出端与主控电路200的数据引脚data2电连接。
48.可以理解的是,采样电压电路主要通过采集检测芯片所返回的波形信号分别与第一电压检测电路322和第二电压检测电路323进行数据截取。主控电路200控制第一电压检测电路322中电压比较器u2的正极电压信号(也就是,电压采样信号)高于电压比较器u2的负极电压信号(也就是,第一参考电压信号),以使得电压比较器u2输出高电平(例如,
5.20v);主控电路200控制第二电压检测电路323中电压比较器u3的正极电压信号(也就是,电压采样信号)低于电压比较器u3的负极电压信号(也就是,第二参考电压信号),以使得电压比较器u3输出低电平(例如,5.05v)。
49.在本实用新型的一实施例中,请一并参阅图2,该电源变压电路100包括电源升压电路110、电源降压电路120和电源转换电路130;其中,电源升压电路110的输入端,与电源供电端(图示未标出)电连接;电源升压电路110的输出端,分别与电源降压电路120的输入端和电源转换电路130的输入端电连接。
50.电源升压电路110,用于将电源供电端的电压升压至5.5v稳定电源,电源供电端的电压为4.2v。该电源升压电路110包括电压转换芯片(例如,tps61022rwur)、电感、多个电容和多个电阻,电压转换芯片、电感、电容和电阻之间通过串联或者并联的方式连接(图示没标出)。该电源升压电路110将芯片检测主机400提供的4.2v电源升压至5.5v稳定电源。
51.该电源降压电路120,用于将该电源升压电路110提供的5.5v稳定电源降压处理,得到第一直流电源信号,该第一直流电源信号用于指示向该主控电路200提供该工作电压。该电源降压电路120包括电压转换芯片(例如,asm117)、多个电容和发光二极管和电阻,电压转换芯片、多个电容和发光二极管和电阻之间通过串联或者并联的方式连接(图示没标出)。该电源降压电路120将电源升压电路110提供的5.5v电源降压处理,得到多个3.3v稳定电源供电端(包括vcc),用于对主控电路200供电。
52.该电源转换电路130,用于将该电源升压电路110提供的5.5v电源转换为第二直流电源信号,该第二直流电源信号用于指示向该芯片检测电路300提供该工作电压。该电源降压电路120包括pmos管(例如,ao3415)、多个电容和多个电阻,pmos管、多个电容和多个电阻之间通过串联的方式连接(图示没标出)。该电源转换电路130将电源升压电路110提供的5.5v电源转换为多个稳定电源供电端,以便于对芯片检测电路300进行供电。其中,pmos管的输入电压可以为5.5v,输出电压可以为5.2v(也就是,v2),还可以为3.3v,具体此处不做限定。
53.在本实用新型的一实施例中,请一并参阅图2,该芯片检测接口电路1000还包括数据通信接口电路600,分别与该主控电路200和该芯片检测主机400电连接,用于通过rs485通讯方式与该芯片检测主机400交互各检测信号。芯片检测接口电路1000通过充电接口(例如,微观通用串行总线microusb接口)与芯片检测主机400相连,microusb接口用于对芯片检测接口电路1000供电(例如,3.7v至4.2v的供电电压)。并且芯片检测接口电路1000通过rs485通讯方式与芯片检测主机400进行数据交互。
54.进一步地,请一并参阅图2,可选的,该主控电路200还包括主控芯片210、复位电路220、调试电路230、显示电路240、按键电路250、晶体振荡电路260和缓冲输出电路270;其中,该主控芯片210,分别与该复位电路220、该调试电路230、该显示电路240、该按键电路250、该晶体振荡电路260和该缓冲输出电路270电连接。该主控芯片210可以采用单片机,也可以采用arm处理器,具体此处不做限定。
55.复位电路220,与主控芯片210的复位引脚电连接。复位电路220可以包括上拉电阻、充放电电容和复位开关,上拉电阻的一端连接3.3v电源,上拉电阻的另一端复位开关的一端电连接,充放电电容和复位开关并联连接,并且充放电电容的另一端和复位开关的另一端均与地电连接。复位电路220用于对主控芯片210的工作电压进行实时监测,当工作电
压存在不稳定或者瞬间掉电的状况时,能够对主控芯片210进行复位操作,也可以通过复位开关对主控芯片210进行复位操作。
56.调试电路230,用于通过jtag接口将应用程序烧录至主控芯片210,并接收调试信号,根据调试信号对主控芯片210进行断点调试。
57.显示电路240,包括发光二极管和电阻,发光二极管的一端连接3.3v,发光二极管的另一端和电阻一端串联,电阻的另一端与主控芯片210的数据引脚连接,用于通过发光二极管的发光状态直观显示主控芯片210的工作状态。
58.按键电路250,包括按键开关和电阻,按键开关的一端连接主控芯片210的控制引脚,按键开关的另一端与电阻的一端电连接,电阻的另一端连接地,按键电路250用于控制主控芯片210的工作状态。
59.晶体振荡电路260,包括晶体和多个电容,用于提供主控芯片210所需的计时时钟。
60.缓冲输出电路270,用于基于通用串行数据总线协议与芯片检测主机400进行异步通信。通用串行数据总线协议可以实现全双工传输和接收。
61.本实用新型技术方案,芯片检测接口电路包括电源变压电路、主控电路和芯片检测电路;其中,电源变压电路的输出端与主控电路的供电引脚电连接,用于将输入的交流或直流电压转换为直流电压;电源变压电路,与芯片检测电路电连接,用于对芯片检测电路进行检测控制,并与芯片检测主机交互各检测信号;芯片检测电路包括脉冲变压电路、信号检测电路和数据引脚检测电路,其中,脉冲变压电路通过使能引脚和主控电路电连接,信号检测电路通过两个数据引脚和主控电路电连接,脉冲变压电路用于生成时钟脉冲,并将时钟脉冲设置为待检测芯片的输入信号,信号检测电路用于采集待检测芯片的输出信号,并将待检测芯片的输出信号转换为各检测信号,数据引脚检测电路,用于将脉冲变压电路、信号检测电路和待检测芯片电连接。通过信号检测电路、脉冲变压电路和数据引脚检测电路能够使得单片机与该系列芯片采用非标准通信协议通信,提高了芯片故障检测的兼容性和芯片检测效率。
62.以上所述仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的实用新型构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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