一种可调式集成电路测试夹具的制作方法

1.本发明涉及集成电路测试技术领域，更具体的，是涉及一种可调式集成电路测试夹具。


背景技术：

2.集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构,而在集成电路完成制造后，为了避免集成电路出现各种质量问题，通常都会对完成生产的集成电路进行通电并进行检测，以确定集成电路的状态，在对集成电路进行测试时，通常都是采用一种可调式集成电路测试夹具，通过一种可调式集成电路测试夹具所设有的夹具对集成电路进行夹持并进行固定从而进行通电对集成电路的状态等进行判定，而集成电路适用于多个行业，并且因应用行业的不用集成电路封装的结构也不同，在适应各种集成电路进行测试时，测试夹具需要不断的进行总体结构的调节，在长期的调节调整下，结构之间会出现松动的情况，在结构松动后，对后续的集成电路夹持时便会出现夹持松动的情况，导致接电位置偏移而造成数据偏移的情况发生。


技术实现要素：

3.针对现有技术的不足，本发明提供了一种可调式集成电路测试夹具，解决了集成电路适用于多个行业，并且因应用行业的不用集成电路封装的结构也不同，在适应各种集成电路进行测试时，测试夹具需要不断的进行总体结构的调节，在长期的调节调整下，结构之间会出现松动的情况，在结构松动后，对后续的集成电路夹持时便会出现夹持松动的情况，导致接电位置偏移而造成数据偏移的情况发生的问题。
4.针对上述目的，本发明是通过如下的技术方案来实现：一种可调式集成电路测试夹具，其结构包括底板、接电管、测试结构、调节板、开合器，所述接电管后端外壁贴合固定于测试结构前端外壁，所述测试结构下端外壁嵌固卡合于底板上端外壁，所述调节板左侧外壁活动配合于测试结构右侧外壁，所述开合器左侧外壁卡合连接于调节板右侧外壁；
5.所述测试结构由支撑座、夹持机构、固定板组成，所述支撑座下端外壁嵌固固定于接电管上端外壁，所述夹持机构后端外壁贴合固定于支撑座前端外壁，所述固定板上端外壁嵌固卡合于支撑座上下两端外壁。
6.作为本发明优选的，所述夹持机构由调节环、支撑块、卡夹器组成，所述调节环后端外壁活动配合于支撑座前端外壁，所述支撑块外壁嵌套配合于调节环内壁，所述卡夹器外壁嵌套卡合于支撑块内壁，所述调节环其结构为c字型结构。
7.作为本发明优选的，所述卡夹器由调节器、夹持器、卡接杆组成，所述调节器外壁活动配合于支撑块内壁，所述夹持器右下端外壁卡合连接于卡接杆后端外壁，所述卡接杆左下端外壁卡合固定于调节器外壁。
8.作为本发明优选的，所述调节器由弧形杆、固定销、卡接孔、开拓器、定位环组成，所述弧形杆内壁嵌套卡合于夹持器外壁，所述固定销外壁嵌固固定于定位环内壁，所述卡接孔与弧形杆为一体化结构，所述开拓器外壁活动配合于弧形杆内壁，所述定位环外壁嵌套配合于弧形杆两端内壁，所述开拓器共设有三个，环形排列于弧形杆内壁。
9.作为本发明优选的，所述开拓器由摩擦环、连杆、膨胀块、转动球、定位架组成，所述摩擦环外壁活动配合于弧形杆内壁，所述连杆右侧外壁贴合固定于膨胀块两端外壁，所述膨胀块外壁摩擦配合于转动球下端外壁，所述转动球外壁嵌套配合于定位架内壁，所述定位架外壁嵌套卡合于摩擦环内壁，所述膨胀块其内部填充材质为水银，其本身材质为橡胶但在其中心设有铜环。
10.作为本发明优选的，所述夹持器由夹定器、推动杆、连位轴组成，所述夹定器两端内壁嵌套卡合于连位轴外壁，所述推动杆两端后侧外壁活动配合于夹定器前端外壁，所述连位轴前端外壁焊接固定于推动杆两侧后端外壁，所述夹定器共设有三个，环形排列于推动杆之间。
11.作为本发明优选的，所述夹定器由增力器、引导轨道、磁架、夹持弧杆、外壳组成，所述增力器上端外壁嵌固卡合于夹持弧杆外壁，所述引导轨道后端外壁贴合固定于外壳内壁，所述磁架外壁嵌固固定于外壳内壁，所述夹持弧杆后端外壁活动配合于引导轨道内壁，所述外壳内壁嵌套配合于夹持弧杆外壁，所述引导轨道共设有六个，其中两个为一组，镜像排列于夹持弧杆两端。
12.作为本发明优选的，所述增力器由密闭壳体、卡固环、线圈、固销、摩滚珠组成，所述密闭壳体内壁嵌套配合于摩滚珠外壁，所述卡固环右上端外壁嵌固固定于线圈外壁，所述线圈外壁嵌套配合于密闭壳体内壁，所述固销外壁嵌固固定于卡固环内壁，所述摩滚珠外壁摩擦配合于线圈内壁。
13.有益效果
14.与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：
15.本发明在进行使用时，通过将所需要进行检测的集成电路放置于夹持机构前端外壁并推动集成电路整体，使集成电路贴紧于夹持机构的前端外壁而集成电路在贴紧时，集成电路所设有的接电线会进入夹持机构的内部并被夹持器所夹持，并且通电后所产生的电流，会通过夹持器，而夹持器会利用电流所产生的磁力而对集成电路进行夹持卡合，可完全的对集成电路的位置进行夹持固定。
附图说明
16.图1为发明一种可调式集成电路测试夹具的结构示意图。
17.图2为发明测试结构的俯视结构示意图。
18.图3为发明夹持机构的结构示意图。
19.图4为发明卡夹器的结构示意图。
20.图5为发明调节器的剖视结构示意图。
21.图6为发明开拓器的剖视结构示意图。
22.图7为发明夹持器的结构示意图。
23.图8为发明夹定器的剖视结构示意图。
24.图9为发明增力器的剖视结构示意图。
25.图中：底板
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1、接电管
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2、测试结构
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3、调节板
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4、开合器
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5、支撑座
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31、夹持机构
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32、固定板
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33、调节环
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a1、支撑块
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a2、卡夹器
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a3、调节器
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b1、夹持器
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b2、卡接杆
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b3、弧形杆
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c1、固定销
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c2、卡接孔
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c3、开拓器
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c4、定位环
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c5、摩擦环
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d1、连杆
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d2、膨胀块
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d3、转动球
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d4、定位架
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d5、夹定器
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e1、推动杆
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e2、连位轴
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e3、增力器
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f1、引导轨道
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f2、磁架
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f3、夹持弧杆
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f4、外壳
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f5、密闭壳体
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g1、卡固环
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g2、线圈
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g3、固销
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g4、摩滚珠
‑
g5。
具体实施方式
26.下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
27.在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
28.实施例1
29.如附图1至附图6所示，本发明提供一种可调式集成电路测试夹具，其结构包括底板1、接电管2、测试结构3、调节板4、开合器5，所述接电管2后端外壁贴合固定于测试结构3前端外壁，所述测试结构3下端外壁嵌固卡合于底板1上端外壁，所述调节板4左侧外壁活动配合于测试结构3右侧外壁，所述开合器5左侧外壁卡合连接于调节板4右侧外壁；
30.所述测试结构3由支撑座31、夹持机构32、固定板33组成，所述支撑座31下端外壁嵌固固定于接电管2上端外壁，所述夹持机构32后端外壁贴合固定于支撑座31前端外壁，所述固定板33上端外壁嵌固卡合于支撑座31上下两端外壁。
31.其中，所述夹持机构32由调节环a1、支撑块a2、卡夹器a3组成，所述调节环a1后端外壁活动配合于支撑座31前端外壁，所述支撑块a2外壁嵌套配合于调节环a1内壁，所述卡夹器a3外壁嵌套卡合于支撑块a2内壁，所述调节环a1其结构为c字型结构，c字型结构所设有的开口令调节环a1在调节时更加容易，并且具有较强的限制力。
32.其中，所述卡夹器a3由调节器b1、夹持器b2、卡接杆b3组成，所述调节器b1外壁活动配合于支撑块a2内壁，所述夹持器b2右下端外壁卡合连接于卡接杆b3后端外壁，所述卡接杆b3左下端外壁卡合固定于调节器b1外壁。
33.其中，所述调节器b1由弧形杆c1、固定销c2、卡接孔c3、开拓器c4、定位环c5组成，所述弧形杆c1内壁嵌套卡合于夹持器b2外壁，所述固定销c2外壁嵌固固定于定位环c5内壁，所述卡接孔c3与弧形杆c1为一体化结构，所述开拓器c4外壁活动配合于弧形杆c1内壁，所述定位环c5外壁嵌套配合于弧形杆c1两端内壁，所述开拓器c4共设有三个，环形排列于弧形杆c1内壁，三端设有的开拓器c4可一同进行工作并通过一同工作的增加开启的速度。
34.其中，所述开拓器c4由摩擦环d1、连杆d2、膨胀块d3、转动球d4、定位架d5组成，所述摩擦环d1外壁活动配合于弧形杆c1内壁，所述连杆d2右侧外壁贴合固定于膨胀块d3两端外壁，所述膨胀块d3外壁摩擦配合于转动球d4下端外壁，所述转动球d4外壁嵌套配合于定
位架d5内壁，所述定位架d5外壁嵌套卡合于摩擦环d1内壁，所述膨胀块d3其内部填充材质为水银，其本身材质为橡胶但在其中心设有铜环，铜环在受到摩擦后所产生的热能可更加精确的进行传导并加热水银，令水银出现膨胀的情况。
35.下面对实施例做如下说明：在需要对本设备进行使用时，通过预先的对开合器5进行调节，使得开合器5中的结构进行移动并通过结构移动而推动调节板4，并通过调节板4的位置移动而接触测试结构3，令测试结构3的位置受到推动而进行固定，在位置固定后便可将外部的电源连接至接电管2完成设备的准备工作，而在需要对集成电路进行测试时，通过将集成电路放置于夹持机构32的前端表面，并将集成电路对齐至夹持机构32的表面并推动集成电路向下进行移动，令夹持机构32中设有的调节环a1向后进行移动，在调节环a1进行移动时，集成电路可完全的贴合至卡夹器a3的前端表面，而卡夹器a3整体会向下进行沉降并通过卡夹器a3的沉降，使得圆柱接触于调节器b1内部并进行移动，调节器b1移动时开拓器c4的内部会被触发，使得摩擦环d1进行转动并通过摩擦环d1的转动而带动转动球d4、定位架d5摩擦膨胀块d3，令膨胀块d3受到摩擦作用而产生膨胀的情况，在膨胀块d3膨胀后，膨胀块d3的膨胀使得支撑块a2整体扩开并令夹持器b2扩张，使夹持器b2可对齐于集成电路所设有的连接线。
36.实施例2
37.如附图7至附图9所示：所述夹持器b2由夹定器e1、推动杆e2、连位轴e3组成，所述夹定器e1两端内壁嵌套卡合于连位轴e3外壁，所述推动杆e2两端后侧外壁活动配合于夹定器e1前端外壁，所述连位轴e3前端外壁焊接固定于推动杆e2两侧后端外壁，所述夹定器e1共设有三个，环形排列于推动杆e2之间，三端设有的夹定器e1都可进行工作并对集成电路进行夹持。
38.其中，所述夹定器e1由增力器f1、引导轨道f2、磁架f3、夹持弧杆f4、外壳f5组成，所述增力器f1上端外壁嵌固卡合于夹持弧杆f4外壁，所述引导轨道f2后端外壁贴合固定于外壳f5内壁，所述磁架f3外壁嵌固固定于外壳f5内壁，所述夹持弧杆f4后端外壁活动配合于引导轨道f2内壁，所述外壳f5内壁嵌套配合于夹持弧杆f4外壁，所述引导轨道f2共设有六个，其中两个为一组，镜像排列于夹持弧杆f4两端，两端用于引导的引导轨道f2可限制夹持弧杆f4两端的力，令夹持弧杆f4两端平稳的进行移动。
39.其中，所述增力器f1由密闭壳体g1、卡固环g2、线圈g3、固销g4、摩滚珠g5组成，所述密闭壳体g1内壁嵌套配合于摩滚珠g5外壁，所述卡固环g2右上端外壁嵌固固定于线圈g3外壁，所述线圈g3外壁嵌套配合于密闭壳体g1内壁，所述固销g4外壁嵌固固定于卡固环g2内壁，所述摩滚珠g5外壁摩擦配合于线圈g3内壁。
40.下面对实施例做如下说明：在使用设备对集成电路进行检测判定时，通过将集成电路放置于设备的表面并压动集成电路，使得集成电路可完全的贴合设备的表面并实现设备对集成电路体积的适应并与集成电路的接电口进行对齐，在完成对齐后，集成电路的接电口可完全的配合至夹定器e1中心所设有的通孔并令接电线落入夹定器e1设有的通孔之中并推动夹持弧杆f4扩张，在夹持弧杆f4扩张时，夹持弧杆f4会受到引导轨道f2的引导而进行移动，在进行移动时增力器f1会因移动使得摩滚珠g5进行滚动，在摩滚珠g5进行滚动时，摩滚珠g5的滚动会摩擦至线圈g3的表面，并通过与线圈g3的摩擦而产生静电，静电会受到线圈g3的引导而产生电磁力并与磁架f3的磁力做出相斥作用，从而推动夹持弧杆f4完全
的闭合夹紧与集成电路所设有的接电线，在通电后电流也会流通于线圈g3，使得线圈g3所转化的电磁力增加，从而提高磁力作用，并通过磁力作用令夹持弧杆f4更加紧密的贴合至接电线的表面，令集成电路完全的被夹持固定，避免松动造成测试数据偏差的情况。
41.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
42.因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。